触控屏的划线老化检测方法及检测系统的利记博彩app
【专利摘要】本发明涉及液晶模组检测技术领域，具体涉及一种触控屏的划线老化检测系统及检测方法。成触控屏参数配置文件及包含多个检测图形数据的模组检测图形列表文件，在模组检测图形列表文件添加划线检测流程；下发触控屏参数配置文件及模组检测图形列表文件，点亮各个检测通道的触控屏；根据模组检测图形列表文件在触控屏上循环的切换检测画面，当任一触控屏当前检测画面中添加有划线检测流程时，触发划线检测流程，作业员对所述触控屏进行划线操作，将划线轨迹显示不良的触控屏挑出。对于不同的触控屏，能对接使用了不同标准不同接口触控芯片的触控屏，具有良好的兼容性。可以批量对触控屏进行划线老化验证，提高了检测效率，大大缩短检测时间。
【专利说明】
触控屏的划线老化检测方法及检测系统
技术领域
[0001]本发明涉及触控屏检测技术领域，具体涉及一种触控屏的划线老化检测方法及检测系统。
【背景技术】
[0002]近年来，随着智能手机、平板电脑等消费类数码产品的快速普及，使得触控屏的需求激增，涌现出众多触控芯片厂商，芯片厂商以及模组生产厂商纷纷加大研发与生产投入，使得触控屏方面的技术得到了快速发展。虽则如此，触控屏仍是生产工艺极为复杂的产品，对于触控屏量产来说，划线功能的老化检测是必要的步骤，依据检测情况确定触控屏的触控功能是否能持续稳定地运行，拦下不合格品，提高产品良率。然而目前市场上众多的触控芯片厂商，其各自生产的芯片标准不尽相同，各家的烧录测试套件也各不相同，加之这些烧录测试套件功能相对独立单一，适用于单块触控面板的固件更新以及生产调试，对于划线老化检测这种一个控制系统要同时控制多块触控屏进行检测的情形，则不太适用，故而规模化量产时，对于触控屏的划线老化检测，亟待一种全面的触控屏划线老化检测系统及检测方法，来进行多块触控屏同时的划线老化检测。
【发明内容】
[0003]为解决上述技术问题，本发明提供一种适用于多种触控屏，且能同时对多个触控屏进行检测的触控屏的划线老化检测方法及检测系统。
[0004]对于本发明一种触控屏的划线老化检测方法，其技术方案为，根据触控屏的种类生成触控屏参数配置文件及包含多个检测图形数据的模组检测图形列表文件，在模组检测图形列表文件的任意一个或多个检测图形数据中添加任意一路检测通道的划线检测流程；
[0005]下发触控屏参数配置文件及模组检测图形列表文件，点亮各个检测通道的触控屏；
[0006]根据模组检测图形列表文件在触控屏上循环的切换检测画面，当任一触控屏当前检测画面中添加有划线检测流程时，触发划线检测流程，作业员对所述触控屏进行划线操作，将划线轨迹显示不良的触控屏挑出。
[0007]进一步的，所述划线检测流程为:触控系统接口单元与触控芯片建立连接，当触控屏上有手指划过时，触控系统接口单元从触控芯片实时获取手指划动的坐标信息，并将该坐标信息反馈给信号发生器，所述信号发生器对该坐标信息进行解析后实时的在触控屏的对应位置显示出轨迹。
[0008]进一步的，作业员对所述触控屏进行划线操作前，将触控屏置于高温或低温老化炉内，循环的切换触控屏上的检测画面，使各路检测通道触控屏的触控芯片轮流处于工作状态，以对触控屏进行老化处理。
[0009]进一步的，作业员在所述触控屏老化处理的过程中重复对触控屏进行多次划线检测，每次划线检测过程中均将划线轨迹显示不良的触控屏挑出，直至达到规定的老化处理时长。
[0010]进一步的，在触控屏老化处理的过程中，当触控屏当前检测画面中添加有划线检测流程时，若作业员未进行划线操作，则在当前检测画面达到显示时长时自动结束划线检测流程，并切换到下一检测画面。
[0011]进一步的，每路所述检测通道均存在一个与之对应的划线检测流程。
[0012]进一步的，所述触控屏参数配置文件包括触控屏分辨率、划线显示方式和供电电压。
[0013]对于本发明一种触控屏的划线老化检测系统，其技术方案为，包括上层控制系统、通过LAN线与上层控制系统连接的至少一组检测单元，每组所述检测单元包括一个信号发生器和多个与信号发生器连接的触控系统接口单元；
[0014]所述上层控制系统用于生成触控屏参数配置文件及模组检测图形列表文件，并将触控屏参数配置文件及模组检测图形列表文件下发至各个检测单元；
[0015]所述信号发生器用于点亮触控屏、接收上层控制系统下发的触控屏参数配置文件及模组检测图形列表文件，解析后发送给控制触控系统接口单元，以及根据模组检测图形列表文件中的划线检测流程控制触控系统接口单元与触控芯片建立连接，接收控制触控系统接口单元反馈的坐标信息并实时的在触控屏对应位置显示轨迹；
[0016]所述触控系统接口单元用于根据信号发生器的控制信号为触控芯片供电、建立连接，及实时读取触控芯片的坐标信息并反馈给信号发生器。
[0017]进一步的，所述信号发生器发送的点屏信号通过LVDS链路输出至触控屏。
[0018]本发明的有益效果:本系统对于不同的触控屏，只需要更换对应的触控屏参数配置，下发给触控系统接口单元即可，不需要更换装置，有效的节约了成本，且能对接使用了不同标准不同接口触控芯片的触控屏，具有良好的兼容性。具有多个检测单元，且每个检测单元都设置两路划线检测通道，同时对两个触控屏进行处理，适用于批量的老化检测。相对于传统的厂商烧录测试套件检测方法，本方法可以批量对触控屏进行划线老化验证，并与模组检测流程进行了整合，提高了检测效率，大大缩短检测时间。
【附图说明】
[0019]图1为本发明触控屏的划线老化检测系统的模块连接图；
[0020]图2为本发明触控屏的划线老化检测方法的控制流程图；
【具体实施方式】
[0021]以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细说明:
[0022]如图1所示为触控屏划线老化检测系统其中一种实施方式的模块连接图，该实施例中触控屏划线老化检测系统由上层控制系统(即PG控制软件)和若干检测单元组成，所有检测单元通过LAN接口与PG控制软件相连。每个检测单元则由一个信号发生器(PG装置)、两个触控系统接口单元(SIU装置)组成。两个触控系统接口单元分别连接有一个触控屏，每个触控屏与触控系统接口单元和信号发生器之间均能形成一个划线检测通道，本实施例中为每个检测单元包括两个能同时提供两路检测通道。其中，信号发生器的点屏信号通过LVDS链路传输至触控屏，触控系统接口单元与信号发生器之间通过RS485通道连接。
[0023]如图2所示为触控屏的划线老化检测方法的控制流程图，其过程如下:
[0024]1、根据实际生产检测的需要，将一定数量的检测单元并触控屏与上层控制系统相连，构成整体。其中触控屏可根据实际需要，放于常温环境、高温环境或者低温环境。本实施例中连接好检测系统后，将触控屏统一放入高温老化炉中，启动并使高温老化炉工作在设定温度下。
[0025]2、使用上层控制系统的触控屏(以下简称TP)配置功能，根据具体的触控屏，设置对应的参数，如分辨率、划线显示方式、供电电压相关参数等，设置完成后，即保存生成TP参数配置文件，以供后续上层控制系统在系统连接和初始化时调用。
[0026]3、使用上层控制系统的模组检测配置功能，选定至少两条用以显示到模组上的图形数据，保存为一组检测模组的检测图形列表，然后在任一个或者多个检测图形数据中添加对检测单元任一路TP检测通道的划线检测流程。本实施例中添加两条检测图形数据，在第一条检测图形数据中，绑定对检测单元其中一个通道(后面简称通道一)所接的触控屏的划线检测流程;在第二条检测图形数据中，绑定对检测单元的另一通道(后面简称通道二)所接的触控屏的划线检测流程，以上编辑完成后生成模组检测图形列表文件。
[0027]4、以上配置以及准备工作完成后，即可以进行划线老化检测。
[0028]4.1、首先上层控制系统通过LAN对各个检测单元进行连接状态确认。
[0029]4.2、确认连接正常后，将上述生成的TP配置文件中的各项配置参数下发给各个检测单元，检测单元中的信号发生器对接收到的配置参数进行解析后发送给触控系统接口单元，同时加载生成的模组检测图形列表文件。
[0030]4.3、根据接收到的模组检测图形列表信息，控制各个检测单元点亮每个检测通道所接的触控屏，并显示出检测图形列表中的第一张图形。
[0031]5、触控屏点亮后，即进入划线老化检测阶段，初期会让触控屏循环的显示检测图形，每张图形会保持显示一定时间。在切换显示图形的过程中，PG装置3会根据模组检测列表文件中每张图形绑定的流程，来自动调出相应的流程。
[0032]5.1、当切换到模组检测列表文件中第一张图形时，会启动对各个检测单元通道一所接触控屏的划线检测流程。信号发生器控制触控系统接口单元与触控屏的触控芯片通信并建立连接，触控芯片此时处于工作状态，即每个检测单元的检测通道一所接的触控屏的触控芯片处于工作状态。由于此时触控屏都还在高温环境中，此时只是使触控屏的触控芯片保持工作状态，当前图形显示保持时间达到后，信号发生器控制触控系统接口单元断开与触控屏的触控芯片之间的连接，相应的，触控芯片进入未工作状态。上一张图形显示时间达到后，信号发生器使各个触控屏显示到第二张图形，此时会启动对各个检测单元通道二所接触控屏的划线检测流程。对通道二所接触控屏的划线检测流程，与对通道一的一致。本实施例中，前期的检测中，达到的效果其实是使各个检测单元的通道一和通道二所接触控屏的触控芯片轮流地处于工作状态，对其进行老化。
[0033]6、到达检测的中期，具体地去验证各个触控屏的划线功能，或者抽查其中部分触控屏的划线功能。
[0034]6.1、关闭高温炉，使恢复到环境温度，当触控屏显示到第一张图形，并启动了对检测单元通道一所接触控屏的划线检测流程，直到触控系统接口单元与触控屏的触控芯片建立连接。
[0035]6.2、作业员使用手指在对应的触控屏上划动。由于正常情形下，触控系统接口单元会实时地从触控屏的触控芯片中获取坐标数据，返回给信号发生器，信号发生器对接收到的坐标数据进行解析后，实时地通过LVDS链路在当前画面上显示出对应轨迹，因此触控屏显示的图形上会在手指划过的位置实时地显现出轨迹。如果发现上层控制系统提示某位置的触控屏的触控芯片连接不成功，或者某块触控屏的划线轨迹显示不流畅或者有延时等，则将该触控屏挑出，写明异常情形，放入不良品框。
[0036]6.3、当触控屏显示到第二张图形后，重复通道一的检测步骤，检测各个检测单元通道二所接触控屏的划线功能是否正常。
[0037]7、对触控屏的具体划线功能验证完成后，将重新进入对触控屏的高温老化检测。一段时间后，又将继续对触控屏的划线功能实际地去验证，然后重又进入高温老化，如此循环往复。
[0038]8、重复地进行以上检测，直到达到规定的划线老化检测时长，至此整个检测完成。
[0039]以上所述，仅为本发明的【具体实施方式】，应当指出，任何熟悉本领域的技术人员在本发明所揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种触控屏的划线老化检测方法，其特征在于: 根据触控屏的种类生成触控屏参数配置文件及包含多个检测图形数据的模组检测图形列表文件，在所述模组检测图形列表文件的任意一个或多个检测图形数据中添加任意一路检测通道的划线检测流程； 下发所述触控屏参数配置文件及所述模组检测图形列表文件，点亮各个所述检测通道的触控屏； 根据所述模组检测图形列表文件在各个所述触控屏上循环的切换检测画面，当任一触控屏当前检测画面中添加有划线检测流程时，触发该划线检测流程并对该触控屏进行划线操作，将划线轨迹显示不良的触控屏挑出。2.如权利要求1所述触控屏的划线老化检测方法，其特征在于，所述划线检测流程为:与该检测通道的触控屏的触控芯片建立连接，当所述该检测通道的触控屏上有手指划过时，从该触控芯片实时获取手指划动的坐标信息，并将该坐标信息反馈给信号发生器，所述信号发生器对该坐标信息进行解析后实时的在所述该检测通道的触控屏的对应位置显示出轨迹。3.如权利要求1所述触控屏的划线老化检测方法，其特征在于:对所述触控屏进行划线操作前，将各个所述触控屏置于高温或低温老化炉内，循环的切换触控屏上的检测画面，使该各个所述触控屏的触控芯片轮流处于工作状态，以对该各个所述触控屏进行老化处理。4.如权利要求3所述触控屏的划线老化检测方法，其特征在于:在所述触控屏老化处理的过程中重复对触控屏进行多次划线检测，每次划线检测过程中均将划线轨迹显示不良的触控屏挑出，直至达到规定的老化处理时长。5.如权利要求4所述触控屏的划线老化检测方法，其特征在于:在触控屏老化处理的过程中，当触控屏当前检测画面中添加有划线检测流程时，若未进行划线操作，则在当前检测画面达到显示时长时自动结束划线检测流程，并切换到下一检测画面。6.如权利要求1所述的触控屏的划线老化检测方法，其特征在于:每路所述检测通道均存在一个与之对应的划线检测流程。7.如权利要求1-6中任意一条所述的触控屏的划线老化检测方法，其特征在于:所述触控屏参数配置文件包括触控屏分辨率、划线显示方式和供电电压。8.—种触控屏的划线老化检测系统，其特征在于:包括上层控制系统、以及通过LAN线与所述上层控制系统连接的至少一组检测单元，每组所述检测单元包括一个信号发生器以及与所述信号发生器连接的至少一个触控系统接口单元； 所述上层控制系统用于生成触控屏参数配置文件及模组检测图形列表文件，并将触控屏参数配置文件及模组检测图形列表文件下发至各个检测单元； 所述信号发生器用于点亮触控屏、接收上层控制系统下发的触控屏参数配置文件及模组检测图形列表文件，解析后发送给控制触控系统接口单元，以及根据模组检测图形列表文件中的划线检测流程控制触控系统接口单元与触控芯片建立连接，接收控制触控系统接口单元反馈的坐标信息并实时的在触控屏对应位置显示轨迹； 所述触控系统接口单元用于根据信号发生器的控制信号为触控芯片供电、建立连接，及实时读取触控芯片的坐标信息并反馈给信号发生器。9.如权利要求8所述触控屏的划线老化检测系统，其特征在于:所述信号发生器发送的 点屏信号通过LVDS链路输出至触控屏。
【文档编号】G01R31/01GK106093647SQ201610477734
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年6月24日
【发明人】祁焱, 白静, 夏少俊, 朱涛, 刘艳飞, 蒋石运, 雷程程
【申请人】武汉精测电子技术股份有限公司