一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置的制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，包括基座、第一支架、第二支架、直线驱动装置、处理器以及一个以上的与外部金手指插拔配合的连接器，第一支架和第二支架分设于基座一侧，连接器设于第一支架上，第二支架用于固定外部金手指，基座上开有第一接口和第二接口，连接器的一端通过第一接口与处理器电连接，连接器的另一端用于与外部金手指插拔配合，外部金手指通过第二接口与处理器电连接，直线驱动装置的输出端与第二支架驱动连接，用于驱使第二支架在远离和靠近第一支架的方向上运动。本发明可以对金手指的插拔老化和接触电阻进行测试。
【专利说明】
一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置
技术领域
[0001]本发明涉及测试装置，尤其涉及一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置。
【背景技术】
[0002]金手指是由许多金黄色的导电触片组成，表面镀金且触片排列如手指状的连接口，它通常是与内存处理单元的连接器进行插拔配合来传送信号的。而随着金手指与连接器的频繁插拔操作，金手指的导电触片表面由于长期摩擦，导致金手指的表面接触电阻增大，从而使金手指与连接器的电气连接性能下降，出现金手指的插拔老化现象。因此为了合理使用金手指，需要对金手指的接触电阻及插拔老化进行测试。
【发明内容】
[0003]针对现有技术的不足，本发明的目的旨在于提供一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，通过该测试装置可以对金手指的接触电阻和插拔老化进行测试。
[0004]为实现上述目的，本发明采用如下技术方案:
[0005]—种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，包括基座、第一支架、第二支架、直线驱动装置、处理器以及一个以上的与外部金手指插拔配合的连接器，第一支架和第二支架分设于基座一侧，连接器设于第一支架上，第二支架用于固定外部金手指，基座上开有第一接口和第二接口，连接器的一端通过穿过第一接口的电线与处理器电连接，连接器的另一端用于与外部金手指插拔配合，外部金手指通过穿过第二接口的电线与处理器电连接，第二支架与基座滑动配合，直线驱动装置的输出端与第二支架驱动连接，用于驱使第二支架在远离和靠近第一支架的方向上运动。
[0006]优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置还包括第一固定夹板，该第一固定夹板与第一支架可拆卸连接，连接器与固定夹板可拆卸连接。
[0007]优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置还包括第二固定夹板，该第二固定夹板与第二支架可拆卸连接，该第二固定夹板用于与外部金手指可拆卸连接。
[0008]优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置还包括固定于基座上的一个以上的导轨，该导轨与第二支架滑动配合。
[0009]优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置还包括设于导轨上的一个以上的限位开关。
[0010]优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置的限位开关包括限位座、定位杆和表面设有标尺的连接件，限位座设于基座上，连接件由第二支架的一侧伸出并罩于限位座上，限位座上开有限位槽，连接件上开有与限位槽对应的通腔，定位杆贯穿通腔并与限位槽抵接配合。
[0011]优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置的处理器为一微电阻
i+o
[0012]优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置还包括控制器，该控制器与直线驱动装置电连接。
[0013]优选的，上述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置的连接器的数量为两个以上，第一固定夹板和第二固定夹板的数量与连接器的数量一致。
[0014]相比现有技术，本发明的有益效果在于:
[0015]本发明通过第一支架将连接器固定，直线驱动装置的输出端驱动第二支架在远离和靠近第一支架的方向运动，从而带动外部金手指与设于第二支架上的连接器之间进行插拔操作，从而实现对外部金手指的接触电阻和插拔老化测试。
【附图说明】
[0016]图1为本发明的整体结构图；
[0017]图中:1、基座;2、第一支架;21、第一固定夹板;3、第二支架;31、第二固定夹板;4、连接器;5、第一接口；6、第二接口；7、外部金手指;8、导轨;9、限位开关;91、连接件;92、定位杆;93、通腔。
【具体实施方式】
[0018]下面，结合附图以及【具体实施方式】，对本发明做进一步描述:
[0019]请参见图1，一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，包括基座1、第一支架2、第二支架3、直线驱动装置、处理器以及一个以上的与外部金手指7插拔配合的连接器4，第一支架2和第二支架3分设于基座I 一侧，连接器4设于第一支架2上，第二支架3用于固定外部金手指7，基座I上开有第一接口5和第二接口6，连接器4的一端通过穿过第一接口5的电线与处理器电连接，连接器4的另一端与用于与外部金手指7插拔配合，外部金手指7通过穿过第二接口 6的电线与处理器电连接，第二支架3与基座I滑动配合，直线驱动装置的输出端与第二支架3驱动连接，用于驱使第二支架3在远离和靠近第一支架2的方向上运动。
[0020]使用时，通过直线驱动装置的输出端带动第二支架3朝靠近第一支架2的方向运动，直至固定于第二支架3上的外部金手指7插入固定于第一支架2上的连接器4内，并和连接器4电接触，如此，处理器与第一接口 5、连接器4、外部金手指7、以及第二接口 6依次导通，而处理器内置的现有简单程序可通过外部金手指7表面的电压值和电流值计算出金手指表面的平均接触电阻值，之后直线驱动装置的输出端驱动第二支架3远离第一支架2，外部金手指7离开连接器4，完成一次测试。在进行外部金手指7的插拔老化测试时，只需重复上述测试动作，直至处理器计算出的接触电阻值与第一次测试获得接触电阻值存在一定差异时，完成插拔老化测试。本实施例中设定的差异为当电阻变化率<10%时，金手指插拔老化测试完毕，其中电阻变化率=(第一次测得的接触电阻值-最后一次测得的接触电阻值)/第一次测得的接触电阻值X 100%。上述的差异不限于本实施例中规定的，还可以根据连接器4与外部金手指7的不同电气性能设定。
[0021]为了方便更换第一支架2上的连接器4，作为一种优选方案，本实施例中还增设了第一固定夹板21，通过使第一固定夹板21与第一支架2可拆卸连接，可方便第一固定夹板21与第一支架2的拆卸，而通过使第一固定夹板21与连接器4可拆卸连接，不仅便于连接器4与第一固定夹板21的拆卸，也便于更换第一支架2上的连接器4。进一步的，还可以增设第二固定夹板31，并使第二固定夹板31与第二支架3可拆卸连接，外部金手指7以可拆卸方式固定于第二固定夹板31上，如此也便于更滑第二支架3上的外部金手指7。
[0022]为了限制第二支架3的运动，作为一种优选方案，本实施例中在基座I上固定有一个以上的导轨8，并使该导轨8与第二支架3滑动配合。
[0023]为了使外部金手指7与连接器4电接触时，外部金手指7给连接器4表面的压力一定，作为一种优选方案，本实施例中在导轨8上设置了一个以上的限位开关9，该限位开关9不仅可以起到限位保护作用，而且可以使外部金手指7作用在连接器4表面的压力一定，提高测试准度。本实施例中的限位开关9包括限位座、定位杆92和表面设有标尺的连接件91，限位座设于基座I上，连接件91由第二支架3的一侧伸出并罩于限位座上，限位座上开有限位槽，连接件91上开有与限位槽对应的通腔93，定位杆92贯穿通腔93并与限位槽抵接配合，如此，根据标尺调节定位杆92位置，即可方便设定保护距离。当然也可以采用其他结构的限位开关9。
[0024]为了提高测试精度，可以使处理器为一微电阻计，但也可以是其他设备。
[0025]为了实现自动化，提高测试效率和准度，还可以增设控制器，并使控制器与直线驱动装置电连接，如此，控制器内的现有简单程序即可控制直线驱动装置的输出端按照设定好的按压速度、按压频率、按压深度等试验参数来带动外部金手指7运动，无需人手动操作，即可简单高效完成测试。
[0026]为了提高测试效率，还可以使连接器4的数量为两个以上，第一固定夹板21和第二固定夹板31的数量与连接器4的数量一致，如此就可以同时进行多块外部金手指7的测试。
[0027]对本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及形变，而所有的这些改变以及形变都应该属于本发明权利要求的保护范围之内。
【主权项】
1.一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，包括基座、第一支架、第二支架、直线驱动装置、处理器以及一个以上的与外部金手指插拔配合的连接器，第一支架和第二支架分设于基座一侧，连接器设于第一支架上，第二支架用于固定外部金手指，基座上开有第一接口和第二接口，连接器的一端通过穿过第一接口的电线与处理器电连接，连接器的另一端用于与外部金手指插拔配合，外部金手指通过穿过第二接口的电线与处理器电连接，第二支架与基座滑动配合，直线驱动装置的输出端与第二支架驱动连接，用于驱使第二支架在远离和靠近第一支架的方向上运动。2.根据权利要求1所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，还包括第一固定夹板，该第一固定夹板与第一支架可拆卸连接，连接器与固定夹板可拆卸连接。3.根据权利要求2所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，还包括第二固定夹板，该第二固定夹板与第二支架可拆卸连接，该第二固定夹板用于与外部金手指可拆卸连接。4.根据权利要求3所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，还包括固定于基座上的一个以上的导轨，该导轨与第二支架滑动配合。5.根据权利要求4所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，还包括设于导轨上的一个以上的限位开关。6.根据权利要求5所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，限位开关包括限位座、定位杆和表面设有标尺的连接件，限位座设于基座上，连接件由第二支架的一侧伸出并罩于限位座上，限位座上开有限位槽，连接件上开有与限位槽对应的通腔，定位杆贯穿通腔并与限位槽抵接配合。7.根据权利要求1所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，处理器为一微电阻计。8.根据权利要求1-7任意一项所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，还包括控制器，该控制器与直线驱动装置电连接。9.根据权利要求3-6任意一项所述的一种金手指接触电阻及插拔老化测试装置，其特征在于，连接器的数量为两个以上，第一固定夹板和第二固定夹板的数量与连接器的数量一致。
【文档编号】G01R31/00GK105866579SQ201610207744
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2016年4月1日
【发明人】张智畅, 陈蓓, 胡梦海
【申请人】广州兴森快捷电路科技有限公司, 深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司, 广州市兴森电子有限公司