Ntc热敏芯片的测试方法
【专利摘要】本发明公开了一种NTC热敏芯片的测试方法，属于电子元件制备领域。测试得到同一批待测产品中1个基准产品和1个限度产品，并计算得到二者的偏差；在常温下将基准产品和限度产品接入热敏电阻测试仪进行测试，比较二者得出百分偏差值；在热敏电阻测试仪中设定合格品的阻值范围；将待测产品和基准产品置于常温环境下进行恒温处理，并连接热敏电阻测试仪进行测试，若待测产品阻值符合设定的范围，则为合格品。本发明将NTC热敏芯片的测试由油槽/水槽环境转变成常态环境下的测试，其对测试环境要求低，测试过程无需上下夹具，直接测试，简化了测试过程，提高了测试效率，其测试速度为油槽测试方法的8倍左右。
【专利说明】
NTC热敏芯片的测试方法
技术领域
[0001]本发明涉及一种电子元件的测试方法，具体讲是一种NTC热敏芯片的测试方法，属于电子元件制备领域。
【背景技术】
[0002]NTC热敏芯片/电阻器(传感器)对本身阻值精度有严格的要求。NTC热敏芯片/电阻器(传感器)阻值受温度影响很大，测试过程通常对NTC热敏芯片/电阻器(传感器)环境要求较高，一般都是在恒温水槽/油槽中测试，NTC热敏芯片只能在不导电的介质中测试;芯片都比较小，测试过程麻烦且效率低。如果在油中测试的，测试完以后还需要对芯片进行清洗。同时，其测试结果也是通过人工读取电阻测试仪上的阻值来判断是否满足NTC热敏芯片/电阻器(传感器)的精度要求，误判隐患较大。
【发明内容】
[0003]本发明所要解决的技术问题在于克服现有技术缺陷，提供一种测试过程简单，测试效率和测试精度高的NTC热敏芯片测试方法。
[0004]为了解决上述技术问题，本发明提供的NTC热敏芯片的测试方法，包括以下步骤:
[0005]1)、通过油槽/水槽测试方法在同一批待测产品中寻找任一温度下I个阻值接近产品规格中心值RS的产品，记录阻值，作为基准产品；并在所述同一温度下寻找I个阻值接近产品规格下限或上限值的产品，记录阻值为RC，作为限度产品；计算限度产品阻值RC与规格中心值产品RS的偏差C，C=RC/RS-1 ；
[0006]2)、在常温下将基准产品接入热敏电阻测试仪的基准端、限度产品接入热敏电阻测试仪进行测试，得出一百分偏差值X;
[0007]3)、如果待测产品精度为±Y，则在热敏电阻测试仪中将合格品的阻值精度范围设定为:X+(Y-C)_2Y至X+(Y-C)；
[0008]4)、将待测产品和基准产品置于常温环境下进行恒温处理，待测产品连接热敏电阻测试仪的测试端，基准产品连接热敏电阻测试仪的基准端进行测试，若待测产品阻值符合步骤3)设定的阻值范围，则为合格品。
[0009]本发明中，所述步骤3)恒温处理方法为:将风扇固定在待测产品的正上方，距离待测产品小于I OOcm，持续向待测产品吹风5min以上。
[0010]本发明中，包括步骤5):将步骤4)的测试结果与油槽/水槽测试结果进行对比，确定准确后进行批量测试。
[0011]本发明中，重量步骤I)和2)在不同温度下测试多次，精确百分偏差值X。
[0012]本发明的有益效果在于:(1)、本发明将NTC热敏芯片的测试由油槽/水槽环境转变成常态环境下的测试，其对测试环境要求低，测试过程无需上下夹具，直接测试，简化了测试过程，提高了测试效率，其测试速度为油槽测试方法的8倍左右；(2)、测完的产品可以直接流转进入后续工序，无需再进行清洗后流转，避免污染产品，简化了工序；(3)、通过调整测试仪器发出蜂鸣声自动判定待测试产品是否满足阻值精度要求，避免了人工误判。
【附图说明】
[0013]图1为本发明测试环境设置示意图。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图对本发明作进一步详细说明。
[0015]本发明的NTC热敏芯片测试方法，具体步骤如下:
[0016]1、采用现有技术中常用的油槽测试方法，在同批待测产产品中寻找I个阻值接近该批产品规格中心值RS的产品，记录阻值，作为基准产品；在同一环境下寻找I个阻值接近该批产品规格下限或上限的产品，记录阻值为RC，作为限度产品。计算限度产品阻值与规格中心值RS的偏差C，C=RC/RS-1。
[0017]2、将基准产品接入热敏电阻测试仪的基准端、限度产品接入HG2515热敏电阻测试仪的测试端，选择比较模式、百分显示方式分选，得出基准产品与限度产品之间的百分偏差值X。本发明中热敏电阻测试仪的型号为HG2515型，生产商为深圳市蓝科仪器有限公司。
[0018]3、如果待测产品的精度为± Y，则在热敏电阻测试仪中将合格品的阻值精度范围设定为:X+(Y-C)-2Y 至 X+(Y-C)。
[0019]4、在热敏电阻测试仪2的前上方、待测产品4的正上方固定安装风扇I，风扇I距离待测产品4距离在10m以内，风扇I的风向向下，如图1所示；
[0020]5、将待测产品4连接热敏电阻测试仪2的测试端3，基准产品连接热敏电阻测试仪的基准端5，然后启动风扇I向下吹风5min以上，确保待测产品4和基准产品的温度与环境温度保持一致，如图1所示；
[0021]6、启动热敏电阻测试仪进行测试，若待测产品阻值符合热敏电阻测试仪范围的设定，则热敏电阻测试仪发出蜂鸣声，提示待测产品阻值合格。
[0022]7、重复执行步骤I至6进行多批次产品测试，并将测试产品再进行油槽测试，然后进行对比确定正确后，进行批量测试。
[0023]以具体实施例进行说明:
[0024]1、用油槽方法(油槽温度设为25°C)实测同批次中I个接近该批产品规格中心值RS(中心值为1k Ω )的NTC热敏芯片的电阻，其阻值为9.98k Ω，作为标准电阻，即基准产品；设该批产品的实际要求测试范围为R25:1OkQ ±10%;然后，在油槽中测得接近一个该批产品规格下限的NTC热敏芯片电阻RC，其阻值为9.83k Ω，作为限度产品；
[0025]2、计算限度产品阻值与规格中心值RS的偏差C，C = RC/RS-1 = 9.83/10-1 =-0.017ο
[0026]3、将标准电阻接入热敏电阻测试仪的基准端、限度产品接热敏电阻测试仪的测试端，选择比较模式、百分显示方式分选，比较得出基准产品与限度产品之间的百分偏差值X，X:-0.015(百分显示为-1.5%) O
[0027]4、如果待测产品的精度为±2%，则在热敏电阻测试仪中将合格品的阻值精度范围设定为:父+(丫-(:)-2￥至父+(￥-0，即:-0.015+(0.02+0.017)-2*0.02至-0.015+(0.02+0.017)，最终范围为-0.18%至+2.2%。
[0028]5、待测产品连接热敏电阻测试仪的测试端，基准产品连接热敏电阻测试仪的基准端，然后启动风扇向下吹风5min，启动热敏电阻测试仪进行测试，若待测产品阻值符设定的范围-0.18 %至+2.2 %，则热敏电阻测试仪发出蜂鸣声，提示待测产品阻值合格。
[0029]在实际测试过程中，基准产品与限度产品之间的百分偏差值X随环境温度变化发生波动，因此在测试过程中可进行多次测度，确定基准产品与限度产品之间的百分偏差值X，以修正热敏电阻测试仪中合格品的阻值范围。
[0030]作为本领域技术人员应当知道，本发明技术方案中的油槽测试方法也可以采用水槽测试方法进行替代。
[0031]以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种NTC热敏芯片的测试方法，其特征在于包括以下步骤: 1)、通过油槽/水槽测试方法在同一批待测产品中寻找任一温度下I个阻值接近产品规格中心值RS的产品，记录阻值，作为基准产品；并在所述同一温度下寻找I个阻值接近产品规格下限或上限值的产品，记录阻值为RC，作为限度产品；计算限度产品阻值RC与规格中心值产品RS的偏差C，C=RC/RS-1 ； 2)、在常温下将基准产品接入热敏电阻测试仪的基准端、限度产品接入热敏电阻测试仪进行测试，得出一百分偏差值X; 3)、如果待测产品精度为±Y，则在热敏电阻测试仪中将合格品的阻值精度范围设定为:X+(Y-C)-2Y至X+(Y-C); 4)、将待测产品和基准产品置于常温环境下进行恒温处理，待测产品连接热敏电阻测试仪的测试端，基准产品连接热敏电阻测试仪的基准端进行测试，若待测产品阻值符合步骤3)设定的阻值范围，则为合格品。2.根据权利要求1所述的NTC热敏芯片的测试方法，其特征在于所述步骤3)恒温处理方法为:将风扇固定在待测产品的正上方，距离待测产品小于100cm，持续向待测产品吹风5min以上。3.根据权利要求1或2所述的NTC热敏芯片的测试方法，其特征在于包括步骤5):将步骤4)的测试结果与油槽/水槽测试结果进行对比，确定准确后进行批量测试。4.根据权利要求3所述的NTC热敏芯片的测试方法，其特征在于:重量步骤I)和2)在不同温度下测试多次，精确百分偏差值X。
【文档编号】G01K15/00GK105841846SQ201610362528
【公开日】2016年8月10日
【申请日】2016年5月26日
【发明人】汤成平, 刘刚, 王梅凤, 高进, 薛云峰, 唐敏
【申请人】句容市博远电子有限公司