硬压剔除的利记博彩app
【专利说明】
[0001 ]优先权
[0002] 本申请要求2013年3月11日提交的U.S.临时申请N〇.61/775,962的优先权，其全部 内容在此引入以供参考。
技术领域
[0003] 本公开通常涉及触摸传感器数据的处理。
【背景技术】
[0004] 计算设备，诸如平板电脑和笔记本计算机、智能电话和其他移动设备、便携式娱乐 设备(例如手持视频游戏、多媒体播放器等等）以及机顶盒(例如数字有线电视盒、数字视频 光盘(DVD)播放器等等)可以包括便于用户和计算设备之间交互的用户接口设备。已经变得 常见的一种用户接口设备是通过电容感应操作的触摸输入设备(例如触摸传感器设备）。触 摸输入设备可以呈触摸屏、触摸传感器板、触摸传感器滑块或触摸传感器按钮的形式，并且 可以包括由电容传感器元件阵列组成和/或耦接到该电容传感器元件阵列的传感器。电容 感应通常包括扫描操作，所述扫描操作周期性地测量与传感器元件相关联的电容的变化来 确定对象(例如，触针、用户的手指等等)相对于触摸输入设备的的存在、位置和/或运动。
[0005] 为正确操作，触摸输入设备需要能正确地检测和剔除由非导电对象引起的接触 和/或由任何对象(导电和非导电等)通过皮或塑料套引起的接触。然而，常见的检测和剔除 机制通常包含计算密集处理，该计算密集处理通常限制触摸输入设备的功能性和/或导致 不良用户体验。
【附图说明】
[0006] 图1是图示包括触摸传感器组件的示例性电子系统的实施例的框图。
[0007] 图2是图示处理触摸传感器数据的示例性传感器系统的实施例的框图。
[0008] 图3图示根据示例性实施例，被对象的接触的信号热图示例。
[0009] 图4是图示根据示例性实施例，触摸屏上的示例性硬压的框图。
[0010] 图5A是图示根据示例性实施例，由如图4所示的非导电对象的压力的示例性接触 的框图。
[0011] 图5B是图示根据示例性实施例，由正常手指通过2mm皮手套的示例性接触的框图。 [0012]图5C是图示根据示例性实施例，由胖手指通过2mm皮手套的另一示例性接触的框 图。
[0013] 图6A是图示根据示例性实施例，由4mm手指的示例性接触的框图。
[0014] 图6B是图示根据示例性实施例，由5mm手指的示例性接触的框图。
[0015] 图6C是图示根据示例性实施例，由正常手指的示例性接触的框图。
[0016] 图6D是图示根据示例性实施例，由胖手指的示例性接触的框图。
[0017]图6E是图示根据示例性实施例，由人的拳头的示例性接触的框图。
[0018] 图7是图示根据示例性实施例，在周界内的示例性接触区域的框图。
[0019] 图8是图示根据示例性实施例，示例性斜率值阈值相对于关于硬压、正常手指和胖 手指的测量斜率值的图。
[0020] 图9图示根据示例性实施例，硬压剔除的示例性方法。
[0021 ]图10图示根据示例性实施例，在接触IDs确定后，硬压剔除的示例性方法。
[0022]图11图示根据示例性实施例，具有另外的接触区域大小条件的硬压剔除的示例性 方法。
【具体实施方式】
[0023] 下述描述阐述许多具体的细节，诸如具体系统、部件、方法等等的实例，以便为在 此描述的用于硬压剔除的技术的各个实施例提供良好理解。然而，对本领域的技术人员来 说，在没有这些具体细节的情况下，可以实施至少一些实施例是显而易见的。在其他实例 中，不详细地描述或以简单框图格式呈现非常公知的部件或方法，以便避免不必要混淆在 此描述的技术。由此，在上下文中阐述的具体细节仅是示例性的。具体实现可以不同于这些 示例性细节并且仍然预期在本发明的精神和范围内。
[0024] 在本说明书中参考"实施例"、"一个实施例"、"示例性实施例"、"一些实施例"和 "各个实施例"是指引用的具体特征、结构或特性包括在本发明的至少一个实施例中。此外， 出现在本说明书的不同地方的术语"实施例"、"一个实施例"、"示例性实施例"、"一些实施 例"和"各个实施例"不一定均指同一实施例。
[0025] 概述
[0026] 如在此所使用的，"接触"是指产生信号轮廓(signal profile)并且在传感器阵列 具有可测量的触摸区的任何动作。例如，在各个实施例中，接触可以是指下述的任何一个： 对象(例如导电对象，诸如触针、用户的手指等等，或非导电对象)在传感器阵列的触摸感应 表面的物理触摸；以及悬停(hover)，即在不与传感器阵列的触摸感应表面物理触摸的情况 下对象足够接近来影响至少一些传感器元件。
[0027] "硬压"是指由非导电对象或由任何类型的对象通过非导电套在传感器阵列的触 摸感应表面上的接触，其中，该接触使得传感器阵列的传感器元件的自电容和/或传感器阵 列的传感器元件之间的互电容变化。例如，硬压可以是由非导电对象施加到传感器阵列的 触摸感应表面的实际物理触摸，由此使得表面挠曲变形，挠曲变形减小触摸感应表面和其 下显示面板之间的气隙，由此导致传感器元件电容变化。在另一示例中，硬压可以是来自导 电对象(例如诸如手指或触针)或非导电对象通过皮、塑料或其他非导电套(例如皮手套或 塑料智能电话/平板电脑套）的物理触摸;在该示例中，接触套的对象使套压向传感器阵列 的触摸感应表面，由此也会导致至少一些传感器元件的电容的变化，即使传感器元件本身 不被该对象物理触摸。在另一示例中，可通过悬停在传感器阵列的触摸感应表面上的非导 电对象导致硬压，由此影响触摸感应表面和对象之间的气隙。由于这些气隙有效地起到与 非导电套相同的功能，其也会以与非导电套类似的方式影响传感器阵列的传感器元件。
[0028] 由硬压导致的其中一个主要问题是由用户非预期或故意所做的错误接触，但其仍 然由触摸输入设备处理并且起作用。为解决这些问题，在此描述了在触摸输入应用中，硬压 剔除的技术。在一些示例性实施例中，在此描述的技术实现为过滤逻辑，该过滤逻辑分析在 传感器阵列上检测的信号的形状，并且如果分析表明属硬压事件则剔除该信号。例如，当首 次检测到接触时，过滤逻辑分析传感器阵列上的触摸区，如果与正常接触相比，接触的特性 (例如，基于形状)是平的，则剔除该对象并且不向进一步处理报告。过滤逻辑由此增强了相 对于触摸区大小评价信号值的分布的理念，以便确定信号的斜率类型。该理念的前提是硬 压(例如，非导电对象或通过皮/塑料套的触摸)通常产生比由正常接触产生的信号更平的 信号，因为与传感器阵列元件中的感应电极的距离增加。
[0029] 在示例性实施例中，在此描述的用于硬压剔除的技术可以实现为由计算设备执行 的方法。在该实施例中，该方法包括如下步骤:访问信号值的集合，该信号值的集合表示在 扫描操作期间，在传感器阵列上所检测的对象;确定与在传感器阵列上所检测的对象对应 的触摸区，其中，触摸区与来自该信号值的集合的多个信号值相关联;基于触摸区中的信号 分布值与表示触摸区的大小相对于传感器阵列的量度(metric)的比率，计算用于所检测的 对象的斜率值;通过执行斜率值与阈值的比较，确定接受还是剔除所检测的对象；以及基于 比较，剔除所检测的对象。在该实施例的一个方面中，在不计算或使用表示由在传感器阵列 的触摸感应表面上所检测的对象引起的压力的信号值的情况下，剔除所检测的对象。在另 一方面中，计算斜率值包括将该比率与多个信号值中的最大值相乘，和/或将斜率值换算成 单字节值。在另一方面中，剔除所检测的对象进一步包括将触摸区的大小与最小触摸区阈 值比较，并且当触摸区的大小大于最小触摸区阈值时，剔除所检测的对象。
[0030] 在另一示例性实施例中，在此描述的技术可以实现为在非瞬时固件中存储的指令 集。当由计算设备执行时，这些指令使计算设备执行用于上文所述的硬压剔除的方法(及其 不同方面)的操作。
[0031] 在另一示例性实施例中，设备包括与处理逻辑耦接的传感器。传感器被配置成在 扫描操作期间，从传感器阵列测量多个测量结果(measurement)，其中，多个测量结果表示 在传感器阵列上所检测的对象。处理逻辑被配置成至少：确定与在传感器阵列上所检测的 对象对应的触摸区，其中，触摸区与从多个测量结果得出的多个信号值相关联;基于触摸区 的信号分布值与表示触摸区的大小相对于传感器阵列的量度的比率，计算用于所检测的对 象的斜率值;并且基于斜率值与阈值的比较，剔除所检测的对象。
[0032] 在另一示例性实施例中，系统包括与电容传感器耦接的电容传感器阵列和与电容 传感器耦接的处理逻辑。电容传感器阵列包括多个传感器元件。电容传感器被配置成在扫 描操作期间，从多个传感器元件测量多个测量结果，其中，多个测量结果表示在电容传感器 阵列上所检测的对象。处理逻辑被配置成至少:确定与在电容传感器阵列上所检测的对象 对应的触摸区，其中，触摸区与从多个测量结果得出的多个信号值相关联;基于触摸区的信 号分布值与表示触摸区的大小相对于电容传感器阵列的量度的比率，计算用于所检测的对 象的斜率值;并且基于斜率值与阈值的比较，剔除所检测的对象。
[0033] 示例性操作环境
[0034]图1图不电子系统100的一个不例性实施例的框图，电子系统100包括可以被配置 成从触摸感应表面测量电容并且执行在此描述的硬压剔除的技术的处理设备11〇(例如计 算设备）。电子系统100包括耦接到处理设备110的触摸感应表面116 (例如触摸屏、触控板等 等)和主机150。在一些实施例中，触摸感应表面116是使用传感器阵列121来检测表面116上 的接触的二维用户接口。
[0035] 在图1的示例性实施例中，传感器阵列121包括设置为二维矩阵(也称为XY矩阵）的 传感器元件121(1)_121(?(其中4为正整数）。经传输多个信号的一个或多个模拟总线 115,传感器阵列121耦接到管脚113(1 )-113(Ν)。在该实施例中，每个传感器元件121(1 )-121(Ν)表示为电容器。通过处理设备110中的电容传感器101，测量传感器阵列121中的每一 传感器元件的自电容。取决于传感器阵列的类型，在一些实施例中，电容传感器可以被配置 成当导电对象(例如触针、用户的手指等等)与传感器元件接触时，检测传感器元件的互电 容。
[0036] 电容传感器101可以包括将电容转换成测量值(或测量结果）的张弛振荡器或其他 装置。电容传感器101还可以包括测量振荡器输出的计数器或定时器。电容传感器101可以 进一步包括将计数值(例如电容值)转换成传感器元件检测判定(也称为开关检测判定)或 相对值的软件部件。在一些实施例中，由电容传感器101获得的测量值(或测量结果)可以是 表示信号的一个或多个特性的信号值;此外，或作为替代，在一些实施例中，信号值可以是 基于信号特性，例如，诸如电压和/或电流大小、原始电容等等，从测量值导出的值。应注意 到，存在测量电容的各种已知方法，诸如电流对电压相移测量、电阻-电容充电时间、电容桥 分器、电荷转移、逐次逼近、Σ-△调制器、电荷蓄积电路、场效应、互电容、频移或其他电容 测量算法。还应注意到，代替相对于阈值评价原始计数，电容传感器可以评价其他量度来确 定用户交互。例如，在具有Σ-△调制器的电容传感器中，电容传感器可以评价输出的脉宽 的比率，而不是高于或低于某一阈值的原始计数。
[0037] 在图1的示例性实施例中，处理设备110进一步包括处理逻辑102。处理逻辑102的 操作可以以固件(例如诸如存储固件指令的非瞬时计算机可读介质）实现;或者，可以以硬 件或软件实现。处理逻辑102可以被配置成执行实现如在此描述的用于硬压剔除的技术的 操作。例如，处理逻辑102可以从电容传感器101接收原始测量结果，从原始测量结果得到信 号值的集合，确定与在传感器阵列上所检测的对象对应的触摸区（触摸区与来自信号值集 合的多个信号值相关联），基于触摸区中的信号分布值与表示触摸区的大小相对于传感器 阵列的量度的比率，计算用于所检测的对象的斜率值，并且基于斜率值与阈值比较，剔除所 检测的对象。
[0038]在另一实施例中，代替在处理设备(例如，诸如处理设备110)中执行处理逻辑的操 作，处理设备可以将原始数据或部分处理的数据发送到主机，例如，诸如主机150。如图1所 示，主机150可以包括判定逻辑151，该判定逻辑151执行用于处理逻辑102的一些或全部上 述操作。可以以固件、硬件、软件或其组合实现判定逻辑151的操作。主机150可以包括在应 用152中的高级应用编程接口（API)，其在所接收的数据上执行例程，诸如补偿灵敏度差、其