一种用于电阻测量的辅助装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种辅助装置，具体涉及一种用于电阻测量的辅助装置。
【背景技术】
[0002]现有的薄膜电阻测试时一般采用金属夹子或测试笔，这两种侧方法均存在一定的问题。金属夹子由于夹紧力度较大，容易破坏薄膜电阻元件的表面，影响测试的结果；而采用测试笔测试时，使用者每次都需要将两根测试笔分别与电阻的两根引线接触，这样测试比较麻烦，效率低下，不便于规模化生产。
【发明内容】
[0003]为解决现有技术的不足，本发明提供了一种结构简单，使用效率高的电阻测量辅助装置。
[0004]本发明解决问题采用的技术方案是:
一种用于电阻测量的辅助装置，包括基座，所述基座的表面设置有多道凹槽，所述凹槽由左、右凹槽构成，所述基座内设有导片，其中每一道的左凹槽的底部均与导片连接，所述导片的一端延伸至基座的外部，所述基座的一侧还铰接有可盖合在基座表面的压板，所述压板与凹槽正对的位置上设置有弹性的凸块。
[0005]作为上述方案的进一步改进，所述凸块为橡胶制件。
[0006]作为上述方案的进一步改进，所述压板的上表面固定连接有重块。
[0007]作为上述方案的进一步改进，所述重块上延伸有用于拉起压板的把手。
[0008]本发明的有益效果:本发明采用设置有凹槽的基座，使用时可将电阻的放在凹槽内，并将压板放下压紧电阻，一边用金属夹子夹住导片，一边用测试笔逐一与电阻的一端引线接触，即可取得每一个的测试结果。装载电阻十分方便，有利于提高测试的效率。
【附图说明】
[0009]下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明:
图1是本发明的局部剖视示意图；
图2是本发明的基座的俯视不意图。
【具体实施方式】
[0010]参照图1和图2，一种用于电阻测量的辅助装置，包括基座1，所述基座I的表面设置有多道凹槽2，所述凹槽2由左、右凹槽21、22构成，所述基座I内设有导片3，其中每一道的左凹槽21的底部均与导片3连接，所述导片3的一端延伸至基座I的外部，所述基座I的一侧还铰接有可盖合在基座I表面的压板4，所述压板4与凹槽2正对的位置上设置有弹性的凸块5。
[0011]作为进一步优选的实施方式，所述凸块5为橡胶制件。
[0012]作为进一步优选的实施方式，所述压板4的上表面固定连接有重块6。当压板4盖合在基座I上时，该重块6有助于将凸块5压紧在凹槽2内，保证放置在其中的电阻8不易松动。
[0013]作为进一步优选的实施方式，所述重块6上延伸有用于拉起压板4的把手7。该把手7和重块6为一体式的结构。
[0014]本发明结构紧凑，主要适用两支引线向相反两端延伸的电阻8，使用时将电阻8放置在凹槽2内，其中一端的引线放置在左凹槽21内，另一端的引线放置在右凹槽22内。盖上压板4，压板4上的凸块5紧压电阻8的引线，保证电阻8不易松动。将与测试仪器连接金属夹子夹紧导片3，测试仪器的另一端采用测试笔，此时利用测试笔逐一接触电阻8右边伸长基座I外部的引线，即可得出每一个电阻8的测试结果。
[0015]以上所述只是本发明较佳的实施方式，其并不构成对本发明保护范围的限制，只要是以基本相同的手段实现本发明的目的都应属于本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种用于电阻测量的辅助装置，包括基座(I)，其特征在于:所述基座(I)的表面设置有多道凹槽(2)，所述凹槽(2)由左、右凹槽(21、22)构成，所述基座(I)内设有导片(3)，其中每一道的左凹槽(21)的底部均与导片(3)连接，所述导片(3)的一端延伸至基座(I)的外部，所述基座(I)的一侧还铰接有可盖合在基座(I)表面的压板(4)，所述压板(4)与凹槽(2 )正对的位置上设置有弹性的凸块(5 )。2.根据权利要求1所述的一种用于电阻测量的辅助装置，其特征在于所述凸块(5)为橡胶制件。3.根据权利要求1所述的一种用于电阻测量的辅助装置，其特征在于所述压板(4)的上表面固定连接有重块(6 )。4.根据权利要求3所述的一种用于电阻测量的辅助装置，其特征在于所述重块(6)上延伸有用于拉起压板(4)的把手(7)。
【专利摘要】本发明公开了一种用于电阻测量的辅助装置，包括基座，所述基座的表面设置有多道凹槽，所述凹槽由左、右凹槽构成，所述基座内设有导片，其中每一道的左凹槽的底部均与导片连接，所述导片的一端延伸至基座的外部，所述基座的一侧还铰接有可盖合在基座表面的压板，所述压板与凹槽正对的位置上设置有弹性的凸块。本发明采用设置有凹槽的基座，使用时可将电阻的放在凹槽内，并将压板放下压紧电阻，一边用金属夹子夹住导片，一边用测试笔逐一与电阻的一端引线接触，即可取得每一个的测试结果。装载电阻十分方便，有利于提高测试的效率。
【IPC分类】G01R27/02
【公开号】CN105021893
【申请号】CN201510488989
【发明人】缪昌谷
【申请人】太仓市高泰机械有限公司
【公开日】2015年11月4日
【申请日】2015年8月11日