电子标签inlay导电胶耐候性筛选方法

文档序号:8542423阅读:236来源:国知局
电子标签inlay导电胶耐候性筛选方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及属于电子标签领域,具体涉及一种电子标签inlay导电胶耐候性筛选方法。
【背景技术】
[0002]电子标签又称射频识别(RFID,Rad1Frequency Identif icat1n),是一种非接触式的自动识别技术。通过相距几厘米到几米距离内读写器发射的无线电波,可以读取电子标签内储存的信息,识别电子标签所代表的物品、人和器具的身份。
[0003]自2010年我国物联网发展被正式列入国家发展战略后,中国RFID及物联网产业迎来了难得的发展机遇。各部委合力推动RFID应用示范工程,智能电网、智能交通、金融服务、物流仓储、医疗健康、食品安全等RFID相关重点应用项目数量明显增加,范围迅速扩大,RFID正逐渐被应用到人们生活的方方面面。
[0004]但在RFID的实际应用中,也存在着许多问题,其中最突出的问题是:标签在使用一段时间后会出现无法读取现象。这直接导致被识别物无法有效识别情况的发生,给RFID及物联网的发展带来了极大的制约。
[0005]电子标签的终端应用环境复杂,有些应用领域比如智能交通、气瓶管理等,环境温度变化剧烈,使用环境恶劣,此领域的电子标签失效率要明显高于其他应用领域。经研宄分析产品的结构之后,发现了隐含的质量问题:导电胶的耐候性能差,由于温度剧烈变化,导致性能差的导电胶失去了导通性能,进而标签无法读取。

【发明内容】

[0006]针对现有技术的不足,本发明的目的是提供一种电子标签inlay导电胶耐候性筛选方法,解决电子标签inlay中所用导电胶的选择问题。
[0007]本发明所述的电子标签inlay导电胶耐候性筛选方法,包括以下步骤:
[0008](I)首先将待测的导电胶封装成inlay ;
[0009](2)将步骤⑴得到的inlay进行读取和电性能测试,电性能测试包括:读取、中心频点、Q值、读取距离、灵敏度和芯片剪切力;
[0010](3)将封装后的inlay平整地放置在试验箱内;
[0011](4)将试验箱内温度升至100±2°C,保持10-30分钟;
[0012](5)然后将试验箱内温度在3-5分钟内降温至-40±2°C,在-40±2°C保持10-30分钟;
[0013](6)步骤(4)和步骤(5)为一个周期,重复80-120个周期;
[0014](7)试验完毕后取出测试的封装后的inlay,首先进行读取测试,如无法读取,则判定导电胶不合格,如正常读取,则进入下一步继续测试;
[0015](8)再进行其它电性能测试,并与试验前数据进行对比:只有全部符合以下要求,才判定导电胶为合格产品:中心频点高频波动在5%以内、超高频波动1%以内;Q值波动在5%以内;灵敏度波动在5%以内;读取距离波动在10%以内;芯片剪切力波动在10%以内。
[0016]其中:
[0017]步骤⑴为将待测的导电胶采用现有技术与天线、芯片采用封装成inlay ;
[0018]步骤⑷为将试验箱内温度升至100±2°C,保持10分钟。
[0019]步骤(5)为然后将试验箱内温度在3-5分钟内降温至-40 ±2 °C,在-40 ±2 °C保持10分钟。
[0020]步骤(6)为步骤(4)和步骤(5)为一个周期,重复100个周期。
[0021]只有步骤(7)和步骤(8)的所有测试均合格,才判定导电胶为合格产品,如果有一项性能测试不合格,则判定导电胶为不合格产品。
[0022]本发明针对应用于环境恶劣的inlay,封装之前要从多种不同型号的导电胶中选择耐温度变化性能好的导电胶,采用本发明所述的实验方法,能够达到筛选导电胶的目的,从而避免应用阶段出现批量的读取失败问题,避免给生产厂家以及客户带来不必要的经济损失。
[0023]实际应用时,可以采用抽检的方式,对产品抽检部分进行测试,如果抽检的所有样品测试均合格,则判定为合格产品。
[0024]经本发明方法筛选得到的合格的导电胶采用普通工艺制备电子标签,制备得到的电子标签使用寿命长。
[0025]综上所述,本发明具有以下优点:
[0026](I)本发明使用高低温冲击设备来对封装好的inlay进行测试,在短时间内由极高温转换到极低温,或者由极低温转换到极高温,以便在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或者物理伤害。由于电子标签在气瓶管理及智能交通中的应用环境温度区间约为-20°C?80°C,所以此发明方法中的高温选择为100±2°C,低温选择为_40±2°C;并且,模拟标签的实际使用,高低温转换时间为3-5分钟;高低温温度循环周期为80-120个,为达到可靠性试验以及产品筛选的目的,优选循环周期为100个。
[0027](2)本发明解决了 inlay封装时导电胶的筛选问题,对于温度变化剧烈的环境中所使用的inlay,其导电胶经过本发明的测试后封装生产,避免了项目实施阶段出现的标签无法读取现象,同时增加了产品的使用寿命,降低了用户的使用成本,提升RFID应用项目的整体效率。
【具体实施方式】
[0028]下面结合实施例对本发明做进一步说明。
[0029]实施例1
[0030]选取市售的某一种导电胶样品进行耐候性筛选方法:
[0031](I)选取市售的某一种导电胶样品,首先将待测的导电胶与天线、芯片封装成inlay ;
[0032](2)选取10枚步骤(I)得到的inlay进行读取和电性能测试,电性能测试包括:读取、中心频点、Q值、读取距离、灵敏度和芯片剪切力;
[0033](3)将10枚封装后的inlay平整地放置在试验箱内;
[0034](4)将试验箱内温度升至100±2°C,保持10分钟;
[0035](5)然后将试验箱内温度在5分钟内降温至_40±2°C,在_40±2°C保持10分钟;
[0036](6)步骤(4)和步骤(5)为一个周期,重复100个周期;
[0037](7)试验完毕后取出测试的封装后的inlay,首先进行读取测试,实验结果为3枚inlay无法读取,所以直接判断此导电胶不合格。
[0038]实施例2
[0039]选取市售的某一种导电胶样品进行耐候性筛选方法:
[0040](I)选取市售的某一种导电胶样品,首先将待测的导电胶与天线、芯片封装成inlay ;
[0041](2)选取10枚步骤⑴得到的inlay进行读取和电性能测试,电性能测试包括:读取、中心频点、Q值、读取距离、灵敏度和芯片剪切力;
[0042](3)将10枚封装后的inlay平整地放置在试验箱内;
[0043](4)将试验箱内温度升至100±2°C,保持20分钟;
[0044](5)然后将试验箱内温度在3分钟内降温至-40±2°〇,在-40±2°〇保持20分钟;
[0045](6)步骤(4)和步骤(5)为一个周期,重复100个周期;
[0046](7)试验完毕后取出测试的封装后的inlay,首先进行读取测试,全部能够正常读取,进入下一步继续测试;
[0047](8)再进行其它电性能测试,并与试验前数据进行对比:测试结果为中心频点高频波动大于5%,所以判断此导电胶不合格。
[0048]实施例3
[0049]选取市售的某一种导电胶样品进行耐候性筛选方法:
[0050](I)选取市售的某一种导电胶样品,首先将待测的导电胶与天线、芯片封装成inlay ;
[0051](2)选取10枚步骤(I)得到的inlay进行读取和电性能测试,电性能测试包括:读取、中心频点、Q值、读取距离、灵敏度和芯片剪切力;
[0052](3)将10枚封装后的inlay平整地放置在试验箱内;
[0053](4)将试验箱内温度升至100±2°C,保持15分钟;
[0054](5)然后将试验箱内温度在3分钟内降温至_40±2°C,在_40±2°C保持15分钟;
[0055](6)步骤(4)和步骤(5)为一个周期,重复100个周期;
[0056](7)试验完毕后取出测试的封装后的inlay,首先进行读取测试,全部能够正常读取,则判定导电胶合格;
[0057](8)再进行其它电性能测试,并与试验前数据进行对比:测试结果为:中心频点高频波动在5%以内、超高频波动I %以内山值波动在5%以内;灵敏度波动在5%以内;读取距离波动在10%以内;芯片剪切力波动在10%以内。
[0058]由于该产品选取的10枚导电胶在步骤(7)和步骤⑶的所有测试均合格,所以判定该导电胶为合格产品。
【主权项】
1.一种电子标签inlay导电胶耐候性筛选方法,其特征在于:包括以下步骤: (1)首先将待测的导电胶封装成inlay; (2)将步骤(I)得到的inlay进行读取和电性能测试,电性能测试包括:读取、中心频点、Q值、读取距离、灵敏度和芯片剪切力; (3)将封装后的inlay平整地放置在试验箱内; (4)将试验箱内温度升至100±2°C,保持10-30分钟; (5)然后将试验箱内温度在3-5分钟内降温至-40±2 °C,在-40 ±2 °C保持10-30分钟; (6)步骤(4)和步骤(5)为一个周期,重复80-120个周期; (7)试验完毕后取出测试的封装后的inlay,首先进行读取测试,如无法读取,则判定导电胶不合格,如正常读取,则进入下一步继续测试; (8)再进行其它电性能测试,并与试验前数据进行对比:只有全部符合以下要求,才判定导电胶为合格产品:中心频点高频波动在5%以内、超高频波动1%以内;0值波动在5%以内;灵敏度波动在5%以内;读取距离波动在10%以内;芯片剪切力波动在10%以内。
2.根据权利要求1所述的电子标签inlay导电胶耐候性筛选方法,其特征在于:步骤(4)为将试验箱内温度升至100±2°C,保持10分钟。
3.根据权利要求1所述的电子标签inlay导电胶耐候性筛选方法,其特征在于:步骤(5)为然后将试验箱内温度在3-5分钟内降温至_40±2°C,在_40±2°C保持10分钟。
4.根据权利要求1所述的电子标签inlay导电胶耐候性筛选方法,其特征在于:步骤(6)为步骤(4)和步骤(5)为一个周期,重复100个周期。
【专利摘要】本发明涉及属于电子标签领域,具体涉及一种电子标签inlay导电胶耐候性筛选方法。首先将待测的导电胶封装成inlay,再进行读取和电性能测试,然后放置在试验箱内进行高低温温度循环80-120个周期,试验完毕后再进行读取和电性能测试,只有能够正常读取并且电性能波动在一定范围内,才判定导电胶为合格产品。本发明解决了inlay封装时导电胶的筛选问题,对于温度变化剧烈的环境中所使用的inlay,其导电胶经过本发明的测试后封装生产,避免出现标签无法读取现象,同时增加了产品的使用寿命,降低了用户的使用成本,提升RFID应用项目的整体效率。
【IPC分类】G01N17-00
【公开号】CN104865181
【申请号】CN201510283274
【发明人】许丕刚, 赵俊江, 巩龙贤, 赵林, 孟彦军, 宋明超
【申请人】山东泰宝防伪技术产品有限公司
【公开日】2015年8月26日
【申请日】2015年5月28日
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