检查设备的制造方法
【技术领域】
[0001 ] 本发明涉及一种检查设备。
【背景技术】
[0002]日本专利N0.4858657公开了一种基板检查设备，其对于印刷板进行电气测试。
【发明内容】
[0003]本发明的目的在于增强在其中测试器被以上下方向布置的结构中装卸基板时的工作性。
[0004]根据本发明的第一方面，提供了一种检查设备，其包括第一测试器和第二测试器，基板被装载到所述第一测试器和所述第二测试器中的每一个中以及从所述第一测试器和所述第二测试器中的每一个卸下；第一台，所述第一测试器被安装在所述第一台上，所述第一台可移动到所述基板被装载到所述第一测试器中以及从所述第一测试器卸下的第一装卸位置以及所述第一测试器在装载在第一装卸位置的基板的测试期间所位于的第一测试位置，所述第一测试位置设置在所述第一装卸位置上方；第二台，所述第二测试器安装在所述第二台上，所述第二台被设置在所述第一台下方并且可移动到基板被装载在所述第二测试器中以及从所述第二测试器卸下的第二装卸位置以及第二测试器在装载在所述第二装卸位置处的所述基板的测试期间所位于的第二测试位置，所述第二测试位置设置在所述第二装卸位置下方；以及升降机构，所述升降机构将所述第一台上下移动到所述第一装卸位置和所述第一测试位置以及将所述第二台上下移动到所述第二装卸位置和所述第二测试位置。
[0005]根据本发明的第二方面，第二测试器包括盖部，所述盖部在所述基板装载时通过朝向所述第一台移动而打开，并且所述第一测试位置是所述第一台从打开的盖部退回到的位置。
[0006]根据本发明的第三方面，升降机构将第一台和第二台一起向上分别移动到所述第一测试位置和所述第二装卸位置，并且将所述第一台和所述第二台一起向下分别移动到所述第一装卸位置和所述第二测试位置。
[0007]根据本发明的第四方面，升降机构在开始所述第一测试器中的基板的测试的操作被执行时将所述第一台向上移动到所述第一测试位置。
[0008]根据本发明的第五方面，升降机构在开始所述第二测试器中的基板的测试的操作被执行时将所述第二台向下移动到所述第二测试位置。
[0009]根据本发明的第六方面，检查设备进一步包括显示部，所述显示部显示所述第一测试器和所述第二测试器中的测试的结束，并且所述升降机构将所述第一测试器和所述第二测试器中结束测试较早的测试器向上或向下移动到该测试器的装卸位置，而与所述第一测试器和所述第二测试器中的哪个较早地开始测试无关。
[0010]根据本发明的第一方面，能够使得装卸基板时的工作性高于第一台和第二台不上下移动的情况。
[0011]根据本发明的第二方面，与第一台不退回的情况相比，能够进一步抑制第二测试器的盖部分与第一台发生干扰。
[0012]根据本发明的第三方面，能够利用单个升降机将第一台和第二台上下移动。
[0013]根据本发明的第四方面，不需要向上移动第一台的操作。
[0014]根据本发明的第五方面，不需要向下移动第二台的操作。
[0015]根据本发明的第六方面，能够与测试开始的顺序无关地将基板装载到结束测试较早的测试器中以及从结束测试较早的测试器卸下。
【附图说明】
[0016]将基于附图详细地描述本发明的示例性实施方式，其中:
[0017]图1是示出根据示例性实施方式的检查设备的构造的透视图；
[0018]图2是示出图1的构造中移动体向下移动的状态的透视图；
[0019]图3是示出根据示例性实施方式的检查设备的构造的侧视图；
[0020]图4是示出图3的构造中第二测试器的盖部打开的状态的侧视图；
[0021]图5是示出图3的构造中移动体向下移动的状态的侧视图；以及
[0022]图6是示出图5的构造中第一测试器的盖部打开的状态的侧视图。
【具体实施方式】
[0023]将在下面参考附图描述本发明的示例性实施方式。
[0024]根据示例性实施方式的检查设备10
[0025]首先，将描述根据示例性实施方式的检查设备10的构造。图1和图2是示出检查设备10的构造的透视图。图3至图6是示出检查设备10的构造的侧视图。在下面的描述中使用的X方向、-X方向、Y方向(向上方向)、-y方向(向下方向)、Z方向以及-Z方向是在图中示出的箭头的方向。在每个附图中，圆圈中有X的标记表示从图的纸面的前侧指向背侧的箭头，并且圆圈中有.的标记表示从图的纸面的背侧指向前侧的箭头。此外，在图3至图6中，检查设备10中的可移动部分(移动体40)被绘制为各个点以便于理解。
[0026]如图1中所示的，检查设备10包括本体框架20和布置在本体框架20内以能够相对于本体框架20在向上方向和向下方向(Y方向以及-Y方向)上移动的移动体40。检查设备10进一步包括布置在移动体40的上部的第一测试器70、布置在移动体40的下部的第二测试器80以及布置在移动体40的下方(在-Y方向一侧)以将移动体40上下移动的升降机90 (升降机构的示例)。
[0027]第一测试器70和第二测试器80均对基板K (电路板)进行电气测试。例如，电气测试是在线测试或功能测试。具体地，第一测试器70和第二测试器80包括测试器主体72和82以及分别布置在测试器主体72和82的上部的可开关的盖部74和84。盖部74和84分别在测试器主体72和82的Z方向端部处由支撑部(铰链)73和83支撑。因此，通过围绕Z方向端部向上(在Y方向上)旋转盖部74和84的-Z方向端部来打开盖部74和84。通过围绕Z方向端部向下(在-Y方向上)旋转盖部74和84的-Z方向端部来将盖部74和84从打开状态关闭。
[0028]测试器主体72和82是箱形状，并且其上部在盖部74和84分别打开的状态下打开。待检查的基板K被装载在测试器主体72和82的上部以及从其卸下。在装载在测试器主体72和82之后，基板K在盖部74和84关闭的状态下进行电气测试。
[0029]测试器主体72和82被设置有用于开始测试的操作部(未示出)。操作者在面对检查设备10的-Z方向侧表面时执行下述操作,该操作将基板K装载在第一测试器70和第二测试器80中以及从其卸下。
[0030]框架主体20是检查设备10中的固定部分，并且包括板状底部22、从底部22的四个角部向上站立的四个柱24A、24B、24C和24D(下面称为柱24A至24D)以及连接四个柱24A至24D的上端部的四个梁26A、26B、26C和26D。
[0031]底部22是其上安装升降机90的部分，并且包括四角形底板22E和围绕底板22E以形成框架的四个底梁22A、22B、22C和22D(下面称为底梁22A至22D)。四个底梁22A至22D在四个角部处由其上安装有检查设备10的床面(未示出)上的腿部21支撑。
[0032]具体地，柱24A至24D从连接四个底梁22A至22D的角部向上站立。在底梁22A的Z方向侧部分中，对向柱28A与柱24A对向地站立并且在其间具有间隔，从而下面描述的辊47A和49A能够被布置在该空间中。在底梁22A的-Z方向侧部分中，对向柱28B与柱24B对向地站立并且在其间具有间隔，从而下面描述的辊47B和49B能够布置在该空间中。对向柱28A和28B的上端部连接到梁26A。