芯片测试方法及系统、计算机可读存储介质与流程

本发明涉及芯片测试，尤其涉及一种芯片测试方法及系统、计算机可读存储介质。

背景技术：

1、在芯片的研发过程中，通常会经过多次流片(shuttle)版本的迭代。在芯片流片版本迭代过程中，可能不具备配套的电源管理集成电路(power management integratedcircuit，pmic)。因此，需要在evb开发板、phy开发板等芯片验证平台上搭建相应的电源模块，在芯片测试过程中为芯片供电。

2、现有技术中，通常根据芯片的电源需求以及固定的上电时序，为芯片搭建上电时序固定的电源模块。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种芯片测试方法及系统，能够对电源模块的上电时序进行灵活调整。

2、为实现上述目的，本发明提供一种芯片测试系统，包括：控制模块以及电源模块，其中：所述控制模块，与所述电源模块耦接，基于获取到的配置文件，向所述电源模块输出控制信号；所述电源模块，包括多个目标供电单元，所述多个目标供电单元与目标芯片的多个电源引脚一一对应耦接；其中：所述配置文件包括所述目标供电单元的标识以及所述目标供电单元的供电时序；所述控制信号适于基于所述目标供电单元的供电时序，控制相应的目标供电单元的供电状态。

3、控制模块基于配置文件，在配置文件中，包括目标供电单元的标识以及目标供电单元的供电时序。控制模块基于配置文件生成控制信号，对各目标供电单元进行相应的控制。由此，通过更改配置文件，即可对部分或者全部的目标供电单元的供电时序进行调整，进而对目标芯片的上下电时序进行调整。

4、可选的，芯片测试系统还可以包括：上位机，与所述控制模块耦接，适于向所述控制模块发送所述配置文件。

5、测试人员可以通过上位机生成配置文件，并通过上位机与控制模块之间的通信接口将所生成的配置文件发送给控制模块。

6、可选的，所述控制信号包括使能信号；所述目标供电单元接收到所述使能信号，向所述目标芯片中对应的电源引脚供电；所述目标供电单元未接收到所述使能信号，停止向所述目标芯片中对应的电源引脚供电。

7、可选的，所述多个目标供电单元中的至少部分目标供电单元的电性参数可调。

8、可选的，所述控制模块，还用于向所述至少部分目标供电单元输出参数调整指令，对所述至少部分目标供电单元的电性参数进行调整。

9、具体地，至少部分目标供电单元的电性参数可调。控制模块可以向电性参数可调的目标供电模块输出参数调整指令，对参数可调的目标模块的输出参数进行调整，以满足目标芯片对电源的多样化需求。

10、可选的，所述控制模块，还用于检测到所述目标芯片无法正常运行，向所述目标芯片输出复位信号。

11、在测试过程中，若目标芯片无法正常工作(如目标芯片死机等)，控制模块可以向目标芯片输出复位信号，将目标芯片复位，并重新对目标芯片执行测试操作。由此，能够自动地控制目标芯片的复位。

12、可选的，芯片测试系统还包括：测试电路，用于对所述目标芯片进行测试。

13、可选的，所述供电单元包括如下至少一种：直流转换器单元、低压差线性稳压器单元。

14、第二方面，本发明还提供了一种芯片测试方法，包括：获取配置文件，所述配置文件包括：对目标芯片进行测试时使用的目标供电单元的标识，以及各目标供电单元的供电时序；基于所述配置文件生成控制信号；基于所述控制信号，对所述目标供电单元进行控制。

15、第三方面，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行上述任一种所述的芯片测试方法的步骤。

技术特征：

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：控制模块及电源模块，其中：所述控制模块，与所述电源模块耦接，基于获取到的配置文件，向所述电源模块输出控制信号；

2.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括：上位机，与所述控制模块耦接，适于向所述控制模块发送所述配置文件。

3.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述控制信号包括使能信号；所述目标供电单元接收到所述使能信号，向所述目标芯片中对应的电源引脚供电；所述目标供电单元未接收到所述使能信号，停止向所述目标芯片中对应的电源引脚供电。

4.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述多个目标供电单元中的至少部分目标供电单元的电性参数可调。

5.如权利要求4所述的芯片测试系统，其特征在于，所述控制模块，还用于向所述至少部分目标供电单元输出参数调整指令，对所述至少部分目标供电单元的电性参数进行调整。

6.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述控制模块，还用于检测到所述目标芯片无法正常运行，向所述目标芯片输出复位信号。

7.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括：测试电路，用于对所述目标芯片进行测试。

8.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述供电单元包括如下至少一种：直流转换器单元、低压差线性稳压器单元。

9.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器运行时执行权利要求9所述的芯片测试方法的步骤。

技术总结
一种芯片测试方法及系统、计算机可读存储介质，所述芯片测试系统包括：控制模块以及电源模块，其中：所述控制模块，与所述电源模块耦接，基于获取到的配置文件，向所述电源模块输出控制信号；所述电源模块，包括多个目标供电单元，所述多个目标供电单元与目标芯片的多个电源引脚一一对应耦接；其中：所述配置文件包括所述目标供电单元的标识以及所述目标供电单元的上电时序；所述控制信号适于基于所述目标供电单元的上电时序，控制相应的目标供电单元的供电状态。采用上述方案，能够对电源模块的上电时序进行灵活调整。

技术研发人员：黄有志
受保护的技术使用者：紫光展讯通信（惠州）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15