重力场式低频传感器测试装置制造方法

文档序号:6075453阅读:299来源:国知局
重力场式低频传感器测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及重力场式低频传感器测试装置,包括底座、驱动器、旋转轴、传感器座、低频传感器和控制器,其特征是驱动器固定在底座上,旋转轴的两端分别与驱动器和传感器座连接,低频传感器通过螺纹连接或者粘接固定在传感器座上,低频传感器的轴线与旋转轴的轴线相互垂直,低频传感器的测试信号输出端与控制器的测试信号输入端连接,控制器的控制信号输出端与驱动器的控制信号输入端连接。采用本实用新型,由于低频传感器的敏感方向与重力加速度方向处于同一平面,所受激励信号是可以达到1g的重力加速度,低频传感器的输出只受重力加速度的影响,而激励装置提供一个频率的激励,可以使得测试频率低至0Hz,而且频率稳定性好、波形失真度小。
【专利说明】重力场式低频传感器测试装置

【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测试装置,具体而言是重力场式低频传感器测试装置。

【背景技术】
[0002]低频传感器广泛应用于航天航空领域,作为低频传感器所特有的性能试验,其测试试验、尤其是灵敏度的幅频响应至关重要。目前国家计量检定规程中的最低频率为0.4Hz ;现有的低频传感器测试装置为水平气浮式测试装置,进行低频传感器测试时,把低频传感器沿其主振方向水平地固定在低频传感器测试装置的传感器安装面上,然后通过气浮式低频振动发生装置进行水平方向低频振动的激励,由于激励电信号范围原因,最低频率下限只能达到1Hz,而且激励正弦信号是通过电信号进行转化而来,得到的激励正弦波并不圆滑,进而影响低频传感器低频性能的测试。现有的低频传感器测试装置已经不能满足航天军工领域生产发展对低频传感器测试试验的要求,因此,设计出频率稳定性好、波形失真度小并且测试频率下限能低至OHz的重力场式低频传感器测试装置十分必要。


【发明内容】

[0003]本实用新型的目的是提供频率稳定性好、波形失真度小并且测试频率下限能低至OHz的重力场式低频传感器测试装置。
[0004]为实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:
[0005]重力场式低频传感器测试装置,包括底座、驱动器、旋转轴、传感器座、低频传感器和控制器,其特征是驱动器固定在底座上,旋转轴的两端分别与驱动器和传感器座连接,低频传感器通过螺纹连接或者粘接固定在传感器座上,低频传感器的轴线与旋转轴的轴线相互垂直,低频传感器的测试信号输出端与控制器的测试信号输入端连接,控制器的控制信号输出端与驱动器的控制信号输入端连接。
[0006]进一步地,传感器座的安装面上开设有与低频传感器上的安装孔相应的螺纹孔和定位孔,低频传感器通过螺栓与所述螺纹孔配合固定在传感器座上。
[0007]进一步地,所述传感器座与所述旋转轴同轴。
[0008]进一步地,所述旋转轴的转速为O转/秒到100转/秒。
[0009]进一步地,所述螺纹孔沿所述定位孔周边均匀布置。
[0010]采用本实用新型进行低频传感器测试试验时,由于低频传感器的敏感方向与重力加速度方向处于同一平面,受到的激励信号就是重力加速度,激励加速度可以达到lg,低频传感器的输出只受重力加速度的影响,而激励装置只提供一个频率的激励,利用高精度的激励装置,可以使得测试频率低至0Hz,而且频率稳定性好、波形失真度小。

【专利附图】

【附图说明】
[0011]图1为现有的水平气浮式测试装置结构示意图;
[0012]图2为本实用新型一个实施例的结构示意图;
[0013]图3为图2的右视图。
[0014]图中:1-底座;2-驱动器;3-旋转轴;4-传感器座;4.1-螺纹孔;4.2_定位孔;5-低频传感器;6-控制器。

【具体实施方式】
[0015]以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细描述,但该实施例不应理解为对本实用新型的限制。
[0016]图中所示的重力场式低频传感器测试装置,包括底座1、驱动器2、旋转轴3、传感器座4、低频传感器5和控制器6,驱动器2固定在底座I上,旋转轴3的两端分别与驱动器2和传感器座4连接,低频传感器5通过螺纹连接或者粘接固定在传感器座4上,低频传感器5的轴线与旋转轴3的轴线相互垂直,低频传感器5的测试信号输出端与控制器6的测试信号输入端连接,控制器6的控制信号输出端与驱动器2的控制信号输入端连接。
[0017]优选的实施例是,在上述方案中,所述传感器座4的安装面上开设有与低频传感器5上的安装孔相应的螺纹孔4.1和定位孔4.2,低频传感器5通过螺栓与所述螺纹孔4.1配合固定在传感器座4上。
[0018]优选的实施例是,在上述方案中,所述传感器座4与所述旋转轴3同轴。
[0019]优选的实施例是,在上述方案中,所述旋转轴3的转速为O转/秒到100转/秒。
[0020]优选的实施例是,重力场式低频传感器测试装置,包括底座1、驱动器2、旋转轴3、传感器座4、低频传感器5和控制器6,驱动器2固定在底座I上,旋转轴3的两端分别与驱动器2和传感器座4连接,传感器座4的安装面上开设有与低频传感器5上的安装孔相应的螺纹孔4.1和定位孔4.2,所述螺纹孔4.1沿所述定位孔4.2周边均匀布置,低频传感器5通过螺栓与所述螺纹孔4.1配合固定在传感器座4上,低频传感器5的轴线与旋转轴3的轴线相互垂直,低频传感器5的测试信号输出端与控制器6的测试信号输入端连接,控制器6的控制信号输出端与驱动器2的控制信号输入端连接。
[0021]本说明书中未作详细描述的内容,属于本专业技术人员公知的现有技术。
【权利要求】
1.重力场式低频传感器测试装置,包括底座驱动器(2^旋转轴(3^传感器座(4)、低频传感器(5)和控制器¢),其特征在于:驱动器(2)固定在底座(1)上,旋转轴(3)的两端分别与驱动器(2)和传感器座(4)连接,低频传感器(5)通过螺纹连接或者粘接固定在传感器座(4)上,低频传感器(5)的轴线与旋转轴(3)的轴线相互垂直,低频传感器(5)的测试信号输出端与控制器(6)的测试信号输入端连接,控制器(6)的控制信号输出端与驱动器(2)的控制信号输入端连接。
2.根据权利要求1所述的重力场式低频传感器测试装置,其特征在于:所述传感器座(4)的安装面上开设有与低频传感器(5)上的安装孔相应的螺纹孔(4.1)和定位孔(4.2),低频传感器(5)通过螺栓与所述螺纹孔(4.1)配合固定在传感器座(4)上。
3.根据权利要求1或2所述的重力场式低频传感器测试装置,其特征在于:所述传感器座(4)与所述旋转轴(3)同轴。
4.根据权利要求3所述的重力场式低频传感器测试装置,其特征在于:所述旋转轴(3)的转速为0转/秒到100转/秒。
5.根据权利要求2所述的重力场式低频传感器测试装置,其特征在于:所述螺纹孔(4.1)沿所述定位孔(4.2)周边均匀布置。
【文档编号】G01V13/00GK204241709SQ201420657348
【公开日】2015年4月1日 申请日期:2014年11月5日 优先权日:2014年11月5日
【发明者】白昊, 邓先利, 张燕, 黄卫, 崔青霞, 邓勇, 胡蕙, 吴丰 申请人:湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
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