一种基于毛纽扣的垂直互连测试结构的利记博彩app
【专利摘要】本实用新型涉及一种基于毛纽扣的垂直互连测试结构，金属结构件固定微波电路、介质连接块和安装测试接插件；微波电路与带有测试接插件的盖板分别位于介质连接块的两端，通过对介质连接块的竖直方向嵌入具有弹性的毛纽扣连接器，实现的垂直互连；对位叠层后的介质连接块、微波电路模块、以及带有测试接插件的金属盖板均位于金属结构框架内，实现了对三维垂直模块的测试。与现有技术相比，本实用新型提供了一种定位简单、性能可靠、可重复使用的高性能测试结构，其利用毛纽扣的弹性连接特性，同时将其设计成方形九芯类同轴结构，实现了微波模块与测试接头之间的高性能、高可靠性互连，并且在Ku波段三维微波电路模块测试中表现出了良好的微波传输性能。
【专利说明】一种基于毛纽扣的垂直互连测试结构
【技术领域】
[0001]本发明属于微波【技术领域】，尤其涉及一种基于毛纽扣的垂直互连测试结构，是一种无焊接形式的新型垂直互连的测试结构。
【背景技术】
[0002]随着通讯电子设备对小型化、一体化的需求越来越高，微波电路模块已由二维结构向三维垂直互连结构发展，其整体结构也在逐步小型化。传统焊接接头的测试方法，难以满足对此小型化三维结构微波电路的测试需求。毛纽扣连接器件可实现弹性接触式连接，具有良好的微波和直流传输性能，已逐步应用于微波电路的垂直互连。因此，采用毛纽扣对三维微波电路的测试可满足工程测试的需求。
【发明内容】
[0003]要解决的技术问题
[0004]为了避免现有技术的不足之处，本发明提出一种基于毛纽扣的垂直互连测试结构。
[0005]技术方案
[0006]一种基于毛纽扣的垂直互连测试结构，其特征在于包括带有射频测试点的微波电路模块1、介质连接块2、毛纽扣3、带有SMP接头的金属盖板4和金属结构件5 ;微波电路模块I嵌在金属结构件5中部的通孔内，两个带有SMP接头的金属盖板4固定在金属结构件5的上下两个端面；多个毛纽扣连接器嵌入在介质连接块2上的多个通孔中，然后一并置入金属盖板4与SMP接头连接的内框中，微波电路模块I与带有SMP接头的金属盖板4通过介质连接块2中的毛纽扣连接器实现垂直互连。
[0007]所述多个毛纽扣连接器嵌入在介质连接块2上的多个通孔中的结构为:将毛纽扣排布成一个方形九芯类同轴结构，且中心毛纽扣为微波信号垂直互连传输线，四周的毛纽扣作为地信号的连接线。
[0008]所述介质连接块的高度比毛纽扣的长度小0.2mm。
[0009]所述微波电路模块采用LTCC基板制作，其射频测试点采用类同轴形式实现。
[0010]所述毛纽扣为表面镀金的铜线编织而成的弹性连接器。
[0011]所述介质连接块2的材料采用聚四氟乙烯。
[0012]有益效果
[0013]本发明提出的一种基于毛纽扣的垂直互连测试结构，包括金属结构件，介质连接块，以及带有射频测试点的微波电路模块；所述金属结构件用来固定微波电路、介质连接块和安装测试接插件；所述微波电路与带有测试接插件的盖板分别位于介质连接块的两端，通过对介质连接块的竖直方向嵌入具有弹性的毛纽扣连接器，实现他们之间的垂直互连；所述对位叠层后的介质连接块、微波电路模块、以及带有测试接插件的金属盖板均位于金属结构框架内，实现了对三维垂直模块的测试。与现有技术相比，本发明提供了一种定位简单、性能可靠、可重复使用的高性能测试结构，其利用毛纽扣的弹性连接特性，同时将其设计成方形九芯类同轴结构，实现了微波模块与测试接头之间的高性能、高可靠性互连，并且在Ku波段三维微波电路模块测试中表现出了良好的微波传输性能。
[0014]本发明依靠毛纽扣测试小型化高频三维微波模块的结构。该测试结构无需焊接、定位简单、性能可靠，实现了对三维垂直互连微波模块的高性能测试。
【专利附图】
【附图说明】
[0015]图1为本发明所述三维微波模块测试结构示意图；
[0016]图2为本发明所述LTCC微波电路模块的结构示意图；
[0017]图3为本发明所述嵌入毛纽扣的介质连接块的结构示意图；
[0018]图4为本发明所述带有SMP接头的金属盖板；
[0019]图5为本发明所述的金属结构件的示意图；
[0020]其中，LTCC微波模块1、介质连接块2、毛纽扣3、带有SMP接头的金属盖板4、金属结构件5。
【具体实施方式】
[0021]现结合实施例、附图对本发明作进一步描述:
[0022]本发明采用以下技术方案:一种基于毛纽扣的新型垂直互连测试结构，包括金属结构件，介质连接块，以及带有射频测试点的微波电路模块；所述金属结构件用来固定微波电路、介质连接块和安装测试接插件；所述微波电路与带有测试接插件的盖板分别位于介质连接块的两端，通过对介质连接块的竖直方向嵌入具有弹性的毛纽扣连接器，实现他们之间的垂直互连；所述对位叠层后的介质连接块、微波电路模块、以及带有测试接插件的金属盖板均位于金属结构框架内，实现了对三维垂直模块的测试。
[0023]作为优选，所述微波电路模块采用LTCC基板制作，其射频测试点采用类同轴形式实现。
[0024]作为优选，所述毛纽扣为表面镀金的铜线编织而成的弹性连接器，同时将毛纽扣排布成一个方形九芯类同轴结构，且中心毛纽扣为微波信号垂直互连传输线，四周的毛纽扣作为地信号的连接线。
[0025]作为优选，所述介质连接块的材料采用聚四氟乙烯，介质连接块的高度比毛纽扣的长度小0.2mm,以保证毛纽扣的弹性连接,实现连接的有效性。
[0026]作为优选，所述金属结构件的材料选用铜，金属盖板上的测试接插件采用SMP形式。
[0027]具体实施例如下:
[0028]根据微波电路模块的工作频率，采用LTCC基板设计并制作电路模块，这里仅为验证测试结构的准确性，不引入实际的微波电路，仅用LTCC基板设计出一个无源的微波传输类同轴结构，如附图2所示。
[0029]根据毛纽扣的直径与长度制作尺寸合适的介质连接块，其材料采用聚四氟乙烯，根据介质连接块本身的材料特性，确定嵌入其内部的类同轴毛纽扣的分布位置，如图3所示。当毛纽扣嵌入其内部时，两端各保留0.1_，以提高连接可靠性；在介质连接块内部，将毛纽扣排布成方形类同轴结构，中心的毛纽扣为微波信号垂直互连传输线，四周的毛纽扣作为地信号连接线。
[0030]根据微波电路和毛纽扣的位置，制作带有SMP接头的盖板，如图4所示。
[0031 ] 将LTCC微波电路与带有毛纽扣的介质连接块装入金属结构件内，用带有SMP接头的金属盖板将腔体封住，形成SMP接头、毛纽扣、微波电路之间的互连通路，如图1所示。其中金属结构件基于微波电路性能、介质连接块及盖板尺寸，采用铜材料制作，如图5所示。
【权利要求】
1.一种基于毛纽扣的垂直互连测试结构，其特征在于包括带有射频测试点的微波电路模块(I)、介质连接块(2)、毛纽扣(3)、带有SMP接头的金属盖板(4)和金属结构件(5);微波电路模块(I)嵌在金属结构件(5)中部的通孔内，两个带有SMP接头的金属盖板(4)固定在金属结构件(5)的上下两个端面；多个毛纽扣连接器嵌入在介质连接块(2)上的多个通孔中，然后一并置入金属盖板⑷与SMP接头连接的内框中，微波电路模块⑴与带有SMP接头的金属盖板(4)通过介质连接块(2)中的毛纽扣连接器实现垂直互连。
2.根据权利要求1所述基于毛纽扣的垂直互连测试结构，其特征在于:所述多个毛纽扣连接器嵌入在介质连接块(2)上的多个通孔中的结构为:将毛纽扣排布成一个方形九芯类同轴结构，且中心毛纽扣为微波信号垂直互连传输线，四周的毛纽扣作为地信号的连接线。
3.根据权利要求1所述基于毛纽扣的垂直互连测试结构，其特征在于:所述介质连接块的高度比毛纽扣的长度小0.2mm。
4.根据权利要求1所述基于毛纽扣的垂直互连测试结构，其特征在于:所述微波电路模块采用LTCC基板制作，其射频测试点采用类同轴形式实现。
5.根据权利要求1所述基于毛纽扣的垂直互连测试结构，其特征在于:所述毛纽扣为表面镀金的铜线编织而成的弹性连接器。
6.根据权利要求1所述基于毛纽扣的垂直互连测试结构，其特征在于:所述介质连接块(2)的材料采用聚四氟乙烯。
【文档编号】G01R31/00GK203949985SQ201420346174
【公开日】2014年11月19日 申请日期:2014年6月26日 优先权日:2014年6月26日
【发明者】王拓, 王耀召, 杨伯朝, 王冰, 万涛, 刘卫强 申请人:中国电子科技集团公司第二十研究所