一种高精度采集校正装置制造方法
【专利摘要】本实用新型适用于电气测试【技术领域】，提供了一种高精度采集校正装置，该高精度采集校正装置包括测试板卡，处理器、电源、温度传感器和FLASH芯片，其中，所述电源为上述其他器件提供电源输出，所述温度传感器和FLASH芯片设置于所述测试板卡上，所述温度传感器用于所述测试板卡的当前温度，所述FLASH芯片用于以温度作为地址存储温度段对应的误差值，并根据所述测试板卡的当前温度和所述当前温度对应的误差值，计算所述当前温度的校正参数，所述处理器以所述校正参数校正AD器件的采集精度。本实用新型，通过在测试板卡设置温度传感器和FLASH芯片，校正AD器件的采集精度，提高了不同温度下的AD器件采集精度。
【专利说明】一种高精度采集校正装置
【技术领域】
[0001]本实用新型属于电气测试【技术领域】，尤其涉及一种高精度采集校正装置。
【背景技术】
[0002]由于模拟装置易受温度影响，导致测试结果的误差随温度变化而变化，而这种变化对于高精度采集是不允许的。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的在于提供一种高精度采集校正装置，旨在解决现有高精度采集模拟装置的测试结果的误差随温度变化而变化的问题。
[0004]提供一种高精度采集校正装置，包括测试板卡，处理器和电源，所述装置还包括温度传感器和FLASH芯片，其中，所述电源为上述其他器件提供电源输出，所述温度传感器和FLASH芯片设置于所述测试板卡上，所述温度传感器用于所述测试板卡的当前温度，所述FLASH芯片用于以温度作为地址存储温度段对应的误差值，并根据所述测试板卡的当前温度和所述当前温度对应的误差值，计算所述当前温度的校正参数，所述处理器以所述校正参数校正AD器件的采集精度。
[0005]进一步地，所述温度传感器为TMP121。
[0006]进一步地，所述FLASH芯片为MP25P40。
[0007]进一步地，所述温度段为_40°C到+110°C。
[0008]进一步地，所述误差值是将所述温度段范围内的温度分成8段，采用直线逼近法，获取的非线性的误差值。
[0009]本实用新型实施例，通过在测试板卡设置温度传感器和FLASH芯片，以温度传感器获取的当前温度对应的FLASH芯片中的校正参数，校正AD器件的采集精度，提高了不同温度下的AD器件采集精度。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是本实用新型实施例提供的高精度采集校正装置的结构示意图。
[0011]图2是本实用新型实施例提供的高精度采集校正装置的工作原理示意图。
【具体实施方式】
[0012]为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0013]请一并参照图1，本实用新型实施例提供的高精度采集校正装置包括测试板卡
(1)，处理器(2)和电源(3)，其中，所述装置还包括温度传感器(4)和FLASH芯片(5)，其中，所述电源(3)为上述其他器件提供电源输出，所述温度传感器(4)和FLASH芯片(5)设置于所述测试板卡(1)上，所述温度传感器(4)用于所述测试板卡(1)的当前温度，所述FLASH芯片(5)用于以温度作为地址存储温度段对应的误差值，并根据所述测试板卡(1)的当前温度和所述当前温度对应的误差值，计算所述当前温度的校正参数，所述处理器(2)以所述校正参数校正AD器件的采集精度。
[0014]在本实施例中，将温度段中每个温度共分成8段，校正算法采用直线逼近法，即用一条直线去逼近引起的非线性误差，它们中间的采样值可以通过该直线来进行校正。具体校正说明如下图2所示，其中横轴是理论值，纵轴是实际采样值，由于已知各温度分段的两个点输入标准电压和测试板卡对应采样电压，如图中的kl段的两点(xl，yl)，(xh, yh)是已知，根据直线公式，计算每段非线性误差k，b值，并将其存在FLASH芯片中，校正阶段，读取出已知k，b值，并根据AD器件采集值，计算出当前采集的校正值。
[0015]进一步地，所述温度传感器(4)为TMP121。
[0016]进一步地，所述FLASH芯片(5)为MP25P40。
[0017]进一步地，所述温度段为_40°C到+110°C。
[0018]进一步地，所述误差值是将所述温度段范围内的温度分成8段，采用直线逼近法，获取的非线性的误差值。
[0019]本实施例，通过在测试板卡设置温度传感器和FLASH芯片，以温度传感器获取的当前温度对应的FLASH芯片中的校正参数，校正AD器件的采集精度，实现了零点偏置校正和增益校正，提高了不同温度下的AD器件采集精度。
[0020]以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种高精度采集校正装置，包括测试板卡(1)，处理器(2)和电源(3)，其特征在于，所述装置还包括温度传感器(4)和FLASH芯片(5)，其中，所述电源(3)为上述其他器件提供电源输出，所述温度传感器(4)和FLASH芯片(5)设置于所述测试板卡(I)上，所述温度传感器(4)用于所述测试板卡(I)的当前温度，所述FLASH芯片(5)用于以温度作为地址存储温度段对应的误差值，并根据所述测试板卡(I)的当前温度和所述当前温度对应的误差值，计算所述当前温度的校正参数，所述处理器(2)以所述校正参数校正AD器件的采集精度。
2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述温度传感器(4)为TMP121。
3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述FLASH芯片(5)为MP25P40。
4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述温度段为-40°C到+110°C。
【文档编号】G01K1/20GK204128701SQ201420288863
【公开日】2015年1月28日 申请日期:2014年5月30日 优先权日:2014年5月30日
【发明者】李娇龙 申请人:北京中和卓远科技有限公司