一种用于磁瓦检测的光源装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于磁瓦检测的光源装置，包括半球形灯罩、与半球形灯罩底部连接的灯罩底板以及设置在灯罩底板上、分布在半球形灯罩底部内侧的弧形光源组，其在所述半球形灯罩下部两侧对称地设置磁瓦通过槽，在半球形灯罩一侧设置相机成像开口槽，在所述半球形灯罩内设置有与调节机构连接的遮光板，所述遮光板在调节机构作用下沿半球形灯罩轴向作上下移动。本实用新型通过对灯罩的结构设计，能够完全适应磁瓦的流水线式输送、检测要求，同时，根据所检测磁瓦的形状和尺寸的不同，通过遮光板的调节或者光源装置整体位置的调节，与成像相机进行配合，从而实现对通过光源装置中的磁瓦端面的检测。
【专利说明】—种用于磁瓦检测的光源装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及机械工程照明【技术领域】，特别涉及一种用于磁瓦检测的光源装置。
【背景技术】
[0002]在基于机器视觉的磁瓦表面缺陷检测方法中，主要包括磁瓦图像获取、图像预处理、特征提取与选择、模式分类四个基本步骤。成像质量是机器视觉应用系统成败的关键。一个好的成像系统应尽可能获取高质量的图像，尽可能突出检测目标的特征，以降低图像的处理难度，提高图像的处理速度。
[0003]在机器视觉检测系统中，光源和照明是目前机器视觉应用系统成败的关键，好的光源照明应当具有以下特征:
[0004]1、尽可能突出目标的特征，在物体需要检测的部分与非检测部分之间尽可能产生明显的区别，增加对比度；
[0005]2、保证足够的亮度和稳定性；
[0006]3、物体位置的变化不应影响成像的质量。由于LED光源具有显色性好、发光强度高、衰减小和寿命长等优点，在机器视觉领域得到了越来越广泛的应用。
[0007]—般来说，一套机器视觉系统是专为某型号产品设计的，在光源配置、机械设计和算法设计等方面都存在特定性，很难做到一套机器视觉系统检测多种差异较大的产品。而磁瓦是典型的单件薄利、大批量生产的产品。由于磁瓦种类规格繁多，尺寸及形状差异很大，检测面多，生产节拍很快，产量很高，加之磁瓦本身缺陷种类很多(主要包括裂纹、崩烂、倒角、欠磨、起级和夹层等)，有些缺陷特征也不明显。这些原因都导致了基于机器视觉的磁瓦表面缺陷检测方法极其困难。基于机器视觉的磁瓦表面缺陷检测方法难于取得进展的一个重要原因就是磁瓦成像系统难以适应磁瓦形状和尺寸的多样性，而在成像过程中，具有多样性调整能力的光源装置则是关键所在。
实用新型内容
[0008]本实用新型的发明目的在于，针对上述存在的问题，提供一种在磁瓦检测中，能够根据所检测磁瓦的形状和尺寸的不同进行适应性调整的光源装置。
[0009]本实用新型的技术方案是这样实现的:一种用于磁瓦检测的光源装置，包括半球形灯罩、与半球形灯罩底部连接的灯罩底板以及设置在灯罩底板上、分布在半球形灯罩底部内侧的弧形光源组，其特征在于:在所述半球形灯罩下部两侧对称地设置磁瓦通过槽，在半球形灯罩一侧设置相机成像开口槽，在所述半球形灯罩内设置有与调节机构连接的遮光板，所述遮光板在调节机构作用下沿半球形灯罩轴向作上下移动。
[0010]本实用新型所述的用于磁瓦检测的光源装置，其所述调节机构包括调节螺杆、设置在半球形灯罩顶部的螺套以及锁紧螺母，所述调节螺杆下端与遮光板连接且与螺套通过螺纹连接，通过转动调节螺杆带动遮光板上下移动且由锁紧螺母进行锁紧固定。[0011]本实用新型所述的用于磁瓦检测的光源装置，其在所述遮光板上、靠近相机成像开口槽一侧设置有让位槽。
[0012]本实用新型所述的用于磁瓦检测的光源装置，其所述灯罩底板与圆弧支架连接，所述圆弧支架通过光源升降组件与安装支架连接。
[0013]本实用新型所述的用于磁瓦检测的光源装置，其所述光源升降组件包括螺杆、升降锁紧螺母以及升降调节螺母，所述螺杆上端与安装支架连接，其下端穿过圆弧支架，所述升降锁紧螺母和升降调节螺母分别置于圆弧支架顶部上下两侧且与螺杆通过螺纹连接。
[0014]本实用新型通过对灯罩的结构设计，能够完全适应磁瓦的流水线式输送、检测要求，同时，根据所检测磁瓦的形状和尺寸的不同，通过遮光板的调节或者光源装置整体位置的调节，与成像相机进行配合，从而实现对通过光源装置中的磁瓦端面的检测。
【专利附图】
【附图说明】
[0015]图1是本实用新型的使用状态示意图。
[0016]图2和图3是本实用新型的结构示意图。
[0017]图中标记:I为半球形灯罩，2为灯罩底板，3为磁瓦通过槽，4为相机成像开口，5为遮光板，6为调节螺杆，7为螺套，8为锁紧螺母，9为圆弧支架，10为安装支架，11为螺杆，12为升降锁紧螺母，13为升降调节螺母，14为让位槽。
【具体实施方式】
[0018]下面结合附图，对本实用新型作详细的说明。
[0019]为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0020]如图1、2和3所示，一种用于磁瓦检测的光源装置，包括半球形灯罩1、与半球形灯罩I底部连接的灯罩底板2以及设置在灯罩底板2上、分布在半球形灯罩I底部内侧的弧形光源组，在所述半球形灯罩I下部两侧对称地设置磁瓦通过槽3，在半球形灯罩I 一侧设置相机成像开口槽4，在所述半球形灯罩I内设置有与调节机构连接的遮光板5，在所述遮光板5上、靠近相机成像开口槽4 一侧设置有让位槽14，该槽对准半球形灯罩一侧的相机成像开口槽，以避免相机在对光源内传输带上的磁瓦进行拍照时，遮光板阻挡相机对磁瓦的成像视野，所述遮光板5在调节机构作用下沿半球形灯罩I轴向作上下移动。
[0021]其中，所述调节机构包括调节螺杆6、设置在半球形灯罩I顶部的螺套7以及锁紧螺母8，所述调节螺杆6下端与遮光板5连接且与螺套7通过螺纹连接，通过转动调节螺杆6带动遮光板5上下移动且由锁紧螺母8进行锁紧固定。
[0022]如图3所示，所述灯罩底板2与圆弧支架9连接，所述圆弧支架9通过光源升降组件与安装支架10连接，所述光源升降组件包括螺杆11、升降锁紧螺母12以及升降调节螺母13，所述螺杆11上端与安装支架10连接，其下端穿过圆弧支架9，所述升降锁紧螺母12和升降调节螺母13分别置于圆弧支架9顶部上下两侧且与螺杆11通过螺纹连接，当灯罩调节到需要的高度后，由升降锁紧螺母锁紧。
[0023]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种用于磁瓦检测的光源装置，包括半球形灯罩(I)、与半球形灯罩(I)底部连接的灯罩底板(2)以及设置在灯罩底板(2)上、分布在半球形灯罩(I)底部内侧的弧形光源组，其特征在于:在所述半球形灯罩(I)下部两侧对称地设置磁瓦通过槽(3)，在半球形灯罩(O 一侧设置相机成像开口槽(4)，在所述半球形灯罩(I)内设置有与调节机构连接的遮光板(5)，所述遮光板(5)在调节机构作用下沿半球形灯罩(I)轴向作上下移动。
2.根据权利要求1所述的用于磁瓦检测的光源装置，其特征在于:所述调节机构包括调节螺杆(6 )、设置在半球形灯罩(I)顶部的螺套(7 )以及锁紧螺母(8 )，所述调节螺杆(6 )下端与遮光板(5)连接且与螺套(7)通过螺纹连接，通过转动调节螺杆(6)带动遮光板(5)上下移动且由锁紧螺母(8)进行锁紧固定。
3.根据权利要求1所述的用于磁瓦检测的光源装置，其特征在于:在所述遮光板(5)上、靠近相机成像开口槽(4) 一侧设置有让位槽(14)。
4.根据权利要求1、2或3所述的用于磁瓦检测的光源装置，其特征在于:所述灯罩底板(2)与圆弧支架(9)连接，所述圆弧支架(9)通过光源升降组件与安装支架(10)连接。
5.根据权利要求4所述的用于磁瓦检测的光源装置，其特征在于:所述光源升降组件包括螺杆(11)、升降锁紧螺母(12)以及升降调节螺母(13)，所述螺杆(11)上端与安装支架(10)连接，其下端穿过圆弧支架(9)，所述升降锁紧螺母(12)和升降调节螺母(13)分别置于圆弧支架(9)顶部上下两侧且与螺杆(11)通过螺纹连接。
【文档编号】G01N21/01GK203688435SQ201420041508
【公开日】2014年7月2日 申请日期:2014年1月23日 优先权日:2014年1月23日
【发明者】刘培勇, 唐明星, 李元兴 申请人:成都四星液压制造有限公司