Id编码误差判读尺及判读方法
【专利摘要】本发明提供了一种ID编码误差判读尺及判读方法。其中，误差判读尺包括：对照本体、设于对照本体上极限边界、以及位于极限边界之内的二维检验矩阵图。极限边界具有用于判读ID编码单元边界的界定尺寸，二维检验矩阵图具有用于判读ID编码单元中各个ID编码单体的单体限定尺寸。判读方法包括以下简要步骤：1)监视器拍摄成像；2)制作同比例ID编码误差判读尺；3)将对照本体与拍摄图像进行对比；4)依据判定准则排除具有不合格ID编码的产品。本发明通过一具有单体限定尺寸及界定尺寸的测量工具作为检测标准，以有效避免判读ID编码有误所产生的不良后果。本发明优点在于：直观简便、效果明显。
【专利说明】ID编码误差判读尺及判读方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种误差量测工具及使用方法，具体涉及一种用于检测面板ID编码误差的判读尺及判读方法。
【背景技术】
[0002]在光电领域的面板生产过程中，无论是玻璃基板还是其他面板，为了能随时对面板追踪监控，都需在面板上进行ID编码刻号。目前ID编码刻号采用二位编码，在刻号过程中常常会出现定位精度偏差和面板形变等问题，造成ID编码刻号超出制程规范，并使得面板在后续的工序中无法读取ID编码刻号。因此，需要对所刻上的ID编码号进行工艺监控。
[0003]而现行的检测监控的机制主要有以下两种:1)当ID编码数量较少时，可直接通过架设代码读取器进行判读；2)当ID编码数量较多时，则通过拍照设备将ID编码图片存取，之后人工对比进行判读。
[0004]显而易见的，上述两种机制存在以下缺陷:代码读取器通常是在生产大尺寸面板并且ID编码较少的情形下才会应用进行判读，此种方式的局限性比较大。当采用人工比对判读时，因人而异并无精准的判定标准，并且，通过人肉眼判断其误差范围就不能保证，甚至可能会出现将有异常的产品误判为正常产品的情况。无论是那种情况，若ID编码无法正确判读，则会在后续制设备读取ID编码时发生异常而使得产线停线；或者，在客户发现产品异常时，客户无法向厂家反馈正确的生产批号，厂家就无法追查产生异常产品的正确批次。这样的后果影响甚为巨大。
[0005]因此，我们需要一种能适用于各种生产状况并能在第一时间快速正确地判定ID编码是否有问题的装置或者设备，以避免判读ID编码有误所产生的不良后果。
【发明内容】
[0006]为克服现有技术所存在的缺陷，现提供一种ID编码误差判读尺，包括:
[0007]具有极限边界的对照本体，极限边界具有用于判读ID编码单元边界的界定尺寸；以及
[0008]设于对照本体上、且位于极限边界界定尺寸之内的二维检验矩阵图，所述二维检验矩阵图具有用于判读所述ID编码单元中各个ID编码单体的单体限定尺寸。
[0009]本发明的有益效果在于:通过一具有单体限定尺寸及界定尺寸的测量工具作为检测的标准，以有效避免判读ID编码有误所产生的不良后果。
[0010]本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于:
[0011]ID编码单体为未判读的单个ID编码标记；
[0012]ID编码单元由ID编码单体矩阵排布构成。
[0013]本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于:
[0014]对照本体为透明的投影片。
[0015]本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于:[0016]二维检验矩阵图的单体限定尺寸包括:与ID编码单元边界一致的矩阵边界、与ID编码单体对应并矩阵排布的单体最小范围以及与ID编码单体对应并矩阵排布的单体最大范围。
[0017]本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于:
[0018]单体最小范围的具体数值为标准ID编码单体大小的80% ;单体最大范围的具体数值为标准ID编码单体大小的100%。
[0019]本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于:
[0020]极限边界的界定尺寸包括:距离二维检验矩阵图的外围四周相当于两个标准ID编码单体大小的净空边界，净空边界与二维检验矩阵图外围四周的距离小于或等于IOOum ；以及基于净空边界制定的变形偏移边界。
[0021]本发明ID编码误差判读尺，其进一步改进在于:
[0022]变形偏移边界为一端偏离净空边界正三度以及负三度而形成的边界范围。
[0023]本发明还提供一种利用ID误差判读尺的判读方法，该判读方法包括以下步骤:
[0024]I)现场监视器拍摄下实际所要判读的ID编码单元并形成图像；
[0025]2)根据实际所要判读的ID编码单元，制作与实际ID编码单元同比例且如权利要求7的ID编码误差判读尺；
[0026]3)将ID编码误差判读尺中的对照本体与拍摄图像进行对比，并依据一判定准则对ID编码单元进行检验判读。
[0027]4)从制程上排除被判读为不合格ID编码所对应的产品。
[0028]本发明利用ID误差判读尺的判读方法，其进一步改进在于:
[0029]判定准则包括:
[0030]a.被判读的所有ID编码单体是否均形成矩阵排布，每个ID编码单体是否处于对应的单体最大范围内；若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格。
[0031]b.被判读的ID编码单体是否大于单体最小范围并且是否小于或等于单体最大范围；若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格。
[0032]c.被判读ID编码单元的边缘是否与所述净空边界有两个标准ID编码单体以上的距离，并且判读该距离是否小于或等于IOOum;若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格。
[0033]d.被判读ID编码单元的变形偏移是否在变形偏移边界范围内；若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格。
[0034]当通过上述所有准则后，才能判定被判读的ID编码为合格；若有其中一项不合格则判定被判读的ID编码为不合格，再执行步骤4)。
[0035]本发明的优点在于:直观简便、效果明显。
【专利附图】
【附图说明】
[0036]图1为本发明ID编码误差判读尺的整体结构示意图；
[0037]图2为本发明ID编码误差判读尺的局部结构放大示意图；
[0038]图3为本发明需被判读的ID编码矩阵不意图。【具体实施方式】
[0039]为利于对本发明的结构的了解，以下结合附图及实施例进行说明。
[0040]参照图1所示，本发明公开了一种误差判读尺，包括:用于判读ID编码单体并具有单体限定尺寸的二维检验矩阵图1以及用于判读ID编码单元并具有界定尺寸的极限边界
2。矩阵图1以及极限边界2均制作于同一对照本体3上，此对照本体为透明的投影片。以此形成具有界定尺寸的测量工具，并作为检测标准，有效避免判读ID编码有误所产生的不良后果。
[0041]结合图3所示，ID编码单体41为未判读的单个ID编码标记，ID编码单体41矩阵排布而构成ID编码单元4。
[0042]以下为本发明一种误差判读尺较为优选的结构设置:
[0043]结合图1和图2所示，制作于透明投影片3上的二维检验矩阵图1中包括?与ID编码单元4边界一致的矩阵边界11、与ID编码单体41对应并矩阵排布的单体最小范围12以及与单个对照单位41对应并矩阵排布的单体最大范围13。单体最小范围12的具体数值为标准ID编码单体大小的80%，单体最大范围13的具体数值为标准ID编码单体大小的100%。
[0044]其中，标准ID编码单元的实际大小由本领域技术人员按实际要求界定。
[0045]而极限边界2中包括:距离二维检验矩阵图1的外围四周相当于两个标准ID编码单体大小的净空边界21，以及基于净空边界21制定的变形偏移边界22。净空边界21距二维检验矩阵图1的外围四周不能大于IOOum ;变形偏移边界22为一端偏离净空边界21正三度以及负三度而形成的边界范围，可在纵横两方向各设置一变形偏移边界22范围。
[0046]设定以上结构的有益效果具体在于:
[0047]I)通过矩阵边界11判读ID编码单元4是否整体偏斜；
[0048]2)通过单体最大范围12及单体最小范围13判读ID编码单体41是否个别偏离以及其大小是否符合正常标准；
[0049]3)通过净空边界21判读ID编码单元4的外围四周是否符合2个标准ID编码单体距离的预留空间，并且此预留空间是否小于或等于IOOum ；
[0050]4)通过变形偏移边界22判读ID编码单元4其整体是否在正三度或负三度的变形偏移边界22范围内。
[0051]完成上述结构设定后，可按以下方式实施:
[0052]结合图1至图3，本发明公开了一种基于上述误差判读尺的判读方法，具体包括以下实施步骤:
[0053]I)现场监视器拍摄下实际所要判读的ID编码单元并形成图像，如图3 ；
[0054]2)根据实际所要判读的ID编码单元，制作与实际ID编码单元同比例的ID编码误差判读尺，如图1;
[0055]3)结合图2和图3，将对照本体3与拍摄图像进行对比，并依据一判定准则对所要判读的ID编码单元进行检验判读。
[0056]4)从制程上排除被判读为不合格ID编码所对应的产品。
[0057]上述的判定准则具体为:
[0058]a.被判读的所有ID编码单体41是否均矩阵排布，每个ID编码单体是否处于对应的单体最大范围内；若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格。
[0059]b.被判读的ID编码单体41是否大于单体最小范围12并且是否小于或等于单体最大范围13 ;若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格。
[0060]c.被判读ID编码单元4的边缘是否与净空边界21有两个标准ID编码单体以上的距离，并且判读该距离是否小于或等于IOOum ;若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格。
[0061]d.被判读ID编码单元4的变形偏移是否在变形偏移边界22范围内；若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格。
[0062]当通过上述所有准则后，才能判定被判读的ID编码为合格；若有其中一项不合格则判定被判读的ID编码为不合格，再执行步骤4)。
[0063]以上结合附图实施例对本发明进行了详细说明，本领域中普通技术人员可根据上述说明对本发明做出种种变化例。因而，实施例中的某些细节不应构成对本发明的限定，本发明将以所附权利要求书界定的范围作为保护范围。
【权利要求】
1.一种ID编码误差判读尺，其特征在于包括: 具有极限边界的对照本体，所述极限边界具有用于判读ID编码单元边界的界定尺寸；以及 设于所述对照本体上、且位于所述极限边界界定尺寸之内的二维检验矩阵图，所述二维检验矩阵图具有用于判读所述ID编码单元中各个ID编码单体的单体限定尺寸。
2.根据权利要求1所述的一种误差判读尺，其特征在于: 所述ID编码单体为未判读的单个ID编码标记； 所述ID编码单元由所述ID编码单体矩阵排布构成。
3.根据权利要求2所述的一种误差判读尺，其特征在于: 所述对照本体为透明的投影片。
4.根据权利要求3所述的一种误差判读尺，其特征在于: 所述二维检验矩阵图的单体限定尺寸包括: 与所述ID编码单元边界一致的矩阵边界； 与所述ID编码单体对应并矩阵排布的单体最小范围；以及 与所述ID编码单元对应并矩阵排布的单体最大范围。
5.根据权利要求4所述的一种误差判读尺，其特征在于: 所述单体最小范围的具体数值为标准ID编码单体大小的80% ； 所述单体最大范围的具体数值为标准ID编码单体大小的100%。
6.根据权利要求5所述的一种误差判读尺，其特征在于: 所述极限边界的界定尺寸包括: 距离所述二维检验矩阵图的外围四周相当于两个标准ID编码单体大小的净空边界，所述净空边界与所述二维检验矩阵图外围四周的距离小于或等于IOOum ； 以及基于所述净空边界制定的变形偏移边界。
7.根据权利要求6所述的一种误差判读尺，其特征在于: 所述变形偏移边界为一端偏离所述净空边界正三度以及负三度而形成的边界范围。
8.一种利用ID误差判读尺的判读方法，其特征在于包括以下步骤: 1)现场监视器拍摄下实际所要判读的ID编码单元并形成图像； 2)根据实际所要判读的所述ID编码单元的大小，制作与实际所述ID编码单元同比例且如权利要求7所述的ID编码误差判读尺； 3)将所述ID编码误差判读尺中的所述对照本体与拍摄的图像进行对比，并依据一判定准则对所述ID编码单元进行检验判读； 4)从制程上排除被判读为不合格ID编码单元所对应的产品。
9.根据权利要求8所述的一种判读方法，其特征在于: 所述判定准则包括: a.被判读的所有ID编码单体是否形成矩阵排布，每个所述ID编码单体是否处于对应的所述单体最大范围内；若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格； b.被判读的所述ID编码单体是否大于所述单体最小范围并且是否小于或等于所述单体最大范围；若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格； c.被判读所述ID编码单元的边缘是否与所述净空边界有两个标准ID编码单体以上的距离，并且判读所述距离是否小于或等于IOOum ;若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格； d.被判读所述ID编码单元的变形偏移是否在所述变形偏移边界范围内；若是，则通过此项准则；若否，则判定为不合格； 当通过上述所有准则后，才能判定被判读的ID编码为合格；若有其中任一项不合格则判定被判读的ID 编码为不合格，再执行步骤4)。
【文档编号】G01B11/00GK104006742SQ201410230672
【公开日】2014年8月27日 申请日期:2014年5月28日 优先权日:2014年5月28日
【发明者】吴韦良, 徐勇, 邱圣富, 邱宗文 申请人:上海和辉光电有限公司