等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术的利记博彩app
【专利摘要】本发明是有关于一种等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，制作专用内径尺寸标准件和外径尺寸标准件，待计量检定该专用标准件后，做为该轴承套圈的内径尺寸标准件和外径尺寸标准件。采用该标准件检测，很好地解决了检测时被检测零件与标准件相比因壁厚、测量力变形不同而造成的测量误差，保证了检测精度及要求。
【专利说明】等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术
【技术领域】
[0001]本发明属于轴承套圈检测【技术领域】，特别涉及到一种等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸等检测控制技术。
【背景技术】
[0002]国际标准规定轴承的内径尺寸、外径尺寸都为安装配合表面，内径尺寸和外径尺寸的超差将影响轴承的配合关系和轴承的使用寿命，轴承的内径尺寸与外径尺寸至关重要。通常轴承的内径尺寸和外径尺寸都是用标准件进行比较法测量，即在轴承专用仪器上首先用经计量室检定过的标准件对表，使其指示表偏离“零”位的数值与标准件上检定的数值一致(此时，指示表上的“零”位即为该尺寸的公称尺寸)，用这种比较法测量零件尺寸是否准确，主要取决于标准件与被测零件的符合性，通常制作的标准件壁厚较厚。当轴承套圈的壁厚足够的情况下，同现有标准件进行比较法测量，能满足测量准确性要求。
[0003]当等截面超薄壁轴承套圈的壁厚较薄时，其与标准件厚度相比，壁厚相差较大，测量力对标准件产生的变形和对超薄壁套圈产生的变形不同，而造成测量误差，不仅影响其安装配合精度指标，同时也影响轴承的使用寿命。
[0004]由此可见，上述现有的标准件检测，在结构上和使用上，显然仍存在有因壁厚不同造成测量力变形不同的缺陷，而亟待加以进一步改进，为了解决等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸准确性存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见生产过程中工序间适用的检测控制方法，由此显然是相关业者急欲解决的问题。本发明提出了一种等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，利用该控制技术，不会因为轴承套圈壁薄，强度不好，测量力造成内径尺寸和外径尺寸超差，可有效保证内径尺寸和外径尺寸合格要求。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于克服现有的标准件检测对超薄壁轴承套圈存在因壁厚不同造成变形不同的缺陷，而提供一种新型结构的等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，所要解决的技术问题是使其为解决超薄壁轴承套圈，特别是等截面超薄壁轴承套圈与标准件相比因壁厚不同造成变形不同的问题。本发明提出一种等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，利用该方法检测，不会因为超薄壁轴承套圈与标准件相比因壁厚不同而达不到检测准确性要求。
[0006]本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，其中包括:内径尺寸:由内径测量仪测量轴承内圈；其中:在轴承内径处设有径向主支点和径向辅助支点，指示表读取数值；检测时是用标准件采用比较法进行测量:步骤一:用经计量室检定过的标准件对指示表的“零”位；步骤二:使其指示表偏离“零”位的数值与标准件上检定的数值一致；步骤三:指示表上的“零”位即为该尺寸的公称尺寸。外径尺寸:由外径测量仪测量轴承外圈；其中:在轴承外径处设有径向主支点和径向辅助支点，指示表读取数值；检测时是用标准件采用比较法进行测量:步骤一:用经计量室检定过的标准件调整指示表的“零”位；步骤二:使其指示表偏离“零”位的数值与标准件上检定的数值一致；步骤三:指示表上的“零”位即为该尺寸的公称尺寸。
[0007]本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
[0008]前述的等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，其特征在于当被检测表面尺寸小于或等于025Omra时，其标准件在制作过程中需磨削三次，要进行二次尺寸人工时效处理，即采用同样方法:在干燥箱中加热，温度:140°C -150°C，时间:6小时。
[0009]前述的等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，其特征在于当被检测表面尺寸大于0250mm时，其标准件在制作过程中需磨削四次，要进行三次尺寸人工时效处理，即米用同样方法:在干燥箱中加热，温度:140°C _150°C,时间:6小时。
[0010]本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上可知，为达到上述目的，本发明提供了一种等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，其该控制技术:1)所述的标准件的结构、形状、尺寸与被检测工件相同；2)所述的标准件的材料，机械性能与被检测工件相同；3)当被检测表面尺寸小于或等于0250mm时，其专用标准件在制作过程中需进行二次尺寸稳定性处理；4)当被检测表面尺寸大于0250mm时，其专用标准件在制作过程中需进行三次尺寸稳定性处理。
[0011]借由上述技术方案，本发明等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术至少具有下列优点及有益效果:采用本发明的控制技术，由于所述的标准件与被检测工件的结构、形状、尺寸、材料、机械性能等完全相同，其测量力的变形也相同，不会因轴承套圈壁的厚薄问题，强度问题，测量力造成的变形问题，而影响测量的准确性。该方法结构合理，工艺适用，测量准确性好，能满足测量技术要求。
[0012]上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]图1A是本发明内径测量仪轴承内圈剖视测量示意图。
[0014]图1B是本发明内径测量仪轴承内圈测量示意图。
[0015]1:径向主支点 2:径向辅助支点
[0016]3:轴承内圈4:指不表
[0017]图2A是本发明外径测量仪轴承外圈剖视测量示意图。
[0018]图2B是本发明外径测量仪轴承外圈测量示意图。
[0019]1，:径向主支点 2，:径向辅助支点[0020]3，:轴承外圈4，:指不表
[0021]图3为本发明的内径标准件示意图。
[0022]图4为本发明的外径标准件示意图。【具体实施方式】
[0023]为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术其【具体实施方式】、结构、特征及其功效，详细说明如后。
[0024]请参阅图1A、图1B，图2A、图2B，图3，图4所示:图1A是本发明内径测量仪轴承内圈剖视测量示意图。图1B是本发明内径测量仪轴承内圈测量示意图。图2A是本发明外径测量仪轴承外圈剖视测量示意图。图2B是本发明外径测量仪轴承外圈测量示意图。图3为本发明的内径标准件示意图。图4为本发明的外径标准件示意图。
[0025]本发明提出的一种等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，其检测控制技术如下:
[0026]内径尺寸:(如图1A、图1B所示)由内径测量仪测量轴承内圈3 ;其中:在轴承内径处设有径向主支点I和径向辅助支点2，指示表4读取数值；
[0027]检测时是用标准件(如图3所示)采用比较法进行测量:
[0028]步骤一:用经计量室检定过的标准件(如图3所示)对指示表4的“零”位；
[0029]步骤二:使其指示表偏离“零”位的数值与标准件(如图3所示)上检定的数值一致；
[0030]步骤三:指示表上的“零”位即为该尺寸的公称尺寸。
[0031]外径尺寸:(如图2A、图2B所示)由外径测量仪测量轴承外圈3 ;其中:在轴承外径处设有径向主支点I和径向辅助支点2指示表4读取数值；
[0032]检测时是用标准件(如图4所示)采用比较法进行测量:
[0033]步骤一:用经计量室检定过的标准件(如图4所示)对指示表4的“零”位；
[0034]步骤二:使其指示表偏离“零”位的数值与标准件(如图4所示)上检定的数值一致；
[0035]步骤三:指示表上的“零”位即为该尺寸的公称尺寸，
[0036]本发明的等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术中:还应考虑如下环节。
[0037]I)所述的内径标准件(如图3)和外径标准件(图4)的结构、形状、尺寸与被检测工件相同；
[0038]2)所述的内径标准件(如图3)和外径标准件(图4)的材料，机械性能与被检测工件相同；
[0039]3)当被检测表面尺寸小于或等于0250mm时，其内径标准件(如图3)和外径标准件(图4)(专用标准件)在制作过程中需进行二次尺寸稳定性处理；其标准件在制作过程中需磨削三次，要进行二次尺寸人工时效处理，即采用同样方法:在干燥箱中加热，温度:140。。_150°C，时间:6 小时。
[0040]4)当被检测表面尺寸大于0250mm时，其内径标准件(如图3)和外径标准件(图4)(专用标准件)在制作过程中需进行三次尺寸稳定性处理；其标准件在制作过程中需磨削四次，要进行三次尺寸人工时效处理，即采用同样方法:在干燥箱中加热，温度:140。。_150°C，时间:6 小时。
[0041]所述内径标准件(如图3)和外径标准件(图4)尺寸必须在被检测产品要求的公差带范围之内，且几何精度和表面粗糙度符合现行标准要求；
[0042]所述标准件送计量单位检定其实际尺寸，并做好检定记录，涂油、防锈，待检测时之用；
[0043]当加工轴承套圈内径、外径工序时，用所述内径标准件(如图3)和外径标准件(图4)作为该产品的标准件，进行比较法测量。
[0044]以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
【权利要求】
1.一种等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，其特征在于包括: 内径尺寸:由内径测量仪测量轴承内圈(3);其中:在轴承内径处设有径向主支点(I)和径向辅助支点(2)，指示表(4)读取数值；检测时是用标准件采用比较法进行测量:步骤一:用经计量室检定过的标准件对指示表(4)的“零”位； 步骤二:使其指示表偏离“零”位的数值与标准件上检定的数值一致； 步骤三:指示表上的“零”位即为该尺寸的公称尺寸， 外径尺寸:由外径测量仪测量轴承外圈(3，)；其中:在轴承外径处设有径向主支点(I)和径向辅助支点(2)，指示表(4)读取数值； 检测时是用标准件采用比较法进行测量: 步骤一:用经计量室检定过的标准件调整指示表(4)的“零”位； 步骤二:使其指示表偏离“零”位的数值与标准件上检定的数值一致； 步骤三:指示表上的“零”位即为该尺寸的公称尺寸。
2.如权利要求1所述的等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，其特征在于当被检测表面尺寸小于或等于0250腿时,其标准件在制作过程中需磨削三次,要进行二次尺寸人工时效处理，即采用同样方法:在干燥箱中加热，温度:140°C _150°C，时间:6小时。
3.如权利要求1所述的等截面超薄壁轴承套圈内径、外径尺寸检测控制技术，其特征在于当被检测表面尺寸大于0250麵时,其标准件在制作过程中需磨削四次,要进行三次尺寸人工时效处理，即米用同样方法:在干燥箱中加热，温度:140°C _150°C,时间:6小时。
【文档编号】G01B21/10GK104006783SQ201410197146
【公开日】2014年8月27日 申请日期:2014年5月9日 优先权日:2014年5月9日
【发明者】邹小洛, 刘成斌, 张翠英 申请人:洛阳维斯格轴承有限公司