一种卤素管气密性测试方法及测试装置制造方法
【专利摘要】本发明实施例公开了一种卤素管气密性测试装置和方法，通过利用本发明所述的卤素管气密性测试装置首先对所述卤素管进行真空耐压测试，初步判断所述卤素管泄漏情况；然后将经过真空耐压测试后的卤素管再通额定电压预设时间，断开后马上浸入水中，若卤素管内颜色发生变化，则所述卤素管发生泄漏；否则所述卤素管气密性良好。由于本发明实施例中的测试装置经过两道步骤测试卤素管是否漏气，能够有效地避免隐性漏气的卤素管被漏检，从而降低测试卤素管气密性判断失误率。
【专利说明】一种南素管气密性测试方法及测试装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试【技术领域】，更具体地说，涉及一种卤素管气密性测试方法及测试
装置。
【背景技术】
[0002]卤素管是一种密封式的发光发热管，内充满卤族元素，能有效保证电热丝的寿命。对于卤素管而言，最重要的一个指标就是卤素管的气密性，气密性直接影响卤素管的寿命问题。当原有充满卤素气体的卤素管混入空气，会导致电热丝加速损耗，最后出现烧断电热丝的现象。
[0003]就目前而言，针对卤素管的气密性检验主要是直接将卤素管浸入常温水中，检查卤素管是否漏气。这种方法最大的弊端是有些存在隐性漏气现象的卤素管很难被检测出来。
[0004]综上所述，如何降低测试卤素管气密性判断失误率，成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
【发明内容】
[0005]有鉴于此，本发明的第一个目的在于提供一种卤素管气密性测试装置，以实现降低测试卤素管气密性判断失误率的目的；本发明的第二个目的在于提供一种卤素管气密性测试方法。
[0006]为实现上述目的，本发明提供如下技术方案:
[0007]—种卤素管气密性测试装置，包括用于对卤素管施加高压电弧的高压探头和与所述高压探头电连接的真空耐压仪。
[0008]优选地，上述卤素管气密性测试装置中，所述高压探头为U型结构。
[0009]优选地，上述卤素管气密性测试装置中，所述高压探头的绝缘手柄上还设置有绝缘护手挡板。
[0010]从上述技术方案中可以看出，通过利用本发明所述的卤素管气密性测试装置首先对所述卤素管进行真空耐压测试，初步判断所述卤素管泄漏情况；然后经过真空耐压测试后的卤素管再通额定电压预设时间，断开后马上浸入水中，若卤素管内颜色发生变化，例如:出现发白或发黑或发蓝等现象，则所述卤素管发生泄漏；否则所述卤素管气密性良好。由于本发明实施例中的测试装置经过两道测试卤素管是否漏气，能够有效的避免隐性漏气的卤素管被漏检，从而降低测试卤素管气密性判断失误率。为实现上述第二个目的，本发明还公开了一种卤素管气密性测试方法，所述方法包括步骤:
[0011]利用上述任一技术方案所述的卤素管气密性测试装置对所述卤素管进行真空耐压测试，若所述卤素管漏气点产生电火花或电弧现象，则初步判断所述卤素管泄漏情况；否则初步判断所述卤素管气密性良好；
[0012]经过真空耐压测试后的卤素管再通额定电压预设时间，断开后马上浸入水中，若卤素管内颜色发生变化，则所述卤素管发生泄漏；否则所述卤素管气密性良好。
[0013]由于上述装置具有上述效果，利用该装置的测试方法也具有相应的效果。
[0014]优选地，上述卤素管气密性测试方法中，所述利用上述任一项技术方案所述的卤素管气密性测试装置对所述齒素管进行真空耐压测试具体为，将所述高压探头置于所述卤素管的易漏气点垂直高度21mm?26mm的地方；调节所述真空耐压仪的电压在2400V?3100V,并开启所述真空耐压仪。
[0015]优选地，上述卤素管气密性测试方法中，所述高压探头置于所述卤素管的易漏气点垂直高度24_的地方。
[0016]优选地，上述卤素管气密性测试方法中，所述易漏气点包括电热丝固定点、引出棒的压接处和排气口。
[0017]优选地，上述卤素管气密性测试方法中，调节所述真空耐压仪的电压在2600V。
[0018]优选地，上述卤素管气密性测试方法中，经过真空耐压测试后的卤素管再通额定电压40?50s。
【专利附图】
【附图说明】
[0019]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本发明实施例所提供的一种卤素管气密性测试装置的主视结构示意图；
[0021]图2为本发明实施例所提供的一种卤素管气密性测试装置的俯视结构示意图；
[0022]图3为本发明实施例所提供的一种卤素管气密性测试方法流程示意图。
[0023]图1至图2中:
[0024]I为卤素管、2为高压探头、3为真空耐压仪；
[0025]11为引出棒压接处、12为电热丝固定点、13为排气口 ；
[0026]21为绝缘手柄、22为绝缘护手挡板。
【具体实施方式】
[0027]为此，本发明核心是公开一种卤素管气密性测试装置，以实现降低测试卤素管气密性判断失误率的目的。以下，参照附图对实施例进行说明。此外，下面所示的实施例不对权利要求所记载的
【发明内容】
起任何限定作用。另外，下面实施例所表示的构成的全部内容不限于作为权利要求所记载的发明的解决方案所必需的。
[0028]如图1至图2所示该卤素管气密性测试装置，包括用于对卤素管I施加高压电弧的高压探头2和与高压探头2电连接的真空耐压仪3。
[0029]通过利用本发明的卤素管气密性测试装置首先对卤素管I进行真空耐压测试，初步判断卤素管I泄漏情况；然后经过真空耐压测试后的卤素管I再通额定电压预设时间，断开后马上浸入水中，若卤素管I内颜色发生变化，如发白或发黑或发蓝现象，则卤素管I发生泄漏；否则卤素管I气密性良好。由于采用本发明实施例中的测试装置经过两道步骤测试卤素管是否漏气，能够有效地避免隐性漏气的卤素管被漏检，从而降低测试卤素管气密性判断失误率。
[0030]上述高压探头可以为圆弧形高压探头、条型高压探头、U型高压探头，本发明实施例中为了方便检测，高压探头2为U型结构，其中，为了适应不同型号的卤素管测试本实施例的U型探头的弧度半径在25?33mm之间选取，优选为26mm。由于U型结构的高压探头上下两个施加电弧的部件对称设置，在对易漏点进行测试时，直接放置在易漏点，省去了高压探头对准易漏点的时间，从而在检测的过程中可以准确和快速地对易漏点进行测试。
[0031 ] 为了优化上述方案，高压探头2的绝缘手柄21上还设置有绝缘护手挡板22，其中，所述绝缘手柄和绝缘护手挡板为采用绝缘材料制造而成的上述部件。所采用的绝缘材料有很多，例如:塑料或橡胶等等，本发明实施例中绝缘护手挡板22为橡胶护手挡板，在橡胶护手挡板的作用下能够有效地保护手不被高压电弧击伤。
[0032]绝缘护手挡板22的形状可以为矩形或圆形或椭圆形等形状的结构，优选的采用圆形结构的绝缘护手挡板，且绝缘护手挡板的弧度半径为80?90mm。
[0033]另外，本发明还公开了一种卤素管气密性测试方法，如图3所示，方法包括:
[0034]步骤S101、利用上述卤素管气密性测试装置对卤素管I进行真空耐压测试；其中，上述真空耐压测试中，直接将高压探头2在卤素管I的所需要位置进行测试，其中高压探头2距离卤素管I适当距离。
[0035]为了缩短测试时间，测试过程中选择卤素管I易漏气点进行测试，其中，易漏气点具体为电热丝固定点12、引出棒压接处11和排气口 13。在卤素管的玻璃管上，有6个固定点，用于固定电热丝，防止卤素管在工作的过程中发生坠丝现象。这6个固定点是通过喷出高温度火焰使玻璃管发生变形压在电热丝上面，也会导致玻璃壁厚发生变化，存在隐性漏气的可能。
[0036]当选取上述各点进行测试时，将高压探头2置于卤素管I的易漏气点垂直高度21mm?26mm的地方；调节真空耐压仪3的电压在2400V?3100V，优选的，调节真空耐压仪3的电压在2600V，并开启真空耐压仪3。
[0037]为了优化上述方案，高压探头2置于卤素管I的易漏气点垂直高度21mm或24mm或26mm的地方。
[0038]步骤S102、判断卤素管I是否有电火花或者电弧现象，若有则进入步骤S103 ;若没有则进入步骤S104 ；
[0039]步骤S103、初步判断卤素管I发生泄漏，进入步骤S105 ；
[0040]步骤104、初步判断卤素管I密封性良好，进入步骤S105 ；
[0041]步骤S105、经过真空耐压测试后的卤素管I再通额定电压预设时间，断开后马上浸入水中；其中，预设时间可以根据卤素管的型号以及相关数据进行确定，不同型号的卤素管通额定电压的预设时间不同，通常情况下选择40?50s，更优选的经过真空耐压测试后的卤素管I再通额定电压46s;
[0042]步骤S106、判断卤素管I内颜色是否发生变化，若发生变化进入步骤S107 ;否则进入步骤S108;其中，颜色发生变化，可以理解为透明的卤素管内颜色变白或发黑或发蓝等，只要是透明的卤素管内颜色发生变化均在该范围之内。
[0043]步骤S107、卤素管I发生泄漏；
[0044]步骤S108、卤素管I气密性良好。[0045]由于上述装置具有上述效果，利用该装置的测试方法也具有相应的效果，此处不再赘述。
[0046]对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
【权利要求】
1.一种卤素管气密性测试装置，其特征在于，包括用于对卤素管施加高压电弧的高压探头和与所述高压探头电连接的真空耐压仪。
2.如权利要求1所述的卤素管气密性测试装置，其特征在于，所述高压探头为U型结构。
3.如权利要求2所述的卤素管气密性测试装置，其特征在于，所述高压探头的绝缘手柄上还设置有绝缘护手挡板。
4.一种卤素管气密性测试方法，其特征在于，所述方法包括步骤: 利用权利要求1至3中任一项所述的卤素管气密性测试装置对所述卤素管进行真空耐压测试，若所述卤素管有电火花或者电弧现象，则初步判断所述卤素管泄漏情况；否则初步判断所述卤素管气密性良好； 经过真空耐压测试后的卤素管再通额定电压预设时间，断开后马上浸入水中，若卤素管内颜色发生变化，则所述卤素管发生泄漏；否则所述卤素管气密性良好。
5.如权利要求4所述的卤素管气密性测试方法，其特征在于，所述利用权利要求1至3中任一项所述的卤素管气密性测试装置对所述卤素管进行真空耐压测试具体为，将所述高压探头置于所述卤素管的易漏气点垂直高度21_?26_的地方；调节所述真空耐压仪的电压为2400V?3100V，并开启所述真空耐压仪。
6.如权利要求5所述的卤素管气密性测试方法，其特征在于，所述高压探头置于所述卤素管的易漏气点垂直高度24_的地方。
7.如权利要求6所述的卤素管气密性测试方法，其特征在于，所述易漏气点包括电热丝固定点、引出棒的压接处和排气口。
8.如权利要求5所述的卤素管气密性测试方法，其特征在于，调节所述真空耐压仪的电压为2600V。
9.如权利要求4所述的卤素管气密性测试方法，其特征在于，所述预设时间为40?50so
【文档编号】G01M3/40GK103792051SQ201410055157
【公开日】2014年5月14日 申请日期:2014年2月18日 优先权日:2014年2月18日
【发明者】黄文伟, 何路开, 钟声明, 陈满愿 申请人:珠海格力电器股份有限公司