一种用于pe保护膜卷的杂质检测装置制造方法

文档序号:6211705阅读:307来源:国知局
一种用于pe保护膜卷的杂质检测装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,包括三棱柱形支架和LED灯带,所述三棱柱形支架横向设置;所述三棱柱形支架的三个侧面上都横向安装有所述LED灯带;所述三棱柱形支架的一端设置一封头,另一端设置一电池盒或插头座,所述电池盒或插头座与所述LED灯带电连接。本实用新型的用于PE保护膜卷的杂质检测装置,可以方便快速的检测PE保护膜卷有无杂质或晶点,更好的观察PE保护膜卷的质量。
【专利说明】一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,属于PE保护膜检测设备【技术领域】。
【背景技术】
[0002]PE (Polyethylene,聚乙烯)保护膜是一种用来保护易损害表面的薄膜,其目的是阻止受保护基材表面在运输、配送或加工过程当中受到损害或污染,保护膜会一直贴在受保护的基材表面,直到产品送达使用者时才会被撕下来。PE保护膜的质量要求中需要PE保护膜的杂质和晶点越少越好。
[0003]现有技术中,在检测PE保护膜卷的质量时,一般都是在自然光下目测PE保护膜卷有无杂质和晶点,光源都是从PE保护膜卷的外部照射,检测效果不佳,无法有效的反映PE保护膜卷有无杂质或晶点。

【发明内容】

[0004]本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷而提供一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,可以方便快速的检测PE保护膜卷有无杂质和晶点,更好的观察PE保护膜卷的质量。
[0005]实现上述目的的技术方案是:一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,包括三棱柱形支架和LED (Light Emitting Diode,发光二极管)灯带,其中:
[0006]所述三棱柱形支架横向设置;
[0007]所述三棱柱形支架的三个侧面上都横向安装有所述LED灯带;
[0008]所述三棱柱形支架的一端设置一封头,另一端设置一电池盒或插头座,所述电池盒或插头座与所述LED灯带电连接。
[0009]上述的一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,其中,所述三棱柱形支架的带电池盒或插头座的一端还设置一开关,所述开关与所述LED灯带电连接,所述开关与所述电池盒或插头座电连接。
[0010]上述的一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,其特征在于,所述三棱柱形支架的三个侧面分别设置一透明板,且该透明板位于相应的所述LED灯带的外部。
[0011]上述的一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,其特征在于,所述三棱柱形支架的长度大于所述PE保护膜卷的长度;所述三棱柱形支架的每个侧面上的LED灯带的长度大于所述PE保护膜卷的长度。
[0012]本实用新型的用于PE保护膜卷的杂质检测装置,PE保护膜卷套接在三棱柱形支架上,LED灯带的灯光从PE保护膜卷的内部渗透出来,可以方便快速的检测PE保护膜卷有无杂质和晶点,更好的观察PE保护膜卷的质量。
【专利附图】

【附图说明】[0013]图1是本实用新型的杂质检测装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0014]为了使本【技术领域】的技术人员能更好地理解本实用新型的技术方案,下面将结合附图对本实用新型作进一步说明。
[0015]请参阅图1,本实用新型的实施例,一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,包括三棱柱形支架I和LED灯带2。三棱柱形支架I横向设置;三棱柱形支架I的三个侧面上都横向安装有LED灯带2 ;三棱柱形支架I的一端设置一封头11,另一端设置一电池盒或插头座,电池盒或插头座与LED灯带2电连接。三棱柱形支架I的带电池盒或插头座的一端还设置一开关,开关与LED灯带2电连接,且开关与电池盒或插头座电连接。进一步的,三棱柱形支架I的三个侧面分别设置一透明板,且该透明板位于相应的LED灯带2的外部。三棱柱形支架I的长度LI大于待测的PE保护膜卷3的长度L3 ;三棱柱形支架I的每个侧面上的LED灯带2的长度L2大于待测的PE保护膜卷3的长度L3。
[0016]使用本实用新型的杂质检测装置检测PE保护膜卷时,PE保护膜卷3从封头11处套接在三面带LED灯带2的三棱柱形支架I的外部,电池盒内安装干电池作为LED灯带2电源,或插头座插电网电源通电后,再触摸按动开关,使电能转换为光能,LED灯带2便迅速被点亮。LED灯带2的灯光从PE保护膜卷3的内部渗透出来,可以方便快速的检测PE保护膜卷3有无杂质和晶点,更好的观察PE保护膜卷3的质量。
[0017]本实用新型的杂质检测装置的工作原理是:LED是一种固态的半导体器件,可以直接把电转化为光。LED的心脏是一个半导体的晶片,晶片的一端附在一个支架上,一端是负极,另一端连接电源的正极,使整个晶片被环氧树脂封装起来。半导体晶片由三部分组成,一部分是P型半导体,在它里面空穴占主导地位,另一端是N型半导体,在这边主要是电子,中间通常是I至5个周期的量子阱。当电流通过导线作用于这个晶片的时候,电子和空穴就会被推向量子阱,在量子阱内电子跟空穴复合,然后就会以光子的形式发出能量,这就是LED发光的原理。
[0018]以上实施例仅供说明本实用新型之用,而非对本实用新型的限制,有关【技术领域】的技术人员,在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下,还可以作出各种变换或变型,因此所有等同的技术方案也应该属于本实用新型的范畴,应由各权利要求所限定。
【权利要求】
1.一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,其特征在于,包括三棱柱形支架和LED灯带,其中: 所述三棱柱形支架横向设置; 所述三棱柱形支架的三个侧面上都横向安装有所述LED灯带; 所述三棱柱形支架的一端设置一封头,另一端设置一电池盒或插头座,所述电池盒或插头座与所述LED灯带电连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,其特征在于,所述三棱柱形支架的带电池盒或插头座的一端还设置一开关,所述开关与所述LED灯带电连接,所述开关与所述电池盒或插头座电连接。
3.根据权利要求1或2所述的一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,其特征在于,所述三棱柱形支架的三个侧面分别设置一透明板,且该透明板位于相应的所述LED灯带的外部。
4.根据权利要求1所述的一种用于PE保护膜卷的杂质检测装置,其特征在于,所述三棱柱形支架的长度大于所述PE保护膜卷的长度;所述三棱柱形支架的每个侧面上的LED灯带的长度大于所述PE保护膜卷的长度。
【文档编号】G01N21/958GK203672802SQ201320860652
【公开日】2014年6月25日 申请日期:2013年12月24日 优先权日:2013年12月24日
【发明者】杨启东 申请人:上海赐鑫电子材料有限公司
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