阻抗测量电路的利记博彩app

文档序号:6202290阅读:444来源:国知局
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【专利摘要】本实用新型提供了一种阻抗测量电路,包括依次相连接的DDS信号源、阻抗/电压变划电路和相敏检测电路,DDS信号源与相敏检测电路相连接,DDS信号源和相敏检测电路还分别与主控电路相连接。该测量电路实现了可程控的不同频率下的阻抗网络的精确测量。很好地抑制了干扰,并把阻抗的幅值和相位转换为直流电压信号,用低速的A/D转换器就可以实现阻抗测量。同时,解决了参考信号源以及兼顾测量精度和测量速度的问题,使得电路结构更加简单、成本更低、功耗更小、精确度更高。
【专利说明】阻抗测量电路
【技术领域】
[0001]本实用新型属于阻抗测量【技术领域】,涉及一种阻抗测量电路。
【背景技术】
[0002]电路中的电感、电阻和电容器件对交流电所起的阻碍作用叫做阻抗。它是一个复数值,常用Z表示,单位是欧姆。阻抗包含阻抗模和阻抗角。阻抗模等于测量器件端口电压与端口电流的有效值之比,阻抗角等于电压与电流的相位差。若在复平面表示,则电抗为虚部,电阻为实部,电感和电容对电路中交流电总的阻碍作用称为电抗。
[0003]通常采用测量准确度较高的交流电桥法和谐振法测量电路中的阻抗。测量时,根据被测器件两端口的电压、电流的相量关系,计算出被测器件阻抗的幅值和相位。低频率下测量时,还能比较容易的实现自动测量。较高频率下测量时,不仅需要有较高转换速率的A/D,而且不容易测量阻抗角,很难实现自动测量。电桥法在复杂的、噪声干扰比较大的环境以及在较宽范围内测量阻抗时难以满足要求。阻抗参数测试方案有很多种,其中的阻抗参数虚、实部分分离测量法便于采用集成电路组成,得到广泛的应用。但上述阻抗测量方法中所使用的测量仪器都存在调节麻烦、速度慢、仪器内部需要精密可调元件、量限窄和适用频率少的问题。

【发明内容】

[0004]本实用新型的目的是提供一种多功能、宽量程、多频率的阻抗测量电路,能快速简便地对被测电路进行测量。
[0005]为实现上述目的,本实用新型所采用的技术方案是:一种阻抗测量电路,包括依次相连接的DDS信号源、阻抗/电压变换电路和相敏检测电路,DDS信号源与相敏检测电路相连接,DDS信号源和相敏检测电路还分别与主控电路相连接。
[0006]本实用新型阻抗测量电路通过信号源产生两个正交信号,其中的0°信号同时输入阻抗/电压变换电路和相敏检测电路,为阻抗/电压变换电路提供驱动,为相敏检测电路的乘法器提供相乘信号。其中的90°信号输入相敏检测电路,被测电路产生的信号经滤波、放大、处理后再进入主控电路进行转换处理,得到被测电路的阻抗值。实现了可程控的不同频率下的阻抗网络的精确测量。很好地抑制了干扰,并把阻抗的幅值和相位转换为直流电压信号,用低速的A/D转换器就可以实现阻抗测量。同时,解决了参考信号源以及兼顾测量精度和测量速度的问题,使得电路结构更加简单、成本更低、功耗更小、精确度更高。
【专利附图】

【附图说明】
[0007]图1是本实用新型测量电路的结构示意图。
[0008]图2是本实用新型测量电路中阻抗/电压变换电路的示意图。
[0009]图3是本实用新型测量电路中相敏检测电路的示意图。
[0010]图4是本实用新型测量电路的使用状态图。[0011]图5是本实用新型测量电路的主程序流程图。
[0012]图1中:1.主控电路,2.DDS信号源,3.阻抗/电压变换电路,4.相敏检测电路。【具体实施方式】
[0013]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型进行详细说明。
[0014]如图1所示,本实用新型阻抗测量电路,包括依次相连接的DDS信号源2、阻抗/电压变换电路3和相敏检测电路4,DDS信号源2与相敏检测电路4相连接,DDS信号源2和相敏检测电路4还分别与主控电路I相连接。
[0015]主控电路I,用于控制DDS信号源2产生两路正交信号(DDSI和DDS2)和更新该两路正交信号的频率,用于给相敏检测电路4中的滤波器MAX295提供时钟;用于通过内部的A/D转换电路采集并处理经过滤波器输送来的信号;用于通过内部液晶电路显示被测电路的阻抗测量值,并对各阻抗测量值进行存储。
[0016]如图2所示,本实用新型阻抗测量电路中的阻抗/电压变换电路3,包括第一芯片Ul和第二芯片U2,第一芯片Ul采用运算放大芯片AD843,第二芯片U2采用运算放大芯片AD620 ;第一芯片Ul的第3引脚接DDS信号源2,第一芯片Ul的第2引脚与第一电阻Rl的一端相连接,第一芯片Ul的第2引脚和第一电阻Rl的接点VK为被测电路Z的一个接入端;第一电阻Rl的另一端接地,接点VK还与第二芯片U2的第2引脚相连接;第一芯片Ul的第4引脚分别接-15V电源和第一电容Cl的一端,第一电容Cl的另一端接地;第一芯片Ul的第7引脚分别与+15V电源和第二电容C2的一端相连接,第二电容C2的另一端接地;第一芯片Ul的第6引脚与第二芯片U2的第3引脚相连接,第一芯片Ul第6引脚与第二芯片U2第3引脚之间的接点为被测电路Z的另一个接入端;第二芯片U2的第4引脚接-15V电源,第二芯片U2的第5引脚接地,第二芯片U2的第7引脚接+15V电源,第二芯片U2的第6引脚与相敏检测电路4相连接。
[0017]第一芯片Ul是运算放大器AD843,它是一款高速、输入阻抗高的运算放大器,在一个较大的频率范围内能保证同相端和反相端的电压相等。第二芯片U2是低功耗、低噪声、高精度的仪表放大器AD620,它的输入阻抗达10G,输入端电容为2pF,它的放大倍数可以通过外接电阻设置,能够有效抑制谐波并降低辐射电磁干扰,本实用新型测量电路中设置其放大倍数为I。
[0018]如图3所示,本实用新型阻抗测量电路中的相敏检测电路4,包括第三芯片U3、第四芯片U4和第五芯片U5 ;第三芯片U3的第3引脚和第7引脚分别与阻抗/电源变换电路3相连接,即第三芯片U3的第3引脚和第7引脚分别与第二芯片U2的第6引脚相连接;第三芯片U3的第4引脚和第6引脚分别与DDS信号源2相连接;第三芯片U3的第5引脚接+5V电源,第三芯片U3的第14引脚接-5V电源;第三芯片U3的第2引脚和第8引脚均接地;第三芯片U3的第9引脚接第五芯片U5的第8引脚,第三芯片U3的第I引脚接第四芯片U4的第8引脚;第四芯片U4的第5引脚和第五芯片U5的第5引脚分别与主控电路I相连接;第四芯片U4的第I引脚和第五芯片U5的第I引脚分别与主控电路I单片机的P3.0口相连接,第四芯片U4的第6引脚和第五芯片U5的第6引脚均接地,第四芯片U4的第7引脚和第五芯片U5的第7引脚分别接+5V电源,第四芯片U4的第2引脚和第五芯片U5的第2引脚分别接-5V电源,第四芯片U4的第3引脚与第四芯片U4的第4引脚相连接,第五芯片U5的第3引脚与第五芯片U5的第4引脚相连接。
[0019]第三芯片U3是乘法器MLT04,它是一款四通道四象限电压输出模拟乘法器,端口设置简单,操作容易,功耗比较低,具有优良的温度稳定性,因为它有四通道,所以本测量电路只需要一片MLT04即可,而且只用了其中的两路通道;第四芯片U4和第五芯片U5是低通滤波器MAX295,它是可编程的,时钟与截止频率的比为50: 1,MAX295的截止频率固定为100Hz,由于MAX295所需要的时钟频率较低,可以由单片机直接提供。第四芯片U4的第I引脚和第五芯片U5的第I引脚连接的是单片机的P3.0引脚,单片机通过这个引脚来给低通滤波器提供时钟。
[0020]用本实用新型阻抗测量电路测量被测电路的阻抗时,将被测电路Z与两个被测电路的接入端相连接,如图4所示。第一芯片Ul的第3引脚为第一芯片Ul的正输入端,第一芯片Ul的第2引脚为第一芯片Ul的负输入端,第一芯片Ul的第6引脚为第一芯片Ul的输出端。第二芯片U2的第3引脚为第二芯片U2的正输入端,第二芯片U2的第2引脚为第二芯片U2的负输入端,第二芯片U2的第6引脚为第二芯片U2的输出端。
[0021]DDS信号源2产生信号DDSl和信号DDS2,信号DDSl是DDS信号源2提供的0°信号,信号DDS2是DDS信号源2提供的90°参考信号。信号DDSl同时输入阻抗/电源变换电路3和相敏检测电路4,输入阻抗/电压变换电路3的DDSl信号为阻抗/电压变换电路3提供驱动;输入相敏检测电路4的DDSl信号为相敏检测电路4中的乘法器提供相乘信号。信号DDSl通过高速、输入阻抗高的第一芯片Ul,保证在一个较大的频率范围内第一芯片Ul同相端和反相端的电压相等,且等于输入电压Vinl。流经被测量电路的电流由第一电阻Rl决定,第一电阻Rl为参考电阻。经过仿真得出VK与Vinl相等。由于流入第一芯片Ul反相端的电流可以忽略,所以流经第一电阻Rl的电流与被测电路的电流是相等的。因此有:
[0022]
【权利要求】
1.一种阻抗测量电路,其特征在于,包括依次相连接的DDS信号源(2)、阻抗/电压变换电路(3 )和相敏检测电路(4 ),DDS信号源(2 )与相敏检测电路(4 )相连接,DDS信号源(2 )和相敏检测电路(4)还分别与主控电路(I)相连接。
2.根据权利要求1所述阻抗测量电路,其特征在于,所述的主控电路(I),用于控制DDS信号源(2)产生两路正交信号和更新两路正交信号的频率,用于给相敏检测电路(4)中的滤波器提供时钟;用于通过内部的A/D转换电路采集并处理经过滤波器输送来的信号;用于通过内部液晶电路显示被测电路的阻抗测量值,并对各阻抗测量值进行存储。
3.根据权利要求1所述阻抗测量电路,其特征在于,所述的阻抗/电压变换电路(3)包括第一芯片(Ul)和第二芯片(U2),第一芯片(Ul)采用运算放大芯片AD843 ;第二芯片(U2)采用运算放大芯片AD620 ;第一芯片(Ul)的第3引脚接DDS信号源(2),第一芯片(Ul)的第2引脚分别与第一电阻(Rl)的一端相连接,第一芯片(Ul)的第2引脚、第一电阻(Rl)的接点为被测电路的一个接入端;第一电阻(Rl)的另一端接地,第一芯片(Ul)的第2引脚还与第二芯片(U2)的第2引脚相连接;第一芯片(Ul)的第4引脚分别接-15V电源和第一电容(Cl)的一端,第一电容(Cl)的另一端接地;第一芯片(Ul)的第7引脚分别与+15V电源和第二电容(C2)的一端相连接,第二电容(C2)的另一端接地;第一芯片(Ul)的第6引脚接第二芯片(U2)的第3引脚,第一芯片(Ul)第6引脚与第二芯片(U2)第3引脚之间的接点为被测电路的另一个接入端;第二芯片(U2)的第4引脚接-15V电源,第二芯片(U2)的第5引脚接地,第二芯片(U2)的第7引脚接+15V电源,第二芯片(U2)的第6引脚与相敏检测电路(4)相连接。
4.根据权利要求1、2或3所述阻抗测量电路,其特征在于,所述的相敏检测电路(4)包括第三芯片(U3)、第四芯片(U4)和第五芯片(U5),第三芯片(U3)采用乘法器MLT04 ;所述第四芯片(U4)和第五芯片(U5)均采用低通滤波器MAX295 ;第三芯片(U3)的第3引脚和第7引脚分别与阻抗/电源变换电路(3)相连接;第三芯片(U3)的第4引脚和第6引脚分别与DDS信号源(2)相连接;第三芯片(U3)的第5引脚接+5V电源,第三芯片(U3)的第14引脚接-5V电源;第三芯片(113)的第2引脚和第8引脚均接地;第三芯片(113)的第9引脚接第五芯片(U5)的第8引脚,第三芯片(U3)的第I引脚接第四芯片(U4)的第8引脚;第四芯片(U4)的第5引脚和第五芯片(U5)的第5引脚分别与主控电路(I)相连接;第四芯片(U4)的第I引脚和第五芯片(U5)的第I引脚分别与主控电路(I)相连接,第四芯片(U4)的第6引脚和第五芯片(U5)的第6引脚均接地,第四芯片(U4)的第7引脚和第五芯片(U5)的第7引脚分别接+5V电源,第四芯片(U4)的第2引脚和第五芯片(U5)的第2引脚分别接_5V电源,第四芯片(U4)的第3引脚与第四芯片(U4)的第4引脚相连接,第五芯片(U5)的第3引脚与第五芯片(U5)的第4引脚相连接。
【文档编号】G01R27/02GK203606434SQ201320641588
【公开日】2014年5月21日 申请日期:2013年10月17日 优先权日:2013年10月17日
【发明者】马胜前, 刘维兵, 张亚辉, 范满红, 张维昭, 吉言平, 杨阳, 梁梦依, 赵长荣 申请人:西北师范大学
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