一种自动折光仪上低温度梯度被测样品的测量装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种自动折光仪上低温度梯度被测样品的测量装置，所述测量装置包括槽体、棱镜和盖子，所述槽体内开设有样品槽，所述棱镜安置在样品槽底部，所述盖子底部设有安插端，所述安插端与样品槽相配合，所述安插端底部设有一用于安置被测样品的安置槽。本实用新型最大限度地减少了被测样品的温度梯度，大大的提高了测量速度和测量精度。
【专利说明】一种自动折光仪上低温度梯度被测样品的测量装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种安装在自动折光仪上的装置，具体涉及一种自动折光仪上低温度梯度被测样品的测量装置。
【背景技术】
[0002]自动折光仪是利用反射光来测量样品的折射率，其具体的使用方式为:
[0003]参见图1，一个LED灯光源将光线照射到测量棱镜顶部的样品上，在样品与棱镜的界面处，入射光被折射到样品中和反射回棱镜中，传感器检测反射光，据此，可以计算出全反射的临界角，便可确定样品的折射率。
[0004]但是，由于样品的折射率与样品的温度有关，所以在高精度测量和高速度测量中，测量和控制样品的温度是保证测量精度的关键所在。
[0005]参见图2，目前许多自动折光仪在测量环境中，被测样品与样品槽的温度往往有很大的差别，当被测样品加入样品槽时，由于样品本身温度和环境温度的关系，棱镜表面的样品和上层样品的温度会有很大的差别，如果要正确测量样品的折射率，就必须要用较长时间来平衡样品的温度，不然就会影响测量温度，这样大大降低了测量速度和精度。
实用新型内容
[0006]本实用新型为了解除上述测量装置存在的测量速度低和测量精度低的问题，从而提供一种自动折光仪上低温度梯度被测样品的测量装置。
[0007]为了达到上述目的，本实用新型技术方案如下:
[0008]一种自动折光仪上低温度梯度被测样品的测量装置，所述测量装置包括槽体、棱镜和盖子，所述槽体内开设有样品槽，所述棱镜安置在样品槽底部，所述盖子底部设有安插端，所述安插端与样品槽相配合，所述安插端底部设有一用于安置被测样品的安置槽。
[0009]在本实用新型的一个实施例中，所述安置槽的深度为0.05?0.2_，所述盖子与被测样品相接触时，可将被测样品的厚度挤压至0.05?0.2mm。
[0010]本实用新型结构简单，使用方便。
[0011]本实用新型最大限度地减少了被测样品的温度梯度，大大的提高了测量速度和测
量精度。
【专利附图】
【附图说明】
[0012]以下结合附图和【具体实施方式】来进一步说明本实用新型。
[0013]图1为自动折光仪测量装置的使用原理图；
[0014]图2为现有的自动折光仪测量装置的剖视图；
[0015]图3为本实用新型提供的自动折光仪测量装置的剖视图。
【具体实施方式】[0016]为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。
[0017]参见图3，本实用新型提供的一种自动折光仪上低温度梯度被测样品的测量装置包括槽体100、棱镜200和盖子300。
[0018]槽体100，其是用来安置棱镜200和被测样品400，在其中间部位上设一截面为倒梯形状的样品槽110
[0019]棱镜200，为倒梯形状，具体设置在样品槽110底部，棱镜200上表面的宽度大于样品槽110底部的宽度，并且棱镜200的上表面与样品槽110底部相接触，在棱镜200的上表面上放置有被测样品400。
[0020]为了保证光线折射的准确度，棱镜200与被测样品400的中心都处于样品槽110的垂直对称线上。
[0021]另外，为了克服被测样品400的温度对测量折射仪的影响，减少不正确的样品温度梯度造成的测量误差，在样品槽110上方还设一个盖子300，并且盖子300的中心也处于样品槽110的垂直对称线上。
[0022]盖子300，具体与槽体100相配合，可与槽体100连接。
[0023]盖子300的下端设有一截面为倒梯形的安插端310，并且安插端310与样品槽110相配合，当盖子300与槽体100配合连接时，安插端310可安置进样品槽110内。
[0024]当安插端310安置进样品槽110内时，安插端310可与样品槽110内的被测样品400相接触，并对被测样品400产生向下的压力。
[0025]由于被测样品400为溶液，当安插端310对被测样品400产生向下的压力时，被测样品400的厚度会随着安插端310的挤压而变小，这样就能使得被测样品400在样品槽110内的温度能快速平衡，从而最大限度地减少了样品的温度梯度，提高了测量速度和精度。
[0026]对于被测样品400在受到安插端310挤压后的厚度大小，可根据实际需求而定，只需能够将被测样品400在样品槽110内的温度能快速平衡即可。
[0027]为了便于对被测样品400的挤压，在安插端310底部的中间部位上开设一安置槽311，并且安置槽311的深度为0.05?0.2mm，被测样品400可安置进安置槽311内。
[0028]当安插端310安置进样品槽110的样品槽110内时，安插端310的安置槽311会对样品槽110内的被测样品400进行挤压，当安插端310完全安置进样品槽110内，并且安插端310的两边与棱镜200的上表面接触，这时安插端310中间的安置槽311内的被测样品400的厚度会在安置槽311的深度范围内，在本实用新型中，被测样品400的厚度挤压为
0.1mm时，最有利于被测样品400的温度快速平衡。
[0029]以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
【权利要求】
1.一种自动折光仪上低温度梯度被测样品的测量装置，所述测量装置包括槽体、棱镜和盖子，所述槽体内开设有样品槽，其特征在于，所述棱镜安置在样品槽底部，所述盖子底部设有安插端，所述安插端与样品槽相配合，所述安插端底部设有一用于安置被测样品的安置槽。
2.根据权利要求1所述的一种自动折光仪上低温度梯度被测样品的测量装置，其特征在于，所述安置槽的深度为0.05?0.2_，所述盖子与被测样品相接触时，可将被测样品的厚度挤压至0.05?0.2mm。
【文档编号】G01N21/43GK203502346SQ201320636916
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年10月15日 优先权日:2013年10月15日
【发明者】张琪 申请人:上海仪迈仪器科技有限公司