用于检验圆柱体外缘变形的验具的利记博彩app
【专利摘要】本实用新型涉及一种用于检验圆柱体外缘变形的验具，该验具为一个矩形结构的箱体，包括上盖、下盖和四个侧面，所述四个侧面的上方开口处封装有上盖，对应该上盖的下方开口处封装有下盖，所述上盖制有沉头孔，该沉头孔下端同轴连接一套管，所述下盖通过合页与侧面连接，所述左、右两侧面的下端内分别嵌装有磁铁，对应该磁铁的下盖内同样嵌装有磁铁。将零件对准沉头孔并通过套管落在验具内部，如果零件的外缘发生形变，则不能顺利通过套管，即为不合格品。该验具结构简单、使用方便快捷，有效提高检验的工作效率，并大大降低了漏检率。
【专利说明】用于检验圆柱体外缘变形的验具
【技术领域】
[0001]本实用新型属于验具制造领域，具体地说，是一种用于检验圆柱体外缘变形的验具。
【背景技术】
[0002]在元器件制造行业中，通常需要将两个圆柱体芯体和套管同轴连接在一起，为了防止芯体脱落，在芯体与套管连接的套管外缘上压制有压痕。在进行上述操作过程中，如果用力过大会导致套管的外缘发生形变，从而不能将其安装在另外的产品上。
[0003]传统检验套管外缘是否发生变形的方法是:通过卡尺测量套管的直径。但是这种方法的工作效率相当低，而且漏检率高。
实用新型内容
[0004]本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构简单、使用方便的用于检验圆柱体外缘变形的验具。
[0005]本实用新型的方案是这样实现的:
[0006]一种用于检验圆柱体外缘变形的验具，该验具为一个矩形结构的箱体，包括上盖、下盖和四个侧面，所述四个侧面的上方开口处封装有上盖，对应该上盖的下方开口处封装有下盖，所述上盖制有沉头孔，该沉头孔下端同轴连接一套管。
[0007]而且，所述下盖通过合页与侧面连接，所述左、右两侧面的下端内分别嵌装有磁铁，对应该磁铁的下盖内同样嵌装有磁铁。
[0008]本实用新型的优点和积极效果是:
[0009]将零件对准沉头孔并通过套管落在验具内部，如果零件的外缘发生形变，则不能顺利通过套管，即为不合格品。该验具结构简单、使用方便快捷，有效提高检验的工作效率，并大大降低了漏检率。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是本实用新型的主视图；
[0011]图2是图1的A-A向剖视图(下盖打开状态)。
【具体实施方式】
[0012]下面结合附图并通过具体实施例对本实用新型作进一步详述。
[0013]一种用于检验圆柱体外缘变形的验具，如图1、图2所示，该验具为一个矩形结构的箱体，包括上盖1、下盖6和四个侧面4，所述四个侧面的上方开口处封装有上盖，对应该上盖的下方开口处封装有下盖。
[0014]所述上盖制有两个沉头孔2，每个沉头孔下端同轴连接一套管3，该套管的内圆与要检测零件(图中未示出)的外缘直径相应。[0015]为了便于取出零件，所述下盖通过合页7与侧面连接，所述左右两侧面的下端内分别嵌装有磁铁5，对应该磁铁的下盖内同样嵌装有磁铁8，从而实现可打开或关闭下盖的目的。
[0016]将零件对准沉头孔并通过套管落在验具内部，如果零件的外缘发生形变，则不能顺利通过套管，即为不合格品。该验具结构简单、使用方便快捷，有效提高检验的工作效率，并大大降低了漏检率。
[0017]需要强调的是，本实用新型所述的实施例是说明性的，而不是限定性的，因此本实用新型包括并不限于【具体实施方式】中所述的实施例，凡是由本领域技术人员根据本实用新型的技术方案得出的其他实施方式，同样属于本实用新型保护的范围。
【权利要求】
1.一种用于检验圆柱体外缘变形的验具，其特征在于:该验具为一个矩形结构的箱体，包括上盖、下盖和四个侧面，所述四个侧面的上方开口处封装有上盖，对应该上盖的下方开口处封装有下盖，所述上盖制有沉头孔，该沉头孔下端同轴连接一套管。
2.根据权利要求1所述的用于检验圆柱体外缘变形的验具，其特征在于:所述下盖通过合页与侧面连接，所述左、右两侧面的下端内分别嵌装有磁铁，对应该磁铁的下盖内同样嵌装有磁铁。
【文档编号】G01B5/30GK203518929SQ201320555346
【公开日】2014年4月2日 申请日期:2013年9月9日 优先权日:2013年9月9日
【发明者】刘嘉明, 张帅 申请人:天津信诺特电子有限公司