相变温度测试仪的利记博彩app
【专利摘要】本实用新型相变温度测试仪，包括：支架，在支架上设有两根平行间隔设置的安装架，在安装架上设有滑槽；加热磁力搅拌器，加热磁力搅拌器设置在支架底部；容器，容器设置在加热磁力搅拌器上；直线轴承座，直线轴承座设置在滑槽内；位移传感器，位移传感器的一端设置在直线轴承座内，位移传感器的测量端伸入到容器内；滑轮座，滑轮座设置在上端的安装架上，在滑轮座上设有滑轮；平衡砝码，平衡砝码通过连接线经滑轮与位移传感器连接；温度传感器，温度传感器通过设置在支架上的安装平台固定，温度传感器的测量端设置在容器内；电器盒，电器盒设置在支架上，位移传感器与电器盒连接。本实用新型可以在不破坏支架的基础上，测量形状记忆材料相变温度。
【专利说明】相变温度测试仪
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及用于血管支架相变温度测试仪器，特别是一种相变温度测试仪。【背景技术】
[0002]金属材料在热加工和热处理后控制冷却时，通常需要以连续冷却转变曲线(CCT)为理论依据指导制定工艺，因其直观反应了与实际浮火冷却过程一致的连续冷却的相变开始、相变结束、相变量等信息。但至今为止很少有镍钛合金CCT图的报道，究其原因，最主要就是因为记忆材料的相变点难以测量。目前，差示扫描量热仪(DSC)能对记忆材料匀速冷却过程的热效应进行探测与记录，但在对材料进行非匀速冷却时，所获得的DSC曲线受到仪器内部不断变化的冷却操作所引起的热干扰影响，不能很好的反映出材料内部相变所引起的热效应，且DSC冷却范围较窄，试样也受尺寸、质量的限制。实际生产中对材料所进行的冷却大多为非匀速的冷却，冷却范围较宽，因此在测量连续冷却过程中的相变时DSC有局限性。Xray衍射仪也可以用来分析测量记忆材料相变，但不能动态测量，且在析出相较少时不能检测出来。热磁仪可研究相变磁性敏感的材料，主要用于钢铁，不适合记忆材料。原位金相显微镜是研究固态相变更为直接的装置，但需要试样多，工作量大，且有的转变产物的金相组织形态不易鉴别出来。而且，DSC适用于大晶体材料，如:高分子材料的固化反应温度和热效应、物质相变温度及其热效应测定、高聚物材料的结晶、熔融温度及其热效应测定、高聚物材料的玻璃化转变温度。但对于NANO尺度的材料就不适用，而且生物材料也不方便测量。
实用新型内容
[0003]本实用新型提供了一种方便、精确检测记忆材料相变点的相变温度测试仪。
[0004]为解决上述技术问题，本实用新型相变温度测试仪，包括:支架，在所述支架上设有两根平行间隔设置的安装架，在所述安装架上设有滑槽；加热磁力搅拌器，所述加热磁力搅拌器设置在所述支架底部；容器，所述容器设置在所述加热磁力搅拌器上；直线轴承座，所述直线轴承座设置在所述滑槽内；位移传感器，所述位移传感器的一端设置在所述直线轴承座内，所述位移传感器的测量端伸入到所述容器内；滑轮座，所述滑轮座设置在上端的所述安装架上，在所述滑轮座上设有滑轮；平衡砝码，所述平衡砝码通过连接线经所述滑轮与所述位移传感器连接；温度传感器，所述温度传感器通过设置在所述支架上的安装平台固定，所述温度传感器的测量端设置在所述容器内；电器盒，所述电器盒设置在所述支架上，所述位移传感器与所述电器盒连接；其中所述位移传感器及所述温度传感器与电脑连接。
[0005]优选的，所述相变温度测试仪还包括一光轴，所述光轴通过所述直线轴承座固定在所述安装架上，在所述光轴的顶部设有连接孔；所述平衡砝码通过连接线经所述滑轮并穿过所述连接孔与所述位移传感器连接。
[0006]优选的，在所述支架底部还设有限位机构。[0007]优选的，所述滑轮为低摩擦系数滑轮。
[0008]优选的，所述连接线为钓鱼线。
[0009]优选的，所述容器的材质为玻璃。
[0010]优选的，所述支架、所述安装架的材质为铝型材。
[0011] 本实用新型相变温度测试仪可以在不破坏支架的基础上，测量记忆材料相变温度，同时可对记忆材料进行加热、保温、冷却等热处理，功能丰富，操作方便。而且还能用来测量记忆材料的热骤缩温度。
【专利附图】
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型相变温度测试仪实施例一结构示意图；
[0013]图2为本实用新型相变温度测试仪实施例二结构示意图。
[0014]本实用新型相变温度测试仪附图中附图标记说明:
[0015]1-支架2-安装架 3-加热磁力搅拌器
[0016]4-容器5-直线轴承座6-光轴
[0017]7-位移传感器8-滑轮座 9-滑轮
[0018]10-平衡砝码 11-钓鱼线 12-温度传感器
[0019]13-安装平台 14-电器盒 15-限位机构
【具体实施方式】
[0020]下面结合附图对本实用新型相变温度测试仪作进一步详细说明。
[0021]实施例一，如图1所示，本实用新型相变温度测试仪，包括:铝型材的支架1，在支架I底部还设有限位机构15，加热磁力搅拌器3设置在限位机构15内。玻璃容器4设置在加热磁力搅拌器3上。
[0022]在支架I上设有两根平行间隔设置的铝型材的安装架2，在安装架2上设有滑槽，直线轴承座5设置在滑槽内，位移传感器7通过直线轴承座5固定在安装架2上。滑轮座8设置在上端的安装架2上，在滑轮座8上设有低摩擦系数滑轮9，平衡砝码10通过钓鱼线11经滑轮9位移传感器7连接，利用平衡砝码10抵消位移传感器7内核自身的重量，从而保证支架I在加热时，沿直径方向无阻力膨胀，从而达到精确测量位移与温度的关系。
[0023]温度传感器12，温度传感器12通过设置在支架I上的安装平台13固定，温度传感器12的测量端设置在容器4内。位移传感器7及温度传感器12与电脑连接，位移传感器7还与设置在支架I上的电器盒14连接。
[0024]实施例二，如图2所示，本实用新型相变温度测试仪，包括:铝型材的支架1，在支架I底部还设有限位机构15，加热磁力搅拌器3设置在限位机构15内。玻璃容器4设置在加热磁力搅拌器3上。
[0025]在支架I上设有两根平行间隔设置的铝型材的安装架2，在安装架2上设有滑槽，直线轴承座5设置在滑槽内。光轴6通过直线轴承座5固定在安装架2上，在光轴6的顶部设有连接孔，滑轮座8设置在上端的安装架2上，在滑轮座8上设有低摩擦系数滑轮9，平衡砝码10通过钓鱼线11经滑轮9并穿过连接孔与光轴6内的位移传感器7连接，利用平衡砝码10抵消位移传感器7内核自身的重量，从而保证支架I在加热时，沿直径方向无阻力膨胀，从而达到精确测量位移与温度的关系。
[0026]温度传感器12，温度传感器12通过设置在支架I上的安装平台13固定，温度传感器12的测量端设置在容器4内。位移传感器7及温度传感器12与电脑连接，位移传感器7还与设置在支架I上的电器盒14连接。
[0027]测试包括如下步骤:
[0028]第一步，向容器4里面注入温度为零下20摄氏度的酒精与水混合溶液；
[0029]第二步，将待测物品通过螺丝固定在容器4的底部圆盘上，浸没在酒精与水混合溶液中，并将待测物品压扁；
[0030]第三步，运行BFRT软件，分别对位移传感器7和温度传感器12进行标定；
[0031]第四步，开启加热磁力搅拌器3，对容器4里面的测试溶液进行缓慢加热，加热至50摄氏度；
[0032]第五步，记录位移与温度的关系曲线，拖曳图线截断数据进行线性拟合，找出相变点并保存。
[0033]本实用新型相变温度测试仪可以在不破坏支架的基础上，测量记忆材料相变温度，同时可对记忆材料进行加热、保温、冷却等热处理，功能丰富，操作方便。而且还能用来测量记忆材料的热骤缩温度。
[0034]以上已对本实用新型创造的较佳实施例进行了具体说明，但本实用新型创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型创造精神的前提下还可作出种种的等同的变型或替换，这些等同的变型或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
【权利要求】
1.相变温度测试仪，其特征在于，包括: 支架，在所述支架上设有两根平行间隔设置的安装架，在所述安装架上设有滑槽； 加热磁力搅拌器，所述加热磁力搅拌器设置在所述支架底部； 容器，所述容器设置在所述加热磁力搅拌器上； 直线轴承座，所述直线轴承座设置在所述滑槽内； 位移传感器，所述位移传感器的一端设置在所述直线轴承座内，所述位移传感器的测量端伸入到所述容器内； 滑轮座，所述滑轮座设置在上端的所述安装架上，在所述滑轮座上设有滑轮； 平衡砝码，所述平衡砝码通过连接线经所述滑轮与所述位移传感器连接； 温度传感器，所述温度传感器通过设置在所述支架上的安装平台固定，所述温度传感器的测量端设置在所述容器内； 电器盒，所述电器盒设置在所述支架上，所述位移传感器与所述电器盒连接；其中 所述位移传感器及所述温度传感器与电脑连接。
2.根据权利要求1所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述相变温度测试仪还包括一光轴，所述光轴通过所述直线轴承座固定在所述安装架上，在所述光轴的顶部设有连接孔；所述平衡砝码通过连接线经所述滑轮并穿过所述连接孔与所述位移传感器连接。
3.根据权利要求1所述的相变温度测试仪，其特征在于，在所述支架底部还设有限位机构。
4.根据权利要求1所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述滑轮为低摩擦系数滑轮。
5.根据权利要求1所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述连接线为钓鱼线。
6.根据权利要求1所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述容器的材质为玻璃。
7.根据权利要求2所述的相变温度测试仪，其特征在于，所述支架、所述安装架的材质为铝型材。
【文档编号】G01N25/02GK203455295SQ201320422248
【公开日】2014年2月26日 申请日期:2013年7月15日 优先权日:2013年7月15日
【发明者】龚霄雁, 孙道明, 周翔, 薛冠华 申请人:苏州英络医疗器械有限公司