手持数字集成电路参数测试仪的利记博彩app
【专利摘要】一种手持数字集成电路参数测试仪，涉及一种集成电路参数测试仪，包括电源管理模块、中央控制模块、芯片测试接口、通信模块、人机接口模块组成，电源管理模块输出端与中央控制模块的电源输入端连接，中央控制模块包括单片机Ⅰ、单片机Ⅱ，单片机Ⅰ与芯片测试接口连接，单片机Ⅱ分别通过I/O管脚与通信模块、人机接口模块直接连接，单片机Ⅰ、单片机Ⅱ之间直接通过SPI总线进行连接；通信模块包括串行通信接口芯片及其外围电路，该通信模块的输出端与上位机的输入端连接。本发明具有功能完善、工作稳定、操作简单、体积小巧、成本低廉等优点，可以作为教学仪器或检测仪表，适合推广到学校实验室或业余电子爱好者之中。
【专利说明】手持数字集成电路参数测试仪
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种集成电路参数测试仪，特别是一种手持数字集成电路参数测试仪。
【背景技术】
[0002]在进行电子系统的开发设计或相关实践教学中，会使用很多的数字集成电路芯片。很多场合下会重复利用芯片，此时难免会遇到芯片失效的情况。使用了损坏的数字集成电路芯片会极大地增加电路系统的调试难度，而在使用芯片之前，却又无法通过常见的仪器仪表检测芯片的功能是否完好。工程上使用的专业级的集成电路测试仪器功能完善，但同时具有价格昂贵、操作复杂、体积庞大等缺点，难以广泛引入实验室，在广大电子爱好者群体之中无法普及。
[0003]
【发明者】于维佳, 莫振栋 申请人:柳州铁道职业技术学院