一种高精度螺旋测微仪的利记博彩app
【专利摘要】本发明公开了一种高精度螺旋测微仪,涉及机械设备领域,一种高精度螺旋测微仪,包括固定支架和测微螺杆,所述固定支架上设有测砧,所述测微螺杆上设有螺母套筒、微分筒和棘轮,所述测微螺杆上设有可见光发射装置,所述测砧上设有凹槽,所述可见光发射装置与凹槽在同一水平线上,所述凹槽的宽度为8~10mm,测量实物时,可在实物上划一条线,测微螺杆发射可见光,移动实物使其上线条与可见光以及凹槽在同一水平线上,提高所测尺寸的精度,结构合理,适于推广使用。
【专利说明】一种高精度螺旋测微仪
【技术领域】
[0001]本发明涉及机械设备领域,具体涉及一种高精度螺旋测微仪。
【背景技术】
[0002]随着社会生产的发展,机械行业的快速发展,大量的工业工具被生产、使用,在生产中常会进行测量作业,有长度、宽度、高度、直径测量等等,对于测量来说,准确度是生命,而千分尺无疑是测量小型工件尺寸中准确度最高的一种仪器,申请号为CN201220154510.0公开了一种螺旋测微仪,涉及测量工具领域,千分尺的起点都是0,实际操作过程中,由于使用不当,初始状态多少和上述要求不符,即有一个不等于零的读数,零差为负工人往往会犯错,导致测量结果错误,为克服千分尺起点刻度为零带来的读数不便,本发明将千分尺的主尺刻度向左移动一定的距离,将螺旋测微仪的主尺向左边移动1_3_,本刻度方法回归长度等于两坐标之差的本质,可以不再使用零差的概念;可以避免负零差带来的读数不便,但是该千分尺,测量实物时,无法保证实物与测砧和测微螺杆在同一水平线上,不利于测量的进行,测量精度低。
【发明内容】
[0003]本发明的目的是提供一种高精度螺旋测微仪,以解决现有技术中导致的上述多项缺陷。
[0004]本发明所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现:一种高精度螺旋测微仪,包括固定支架和测微螺杆,所述固定支架上设有测砧,所述测微螺杆上设有螺母套筒、微分筒和棘轮,所述测微螺杆上设有可见光发射装置,所述测砧上设有凹槽,所述可见光发射装置与凹槽在同一水平线上,所述凹槽的宽度为8?10mm。
[0005]优选的,所述固定支架上设有圆槽。
[0006]优选的,所述固定支架上设有支撑底座。
[0007]优选的,所述支撑底座与固定支架为卡接。
[0008]优选的,所述圆槽直径为8?10cm。
[0009]本发明的优点在于:测量实物时,可在实物上划一条线,测微螺杆发射可见光,移动实物使其上线条与可见光以及凹槽在同一水平线上,提高所测尺寸的精度,结构合理,适于推广使用,凹槽可放置划线笔,便于在实物上面划线,制成底座可将千分尺放置于桌面上测量,便于测量不同类型的实物,卡接保证了底座与支架的活动连接,不使用底座时,可将底座从支架上拆卸下来,方便实用。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是本发明所述的一种高精度螺旋测微仪的主视图。
[0011]图2是本发明所述的一种高精度螺旋测微仪固定支架的侧视图。
[0012]其中:1 一固定支架,2—测微螺杆,3—测砧,4一螺母套筒,5—微分筒,6—棘轮,7—可见光发射装置,8—凹槽,9 一圆槽,10—支撑底座。
【具体实施方式】
[0013]为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体图示,进一步阐述本发明。
[0014]如图1和图2所示,本发明所述的一种高精度螺旋测微仪,包括固定支架I和测微螺杆2,所述固定支架I上设有测砧3,所述测微螺杆2上设有螺母套筒4、微分筒5和棘轮6,所述测微螺杆2上设有可见光发射装置7,所述测砧3上设有凹槽8,所述可见光发射装置7发出的可见光与凹槽8在同一水平线上,所述凹槽8的宽度为flOmm,测量实物时,可在实物上划一条线,测微螺杆发射可见光,移动实物使其上线条与可见光以及凹槽在同一水平线上,提高所测尺寸的精度,结构合理,适于推广使用。
[0015]值得注意的是,所述固定支架I上设有圆槽9,凹槽可放置划线笔,便于在实物上面划线,所述固定支架I上设有支撑底座10,支撑底座可将千分尺放置于桌面上测量,便于测量不同类型的实物,所述支撑底座10与固定支架I为卡接,卡接保证了底座与支架的活动连接,不使用底座时,可将底座从支架上拆卸下来,所述圆槽9直径为8?10cm,方便实用。
[0016]此外,所述测微螺杆2和测砧3应定时清理污溃,以免影响测量精准度。
[0017]基于上述,测量实物时,可在实物上划一条线,测微螺杆发射可见光,移动实物使其上线条与可见光以及凹槽在同一水平线上,提高所测尺寸的精度,结构合理,适于推广使用,凹槽可放置划线笔,便于在实物上面划线,支撑底座可将千分尺放置于桌面上测量,便于测量不同类型的实物,卡接保证了底座与支架的活动连接,不使用底座时,可将底座从支架上拆卸下来,方便实用。
[0018]以上显示和描述了发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中的描述只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都在要求保护的本发明范围内,本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
【权利要求】
1.一种高精度螺旋测微仪,包括固定支架和测微螺杆,所述固定支架上设有测砧,所述测微螺杆上设有螺母套筒、微分筒和棘轮,其特征在于:所述测微螺杆上设有可见光发射装置,所述测砧上设有凹槽,所述可见光发射装置与凹槽在同一水平线上,所述凹槽的宽度为8?10伽1。
2.根据权利要求1所述的一种高精度螺旋测微仪,其特征在于:所述固定支架上设有圆槽。
3.根据权利要求1所述的一种高精度螺旋测微仪,其特征在于:所述固定支架上设有支撑底座。
4.根据权利要求3所述的一种高精度螺旋测微仪,其特征在于:所述支撑底座与固定支架为卡接。
5.根据权利要求2所述的一种高精度螺旋测微仪,其特征在于:所述圆槽直径为.8 ?10。!!!。
【文档编号】G01B3/18GK104457475SQ201310417914
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2013年9月16日 优先权日:2013年9月16日
【发明者】简文秀 申请人:上海伟阳纸业有限公司