专利名称：一种电极的机床外设定装置的利记博彩app
技术领域：
一种电极的机床外设定装置技术领域[0001]本实用新型属于模具加工领域，尤其是涉及一种电极的机床外设定装置。
背景技术：
[0002]在模具的加工中需要使用电极放电产生高温高压腐蚀模具表面从而得到所需模具的形状。在现有的技术中，在加工电极时需要先测量电极的偏差值再去加工电极，电极的偏差一般是在机床上测量，存在浪费机床时间的技术问题。发明内容[0003]本实用新型要解决的问题是提供一种电极的机床外设定装置，尤其适合在测量电极的偏差中使用。[0004]为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是一种电极的机床外设定装置，包括深度测量装置、平面测量装置和一次元测量仪，所述深度测量装置包括底座，所述底座上设有校验台，所述校验台上设有支撑柱，所述支撑柱关于校验台的中心对称，所述平面测量装置包括支座，所述支座前端设有测量台，所述测量台上设有支撑柱，所述支撑柱关于测量台的中心对称。[0005]进一步的，所述校验台为圆柱形。[0006]进一步的，所述测量台为圆柱形。[0007]进一步的，所述支撑柱为四个。[0008]本实用新型具有的优点和积极效果是由于采用上述技术方案，通过一次元测量仪分别测量电极在深度测量装置和平面测量装置上的深度数值和电极在X、Y平面上的数值，在机床外测量电极的偏差，减少机床占用时间；具有结构简单，使用方便，提高机床利用率等优点。
[0009]图I是本实用新型一种电极的机床外设定装置的结构示意图。[0010]图中[0011]I、一次元测量仪 2、测量台 3、支座[0012]4、底座5、校验台 6、支撑柱具体实施方式
[0013]如图I所示，本实用新型一种电极的机床外设定装置，包括深度测量装置、平面测量装置和一次元测量仪I，所述深度测量装置包括底座4，所述底座4上设有校验台5，所述校验台5上设有支撑柱6，所述支撑柱6关于校验台5的中心对称，所述平面测量装置包括支座3，所述支座3前端设有测量台2，所述测量台2上设有支撑柱6，所述支撑柱6关于测量台2的中心对称，所述校验台5和测量台2为圆柱形，所述支撑柱6为四个。[0014]本实例的工作过程使用时，将电极分别放在深度测量装置和平面测量装置的支撑柱6上，用一次元测量仪I分别测量电极在深度测量装置和平面测量装置上的深度数值和电极在X、Y平面上的数值，在机床外测量电极的偏差，减少机床占用时间。[0015]以上对本实用新型的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。
权利要求1.一种电极的机床外设定装置，其特征在于包括深度测量装置、平面测量装置和一次元测量仪，所述深度测量装置包括底座，所述底座上设有校验台，所述校验台上设有支撑柱，所述支撑柱关于校验台的中心对称，所述平面测量装置包括支座，所述支座前端设有测量台，所述测量台上设有支撑柱，所述支撑柱关于测量台的中心对称。
2.根据权利要求I所述的一种电极的机床外设定装置，其特征在于所述校验台为圆柱形。
3.根据权利要求I所述的一种电极的机床外设定装置，其特征在于所述测量台为圆柱形。
4.根据权利要求I所述的一种电极的机床外设定装置，其特征在于所述支撑柱为四个。
专利摘要本实用新型提供一种电极的机床外设定装置，包括深度测量装置、平面测量装置和一次元测量仪，所述深度测量装置包括底座，所述底座上设有校验台，所述校验台上设有支撑柱，所述支撑柱关于校验台的中心对称，所述平面测量装置包括支座，所述支座前端设有测量台，所述测量台上设有支撑柱，所述支撑柱关于测量台的中心对称。本实用新型的有益效果是通过一次元测量仪分别测量电极在深度测量装置和平面测量装置上的深度数值和电极在X、Y平面上的数值，在机床外测量电极的偏差，减少机床占用时间；具有结构简单，使用方便，提高机床利用率等优点。
文档编号G01B21/00GK202814367SQ20122046833
公开日2013年3月20日 申请日期2012年9月13日 优先权日2012年9月13日
发明者王立征 申请人:天津市瑞福科技发展有限公司