一种简易表面温度探测装置制造方法
【专利摘要】一种简易表面温度探测装置，包括金属套管，在金属套管中有平行且不接触的第一电极和第二电极，第一电极和第二电极为长直电极，二者轴向与金属套管轴向平行，第一电极和第二电极之间、第一电极和金属套管内壁之间、第二电极和金属套管内壁之间均填充有隔离介质，本发明能够对设备表面温度进行测量，结果显示响应速度快，测量精度高。
【专利说明】一种简易表面温度探测装置
[0001]
【技术领域】
[0002]本发明涉及温度传感器领域，特别涉及一种简易表面温度探测装置。
【背景技术】
[0003]温度是一个基本的物理量，自然界中的一切过程无不与温度密切相关。温度传感器是最早开发，应用最广的一类传感器。温度传感器的市场份额大大超过了其他的传感器。从17世纪初人们开始利用温度进行测量。在半导体技术的支持下，本世纪相继开发了半导体热电偶传感器、PN结温度传感器和集成温度传感器。与之相应，根据波与物质的相互作用规律，相继开发了声学温度传感器、红外传感器和微波传感器。
[0004]虽然有很多的温度传感器，但是基于表面温度检测的并不常见，而实际工业生产中却常常需要对设备的表面温度进行实时监测，由于设备的表面一般都比较大，因此常规的温度传感器无法满足要求。
【发明内容】
[0005]为了克服上述现有技术的不足， 本发明的目的在于提供一种简易表面温度探测装置，具有结构简单使用方便的特点。
[0006]为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是:
一种简易表面温度探测装置，包括金属套管1，在金属套管I中有平行且不接触的第一电极2和第二电极4,第一电极2和第二电极4为长直电极,二者轴向与金属套管I轴向平行，第一电极2和第二电极4之间、第一电极2和金属套管I内壁之间、第二电极4和金属套管I内壁之间均填充有隔离介质3。
[0007]第一电极2和第二电极4均为K型热电偶。
[0008]与现有技术相比，本发明能够对设备表面温度进行测量，结果显示响应速度快，测量精度高。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]附图为本发明的结构示意图。
【具体实施方式】
[0010]下面结合附图和实施例对本发明进行更详尽的说明。
[0011]如图所示，本发明为一种简易表面温度探测装置，包括金属套管1，在金属套管I中有平行且不接触的第一电极2和第二电极4，第一电极2和第二电极4为长直电极，二者轴向与金属套管I轴向平行，第一电极2和第二电极4之间、第一电极2和金属套管I内壁之间、第二电极4和金属套管I内壁之间均填充有隔离介质3，其中第一电极2和第二电极4均为K型热电偶，而隔离介质3选用具有负温度系数的材料。
[0012]本发明的工作原理是:
将该探测器置于待测设备表面，当探测器下的设备上某点温度超过其余地方的温度，该点两电极之间的隔离介质3的电阻就会减小，该点即构成一个高温端点，此时探测器输出相应的一个电压值，如果探测器下的设备上第二个点的温度超过第一个高温端点，则第二个点两电极之间的隔离介质3的电阻就会更小，由此形成第二个高温端点，此时探测器又会输出相应的一个电压值，探测器的输出电压值总是和探测器下的最高温度相对应。通过测量电压值，即可获取设备在探测器沿线上的最高温度。
【权利要求】
1.一种简易表面温度探测装置，包括金属套管(1)，其特征在于，在金属套管(1)中有平行且不接触的第一电极(2)和第二电极(4)，第一电极(2)和第二电极(4)为长直电极，二者轴向与金属套管(1)轴向平行，第一电极(2)和第二电极(4)之间、第一电极(2)和金属套管(1)内壁之间、第二电极(4)和金属套管(1)内壁之间均填充有隔离介质(3)。
2.根据权利要求1所述的简易表面温度探测装置，其特征在于，第一电极(2)和第二电极(4)均为K型热电偶。
【文档编号】G01K7/02GK103728038SQ201210386272
【公开日】2014年4月16日 申请日期:2012年10月13日 优先权日:2012年10月13日
【发明者】不公告发明人 申请人:陕西杰创科技有限公司