专利名称：一种医用支架检测方法
技术领域：
本发明涉及薄壁管材激光微加工技术，尤其涉及医用支架的检测方法。
背景技术：
医用支架植入血管中可以起到支撑架的作用，从而保持血管的张开。医用支架必须满足严格的工作要求，如果支架包含任何粗糙的或是尖锐的边，它将会损坏植入支架处的血细胞或血管壁，这将导致进一步的血管疾病，以致会有潜在的生命危险。一般的，制造工艺过程中参数的微小变化，如激光功率、管径大小或机械颤振均能导致缺陷。因为支架在功能上的失效将可能导致生命危险，因此支架加工完成后的检测环节尤其重要。现有的检测手段有人工检测和视觉系统自动检测。人工检测是由人通过显微镜对支架产品挨个检测。但是，人工检测存在较大的误差。另外，人工检测相对较慢且会使制造工艺的相对成本提升。而现有的视觉自动检测设备极其复杂，且整套设备价格昂贵。因此需要一种简单、低成本且高效的支架检测方法。
发明内容
本发明旨在提供一种简单、低成本且有效的用于检测支架产品的方法。为解决上述技术问题，本发明公开了一种医用支架检测方法。该方法包括:旋转支架样品以便检测支架样品的各个区域；利用横向照明光源照亮支架样品的外表面区域；利用纵向照明光源照亮支架样品的内表面区域；用逐线扫描方式对支架样品进行扫描以获得支架样品的整体图像；将测得的支架样品的几何特征尺寸与理论基准数据相比较以确定两者之间的误差；以及在用户界面上显示这些误差。其中，横向照明光源发出的光与纵向照明光源发出的光的波长不同。本发明所提供的这种检测方法操作简单，能够快速将合格和不合格的支架产品区分开。
图1是支架的测量特征的示意 图2是利用本发明检测方法的装置的结构俯视图；以及 图3是利用本发明检测方法的装置的结构主视图。附图标记:
1.安装侧板，2.从动滚轴，3.支架产品，4.卡套，5.主动滚轴，6.联轴器，7.电机，
8.电子线阵(XD，9.纵向照明光源，10.横向照明光源，11.显示装置，12.基于PC的图像处理装置
具体实施例方式以下将讨论本发明的各个较佳实施例。但本领域技术人员应当理解，此处的详细说明并不作为对本发明保护范围的限制，本发明还可通过以下各实施例的变型或其它等同方式得以实现。支架加工后一般会出现污染、切口失效、接触点、孤岛状缺陷、损伤、蚀损斑、变形等缺陷。概括而言，如图1所示，常见的缺陷有如a所示的形状缺陷，b所示的几何误差和c所示的边界缺陷。图3示出了适用于根据本发明一个实施例的检测方法的装置。如图所示，该装置主要包括:滚轴装置、横向照明光源、纵向照明光源、电子线阵CCD、显示装置、基于PC的图像处理装置。滚轴装置用来带动支架样品旋转，以便检测支架样品的各个区域。作为示例，滚轴装置可包括以下部件:安装侧板、从动滚轴、卡套、主动滚轴、联轴器、电机，如图2所示。联轴器将伺服电机的输出轴与主动滚轴相连接，电机的旋转带动主动滚轴旋转。主动滚轴和从动滚轴通过卡套连接，因此当主动滚轴旋转时，会带动从动滚轴随动。在进行检测时，可将支架样品放在两个进给滚轴上，这两个进给滚轴的旋转带动支架旋转，例如可带动支架进行360度旋转。操作人员仅仅需要放上和取下支架产品。电子阵列CCD用来检测样品，其安装在支架产品的上方，以一条线一条线的精密扫描方式采集线阵的图像数据。经过一个完整的扫描过程后，就可获得支架的整体图像。本发明的检测方法从外部引入横向照明光源和纵向照明光源，其中横向照明光源照亮被检测支架产品的外表面，纵向照明光源照亮被检测支架的内表面。两种光源采用不同颜色和材质的光照，无强光的一致性照明提高了图像质量。本发明的检测方法还涉及到基于PC的图像处理装置和用户显示界面。图像处理装置利用图像处理算法对CCD采集的图像数据进行处理，以观察多种不同类型的结构或表面缺陷，并将这些缺陷与原定义的理论或设计基准进行比较，以显示在计算机界面上。具体地，通过将在检测过程中测得的支架几何特征尺寸与支架的理论基准数据相比较，确定支架测量数据与理论基准数据之间的变化量。在误差被观察到后，将在计算机屏幕上可视化显示这些误差，从而得出判断结果。
权利要求
1.一种医用支架检测方法，包括: 旋转支架样品以便检测支架样品的各个区域； 利用横向照明光源照亮支架样品的外表面区域； 利用纵向照明光源照亮支架样品的内表面区域； 用逐线扫描方式对支架样品进行扫描以获得支架样品的整体图像； 将测得的支架样品的几何特征尺寸与理论基准数据相比较以确定两者之间的误差；以及在用户界面上显示这些误差， 其中，横向照明光源发出的光与纵向照明光源发出的光的波长不同。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在检测时，将支架样品放在滚轴装置的主动滚轴和从动滚轴上，主 动滚轴和从动滚轴两者的旋转带动支架样品旋转。
全文摘要
本发明公开了一种医用支架检测方法。该方法包括旋转支架样品以便检测支架样品的各个区域；利用横向照明光源照亮支架样品的外表面区域；利用纵向照明光源照亮支架样品的内表面区域；用逐线扫描方式对支架样品进行扫描以获得支架样品的整体图像；将测得的支架样品的几何特征尺寸与理论基准数据相比较以确定两者之间的误差；以及在用户界面上显示这些误差。其中，横向照明光源发出的光与纵向照明光源发出的光的波长不同。
文档编号G01B11/00GK103217439SQ201210015720
公开日2013年7月24日 申请日期2012年1月19日 优先权日2012年1月19日
发明者魏志凌, 宁军, 夏发平, 马秀云 申请人:昆山思拓机器有限公司