专利名称：一种黑硅光谱特性探测平台的利记博彩app
技术领域：
本实用新型涉及一种黑硅光谱特性探测平台，属于光谱探测技术领域。
背景技术：
能源是现代人类社会发展的首要前提条件，而太阳能取之不尽，用之不竭，是对环境无任何污染的新型可再生能源的首选。充分利用太阳能、提高对太阳能光谱的有效吸收率是解决未来能源短缺，保护环境，降低释放温室效应气体，防止全球变暖的有效途径。1998年，哈佛大学的Mazur科研小组将晶体硅材料放进一个充满SF6气体的环境中，然后用近红外飞秒激光照射硅片，激光扫描后的硅片表面变成了黑色，在显微镜下观察到硅片的表面形成了准规则排列的微米量级锥形尖峰结构。实验测定这种“黑硅”材料与未处理的晶体硅片相比发生了非常大的变化一是材料带隙减小，对于超长波段的入射光波有较大的吸收；二是与不处理的普通硅晶片相比，在近红外的一些波段上此种光伏材料对光的敏感性提高了 100至500倍；另外，这种经飞秒激光“黑化”处理的硅材料与硅单晶材料相比比重减小，这一实验室现象为新型太阳能电池照亮了前景。因此该种黑硅材料的光谱特性吸引了不少中外学者加入研究的行列。但到目前为止，还没有专门针对该种黑硅材料进行光谱特性探测的成熟技术方案问世。因此对该种硅材料的结构特性，及其光谱曲线的探测研究受到一定限制。
实用新型内容本实用新型公开了一种黑硅光谱特性探测平台，其目的在于克服现有技术缺少对黑硅材料的结构特性及其光谱曲线进行探测研究的装置，致使探测研究受到限制的弊端。 本实用新型通过氕灯和钨灯提供宽光谱光源，以及光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器三个探测器相结合，能在紫外、可见光谱区域对黑硅样品的透射和反射光谱作定性和定量的分析；结构简单，使用方便，测试结果精准。本实用新型的技术方案如下一种黑硅光谱特性探测平台，包括氕灯和钨灯、单色仪、透镜、测透射光的样品室、 测反射光的样品室、光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器、积分球、光学平台，其特征在于A)氕灯和钨灯、单色仪、透镜、测透射光的样品室、测反射光的样品室、积分球依次固定在光学平台上；B)积分球上设置通光口，测透射光的样品室或测反射光的样品室分别与积分球通光口相连；C)积分球上设置探测口，光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器分别与积分球的卡口连接；D)氕灯和钨灯发出的复合光源依次通过单色仪、透镜、测透射光的样品室或测反射光的样品室进入积分球，积分球将光信号完整收集到样品室中，然后根据光谱范围，分别进入光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器三个探测器分段检测。本实用新型由氕灯和钨灯提供在整个紫外光区或可见光谱区发射连续光谱的光源，发出的复合光在单色仪中分解成单色光，并从中选出一任意波长单色光通过透镜会聚入射到样品室中。积分球将光信号完整收集后，再根据光谱范围，分别选用光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器三个探测器，在紫外区、可见区和近红外区超宽波段范围内分段检测，最后实现该黑硅材料在宽光谱范围内透射和反射特性的定性和定量分析。本实用新型通过氕灯和钨灯提供宽光谱光源，以及光电倍增管、砷化镓铟探测器和硫化铅探测器三个探测器相结合，能在紫外、可见光谱区域对黑硅样品的光谱作定性和定量的分析；结构简单，使用方便，测试结果精准。
图1为本实用新型黑硅光谱特性探测平台的俯视结构示意图。1、氕灯和钨灯，2、单色仪，3、透镜，4、测透射光的样品室，5、测反射光的样品室，6、 光电倍增管，7、砷化镓铟探测器，8、硫化铅探测器，9、积分球，10、光学平台。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型加以详细说明。一种光谱探测平台如图1所示，氕灯和钨灯1、单色仪2、透镜3、测透射光的样品室 4、测反射光的样品室5、积分球9依次固定在光学平台10上，积分球9上设置通光口，测透射光的样品室4或测反射光的样品室5分别与积分球9的通光口相连；积分球9上设置探测口，光电倍增管6、砷化镓铟探测器7、硫化铅探测器8分别与积分球9的探测口连接；気灯和钨灯1发出的复合光源依次通过单色仪2、透镜3、测透射光的样品室4或测反射光的样品室5、进入积分球9，积分球将光信号完整收集到样品室中，然后根据光谱范围，分别进入光电倍增管6、砷化镓铟探测器7、硫化铅探测器8三个探测器分段检测。测量透射光谱时，将硅片垂直粘贴于测透射光的样品室4内，关闭测反射光的样品室5。氕灯和钨灯1提供在整个紫外光区或可见光谱区发射连续光谱的光源，发出的复合光在单色仪2中分解成单色光，并从中选出一任意波长单色光通过透镜3会聚入射到测透射光的样品室4中的硅片上。积分球9将透射光信号完整收集后，再根据光谱范围，分别选用光电倍增管6、砷化镓铟探测器7和硫化铅探测器8三个探测器，在紫外区、可见区和近红外区超宽波段范围内分段检测，最后实现该黑硅材料在宽光谱范围内透射光谱的定性和定量分析。测量反射光谱时，将硅片垂直粘贴于测反射光的样品室5内，并且打开测反射光的样品室5。氕灯和钨灯1提供在整个紫外光区或可见光谱区发射连续光谱的光源，发出的复合光在单色仪2中分解成单色光，并从中选出一任意波长单色光通过透镜3会聚入射到测反射光的样品室5中的硅片上。积分球9将反射光信号完整收集后，再根据光谱范围，分别选用光电倍增管6、砷化镓铟探测器7和硫化铅探测器8三个探测器，在紫外区、可见区和近红外区超宽波段范围内分段检测，最后实现该黑硅材料在宽光谱范围内反射光谱的定性和定量分析。
权利要求1. 一种黑硅光谱特性探测平台，包括氕灯和钨灯、单色仪、透镜、测透射光的样品室、测反射光的样品室、光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器、积分球、光学平台，其特征在于A)氕灯和钨灯、单色仪、透镜、测透射光的样品室、测反射光的样品室、积分球依次固定在光学平台上；B)积分球上设置通光口，测透射光的样品室或测反射光的样品室分别与积分球的通光口相连；C)积分球上设置探测口，光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器分别与积分球的探测口连接；D)氕灯和钨灯发出的复合光源依次通过单色仪、透镜、测透射光的样品室或测反射光的样品室、积分球，积分球将光信号完整收集到样品室中，然后根据光谱范围，分别进入光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器分段检测。
专利摘要本实用新型涉及一种黑硅光谱特性探测平台，氕灯和钨灯、单色仪、透镜、测透射光的样品室、测反射光的样品室、积分球依次固定在光学平台上。积分球上设置通光口和探测口，测透射光的样品室和测反射光的样品室分别与积分球通光口相连，光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器分别与积分球的探测口连接；积分球将光信号完整收集到样品室中；然后根据光谱范围，分别进入光电倍增管、砷化镓铟探测器、硫化铅探测器，在紫外区、可见区和近红外区超宽波段范围内分段检测，最后实现该黑硅材料在宽光谱范围内透射和反射特性的定性和定量分析。本实用新型结构简单，使用方便，测试结果精准。
文档编号G01N21/25GK202083469SQ201120124849
公开日2011年12月21日 申请日期2011年4月26日 优先权日2011年4月26日
发明者吴文威, 庄松林, 彭滟, 朱亦鸣, 温雅, 陈麟 申请人:上海理工大学