专利名称：一种测试电子产品关机温度的系统和方法
技术领域：
本发明属于电子产品测试领域，尤其涉及一种测试电子产品关机温度的系统和方法。
背景技术：
电子产品在长时间连续使用后会产生大量热量，导致工作温度升高，当工作温度超出电子产品能够承受的范围，不仅电子产品出现部件损坏，导致其使用寿命受到严重影响；而且过高的温度也会危害到使用者。因此，有必要采取一定的措施保证电子产品在设定的温度范围内工作，如强制关机或降温等。而测试出电子产品安全工作的温度范围则是电子产品制造商保障电子产品安全工作的关键。通常的做法是将电子产品置于温箱中，通过逐渐升高温箱内的温度，测试并记录电子产品自动关机时的温度，该温度即为电子产品工作温度的上限，等于或超过该温度，电子产品就很可能出现损坏。因此制造商在采取保障措施以保证电子产品安全工作时，就有了可靠的参照依据，以该温度为参照，使得电子产品在低于该温度的温度范围内工作，而当工作温度接近该温度时，立即采取措施强制关机或降低温度，以保护电子产品和使用者的安全。然而按照现有的这种测试电子产品关机温度的系统和方法，将电子产品放入温箱，并将温箱内的温度调整到一定值，电子产品由于受到外部温差的影响导致其不正常关机，即这种不正常关机是由测试系统所致而非电子产品在高温下产生的自动关机，因此测试人员会误认为此时的温度为电子产品关机温度，然而事实上却是，电子产品可能只是无法适应骤然变高的温度，此时的温度还不是所需的电子产品关机温度，这样导致测试的结果不精确。
发明内容
本发明为解决电子产品关机温度的测试结果不精确的技术问题，提供一种测试电子产品关机温度的系统和方法，该系统和方法能提供精确的测试结果。为达到上述目的，本发明提供一种测试电子产品关机温度的系统，包括控制器、温控箱、置于温控箱中的被测试部件、及给被测试部件供电的电源，所述控制器控制温控箱的温度及电源的开关；还包括继电器，所述被测试部件包括用于启动该测试部件的常开触点开关，所述继电器的常开触点与所述常开触点开关并联，所述继电器的线圈绕组串联在电源回路中，所述控制器控制电源给继电器供电。优选地，所述被测试部件包括用于给该被测试部件供电的假电池，所述假电池与电源连接。优选地，所述控制器分别通过GPIB接口和RS232接口与电源和温控箱相连接。一种测试电子产品关机温度的方法，包括如下步骤:S1、搭建测试系统；S2、由控制器控制温控箱的初始温度，并控制电源给被测试部件供电；S3、监控被测试部件的运行情况；S4、若步骤S3监控的被测试部件正常运行，则由控制器升高温控箱的温度；S5、监控被测试部件的运行情况；S6、若步骤S5监控的被测试部件正常运行，则返回步骤S4 ；
S7、若步骤S5监控的被测试部件关机，则记录此时温度；S8、若步骤S3监控的被测试部件关机，则由控制器控制电源给继电器供电，继电器得电导通，启动被测试部件；S9、监控被测试部件的运行情况；S10、若步骤S9监控的被测试部件正常运行，则返回步骤S4 ； SlU若步骤S9监控的被测试部件关机，则由控制器降低温控箱的温度，并返回步骤S8。优选地，步骤S2中温控箱的初始温度为50-70° C。优选地，步骤S7中还包括对被测试部件通过继电器进行复检。优选地，所述复检包括以下步骤:S7-1、通过继电器启动被测试部件；S7-2、监控被测试部件的运行情况；S7-3、若步骤S7-2监控的被测试部件正常运行，则返回步骤S4 ； S7-4、若步骤S7-2监控的被测试部件关机，则记录此时温度。本发明的有益效果是:本发明通过继电器的导通来开启被测试部件，从而可以在被测试部件由于受温差影响导致其不正常关机时，可以重启被测试部件并监控其运行情况，以此来确定测试结果是否精确。
图1是本发明提供的测试电子产品关机温度的系统示意图。图2是本发明提供的测试电子产品关机温度的方法流程图。图中标记:
1-控制器、
2-温控箱、
3-被测试部件、
4-电源、
5-继电器、
6-GPIB 接口、
7-RS-232 串 口。
具体实施例方式为了使本发明所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。参阅图1，本发明提供一种测试电子产品关机温度的系统，包括控制器、温控箱、置于温控箱中的被测试部件、及给被测试部件供电的电源，所述控制器控制温控箱的温度及电源的开关；还包括继电器，所述被测试部件包括用于启动该测试部件的常开触点开关，所述继电器的常开触点与所述常开触点开关并联，所述继电器的线圈绕组串联在电源回路中，所述控制器控制电源给继电器供电。图1为整个系统的模块示意图，下面分别说明各组成部分的作用。控制器，承担测试系统的全部控制功能，控制本发明测试系统的运行，实现自动测试，从而避免人工测试带来的误差。
温控箱，用于放置被测试部件，能够实现-45-130° C的温度范围。温控箱通过RS-232串口与控制器连接。其内部设有温度传感器，能实时地将温控箱的状态反馈给控制器。被测试部件，可以是手机、个人数字助理机(PDA)、电动玩具等电子产品，优选地，被测试部件可以利用假电池进行供电，以减少电池的消耗，避免环境污染。假电池为本领域技术人员所公知，其结构不再赘述，使用时，假电池需接通电源，并与被测试部件的电池槽内的端子连接，由此电源通过假电池给被测试部件供电。电源，对被测试部件及继电器供电，可提供0-15V电能。电源通过GPIB接口与控制器连接，控制器可控制电源的电压大小及电源的开闭，并且电源的电流大小可反馈给控制器，从而监控被测试部件的运行情况。继电器，用于重新开启已关机的被测试部件，起到复检的目的。继电器为常开继电器，包括常开触点和线圈绕组，继电器的常开触点并联在被测试部件的常开触点开关上，线圈绕组串联在电源回路中。由于温控箱升高一定温度后，被测试部件受温差影响可能产生自动关机，然而此时的自动关机并不是由高温所导致的，由此出现测试结果不精确。采用继电器可以起到复检的目的，即当被测试部件出现关机后，控制器监控到电源的电流为零，控制器控制电源给继电器供电，继电器得电，其常开触点导通，由于继电器的常开触点与被测试部件的常开触点开关组成并联电路，相当于并联电路导通，从而使得被测试部件重新开机，以上过程相当于手动按压一次被测试部件的开机按键，随后控制器继续执行测试。图2给出了本发明测试方法的流程图，现具体说明如下。S1、搭建测试系统，将控制器、温控箱、被测试部件、继电器、电源等各部件按照前述方式连接。S2、开启电源和温控箱，设置温控箱的初始温度为Tl，在一实施例中，Tl为50-70。 CoS3、控制器监控被测试部件的运行情况，具体是，当检测到电源的电流为零时，表示被测试部件已自动关机，否则，被测试部件正常运行。S4、若步骤S3监控的被测试部件正常运行，则由控制器控制温控箱升高温度，由于在该温度下，被测试部件仍能正常运行，说明该温度还未达到其关机温度，所以需上调温度以继续测试，在一实施例中，控制器控制温控箱升高0.1-1° C。S5、在温控箱升高温度后，控制器继续监控被测试部件的运行情况。S6、若步骤S5监控的被测试部件正常运行，则返回步骤S4，即继续升高温度。S7、若步骤S5所监控的被测试部件自动关机，说明在此时的温度下，被测试部件受高温影响导致其自动关机，该温度为被测试部件所能承受的最高温度，记录该温度，测试结束。S8、若步骤S3监控的被测试部件自动关机，即表明初始温度Tl有可能是受温差影响而产生的不准确的测试温度，由控制器控制电源给继电器供电，继电器得电后导通，使得与被测试部件的常开触点开关的并联电路导通，从而重新启动被测试部件。S9、控制器监控被测试部件的运行情况。S10、若步骤S9所监控的被测试部件正常运行，即表明初始温度Tl确实是不准确的，需要升高温度，即返回步骤S4。SI 1、若步骤S9所监控的被测试部件自动关机，一种情况可能是，初始温度Tl设高了，因此由控制器降低温控箱的温度，并返回步骤S8进行重启；在一实施例中，控制器控制温控箱的温度降低0.1-1° C。需要说明的是，本发明在被测试部件处于初始温度Tl时，利用继电器进行复检，可以避免温差带来的影响。但是，在步骤S7中，即在温度升高后，监控被测试部件自动关机时，此时也可以进行复检，以使测试结果更准确。在步骤S7中复检的步骤如下:
S7-1、通过继电器启动被测试部件。S7-2、监控被测试部件的运行情况。S7-3、若步骤S7-2监控的被测试部件正常运行，则返回步骤S4。S7-4、若步骤S7-2监控的被测试部件关机，则记录此时温度。以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种测试电子产品关机温度的系统，包括控制器(I)、温控箱(2)、置于温控箱(2)中的被测试部件(3)、及给被测试部件(3)供电的电源(4)，所述控制器(I)控制温控箱(2)的温度及电源(4)的开关；其特征在于:还包括继电器(5)，所述被测试部件(3)包括用于启动该测试部件的常开触点开关，所述继电器(5)的常开触点与所述常开触点开关并联，所述继电器(5)的线圈绕组串联在电源(4)回路中，所述控制器(I)控制电源(4)给继电器(5)供电。
2.如权利要求1所述的测试电子产品关机温度的系统，其特征在于:所述被测试部件(3 )包括用于给该被测试部件(3 )供电的假电池，所述假电池与电源(4 )连接。
3.如权利要求1所述的测试电子产品关机温度的系统，其特征在于:所述控制器(I)分别通过GPIB接口和RS232接口与电源(4)和温控箱(2)相连接。
4.一种测试电子产品关机温度的方法，其特征在于，包括如下步骤: 51、搭建测试系统； 52、由控制器(I)控制温控箱(2)的初始温度，并控制电源(4)给被测试部件(3)供电； 53、监控被测试部件(3)的运行情况； 54、若步骤S3监控的被测试部件(3)正常运行，则由控制器(I)升高温控箱(2)的温度； 55、监控被测试部件(3)的运行情况； 56、若步骤S5监控的被测试部件(3)正常运行，则返回步骤S4； 57、若步骤S5监控的被测试部件(3)关机，则记录此时温度； 58、若步骤S3监控的被测试部件(3)关机，则由控制器(I)控制电源(4)给继电器(5)供电，继电器(5 )得电导通，启动被测试部件(3 ); 59、监控被测试部件(3)的运行情况； S10、若步骤S9监控的被测试部件(3)正常运行，则返回步骤S4 ； S11、若步骤S9监控的被测试部件(3)关机，则由控制器(I)降低温控箱(2)的温度，并返回步骤S8。
5.如权利要求1所述的测试电子产品关机温度的方法，其特征在于:步骤S2中温控箱(2)的初始温度为50-70° C。
6.如权利要求1所述的测试电子产品关机温度的系统，其特征在于:步骤S7中还包括对被测试部件(3)通过继电器(5)进行复检。
7.如权利要求6所述的测试电子产品关机温度的系统，其特征在于:所述复检包括以下步骤: S7-1、通过继电器(5)启动被测试部件(3)； S7-2、监控被测试部件(3)的运行情况； S7-3、若步骤S7-2监控的被测试部件(3)正常运行，则返回步骤S4 ； S7-4、若步骤S7-2监控的被测试部件(3)关机，则记录此时温度。
全文摘要
本发明提供了一种测试电子产品关机温度的系统，包括控制器、温控箱、置于温控箱中的被测试部件、及给被测试部件供电的电源，所述控制器控制温控箱的温度及电源的开关；还包括继电器，所述被测试部件包括用于启动该测试部件的常开触点开关，所述继电器的常开触点与所述常开触点开关并联，所述继电器的线圈绕组串联在电源回路中，所述控制器控制电源给继电器供电。本发明通过继电器的导通来开启被测试部件，从而可以在被测试部件由于受温差影响导致其不正常关机时，可以重启被测试部件并监控其运行情况，以此来确定测试结果是否精确。
文档编号G01R31/00GK103176071SQ201110440540
公开日2013年6月26日 申请日期2011年12月26日 优先权日2011年12月26日
发明者宫清, 宋以鹰, 叶迪峰, 吴知东 申请人:比亚迪股份有限公司