专利名称：基于hm276层叠式电子产品的测试台及其测试方法
技术领域：
本发明涉及卫星电子产品的测试设备，尤其是一种基于HM276层叠式电子产品的测试台。本发明还涉及该电子产品测试台的测试方法。
背景技术：
采用HM276自嵌套电连接器层叠式结构的机箱，由于其突破了以前框架加机壳的传统设计理念，去除了繁琐的机壳和框架锁紧机构，各模块框体既作为模块电路板的固定框架，又能替代整机的机壳，从而大大降低了整机的体积和重量，因此在卫星电子产品上广泛应用。然而由于其层叠的特性，使得调试和测试时无法对其背面的信号进行测量，并且多板层叠之后，中间层的电路板的信号无法测量，无论是单板还是整机，信号的测量都是一件极其困难的事情。同时，以往对单板的测试只是测一下内阻，然后就组合成整机进行通讯和功能的测试，一旦出现故障，往往需要耗费较大的人力和时间进行错误查找和纠正，过程中需要反复的插拔单板，极易造成插针的弯折和短路，严重的情况出现烧毁设备。本发明就是为了解决上述问题的一种测试平台和技术。目前没有发现类似相关技术的说明或报道，也尚未收集到国内外类似的资料。
发明内容
为了解决现有基于HM276层叠式电子产品测试的安全性缺陷和测试覆盖性差的问题，提高层叠式电子产品的测试安全性和效率性，本发明的目的在于提供一种基于HM276层叠式电子产品的测试台。在测试过程中，利用本发明平台的特殊设计，解决了安全、便利的测试问题，解决了单板或整机多模式测试困难以及故障隔离、排查低效率的问题。为了解决现有技术的不足，本发明目的的另一方面，还提供一种基于HM276层叠式电子产品的测试台的测试方法，提供了一种此类系统的测试方法，解决了 HM276层叠式电子产品的方便、安全、精确的测试问题。为了达到上述发明目的，本发明为解决其技术问题所采用的技术方案是提供一种基于HM276层叠式电子产品的测试台，该装置包括:一个测试台，其上安装有可移动滑块，可移动滑块上安装有活动HM276插拔部件，用于连接被测试板和HM276控制总线；外接电源与供电柱连接，用于对被测试板的供电，以及电压和电流监测；测试台上设置有总线测试排孔，用于连接示波器和电压表，并通过活动HM276插拔部件与HM276控制总线和被测试板连接；测试台的电源输入处的活动HM276插拔部件上安装有主控板；主控板用于控制整个测试台，通过测试电缆与综合电子产品测试服务器连接，接收测试服务器的测试向量，通过HM276控制总线完成对被测试板的控制和数据通讯，在测试服务器上观察测试结果，并完成数据的分析；测试设备用于对被测试板上正面或反面的信号进行测量和观察。本发明的另一方面，为解决上述技术问题所采用的技术方案是提供一种基于HM276层叠式电子产品的测试台的测试方法，包括如下步骤:步骤1，对被测试板进行内阻测量，使用万用表在总线测试排孔的相应的正负电源点进行测量；步骤2，对被测试板进行功能测试，外接电源通过供电柱向被测试板供电，观察电压、电流是否在正常范围内；步骤3，主控板进行初始化，在测试服务器端调用主控板初始化软件，检测主控板测试前的初始状态；步骤4，根据被测试板的地址、数据和时序要求，由测试服务器设置被测试板需要的的测试向量类型；步骤5，向服务器调用测试向量，由测试服务器向主控板发送测试向量，包括时钟发送、固定地址的数据读写、特殊数据读写、控制信号的收发、AD测试、DA测试；步骤6，主控板接收并转发测试向量，被测试板接收主控板发送的时钟、数据、地址和控制信号，经过总线隔离后进入到被测板的FPGA，由其FPGA完成数据的时序和逻辑处理，通过测试设备实时观察数据的变化，反馈数据或者直接输出数据；反馈数据由主控板进行自动数据比对；直接输出数据由测试设备实时监测；步骤7，扩展连接多块被测试板，由接收测服务器向主控板发送测试向量，对不同的测试板进行读写控制，检验被测试板共用总线是否存在冲突。本发明一种基于HM276层叠式电子产品的测试台及其测试方法，由于采取上述的技术方案，测量的过程中无需插拔，且通过测试服务器向主控板发送多类型测试向量，使得测试人员在更短的时间内能够更快地完成更多的测试项目，并可以进行单板或整机多模式测试，为故障隔离和排查提供了方便，改善了现有层叠式电子产品测试条件，大幅度提高了系统测试覆盖性。本发明所公开的措施方法对各种型号层叠式电子产品的测试安全性和覆盖性方面，具有一定的通用性，可应用于同类产品的单板性能测试。本发明经过地面各项试验测试，证明其技术方案有效、安全可靠，解决了现有基于HM276层叠式电子产品测试的安全性缺陷和测试覆盖性差的问题，提高层叠式电子产品的测试安全性和效率性，取得有效降低测试成本、提高测试效率、避免因测试不当导致的毁坏等有益效果。
图1为本发明基于HM276层叠式电子产品的测试台的结构框图；图2为本发明基于HM276层叠式电子产品的测试台测试方法的流程图。
具体实施例方式下面结合附图与具体实施例对本发明作进一步详细描述:图1为本发明第一方面，一种基于HM276层叠式电子产品测试台，包括:测试台10UHM276控制总线102、活动HM276插拔部件103、可移动滑块104、总线测试排孔105、供电柱106、外接电源107、主控板108、被测试板109、测试服务器110和测试设备111。如图1的实施例所示，该装置包括:
测试台101安装有可移动滑块104，可移动滑块104上安装有活动HM276插拔部件103，用于连接被测试板109和HM276控制总线102 ;被测试板109通过活动HM276插拔部件103与HM276控制总线102连接；外接电源107与供电柱106连接，用于对被测试板109的供电，以及电压和电流监测；测试台101上设置有总线测试排孔105，用于连接示波器和电压表，并通过活动HM276插拔部件103与HM276控制总线102和被测试板109连接；测试台101的电源输入处的活动HM276插拔部件103上安装有主控板108 ;主控板108用于控制整个测试台，通过测试电缆与综合电子产品测试服务器110连接，接收测试服务器110的测试向量，通过HM276控制总线完成对被测试板109的控制和数据通讯，在测试服务器110上观察测试结果，并完成数据的分析。测试设备111对被测试板109上正面或反面的信号进行测量和观察。测试板间有15至45厘米的间距，以此可以方便的使用任何测试设备111，对被测试板109上正面或反面的信号进行测量和观察。下面进一步对本发明的工作过程进行描述:当需要对被测试板109进行测试时，先利用可移动滑块104将其安装在测试台101上合适的位置，然后使用活动HM276插拔部件103将被测试板109的总线连接到测试台101，将外接电源107连接到供电柱106上，对被测试板109供电，完成对被测试板109的供电电压和电流监测，同时将示波器、电压表等测试设备连接到总线测试排孔105，实时的观察被测试板的重要信号的变化。本装置利用可移动滑块104完成不同结构尺寸的被测试板的互联，通过活动HM276插拔部件103方便的连接被测试板109与HM276控制总线102，完成多个被测试板109间、被测试板109和主控板108间的控制和数据通讯；通过总线测试排孔105可以方便的测试总线上的任何一个或多个信号。基本测试完毕后，根据被测试板109的测试需求，由测试服务器110对主控板108发出测试向量，主控板108接收并转发给被测试板109，被测试板109接收测试向量后，可以将反馈数据发送给主控板108进行自动数据比对，或者将数据和波形通过接口直接输出给测试设备111，由专用测试仪器实时监测。图2为流程图，表示本发明的另一方面，基于HM276层叠式电子产品测试台的测试方法。该测试方法包括如下步骤:步骤I，对被测试板109进行内阻测量，使用万用表在总线测试排孔105的相应的正负电源点进行测量；步骤2，对被测试板109进行功能测试，外接电源107通过供电柱106向被测试板109供电，观察电压、电流是否在正常范围内；步骤3，主控板108进行初始化，在测试服务器110端调用主控板108初始化软件，检测主控板108测试前的初始状态；步骤4，根据被测试板109的地址、数据和时序要求，由测试服务器110设置被测试板109需要的的测试向量类型；步骤5，向服务器110调用测试向量，由测试服务器110向主控板108发送测试向量，包括时钟发送、固定地址的数据读写、特殊数据读写、控制信号的收发、AD测试、DA测试等;步骤6，主控板108接收并转发测试向量，被测试板109接收主控板108发送的时钟、数据、地址和控制信号，经过总线隔离后进入到被测板109的FPGA，由其FPGA完成数据的时序和逻辑处理，通过测试设备实时观察数据的变化，反馈数据或者直接输出数据；反馈数据由主控板108进行自动数据比对；直接输出由测试设备111实时监测；步骤7，可以扩展连接多块被测试板109，由接收测服务器110向主控板108发送测试向量，对不同的测试板进行读写控制，检验被测试板109共用总线是否存在冲突。综上所述，对被测试板109进行测试时，由服务器110向主控板108发送测试向量，包括时钟发送、固定地址的数据读写、特殊数据读写、控制信号的收发等等；被测试板接收主控板发送的时钟、数据、地址和控制信号，经过总线隔离后进入到被测板的FPGA，由其FPGA完成数据的时序和逻辑处理，通过测试设备可以实时观察数据的变化；同时可以扩展连接多块被测试板，由服务器向主控板发送测试向量，对不同的测试板进行读写控制，检验被测试板共用总线是否存在冲突。本发明为解决现有基于HM276层叠式电子产品测试的安全性缺陷和测试覆盖性差的问题，本发明采用基于HM276层叠式电子产品测试台的单板性能安全测试技术，该技术方案由内总线HM276、主控板和若干组合部件等组成，并且基于测试服务器，开发了一种新的单板性能测试方法，可以针对不同功能的被测试板，进行独特的向量测试。；将不同结构尺寸的基于HM276总线的测试板，通过测试台互联，且可以保护测试板的插针不弯折、不断裂，并大大减少产品接插件的插拔次数；被测试单板间距可达45cm，便于各类测试设备对测试板的信号测量和观察。
权利要求
1.一种基于HM276层叠式电子产品的测试台，其特征在于，该装置包括: 一个测试台，其上安装有可移动滑块，可移动滑块上安装有活动HM276插拔部件，用于连接被测试板和HM276控制总线；外接电源与供电柱连接，用于对被测试板的供电，以及电压和电流监测；测试台上设置有总线测试排孔，用于连接示波器和电压表，并通过活动HM276插拔部件与HM276控制总线和被测试板连接；测试台的电源输入处的活动HM276插拔部件上安装有主控板，用于控制整个测试台，通过测试电缆与综合电子产品测试服务器连接，接收测试服务器的测试向量，通过HM276控制总线完成对被测试板的控制和数据通讯，在测试服务器上观察测试结果，并完成数据的分析；测试设备用于对被测试板上正面或反面的信号进行测量和观察。
2.如权利要求1所述的电子产品的测试台，其特征在于:所述的测试板间有15至45厘米的间距。
3.—种如权利要求1所述的基于HM276层叠式电子产品的测试台的测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤: 步骤I，对被测试板进行内阻测量，使用万用表在总线测试排孔的相应的正负电源点进行测量； 步骤2，对被测试板进行功能测试，外接电源通过供电柱向被测试板供电，观察电压、电流是否在正常范围内； 步骤3，主控板进行初始化，在测试服务器端调用主控板初始化软件，检测主控板测试前的初始状态； 步骤4，根据被测试板的地址、数据和时序要求，由测试服务器设置被测试板需要的的测试向量类型； 步骤5，向服务器调用测试向量，由测试服务器向主控板发送测试向量，包括时钟发送、固定地址的数据读写、特殊数据读写、控制信号的收发、AD测试、DA测试； 步骤6，主控板接收并转发测试向量，主控板发送的时钟、数据、地址和控制信号，经过总线隔离后进入到被测板的FPGA，由其FPGA完成数据的时序和逻辑处理，通过测试设备实时观察数据的变化，反馈数据或者直接输出数据；反馈数据由主控板进行自动数据比对；直接输出数据由测试设备实时监测； 步骤7，扩展连接多块被测试板，由接收测服务器向主控板发送测试向量，对不同的测试板进行读写控制，检验被测试板共用总线是否存在冲突。
全文摘要
本发明涉及卫星电子产品的测试设备，公开了一种基于HM276层叠式电子产品的测试台。本发明还涉及该电子产品测试台的测试方法。通过测试服务器[110]和主控板[108]，向被测试板[109]发送控制和数据信息流，观测HM276控制总线[102]上数据状态和被测试板[109]的数据交互状态；同时可以将多块被测试板[109]通过测试台[101]互联，进行多板的控制和数据通讯测试。本发明解决了现有基于HM276层叠式电子产品测试的安全性缺陷和测试覆盖性差的问题，提高层叠式电子产品的测试安全性和效率性，取得有效降低测试成本、提高测试效率的有益效果。
文档编号G01R31/28GK103116119SQ201110366078
公开日2013年5月22日 申请日期2011年11月17日 优先权日2011年11月17日
发明者高洁, 樊友诚, 邢方圆, 朱英 申请人:上海航天测控通信研究所