专利名称：自动光学测量仪的利记博彩app
技术领域：
本实用新型涉及一种自动光学测量仪，用于电子行业测量PCB上微小物体的尺 寸。
背景技术：
对于电子加工过程中的极小尺寸元件的测量，一般的方法是使用手动的电子光学 测量仪器测量，或者使用AOI (自动光学测量仪)测量。前者是完全手工操作，当生产流程 中需要批量测量时就显得效率非常低下。而通用的AOI本身是昂贵的测量仪器，而且在极 小尺寸元件测量中，因为本身结构设计的原因，不能很好满足特定产品的要求。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术中所存在的上述不足，而提供一 种结构设计合理，自动化程度高，使用方便，成本低的自动光学测量仪。本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案是一种自动光学测量仪，其特 征是设置有数控台、摄像头、安装座、支架，安装座固定在数控台上，支架安装在安装座上， 所述摄像头安装在支架上，摄像头下端安装有遮光罩。本实用新型数控台上还设置有夹具，夹具与加工件配合。本实用新型结构设计合理，可以自动完成检验点定位和测量的高精度测量仪，以 提高生产效率，降低设备费用。
图1是本实用新型实施例的结构示意图。
具体实施方式
参见图1，本实用新型自动光学测量仪包括数控台1、摄像头3、安装座6、支架5， 安装座6固定在数控台1上，支架5安装在安装座6上，所述摄像头3安装在支架5上，摄 像头3下端安装有遮光罩4，数控台1上设置有夹具2，夹具2可通过现有技术(例如滑轨) 在数控台1上左右、前后移动，加工件置于夹具2上或者直接置于数控台1上，摄像头3可 以上下移动完成摄像头的对焦。测量流程设置阶段1.移动摄像头3到加工件(PCB板)的第一个产品(小板)上，观察显示的图像，将十 字中心线对准产品中心位置，点击Aim Offset记录产品中心点及抓取中心区域图片保存， 作为参考图片，用于测试时调整位置误差；2.在图像上用鼠标标记出需要测量的图形，可以连续记录多个需要测量的图形；3.根据加工件2图纸尺寸标注，编制小板位置坐标，保存早指定的EXCEL文件中。[0014]测量阶段1.将加工件放置在测试平台上的夹具2中，点击“测试开始”按钮；2.系统调出位置坐标文件，将摄像头3移动到第一个产品(小板)的上方，拍摄该 产品的图片；3.系统调出在设置阶段保存的参考图片，在产品照片中找到相似的图形，并计算 出位置偏差；4.调出测试图形的坐标，并根据计算出的位置偏差修正坐标值；5.测量被测图形在长度，以像素为单位，然后转化为毫米，显示并记录。测量仪的光学设计简练而高效，仅仅依靠确定遮光罩的安装高度、遮蔽范围，即有 效地将室内多点散射光源(车间内的日光灯)调整为低角度入射光源，使得摄像头可以捕捉 到轮廓清晰的图像用于程序处理。本实用新型的优点是1.自动化程度高，一次装夹后可以自动完成多个检验点的定位、测量工作，无需人 工干预；2.测量位置定位准确、快速；3.可以自动修正被测工件的位置偏差；4.可以快速测量极小尺寸工件，精度高(+/-0.02mm)。凡是本实用新型的简单变形或等效变换，应认为落入本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种自动光学测量仪，其特征是设置有数控台、摄像头、安装座、支架，安装座固定 在数控台上，支架安装在安装座上，所述摄像头安装在支架上，摄像头下端安装有遮光罩。
2.根据权利要求1所述的自动光学测量仪，其特征在于数控台上还设置有夹具，夹具 与加工件配合。
专利摘要本实用新型涉及一种自动光学测量仪，其特征是设置有数控台、摄像头、安装座、支架，安装座固定在数控台上，支架安装在安装座上，所述摄像头安装在支架上，摄像头下端安装有遮光罩。本实用新型数控台上还设置有夹具，夹具与加工件配合。本实用新型结构设计合理，可以自动完成检验点定位和测量的高精度测量仪，以提高生产效率，降低设备费用。
文档编号G01B11/03GK201917320SQ201020676068
公开日2011年8月3日 申请日期2010年12月23日 优先权日2010年12月23日
发明者韩刚 申请人:恒诺微电子(嘉兴)有限公司