专利名称：激光测距装置的利记博彩app
技术领域：
本实用新型具体涉及一种用于检测电子类元件引脚高度等指标的激光测距装置。
背景技术：
在精密机械、电子等技术领域，在产品生产成型后，通常需要对产品中引脚的高度 等指标进行检测，以筛选出不合格产品。习用的检测方法通常是由质检质控人员手工进行 测试，其效率低、精确度差，难以符合现代化工业生产的需求。
实用新型内容本实用新型的目的在于提出一种激光测距装置，其采用自动控制技术与激光传感 器配合，可自动对待测产品进行测试，效率高，精确度好，从而克服了现有技术中的不足。为实现上述发明目的，本实用新型采用了如下技术方案一种激光测距装置，其特征在于，所述激光测距装置包括激光传感器、样品承载 装置、驱动装置以及控制单元，所述激光传感器和样品承载装置分别设置在一机架的不同 高度处，且所述激光传感器与样品承载装置可在驱动装置的驱动下于水平面上相对自由运 动，所述驱动装置由控制单元控制，所述激光传感器与控制单元连接。进一步地讲所述机架包括呈十字交叉分布的一横向导轨和一纵向导轨，所述驱动装置包括横 向驱动装置和纵向驱动装置，所述激光测距装置设置在所述横向导轨上，并可在横向驱动 装置的驱动下沿横向导轨移动，所述样品承载装置设置在所述纵向导轨上，并可在纵向驱 动装置的驱动下沿纵向导轨移动，所述横向导轨设置在纵向导轨上方。所述控制单元包括一显示单元、一数据处理单元和一指令输入单元，所述显示单 元和指令输入单元分别与数据处理单元连接，所述数据处理单元与激光传感器和驱动装置 连接。所述控制单元还包括一数据存储单元，所述数据存储单元与数据处理单元连接。所述控制单元采用计算机。所述机架包括一底座和一框架式壳体，所述壳体下端与底座固定连接，所述激光 传感器、样品承载装置、驱动装置均设置于所述壳体内腔中。所述底座上端面为平整面，该平整面中部沿设置一纵向导轨。所述机架上还设置一控制面板和一电源接口，所述激光传感器和驱动装置分别通 过控制面板和电源接口及控制单元连接。所述控制面板上设置电源按钮、紧急制动按钮和报警按钮。本案发明人通过将自动控制技术与激光传感技术结合，经长期研究和实践，提出 了该激光测距装置，该激光测距装置采用精确度较高的激光传感器作为检测机构，并以计 算机等控制单元控制的驱动装置驱动激光传感器和样品运动，在操作人员根据样品规格等 确定相关参数，并将该类参数输入控制单元后，即可由控制单元自动精确控制激光传感器和样品的相对运动频率、位移量，并精确测算样品上各待测部位的高度等参数。与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于该激光测距装置可自动对样品进 行测试，效率高，精确度好，可有效节约人力成本，提高企业经济效益。
图1是本实用新型一较佳实施例中激光测距装置的结构示意图；具体实施方式
以下结合附图及一较佳实施例对本实用新型的技术方案作进一步说明。参阅图1，该激光测距装置包括激光传感器3、样品承载装置4、驱动装置以及控制 单元，所述激光传感器和样品承载装置分别设置在一机架的不同高度处，且所述激光传感 器与样品承载装置可在驱动装置的驱动下于水平面上相对自由运动，所述驱动装置由控制 单元控制，所述激光传感器与控制单元连接。进一步地讲，所述机架包括呈十字交叉分布的一横向导轨6 (X轴电动导轨)和一 纵向导5(Y轴电动导轨)，所述驱动装置包括横向驱动装置和纵向驱动装置，所述激光测距 传感器3设置在所述横向导轨6上，并可在横向驱动装置的驱动下沿横向导轨移动，所述样 品承载装置4设置在所述纵向导轨5上，并可在纵向驱动装置的驱动下沿纵向导轨移动，所 述横向导轨设置在纵向导轨上方。更进一步地讲，所述机架包括一底座1和一框架式壳体2，所述壳体下端与底座固 定连接，所述激光测距传感器3、样品承载装置4、驱动装置均设置于所述壳体内腔中。所述底座上端面为平整面，该平整面中部沿设置纵向导轨5。所述机架上还设置一控制面板7和一电源接口 8，所述激光传感器和驱动装置分 别通过控制面板和电源接口及控制单元连接。所述控制面板上设置电源按钮、紧急制动按钮和报警按钮，藉此等按钮，操作人员 可在激光测距装置出现异常之时及时切断电源或发出警报。所述控制单元包括一显示单元、一数据处理单元和一指令输入单元，所述显示单 元和指令输入单元分别与数据处理单元连接，所述数据处理单元与激光传感器和驱动装置 连接。所述控制单元还包括一数据存储单元，所述数据存储单元与数据处理单元连接。优选的，所述控制单元可采用计算机、单片机或其他具有数据处理能力的设备。此外，所述控制单元上还可设置有远程通讯端口或局域通讯端口等，以便操作人 员可不受地域限制对该激光测距装置进行操控。设样品为一端面上分布引脚阵列的电子元件，在检测时，需逐行检测各引脚高度， 并与元件引脚高度规格进行比对，以判断样品是否合格，则，该激光测距装置的工作过程 为1.由工程技术员根据电子元件的外形尺寸，引脚间隔、高度规格、及每次测试承载 的数量等参数制作成该型号元件的测试程式，保存在存储单元中；2.由操作人员从存储单元中读取出以上保存的测试程式中的参数，确定引脚的行 数，每行引脚的间隔，每行引脚的长度确定激光传感器和样品承载装置的移动距离、速度和往返频率，并将相关参数由指令输入单元输入控制单元中；将样品和标准品放置于样品承载装置上；启动激光测距装置开始按钮，令激光传感器和样品承载装置启动，并由控制单元 控制激光传感器和样品承载装置按设定轨迹运动；激光传感器依次逐行扫描标准品和样品上的对应引脚，并将所得引脚高度等参数 输入控制单元，由数据处理单元对该等参数进行处理，判别样品品质，并可将相关参数存储 于数据存储单元中；扫描完毕后，操作人员置入另一样品，再次进行扫描，如此反复，至所有样品均完 成检测。以上实施例仅用于说明本实用新型的内容，除此之外，本实用新型还有其他实施 方式，但凡本领域技术人员因本实用新型所涉及之技术启示，而采用等同替换或等效变形 方式形成的技术方案均落在本实用新型的保护范围内。
权利要求1.一种激光测距装置，其特征在于，所述激光测距装置包括激光传感器、样品承载装 置、驱动装置以及控制单元，所述激光传感器和样品承载装置分别设置在一机架的不同高 度处，且所述激光传感器与样品承载装置可在驱动装置的驱动下于水平面上相对自由运 动，所述驱动装置由控制单元控制，所述激光传感器与控制单元连接。
2.如权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于所述机架包括呈十字交叉分布的 一横向导轨和一纵向导轨，所述驱动装置包括横向驱动装置和纵向驱动装置，所述激光测 距装置设置在所述横向导轨上，并可在横向驱动装置的驱动下沿横向导轨移动，所述样品 承载装置设置在所述纵向导轨上，并可在纵向驱动装置的驱动下沿纵向导轨移动，所述横 向导轨设置在纵向导轨上方。
3.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于所述控制单元包括一显示单元、 一数据处理单元和一指令输入单元，所述显示单元和指令输入单元分别与数据处理单元连 接，所述数据处理单元与激光传感器和驱动装置连接。
4.根据权利要求3所述的激光测距装置，其特征在于所述控制单元还包括一数据存 储单元，所述数据存储单元与数据处理单元连接。
5.根据权利要求1或3或4所述的激光测距装置，其特征在于所述控制单元采用计 算机。
6.根据权利要求1或2所述的激光测距装置，其特征在于所述机架包括一底座和一 框架式壳体，所述壳体下端与底座固定连接，所述激光传感器、样品承载装置、驱动装置均 设置于所述壳体内腔中。
7.根据权利要求6所述的激光测距装置，其特征在于所述底座上端面为平整面，该平 整面中部沿设置一纵向导轨。
8.根据权利要求6所述的激光测距装置，其特征在于所述机架上还设置一控制面板 和一电源接口，所述激光传感器和驱动装置分别通过控制面板和电源接口及控制单元连 接。
专利摘要本实用新型涉及一种激光测距装置，包括激光传感器、样品承载装置、驱动装置及控制单元，激光传感器和样品承载装置分别设置在一机架的不同高度处，且激光传感器与样品承载装置可在驱动装置的驱动下于水平面上相对自由运动，驱动装置由控制单元控制，激光传感器与控制单元连接。本实用新型可在PC机的控制下，按程式自动对样品进行高度测试，并且按预先设定的规格自动判断OK/NG，自动对测试数据和测试数据存储；本装置通过采用高感度传感器、高精度的机构、先进的软件算法，完善的软件功能，达成了样本高度测试的高效率、高精确度和很好的稳定性，可有效节约人力成本，提高企业经济效益。
文档编号G01B11/02GK201819670SQ20102054435
公开日2011年5月4日 申请日期2010年9月28日 优先权日2010年9月28日
发明者史志平 申请人:苏州瑞智测控设备有限公司