专利名称：层间偏移测量装置的利记博彩app
技术领域：
本实用新型有关一种层间偏移测量装置，旨在提供一种应用于多层印刷电度板， 包含硬板、软板、软硬板、高密度互连板等层间对准度检测的层间偏移测量装置。
背景技术：
传统印刷电路板(Printed Circuit Board ;PCB)的检测方法多采用人力目测方 式，其将待测的印刷电路板送进检测系统中，并藉由检测系统中的摄像功能撷取印刷电路 板上的对位靶标，进而将所取得的对位靶标的影像打印出来或显示在显示器上，最后再利 用量测工具，以人力方式对所打印出来或显示出来的靶标影像进行检测，并根据检测结果 来判断此待测印刷电路板为良板或瑕疵板。使用前述印刷电路板的检测方式，其不仅作业效率差，同时也难确保检测的精确 度，因此，于检测印刷电路板程序中，往往因为瑕疵版没有检测出来，而造成瑕疵板在后续 应用上引发极大的损失。随着科技的进步，印刷电路板的检测系统可以利用马达的带动将待测的印刷电路 板送入系统中，以及透过彩色显示器显示对位靶标的影像，以提供人力的节省。然而，前述 的检测方式虽然有改善了传统人力上面的消耗，但是仍需要藉由人力方式对靶标影像进行 检测，以根据检测结果判断此待测印刷电路板为良板或瑕疵板。因此，现今仍无一套对使用 者而言，有高精度、高速度及自动化、人性化、易操作等兼备功能的印刷电路板检测方法。而市面上亦出现另种以X光检测印刷电路板的装置，以自动化判断一待测印刷电 路板的良率，用以改善传统以人力检测方式的缺点；其主要利用X光摄像印刷电路板上的 对位靶标，以取得一 X光影像数据，其中，该对位靶标由该印刷电路板各层体的一对位孔层 迭组成。再来，进行一期望区域(ROI)的搜寻，从该X光影像数据中选取一检测范围。接着， 撷取该检测范围中的一 X光影像比对数据。再分别比对运算该印刷电路板的X光影像比对 数据与一预设检测条件。最后，根据比对运算的结果，于窗口中的一提示接口显示对位靶标 的偏向。惟，利用该种X光检测印刷电路板的装置中，不仅X光具有放射性，且量测速度较 慢；再者，利用X光摄像时，容易因为过度曝光而产生光晕，造成无法辨识或辨识错误，降低 判读效果。
实用新型内容本实用新型所解决的技术问题在于提供一种于应用于多层印刷电度板，包含硬 板、软板、软硬板、高密度互连板等层间对准度检测的层间偏移测量装置。本实用新型的技术方案为本实用新型中的层间偏移测量装置至少包含有设于 待测物上的对位靶标、至少一测试探针、一接地探针、至少一警示组件以及一负载，该对位 靶标设有与该待测物相对应的复数层体，各层体于该对位靶标处设有导电层，该对位靶标 于导电层处设有至少一镀通孔以及一接地孔，该导电层与该接地孔接触，而与该镀通孔隔离相对，该测试探针可伸入接触对应的镀通孔，该接地探针可伸入接触对应的接地孔，该警 示组件与测试探针形成电性连接，该负载构成该警示组件与该接地探针形成电性连接。 本实用新型的有益效果为可应用于多层印刷电度板，包含硬板、软板、软硬板、高 密度互连板等待测物，若其中有层体产生偏移，使得该层体的导电层与镀通孔形成短路，令 相对应的警示组件通电发出警示，以判断此待测物为良品或瑕疵品。
图1为本实用新型中测量装置的结构示意图 图2为本实用新型中对位靶标的结构立体图 图3为本实用新型中对位靶标的结构示意图 图4为本实用新型中待测物无层间偏移的结构示意图； 图5为本实用新型中待测物产生层间偏移的结构示意图,图号说明
层间偏移测量装置1 层体 ll、lla、llb、llc、lld 第一镀通孔131 第三镀通孔133 第五镀通孔135 接地孔137 测试探针20 警示组件40 电阻51
对位靶标10 导电层12
第二镀通孔132 第四镀通孔134 第六镀通孔136 间距14 接地探针30 负载50 检测平台6具体实施方式
本实用新型层间偏移测量装置，如图1至图4所示，该层间偏移测量装置1其至少 包含有一对位靶标10，设于待测物上，该对位靶标10设有与该待测物相对应的复数层体 11，各层体11于该对位靶标10处设有导电层12，该对位靶标10于导电层12处设有至少一 镀通孔以及一接地孔，如图所示的实施例中，该对位靶标10于导电层12处依序设有第一、 第二、第三、第四、第五以及第六镀通孔131、132、133、134、135、136以及一接地孔137，该导 电层12与该接地孔137接触，而与各镀通孔131、132、133、134、135、136隔离相对，其中， 该导电层12可依序与第一、第二、第三、第四、第五以及第六镀通孔131、132、133、134、135、 136分别形成有l、2、3、4、5、6mil的间距14 ；至少一测试探针20，该测试探针20可伸入接触对应的各镀通孔131、132、133、 134、135、136 ；一接地探针30，该接地探针30可伸入接触对应的接地孔137 ；至少一警示组件40，该警示组件40与测试探针20形成电性连接，该警示组件40 可以为发光二极管；以及一负载50，该负载50构成该警示组件40与该接地探针137形成电性连接，该负载50可以为直流电源，而该负载50与各警示组件40形成并联连接，且各警示组件40分别与 负载50间并进一步设有电阻51。本实用新型中可将各测试探针与接地探针设置于一检测平台61上，如图1所示， 而各警示组件40设置于一面板62上，欲利用本实用新型进行测量时，将该待测物的对位靶 标10放置于该检测平台61上，使该测试探针20可伸入接触对应的各镀通孔131、132、133、 134、135、136，以及该接地探针30可伸入接触对应的接地孔137，若该对位靶标10中各层 体11并无偏移，而各镀通孔131、132、133、134、135、136与各层体的导电层12维持隔离相 对的状态，则该警示组件40则无电流流通，而不会产生警示效果，则可依此判断该待测物 为良品。反之，若该对位靶标中有某层体形成偏移，如图5所示，该对位靶标10设有第一、 第二、第三、第四层体lla、llb、llc、lld，其中该第二层体lib形成向右偏移2mil，此时该第 二层体的导电层12会分别与第一、第二镀通孔131、132接触，而该第二层体的导电层12与 该第三、第四、第五以及第六镀通孔133、134、135、136维持隔离相对的状态，而与第一、第 二镀通孔131、132连接的警示组件40形成短路，如图所示的虚线为导通的电流路径，让负 载50的电流形成流通，而产生警示效果，例如形成发光警示，则可依此判断该待测物为瑕 疵品。值得一提的是，本实用新型藉由结构简单且成本较低的测量装置，即可快速检测 出待测物(多层印刷电度板，包含硬板、软板、软硬板、高密度互连板等)层间的对准度，并 可依此判断该待测物为良品或瑕疵品。
权利要求一种层间偏移测量装置，其特征在于，其至少包含有一对位靶标，设于待测物上，该对位靶标设有与该待测物相对应的复数层体，各层体于该对位靶标处设有导电层，该对位靶标于导电层处设有至少一镀通孔以及一接地孔，该导电层与该接地孔接触，而与该镀通孔隔离相对；至少一测试探针，该测试探针可伸入接触对应的镀通孔；一接地探针，该接地探针可伸入接触对应的接地孔；至少一警示组件，该警示组件与测试探针形成电性连接；以及一负载，该负载构成该警示组件与该接地探针形成电性连接。
2.如权利要求1所述的层间偏移测量装置，其特征在于，该对位靶标于导电层处依序 设有第一、第二、第三、第四、第五以及第六镀通孔，该导电层依序与各镀通孔分别形成有1、 2、3、4、5、6mil 的间距。
3.如权利要求1或2所述的层间偏移测量装置，其特征在于，该警示组件为发光二极管。
4.如权利要求1或2所述的层间偏移测量装置，其其特征在于，该负载与各警示组件形 成并联连接。
5.如权利要求1或2所述的层间偏移测量装置，其特征在于，该警示组件为发光二极 管，而该负载与各警示组件形成并联连接。
6.如权利要求1或2所述的层间偏移测量装置，其特征在于，该警示组件为发光二极 管，而该负载与各警示组件形成并联连接，且各警示组件分别与负载间并进一步设有电阻。
7.如权利要求1或2所述的层间偏移测量装置，其特征在于，该待测物为多层印刷电度 板，其包含硬板、软板、软硬板、高密度互连板。
8.如权利要求1或2所述的层间偏移测量装置，其特征在于，该负载为直流电源。
9.如权利要求1或2所述的层间偏移测量装置，其特征在于，各测试探针与接地探针设 置于一检测平台上，而各警示组件设置于一面板上。
专利摘要本实用新型层间偏移测量装置至少包含有设于待测物上的对位靶标、至少一测试探针、一接地探针、至少一警示组件以及一负载，该对位靶标设有与该待测物相对应的复数层体，各层体于该对位靶标处设有导电层，该对位靶标于导电层处设有至少一镀通孔以及一接地孔，该导电层与该接地孔接触，而与该镀通孔隔离相对，该测试探针可伸入接触对应的镀通孔，该接地探针可伸入接触对应的接地孔，该警示组件与测试探针形成电性连接，该负载构成该警示组件与该接地探针形成电性连接，若其中有层体产生偏移，使得该层体的导电层与镀通孔形成短路，令相对应的警示组件通电发出警示，以判断此待测物为良品或瑕疵品。
文档编号G01B7/00GK201715996SQ201020248780
公开日2011年1月19日 申请日期2010年7月6日 优先权日2010年7月6日
发明者吕明* 申请人:瀚宇博德股份有限公司