专利名称：检测电容缺失的方法
技术领域：
本发明涉及一种检测电容缺失的方法，特别是一种用以检测多个相互并联的旁路电容是否具有缺失的检测方法。
背景技术：
一般而言，电路基板(printed circuit board, PCB)在出厂前皆必须完成其电性检测、外观及表面瑕疵的检验作业。而其中，为判断电路基板电性质量之优劣，又特别以电性检测项目为目前业界相当重视的环节之一。举例而言，当在线测试设备(in-circuit tester)针对电路基板进行电性检测时， 其检测项目包含有电阻(resistor)、电感(inductor)、以及电容(capacitor)等分立器件的检测。其中，当检测电容时，由于电路基板上大多具有不只一个电容；也就是说，其等效电容为多个大电容及多个小电容并联形成时，在此种情况下，常规的在线测试设备并无法有效执行电容的检测工作。其原因在于，根据奥姆定律，当多个电容并联时，其形成的等效电容值为累加每一电容器的电容值所组成。举例而言，当并联多个电容，其各自具有电容值C1、C2……Cn时， 其等效电容值Cx即为C1+C2+……+Cn。而其中，当该些电容的电容值相差甚大，例如部分为大电容，部分为小电容，且大电容的电容值与小电容的电容值相差1000倍以上时，由于一般电容的精度较低(约为-20%至+20%之间)，因此，大电容自身的误差即可能大到足以覆盖掉小电容的电容值。于此，在使用现有技术相位差法、电压差法、抑或是电容桥法测量等效电容的总容抗时，并无法准确的识别出小电容是否存在或者是否具有缺失。因此，如何解决现有技术检测并联电容所产生的问题，并且提供一种可准确识别电容缺失与否的检测方法，实为相关技术领域者目前迫切需要解决的问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种检测电容缺失的方法，以解决现有技术存在的问题。为了实现上述目的，本发明提供了一种检测电容缺失的方法，适于检测多个相互并联的旁路电容(by-pass capacitor) 0此种检测方法包括以下步骤输入一交流信号至该些旁路电容，其中交流信号具有多个测试频率；记录该些旁路电容在每一测试频率时的测试电压值，以形成一测试结果表；判断该测试结果表是否相同于一标准电压表；以及当判断结果为不相同时，输出一缺失信号。根据本发明提出的检测方法，其中该等测试频率可为多个连续(continuous)的频率值，或是多个各自离散(discrete)的频率值。当该等测试频率为连续的频率值时，根据本发明一实施例的检测方法，另包括步骤输入交流信号至标准电容；以及记录标准电容在每一测试频率时的标准电压值，以形成标准电压表，其中标准电容为该些旁路电容之中的至少一个。
当该等测试频率为各自离散的频率值时，根据本发明一实施例的检测方法，另包括步骤输入交流信号至标准电容；记录标准电容在每一测试频率时的标准电压值；以及根据该等测试频率与标准电压值执行线性回归，以形成标准电压表，其中标准电容为该些旁路电容之中的至少一个。本发明的有益功效在于根据本发明提出的检测电容缺失的方法，利用电容的交流特性，记录旁路电容(意即待测电容)在不同频率下的响应曲线(response curve)与测试结果，并且通过与标准电压表的比对步骤，进一步确认电容异常的缺失与否，藉此解决大电容与小电容并联情况下小电容不可测的问题。以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
图1为根据本发明实施例的检测电路的电路方块图；图2为根据本发明实施例的检测方法的步骤流程图；图3A为根据本发明实施例的检测方法，当测试频率为连续的频率值时，其形成标准电压表的步骤流程图；图;3B为根据本发明一实施例，建立标准电压表时检测电路的电路方块图；图3C为根据本发明一实施例，建立标准电压表时检测电路的电路方块图；图3D为根据本发明一实施例，建立标准电压表时检测电路的电路方块图；图3E为根据本发明一实施例，建立标准电压表时检测电路的电路方块图；图3F为根据本发明一实施例，建立标准电压表时检测电路的电路方块图；图4A为根据本发明另一实施例的检测方法，当测试频率为离散的频率值时，其形成标准电压表的步骤流程图；图4B为根据图3F的标准电容无遗失旁路电容时，标准电压值标准化后对应测试频率的响应数据图；图4C为根据图:3B的标准电容遗失旁路电容Cl时，标准电压值标准化后对应测试频率的响应数据图；图4D为根据图3C的标准电容遗失旁路电容C2时，标准电压值标准化后对应测试频率的响应数据图。其中，附图标记10信号产生器20电压传感器20’电压传感器30微处理器30，微处理器
具体实施例方式下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使本领域技术人员了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、申请专利范围及图式，本领域技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。图1为根据本发明实施例的检测电路的电路方块图，检测电路包括有一信号产生器(或称信号激励源)10、一分压电阻观、一电压传感器20与一微处理器(micro processor) 30。其中，信号产生器10用以提供交流信号VS，分压电阻观连接于相互并联的旁路电容Cl，C2，C3，C4与信号产生器10之间。旁路电容Cl，C2，C3，C4并且连接分压电阻观至接地端GND，以将交流信号VS中不必要的高频噪声(noise)引入接地端GND。根据本发明的实施例，旁路电容Cl，C2，C3，C4可视为此种检测电路(或称相移(by pass)电路) 中的滤波电容，其数量并非用以限定本发明的发明范畴。唯便于解释本发明的技术内容，本发明的实施例以旁路电容的数量为四，作为以下的示范说明之用。微处理器30连接电压传感器20，且电压传感器20可以是但不限于一示波器 (oscillator)。电压传感器20连接分压电阻观与旁路电容C4的共同接点，并据以检测旁路电容Cl，C2，C3，C4形成的等效电容的分压VX。其中
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权利要求
1.一种检测电容缺失的方法，适于检测多个相互并联的旁路电容，其特征在于，该检测电容缺失的方法包括输入一交流信号至该些旁路电容，其中该交流信号具有多个测试频率； 记录该些旁路电容在每一该测试频率时的测试电压值，以形成一测试结果表； 判断该测试结果表是否相同于一标准电压表；以及当该判断结果为不相同时，输出一缺失信号。
2.如权利要求1所述的检测电容缺失的方法，其特征在于，该些测试频率为多个连续的频率值。
3.如权利要求2所述的检测电容缺失的方法，其特征在于，还包括 输入该交流信号至一标准电容；以及记录该标准电容在每一该测试频率时的标准电压值，以形成该标准电压表； 其中，该标准电容为该些旁路电容的中的至少一个。
4.如权利要求1所述的检测电容缺失的方法，其特征在于，该些测试频率为多个各自离散的频率值。
5.如权利要求4所述的检测电容缺失的方法，其特征在于，还包括输入该交流信号至一标准电容；记录该标准电容在每一该测试频率时的标准电压值；以及根据该些测试频率与标准电压值执行线性回归，以形成该标准电压表；其中，该标准电容系为该些旁路电容的中的至少一个。
全文摘要
一种检测电容缺失的方法，适于检测多个相互并联的旁路电容。此种检测方法包括输入一交流信号至旁路电容，其中交流信号具有多个测试频率；记录旁路电容在每一测试频率时的测试电压值，以形成一测试结果表；判断测试结果表是否相同于一标准电压表；以及当判断结果为不相同时，输出缺失信号。应用此种检测方法可有效识别旁路电容中是否存在有缺失，并且藉此解决大电容与小电容并联情况下小电容不可测的问题。
文档编号G01R31/02GK102478615SQ20101059095
公开日2012年5月30日 申请日期2010年11月30日 优先权日2010年11月30日
发明者宋平, 郑全阶, 金志仁, 陈志丰 申请人:英业达股份有限公司