专利名称：Ic管脚开短路测试方法
技术领域：
本发明涉及应用在IC封装检测、IC裸片绑定检测等领域的一种IC管脚开短路测 试方法。
背景技术：
开短路测试(open_short_test,又称 continuity test 或 contact test)是 一种非常快速发现芯片的各个引脚连接是否正常以及在芯片封装时是否missing bond wires(绑定失效)的方法，它还能发现测试时接触是否良好，探针卡或测试座是否有问题。开短路测试的测试原理比较简单，分open_short_to_VDD测试和open_short_to_ VSS测试。一般来说，芯片的每个引脚都有泄放或保护电路，等效两个首尾相接的二极管，其 一端接VDD，一端接VSS，信号是从两个二极管的接点进来。open_short_to_VDD测试方法一般为先把芯片的VDD引脚接0伏(或接地)，再 给每个芯片引脚供给一个从测试机到芯片的电流，电流会经上端二极管流向VDD(0伏)，然 后测引脚的电压，正常的值应该是一个二极管的偏差电压0. 7伏左右，一般设上限为1. 3 伏，下限为0. 3伏。而0pen_sh0rt_t0_VSS测试方法的原理基本相同，同样是先把VSS接0 伏(或接地)，然后再给一个芯片到测试的电流，电流由VSS经下端二级管流向测试机，然后 测引脚的电压，同样，正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右，只是电压方向相 反，上限一般还是1. 3伏，下限为0. 3伏。对芯片管脚开短路进行测试时，一般都是通过设计人员所提供的产品说明书来了 解芯片的管脚特性，在确定其中哪些管脚是VDD和VSS之后，再对其余管脚进行电路的管脚 开短路特性测试。但由于目前市场上从事产品电路测试代工的厂家非常之多，所以导致代 工厂家的测试系统开发人员与芯片设计公司的产品设计人员往往不能进行及时的有效的 沟通和反馈，以致出现拖延测试程序开发或开发测试系统不完善等相关问题，进而无法及 时有效的对芯片进行测试。
发明内容
本发明的目的在于提出一种IC管脚开短路测试方法，其无需产品说明，即可有效 地对未知IC芯片进行测试，从而克服现有技术中的不足。为实现上述发明目的，本发明采用了如下技术方案一种IC管脚开短路测试方法，其特征在于，该方法为(1)选取待测试IC芯片的任一引脚，并假定该引脚为VDD引脚或VSS引脚，并在除 此引脚之外的其余引脚中选取任意两个以上引脚作为比较引脚；(2)将上述假定VDD引脚或VSS引脚接地或接OV电压，并向上述比较引脚分别提 供恒定电流；(3)检测每一比较引脚的电压，若其中一比较引脚的电压值为+0.3 +1.3V 或-1. 3V -0. 3V，则上述假定VDD引脚为真实VDD引脚或上述假定VSS引脚为真实VSS引脚，反之则不是真实VDD引脚或真实VSS引脚；(4)若上述假定VDD引脚不是真实VDD引脚或上述假定VSS引脚不是真实VSS引 脚，则任意选取另一引脚作为假定VDD引脚或假定VSS引脚，并在除此另一引脚之外的其余 引脚中选取任意两个以上引脚作为比较引脚，重复上述步骤⑵-⑶的操作；(5)重复上述步骤(1)_(4)的操作，直至检测出所有真实VDD引脚或真实VSS引 脚；(6)排查出所有VDD引脚和VSS引脚后，对待测试IC芯片上的其余引脚进行开短 路特性测试。具体而言步骤(1)中，所选取的比较引脚为3 5个。所述恒定电流为IOOuA 500uA。所述恒定电流是由一恒流源提供的，该恒流源包括.......与现有技术相比，本发明的优势在于对于一个未知的IC芯片，当需要测试其开 短路特性时，完全不需要通过产品说明书或与设计人员沟通来判定VCC和VSS管脚，而可以 藉常规测试设备按照本发明的方法直接进行VDD和VSS脚的排查并对其余的芯片管脚进行 开短路测试，而无需制作专用的测试设备(如DUT板)和软件，从而大大提高了测试效率、 准确性，并有效节约了测试维护成本。伴随着半导体技术的发展，在集成电路功能越来越强 大，其管脚越来越多，越来越复杂等情况下，本发明将得到更为广泛的应用。
图1是本发明具体实施方式
中所应用到的一种恒流源结构示意图；图2是本发明具体实施方式
中所测试的一种未知IC芯片的结构示意图。
具体实施例方式以下结合附图及一较佳实施例对本发明的技术方案作进一步的说明。假设有一个未知的IC芯片(如图2)，在不知道它的引脚分布时，可通过以下方法 准确排查出VDD管脚和VSS管脚，并测试其余芯片引脚的开短路特性步骤一，提供一个恒流源采用TL431与一些相关器件组成一个恒流源电路(结构如图1所示包括两个 IK电阻R2，一个0. IuF的电容Cl，两个三极管型号分别为9013和9015，一个开关二极管 1N4148，一个三端式并联稳压管UA431，一个负载RX及调节电流大小的电阻Rl)，并以之提 供IOOuA 500uA的恒定电流(恒定电流值的大小可以根据实际需要进行调节，一般来说 电流 I = 2*2. 5/R1)；步骤二，确定芯片的VDD脚和VSS脚①VDD引脚的判断首先假设Pinl脚为VDD引脚，再选定除Pinl脚以外的任意某些引脚如Pin2 Pin5脚作为比较引脚(比较引脚的数量可根据实际需要来定，一般3-5个引脚即可)，按照 open_short_to_VDD的测试方法对这几个比较引脚分别进行测试，只要Pin2 Pin5引脚 中任意一个引脚所反馈的电压值为二极管的偏差电压0. 7V左右(上限1. 3V、下限0. 3V)，则认为Pinl脚为VDD引脚，反之则不是VDD引脚，依次类推，分别假设Pin2，Pin3. · · Pin20 为VDD引脚，按照上述方法依次判断，最终确定哪些引脚为VDD引脚。②VSS引脚的判断同VDD引脚的判断方法原理相同，首先假设Pinl脚为VSS引脚，再选定除Pinl脚 以外的任意某些引脚如Pin2 Pin5脚作为比较引脚(比较引脚的数量可根据实际需要 来定，一般3-5个引脚即可)，按照open_Short_to_VSS的测试方法对这几个比较引脚分别 进行测试，只要Pin2 Pin5引脚中任意一个引脚所反馈的电压值为二极管的偏差电压在 0. 7V左右(电压方向与上述VDD引脚的相反，上限1.3乂，下限0. 3V)，则认为Pinl脚为VSS 引脚，反之则不是VDD引脚，依次类推，分别假设Pin2,Pin3. · · Pin20为VSS引脚，按照上述 方法依次判断，最终确定哪些引脚为VSS引脚。步骤三测试其余引脚的开短路特性按照上述方法判断出VDD引脚和VSS引脚后，对其余引脚进行开短路特性测试。采用本发明的方法，无需事先确定那些管脚是VCC和VSS，而直接即可进行VDD和 VSS脚的排查，并对其余的管脚进行开短路测试，适用于任意需要测试管脚开短路特性的 IC芯片，准确高效，成本低廉，适于在复杂的集成电路中应用。泛。上述实施例仅为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人 士能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明 精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
权利要求
一种IC管脚开短路测试方法，其特征在于，该方法为(1)选取待测试IC芯片的任一引脚，并假定该引脚为VDD引脚或VSS引脚，并在除此引脚之外的其余引脚中选取任意两个以上引脚作为比较引脚；(2)将上述假定VDD引脚或VSS引脚接地或接0V电压，并向上述比较引脚提供100uA～500uA的恒定电流；(3)检测每一比较引脚的电压，若其中一比较引脚的电压值为+0.3～+1.3V或 1.3V～ 0.3V，则上述假定VDD引脚为真实VDD引脚或上述假定VSS引脚为真实VSS引脚，反之则不是真实VDD引脚或真实VSS引脚；(4)若上述假定VDD引脚不是真实VDD引脚或上述假定VSS引脚不是真实VSS引脚，则任意选取另一引脚作为假定VDD引脚或假定VSS引脚，并在除此另一引脚之外的其余引脚中选取任意两个以上引脚作为比较引脚，重复上述步骤(2) (3)的操作；(5)重复上述步骤(1) (4)的操作，直至检测出所有真实VDD引脚或真实VSS引脚；(6)排查出所有VDD引脚和VSS引脚后，对待测试IC芯片上的其余引脚进行开短路特性测试。
2.根据权利要求1所述的IC管脚开短路测试方法，其特征在于，步骤(1)中，所选取的 比较引脚为3 5个。
3.根据权利要求1所述的IC管脚开短路测试方法，其特征在于，所述恒定电流是由一 恒流源提供的，该恒流源包括第一电阻、第二电阻、一电容、第一三极管、第二三极管、一开 关二极管、一三端式并联稳压管、一负载和第三电阻，第一电阻、第二电阻和电容一端接电 源，电容另一端接第一三极管的基极，第一电阻另一端接第二三极管的发射极，第二电阻另 一端接开关二极管阳极，该开关二极管的阴极与第一三极管的集电极及第二三极管的基极 连接，第二三极管的集电极接三端式并联稳压管的阴极，第一三极管的发射极和第三电阻 一端与三端式并联稳压管的参考端连接，三端式并联稳压管的阳极与负载的一端、第三电 阻另一端连接，负载的另一端接地。
全文摘要
本发明涉及一种IC管脚开短路测试方法。该方法为选取待测试IC芯片的任一引脚，并假定该引脚为VDD引脚，并在其余引脚中选取任意两个以上引脚作为比较引脚；将上述假定VDD引脚接地或0V电压，并向上述比较引脚分别提供恒定电流；检测每一比较引脚的电压，若其中一比较引脚的电压值为0.3～1.3V，则上述假定VDD引脚为真实VDD引脚，反之不然；若上述假定VDD引脚不是真实VDD引脚，则重复上述步骤，直至检测出所有真实VDD引脚；VSS引脚的排查方法与上述方法相近；在排查出所有VDD引脚和VSS引脚后，对待测试IC芯片上的其余引脚进行开短路特性测试。本发明方法简便易操作，准确高效，成本低廉，适于在复杂的集成电路中广泛应用。
文档编号G01R31/02GK101949990SQ20101028945
公开日2011年1月19日 申请日期2010年9月25日 优先权日2010年9月25日
发明者曹明润, 贾力, 马春龙 申请人:苏州华芯微电子股份有限公司