专利名称：语音类集成电路的测试装置的利记博彩app
技术领域：
本实用新型涉及芯片测试领域，特别是涉及语音类集成电路的测试装置。
背景技术：
信息技术的兴起，衍生出对各种半导体芯片(集成电路)的市场需求；同时对于复 杂半导体芯片结构的接脚效能和硅材I/O的使用效率的要求变得更高。因此，在这些芯片 出厂之前，都需要符合要求的测试设备对其进行测试，以检测这些芯片的电路以及系统是 否满足要求。 半导体芯片的测试需要专门的测试仪以及探针台。探针台上放置需测试的芯片， 而测试仪则协同探针台对所述芯片进行测试。由于半导体芯片种类繁多，各种不同的芯片 可能需要不同的测试仪以及方法来进行测试。
半导体生产过程中的探测，一般分为三大类 1.参数探测提供制造期间的装置特性测量； 2.以探针台为基础的晶圆探测(wafer sort):当制造完成要进行封装前，在一系 列的晶圆上测试装置功能； 3.封装后测试(Final Test):在出货给顾客前，对封装完成的装置做最后的测 试。 将晶圆放入探针台后，探针台将晶圆移动到探针卡正确对应的位置后，探针台会 将晶圆向上挪动，使其电气和连接于测试仪上的探针卡接触，以进行探测。当测试完成，则 会自动将下一个待测晶圆替换到探针卡下面，如此周而复始地循环着。 由于现有芯片越来越复杂，其测试的过程也相应费时，测试的方法也仅限于几种， 比如以探针台为基础的晶圆处理探测中常采用逐位测试法，相当耗时，测试成本较高。
实用新型内容本实用新型主要解决的技术问题是提供一种语音类集成电路的测试装置，可以大
幅提高测试效率、降低测试成本。
为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是提供一种语音类集成
电路的测试装置，包括处理单元；对探针台进行设置的通讯单元，其连接所述处理单元，
并包括与所述探针台连接的端口 ；输出电压给被测语音类集成电路进行电流测试、或输出
电流给所述被测语音类集成电路进行电压测试的激励单元，其连接所述处理单元；同时分
别向所述被测语音类集成电路以及标准样品发送测试信号的功能测试单元，其连接所述处
理单元、所述被测语音类集成电路以及标准样品；比较所述被测语音类集成电路以及标准
样品的输出是否相同、并将比较结果反馈回所述处理单元的比对单元。 其中，进一步包括连接所述处理单元的通用串行总线USB接口卡。 其中，所述USB接口卡包括依次连接的接口、USB模块、现场可编程门阵列FPGA状
态机与数据命令解析模块，所述处理单元包括数据模块与命令模块，所述数据模块与命令
3模块分别连接所述FPGA状态机与数据命令解析模块，所述数据模块与命令模块分别连接 所述通讯单元、激励单元、功能测试单元。 其中，所述通讯单元包括隔离所述处理器与探针台之间信号干扰的隔离器。 其中，所述隔离器是光耦隔离器。 其中，所述通讯单元包括将所述通讯单元切换到不同探针台的切换器。 其中，所述通讯单元是晶体管_晶体管逻辑电路TTL通讯单元，所述激励单元是动
作时间单元TMU测试单元。 其中，所述处理单元内固化有独立与所述通讯单元通讯的程序。 本实用新型的有益效果是区别于现有技术采用逐位测试法测试半导体而导致测
试效率低、测试成本较高的情况，本实用新型采用激励单元来输出电压或电流给被测语音
类集成电路以提供测试条件，然后采用功能测试单元同时分别向被测语音类集成电路以及
标准样品发送测试信号，最后采用比对单元来比较上述被测语音类集成电路以及标准样品
两者的输出是否相同，相同则得出被测语音类集成电路正常的结果，否则则判为有问题，由
此避免逐位测试被测语音类集成电路各引脚输出而导致的低效率问题，针对语音类集成电
路的特点可以一次得到被测集成电路所有引脚输出结果，大大提高测试效率，有效降低测
试成本。
图1是本实用新型语音类集成电路的测试装置第一实施例的电路框图； 图2是本实用新型语音类集成电路的测试装置第二实施例的电路框图； 图3是本实用新型语音类集成电路的测试装置中USB接口卡的电路框图； 图4是本实用新型语音类集成电路的测试方法的流程图。
具体实施方式参阅图l，本实用新型语音类集成电路的测试装置主要包括 处理单元； 对探针台进行设置的通讯单元，其连接所述处理单元，并包括与所述探针台连接 的端口 ； 输出电压给被测语音类集成电路进行电流测试、或输出电流给所述被测语音类集 成电路进行电压测试的激励单元，其连接所述处理单元； 同时分别向所述被测语音类集成电路以及标准样品发送测试信号的功能测试单 元，其连接所述处理单元、所述被测语音类集成电路以及标准样品； 比较所述被测语音类集成电路以及标准样品的输出是否相同、并将比较结果反馈 回所述处理单元的比对单元。 在利用本实用新型语音类集成电路的测试装置对被测语音类集成电路进行测试 时，所述处理单元通过所述通讯单元对所述探针台进行设置，进行一些握手机制的建立与 基本参数的设置。所述激励单元在所述处理单元的控制下向被测语音类集成电路输出电压 或电流，建立测试环境。所述功能测试单元则在所述处理单元的控制下同时分别向所述被 测语音类集成电路以及标准样品发送同样的测试信号。所述被测语音类集成电路以及标准
4样品的输出引脚分别有相应的输出或无输出。这时采用比对单元连接所述被测语音类集成 电路以及标准样品的输出引脚，并比较两者的输出是否相同，并将比较结果反馈回所述处
理单元。 区别于现有技术采用逐位测试法测试半导体而导致测试效率低、测试成本较高的
情况，本实用新型采用激励单元来输出电压或电流给被测语音类集成电路以提供测试条
件，然后采用功能测试单元同时分别向被测语音类集成电路以及标准样品发送测试信号，
最后采用比对单元来比较上述被测语音类集成电路以及标准样品两者的输出是否相同，相
同则得出被测语音类集成电路正常的结果，否则则判为有问题，由此避免逐位测试被测语
音类集成电路各引脚输出而导致的低效率问题，针对语音类集成电路的特点可以一次得到
被测集成电路所有引脚输出结果，大大提高测试效率，有效降低测试成本。 此法不关注测试过程中的细节，只关注最后的结果，因此测试速度较逐位测试法
快很多，从而减少测试时间。 所述整个测试装置中，处理单元可以主要包括主控芯片、数据模块以及命令模块。 所述主控芯片可以为单片机，硬件上通过片选电路进行译码片选，所述数据模块与命令模 块共同实现命令和数据的控制传送。测试命令和测试程序可以集中在所述单片机中，当使 用单板测试时，其直接接受和发送命令与探针台通讯，并且控制整个测试过程。所述处理单 元可以通过总线连接其他单元。 参阅图2和图3，为使本实用新型方便使用，进一步包括连接所述处理单元的通用 串行总线USB接口卡。此接口卡可以连接计算机，并配合控制软件中的USB通信部分，主要 用于将计算传送的数据转换成并行数据发送到所述处理单元的地址口或者数据口 ，并能实 现随机读取这两个口的数据，达到方便连接计算机、利用计算机读写测试数据的目的。所述 USB接口卡可以与本实用新型语音类集成电路的测试装置集成在一起。 参阅图3，具体实现时，所述USB接口卡可以包括依次连接的接口、 USB模块、现场 可编程门阵列FPGA状态机与数据命令解析模块。所述处理单元的数据模块与命令模块分 别连接所述FPGA状态机与数据命令解析模块，所述数据模块与命令模块分别连接所述通 讯单元、激励单元、功能测试单元。 当不使用计算机时，所述处理单元通过所述通讯单元可以直接与探针台进行通讯 从而实现自动测试的目的。为实现自动测试，所述处理单元内可以固化有独立与所述通讯 单元通讯的程序。 为防止干扰，所述通讯单元可以包括隔离所述处理器与探针台之间信号干扰的隔 离器，比如光耦隔离器。可以在处理单元与探针台之间通讯单元的TTL通讯接口信号之间 加入光耦隔离器进行隔离。 并且所述通讯单元还可以包括切换器，用于将所述通讯单元切换到不同探针台。 比如，可以在通讯单元的通讯信号之间加入一组跳线，针对探针台种类不同而选择其有效 电平的通讯信号，可同时测试两颗或两颗以上语音类集成电路。 具体应用中，所述通讯单元是晶体管-晶体管逻辑电路(TTL)通讯单元，所述激励 单元是动作时间单元(TMU)测试单元。所述TMU可以使用两片数模转换芯片，通过所述处 理单元控制调节其输出电压，以及采集电压和电流。 参阅图4，本实用新型还提供一种语音类集成电路的测试方法，包括步骤[0041 ] 401 :输出电压给被测语音类集成电路进行电流测试，或输出电流给所述被测语音 类集成电路进行电压测试； 402 :在进行电压或电流测试时，同时分别向所述被测语音类集成电路以及标准样 品发送测试信号； 403:比较所述被测语音类集成电路以及标准样品的输出是否相同，得到比较结果。 除上述过程外，还可以进一步包括步骤将所述测试结果通过USB接口发送出去。
综述 1)本测试装置体积小，灵活易用； 2)功能测试采用专用的测试法，一次测试所有集成电路引脚，测试速度快； 3)能同时测试两颗以上集成电路； 4)采用模块化设计，各部分协调工作时可以设计接口处以方便通讯。 以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是
利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在
其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求一种语音类集成电路的测试装置，其特征在于，包括处理单元；对探针台进行设置的通讯单元，其连接所述处理单元，并包括与所述探针台连接的端口；输出电压给被测语音类集成电路进行电流测试、或输出电流给所述被测语音类集成电路进行电压测试的激励单元，其连接所述处理单元；同时分别向所述被测语音类集成电路以及标准样品发送测试信号的功能测试单元，其连接所述处理单元、所述被测语音类集成电路以及标准样品；比较所述被测语音类集成电路以及标准样品的输出是否相同、并将比较结果反馈回所述处理单元的比对单元。
2. 根据权利要求1所述的语音类集成电路的测试装置，其特征在于进一步包括连接 所述处理单元的通用串行总线USB接口卡。
3. 根据权利要求2所述的语音类集成电路的测试装置，其特征在于所述USB接口卡 包括依次连接的接口 、USB模块、现场可编程门阵列FPGA状态机与数据命令解析模块，所述 处理单元包括数据模块与命令模块，所述数据模块与命令模块分别连接所述FPGA状态机 与数据命令解析模块，所述数据模块与命令模块分别连接所述通讯单元、激励单元、功能测 试单元。
4. 根据权利要求1至3任一项所述的语音类集成电路的测试装置，其特征在于所述通讯单元包括隔离所述处理器与探针台之间信号干扰的隔离器。
5. 根据权利要求4所述的语音类集成电路的测试装置，其特征在于所述隔离器是光 耦隔离器。
6. 根据权利要求1至3任一项所述的语音类集成电路的测试装置，其特征在于所述 通讯单元包括将所述通讯单元切换到不同探针台的切换器。
7. 根据权利要求1至3任一项所述的语音类集成电路的测试装置，其特征在于所述通讯单元是晶体管_晶体管逻辑电路TTL通讯单元，所述激励单元是动作时间单元TMU测 试单元。
专利摘要本实用新型公开了一种语音类集成电路的测试装置，包括处理单元；对探针台进行设置的通讯单元，其连接所述处理单元，并包括与所述探针台连接的端口；输出电压给被测语音类集成电路进行电流测试、或输出电流给所述被测语音类集成电路进行电压测试的激励单元，其连接所述处理单元；同时分别向所述被测语音类集成电路以及标准样品发送测试信号的功能测试单元，其连接所述处理单元、所述被测语音类集成电路以及标准样品；比较所述被测语音类集成电路以及标准样品的输出是否相同、并将比较结果反馈回所述处理单元的比对单元。本实用新型可以大幅提高测试效率、降低测试成本。
文档编号G01R31/28GK201514460SQ20092013143
公开日2010年6月23日 申请日期2009年5月5日 优先权日2009年5月5日
发明者刘伟, 王英广 申请人:深圳安博电子有限公司