专利名称：电路测试装置的利记博彩app
技术领域：
本实用新型提供一种电路测试装置，尤指一种可用以测试 待测试元件所包括的电容的电容值的电路测试装置。
背景技术：
随着科技的进步，集成电路(Integrated Circuit, IC )的功
能越来越强大，其重要性也与日遽增。除了单纯处理模拟信号 的IC以及单纯处理数字信号的IC以外，业界还陆续研发出多种 兼具数字信号与模拟信号处理能力的IC，此种IC一般可称为混 合信号IC。而不论是数字信号IC、模拟信号IC或混合信号IC, 为了确保IC出货时的品质，在完成制造过程之后， 一般都会对 每一IC执行测试，制造商会依据对IC执行测试的结果，来决定 此IC是否合格，并据以判断是否可将此IC供应给下游的厂商。
请参阅图1，图l为一般使用专用测试机测试待测试元件的
电容的电容值的示意图。 一般现行的测试元件(IC)12皆会搭配 各式各样的专用测试机IO,来对待测试元件12的各种功能进行 测试。如图l所示，当;f争测试元件12具有电容C时，如果要测试 电容C的电容值，则必须使用专用测试机10才能达成，先由专 用测试机10传送 一 测试信号S t至待测试元件12,再由专用测试 机测试电容C两端的信号，最后通过接收到的信号判断电容C的 电容值，即能完成测试的动作。然而，专用测试机10的价格非 常昂贵，且因为无法使用通用的测试机而必须使用专用测试机 IO才能进行电容值的测试，会带给使用者相当的不便，因此， 如何能够发展 一 种可以利用常见的数字逻辑测试机测试待测试 元件所包括的电容的电容值，有其必要性。
实用新型内容
因此，本实用新型的目的之一，在于提供一种电路测试装 置，可以使用数字逻辑测试机来测试待测试元件内所包括的电 容的电容值，以解决已知技术所面临的问题。
本实用新型提供一种电路测试装置，用来测试一待测试元 件所包括的一电容的电容值。电路测试装置包括有一量测模 块、 一第一转换模块、 一处理模块以及一第二转换模块。量测 模块用以提供一测试信号，并根据该测试信号所产生的一信号 量测结果来决定该待测试元件的该电容的电容值。第一转换模 块耦接于该量测模块，用以转换该测试信号，以产生一测试输 入信号。处理模块耦接于该第 一 转换模块以及该待测试元件， 用以将该测试输入信号输入至该电容，并对该电容所产生一输 出信号进行放大处理，以产生一放大信号。第二转换模块耦接 于该处理模块以及该量测模块，用以对该放大信号进行转换， 以产生该信号量测结果。
本实用新型所述的电路测试装置，该量测模块包括有一 量测单元(Precision Measure Unit, PMU),用以接收该信号量测 结果； 一图样产生单元，耦接于该第一转换模块，用以根据一 控制信号，产生该测试信号；以及一微处理器，耦接于该量测 单元以及该图样产生单元，用以产生该控制信号，并且根据该 信号量测结果来决定该待测试元件的该电容的电容值。
本实用新型所述的电路测试装置，该图样产生单元为一图 样产生器(pattern generator)。
本实用新型所述的电路测试装置，该第 一 转换模块为 一 数 字模拟转换器，用以将数字信号模式的该测试信号转换为模拟 信号模式的该测试输入信号。
本实用新型所述的电路测试装置，该第二转换模块为 一 均方根-直流转换器(RMS-DC Converter),用以将^f莫拟信号模式的 该放大信号转换为该信号量测结果，其中该信号量测结果为一 直流电压值。
本实用新型所述的电路测试装置，该处理模块包括有一 第一开关，该第一开关的一端耦接于该第一转换模块； 一第二 开关； 一第一电阻，该第一电阻的一端耦接于该第一开关，该 第一电阻的另一端耦接于该第二开关； 一第三开关，该第三开 关的一端耦接于该第一转换模块，该第三开关的另 一端耦接于 该电容的一端； 一第四开关，该第四开关的一端耦接于该电容 的另一端； 一放大器，该放大器包括有一正输入端、 一负输入 端以及一输出端，该放大器的负输入端耦接于该第二开关以及 该第四开关的另一端，其正输入端耦接于一4妄地端，该力文大器 用以放大该输出信号，以产生该放大信号； 一第五开关，该第 五开关的一端耦接于该第一转换模块，另 一端耦接于该放大器 的该输出端； 一第二电阻，耦接于该》文大器的该输出端以及该 负输入端之间；以及一第六开关，该第六开关的第一端耦接于 该放大器的该输出端，其另 一端耦接于该第二转换模块。
本实用新型所述的电路测试装置，该微处理器还包括产生 至少一开关控制信号，以控制该第一开关、第二开关、第三开 关、第四开关、第五开关以及第六开关的开启或关闭，以使该 放大器产生该放大信号。
本实用新型所述的电路测试装置，该量测模块还包括量测 该第 一 电阻的电阻值，该量测模块根据该第 一 电阻的电阻值及 该信号量测结果决定该电容的电阻值。
本实用新型所述的电路测试装置，该待测试元件为一集成 电路(Integrated Circuit, IC)。
本实用新型所述的电路测试装置，该量测模块设置于 一 逻辑测试机内。
本实用新型所述的电路测试装置，该电路测试装置还包括 有一暂存器，耦接于该微处理器，用以储存该信号量测结果。 本实用新型可以大幅降低测试成本且l是升测试的便利性。
图l为 一般使用专用测试机测试待测试元件的电容的电容 值的示意图。
图2为本实用新型的电路测试装置的示意图。
具体实施方式
请参阅图2,图2为本实用新型的电路测试装置的示意图。 如图2所示，本实用新型的电路测试装置2 0用来测试 一 待测试元 件22 ,于 一 实施例中待测试元件22为 一 集成电路(Integrated Circuit, IC)。电路测试装置20用来测试一待测试元件22所包括 的一电容C1的电容值CV。电路测试装置20包括有一量测模块 24、 一第一转换模块26、 一处理模块28以及一第二转换模块30。 量测模块2 4用以提供 一 测试信号S t ，并根据测试信号S t所产生 的 一信号量测结果RESULT来决定待测试元件22的该电容C1的 电容值CV。第一转换模块26耦接于量测模块24,用以转换测试 信号St，以产生一测试输入信号S!n。处理模块28耦接于第一转 换模块26以及待测试元件22,用以将测试输入信号S!n输入至电 容Cl,并对电容Cl所产生一输出信号SouT进行放大处理，以产 生一放大信号Samp。第二转换模块30耦接于处理模块28以及量 测模块24,用以对放大信号SAMP进行转换，以产生该信号量测 结果RESULT。其中，量测模块24设置于一逻辑测试机内。
处理模块28包括有一第一开关SW1、 一第二开关SW2、 一第三开关SW3、 一第四开关SW4、 一第五开关SW5、 一第六开 关SW6、 一放大器OP、 一第一电阻R1以及一第二电阻R2。第一 开关S W1的 一 端耦接于第 一 转换模块2 6 。第 一 电阻R1的 一 端耦 接于第一开关SW1的另 一端，第一电阻R1的另 一端耦接于第二 开关SW2。第三开关SW3的一端耦接于第一转换模块26，第三 开关S W3的另一端耦接于电容C1的一端。第四开关SW4的 一 端 耦接于电容C1的另一端。放大器OP包括有一正输入端(+)、 一 负输入端(-)以及 一 输出端，其负输入端(-)耦接于第二开关S W2 以及第四开关SW4的另 一端，其正输入端(+)耦4妻于一接地端 GND，放大器OP用以放大输出信号SouT,以产生放大信号SAMP。 第五开关SW5的一端耦接于第 一转换模块26，第五开关SW5的 另 一端耦接于放大器OP的输出端。第二电阻R2耦接于放大器 OP的输出端以及负输入端(-)之间。第六开关SW6的第 一端耦接 于放大器OP的输出端，第六开关SW6的另 一端耦接于第二转换 模块30。
量测模块24包括有一量测单元241、 一图样产生单元243以 及一微处理器245 。量测单元(Precision Measure Unit, PMU)241, 用以接收信号量测结果RESULT以及量测第 一 电阻R1的电阻 值。图样产生单元243耦接于第一转换模块26,用以根据一控制 信号Sc(未图示)，产生该测试信号ST。微处理器245耦接于量 测单元241以及图样产生单元243,用以产生控制信号Sc并且根 据信号量测结果RESULT来决定待测试元件22的电容C1的电容 值CV。于一实施例中，图样产生单元243为一图样产生器 (pattern generator)。量测模块24所包括的微处理器245根据第一 电阻R1的电阻值及信号量测结果RESULT决定电容C1的电阻 值。其中，微处理器245还包括产生至少一开关控制信号(图未 示)，以控制第一开关SW1、第二开关SW2、第三开关SW3、第四开关SW4、第五开关SW5以及第六开关SW6的开启或关闭， 以使放大器OP产生该放大信号SAMP。
第一转换模块26为一数字模拟转换器，用以将数字信号模 式的测试信号ST转换为模拟信号模式的测试输入信号SIN。第二 转换模块30则为 一 均方根-直流转换器(RMS-DC Converter)，用 以将模拟信号模式的放大信号Samp特换为该信号量测结果 RESULT,其中信号量测结果RESULT为 一 直流电压值。
以下说明本实用新型的电路测试装置20对待测试元件22进 行电容值CV测试的流程。首先，微处理器245所产生的开关控 制信号(图未示)先控制第一开关SW1、第二开关SWS以及第六 开关SW6导通，其他开关则为断路，如此量测单元241量测到的 值即为
Gain A=|R2/R1|......[l];
即为第二电阻R2的电阻值除以第 一 电阻R1的电阻值后取 绝对值。
接着，微处理器245在控制第三开关SW3、第四开关SW4 以及第六开关SW6导通，其他开关皆为断路，如此可量测 Gain B=|R2/Xc|......[2]
且xc:i/2nxfxcv,
其中Xc为电容C1的容抗，其中]1=3.1416..., f为信号频率， CV则为电容C1的电容值。
微处理器245再接着控制第一开关SW1、第二开关SW2、第 三开关SW3、第四开关SW4以及第六开关SW6导通，而第五开 关SW5断路，可测得
Gain 0|R2/Xc〃Rl|......[3]
=R2/[(XcxRl)/(Xc+Rl)] = [R2x(Xc+Rl)]/(XcxRl)
将[1]及[2]式带入，可得Gain C=Gain Ax[(Xc+Rl)/Xc]......[4]
=Gain Bx[(Xc+Rl)/Rl]......[5]
又因为式[4]=式[5],所以
故Gain A x [(Xc+Rl)/Xc]=Gain Bx[(Xc+Rl)/Rl] Gain B/Gain A=[(Xc+Rl)/Xc]/[(Xc+Rl)/Rl] Gain B/Gain A=R1/Xc
由于第 一电阻R1的电阻值，Gain A与Gain B的值皆可由量 测单元241进行量测而得，所以可得下式
Xcx Gain B=Rl><Gain A
Xc=(Rl xGain A)/Gain B
l/2nxfxCV=(Rl xGain A)/Gain B
2IIxfxCV=Gain B/(R1 xGain A)
可知2n二2x3.1416...,而频率f的值是由图样产生单元243 产生测试信号ST所决定，因此为已知，所以最后可得 CV=[Gain B/(R1 xGain A)]/2Ilxf
=Gain B/(2IlxfxRl xGain A)......[6]
所以量测电容值CV,只需得到第 一 电阻R1的精确值与A、 B的值，再加入频率f,经由上列式[6]即可求得电容C1的电容值cv。
此外，本实用新型的电路测试装置还可包括一暂存器(未 图示)，耦接于该微处理器，用以储存该测试结果。
在本实用新型的各个实施例中，电路测试装置使用了第一 转换模块以及第二转换模块进行数字/模拟信号的转换，再利用 处理模块来执行待测试元件所包括的电容的电容值测试，如此 即可达成利用数字逻辑测试机测试待测试元件所包括的电容的 电容值的目的，解决已知技术只能利用专用的测试机来测试的 限制。相较于已知技术必须使用专用测试机进行测试的方式，本实用新型各实施例的测试架构利用数字逻辑测试机即可达成 测试，可以大幅降低测试成本且提升测试的便利性，这些都是 本实用新型优于已知技术的特点。
以上所述仅为本实用新型较佳实施例，然其并非用以限定 本实用新型的范围，任何熟悉本项技术的人员，在不脱离本实 用新型的精神和范围内，可在此基础上做进一步的改进和变化， 因此本实用新型的保护范围当以本申请的权利要求书所界定的
范围为准
附图中符号的简单说明如下
10、20:电^各测试装置
12、22:纟寺测试元件
24:量测模块
26:第一转换模块
28:处理模块
30:第二转换模块
241:量测单元
243:图样产生单元
245:微处理器
SW1一SW6:开关
Rl、R2:电阻
C:电容
ST:测试信号
SC:控制信号
SIN测试输入信号
SOUT:输出信号 SAMP:;改大信号 RESULT:信号量测结果。
权利要求1. 一种电路测试装置，其特征在于，用来测试一待测试元件所包括的一电容的电容值，其中该电路测试装置包括有一量测模块，用以提供一测试信号，并根据该测试信号所产生的一信号量测结果来决定该待测试元件的该电容的电容值；一第一转换模块，耦接于该量测模块，用以转换该测试信号，以产生一测试输入信号；一处理模块，耦接于该第一转换模块以及该待测试元件，用以将该测试输入信号输入至该电容，并对该电容所产生一输出信号进行放大处理，以产生一放大信号；以及一第二转换模块，耦接于该处理模块以及该量测模块，用以对该放大信号进行转换，以产生该信号量测结果。
2. 根据权利要求l所述的电路测试装置，其特征在于，该 量测模块包括有一量测单元，用以接收该信号量测结果；一图样产生单元，耦接于该第一转换模块，用以根据一控 制信号，产生该测试信号；以及一微处理器，耦接于该量测单元以及该图样产生单元，用 以产生该控制信号，并且根据该信号量领'J结果来决定该待测试 元件的该电容的电容值。
3. 根据权利要求2所述的电路测试装置，其特征在于，该 图样产生单元为一图样产生器。
4. 根据权利要求l所述的电路测试装置，其特征在于，该 第一转换模块为一数字模拟转换器，用以将数字信号模式的该测试信号转换为模拟信号模式的该测试输入信号。
5. 根据权利要求l所述的电路测试装置，其特征在于，该 第二转换模块为一均方根-直流转换器，用以将模拟信号模式的该放大信号转换为该信号量测结果，其中该信号量测结果为一 直流电压Y直。
6. 根据权利要求2所述的电路测试装置，其特征在于，该 处理模块包括有一第一开关，该第一开关的一端耦接于该第一转换模块； 一第二开关；一第一电阻，该第一电阻的一端耦4姿于该第一开关，该第 一电阻的另 一端耦接于该第二开关；一第三开关，该第三开关的一端耦接于该第一转换模块， 该第三开关的另 一端耦接于该电容的一端；一第四开关，该第四开关的一端耦接于该电容的另一端；一放大器，该放大器包括有一正输入端、 一负输入端以及 一输出端，该放大器的负输入端耦接于该第二开关以及该第四 开关的另一端，其正输入端耦接于一接地端，该ii大器用以》文 大该输出信号，以产生该放大信号；一第五开关，该第五开关的一端耦接于该第一转换模块， 另 一端耦接于该放大器的该输出端；一第二电阻，耦接于该;改大器的该输出端以及该负输入端 之间；以及一第六开关，该第六开关的第一端耦接于该》文大器的该输 出端，其另一端耦接于该第二转换模块。
7. 根据权利要求6所述的电路测试装置，其特征在于，该 微处理器还包括产生至少 一 开关控制信号，以控制该第 一 开 关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关以及第六开关 的开启或关闭，以使该放大器产生该放大信号。
8. 根据权利要求l所述的电路测试装置，其特征在于，该 待测试元件为 一 集成电i 各。
9. 根据权利要求l所述的电路测试装置，其特征在于，该 量测模块设置于一逻辑测试机内。
10. 根据权利要求2所述的电路测试装置，其特征在于，该 电路测试装置还包括有一暂存器，耦接于该微处理器，用以储 存该信号量测结果。
专利摘要本实用新型揭露一种电路测试装置，用来测试一待测试元件所包括的一电容的电容值。电路测试装置包括有一量测模块、一第一转换模块、一处理模块以及一第二转换模块。量测模块提供一测试信号，并根据测试信号所产生的一信号量测结果来决定电容的电容值。第一转换模块耦接于量测模块，用以转换测试信号，产生一测试输入信号。处理模块耦接于第一转换模块以及待测试元件，用以将测试输入信号输入至电容，并对电容所产生一输出信号进行放大处理，产生一放大信号。第二转换模块用以对放大信号进行转换，以产生信号量测结果。本实用新型可以大幅降低测试成本且提升测试的便利性。
文档编号G01R27/26GK201242587SQ20082012557
公开日2009年5月20日 申请日期2008年8月12日 优先权日2008年8月12日
发明者滕贞勇, 许丽娇 申请人:普诚科技股份有限公司