专利名称：键盘自动化检测装置及检测系统的利记博彩app
技术领域：
本实用新型涉及一种键盘自动化检测装置，特别是涉及一种多样型态按 压测试模式的键盘自动化检测装置。
背景技术：
在现今资讯化社会中，键盘几乎是各种电子设备不可或缺的数据输入装 置，如常见的个人电脑、笔记型电脑、电子计算机、电话机…等等皆以键盘 为控制命令或数据输入的主要装置。因此，键盘的功能正常与否将影响到输 入电子设备的信号，固有必要对键盘进行测试以判断按键的功能是否正常。然而，目前业界对于键盘按键的测试， 一般采用人工或机器来测试，人 工方式乃是以雇用大量劳工逐一按压键盘中每一个按键，人工成本高，测试 效率低，且以人力按压按键的测试方式，不仅按压的力道大小不一，也容易 因按键按压表面受力不均，易产生误判的情形。另外，在测试各种其他不同 按键类型键盘下，如电容薄膜式等，两者按压压力明显有所差距，并且在长 时间按压及按压力道改变的情况下，使误判的机率大幅增加，增加品质管制 的难度。而以机器测试的方法，如现有TW519244，以气压方式输出压按力量， 逐一测试每一键盘上的按键按压及灯号显示。其装置包括一对夹持元件以及 至少一定位装置，以夹持固定上述待测的键盘；型态测试模组，设有若干配 合上述键盘特殊功能按键及灯号布设位置的按压测试元件及旋钮测试器及灯号检测，用以检测键盘中的特殊按键及灯号状态；压按测试装置，具有伸缩气动压按元件，内部连结气压源，通过气体喷出的气压压按待测键盘的按 键，并以一位移机构来带动该压按测试装置平移，以依序移动压按键盘所有 的按键，再由键盘信号连结装置，连结待测键盘的按键压按信号至判读控制 机构，以判读上述灯号及按键按压信号是否正确，为一功能及结构复杂的测 试装置。发明内容本实用新型主要目的在于提供一种键盘自动化检测装置，其是通过一伸 缩装置带动一按压测试元件受重力作用而落下撞击键盘的按键，按压测试键 盘上每一按键功能正常与否，节省键盘测试的人工及工时，提高键盘测试效率。本实用新型的目的是这样实现，即提供一种键盘自动化检测装置，包括 有一伸缩装置、 一按压测试元件，并将一轴向伸缩装置与一按压测试元件以 一连动杆作可动式连接，使轴向伸缩装置作伸缩动作时按压测试元件可受重 力作用而落下撞击键盘的按键，达到测试按键的目的。本实用新型的又一目的，即是在才是供一种键盘自动化检测装置，是通过 一行程控制元件控制伸缩装置带动按压测试元件所行进的距离，撞击鍵盘的 按键，按压测试键盘上每一按键功能正常与否，节省键盘测试的人工及工时， 提升键盘测试效率。为达到上述目的，本实用新型提供一种键盘自动化检测装置，包括有一 伸缩装置、 一按压测试元件及一行程控制元件，将一轴向伸缩装置与一按压 测试元件以 一 连动杆作固定式连接，使轴向伸缩装置作伸缩动作时按压测试 元件受行程距离控制撞击键盘的按键，达到测试按键的目的。本实用新型的又一目的，即是在提供一种键盘自动化检测装置，具有一 双轴向移动平台，置于键盘自动化检测装置之相对位置，即位于按压测试元件的下方，用以放置待测键盘，且得以沿水平面X、 Y轴向任意移动，并可 测试按键的四周边角被按压时是否也能正常输入信号。本实用新型的优点在于，其可通过一伸缩装置带动 一按压测试元件受重 力作用而落下撞击键盘的按键，或通过一行程控制元件控制伸缩装置带动按 压测试元件所行进的距离，撞击键盘的按键，可按压测试键盘上每一按键功 能正常与否，节省键盘测试的人工及工时，提高键盘测试效率，其结构简单、 使用方便。
图1为本键盘自动化检测装置的第一型态结构图；图2为本键盘自动化检测装置的第二型态结构图；图3a、图3b为本键盘自动化检测系统的立体结构图。主要元件符号说明1伸缩装置11轴向伸缩装置12连动杆2, 7按压测试元件3横向短杆4方形贯通孔洞5弹簧6按键8行程控制元件 9双轴向移动平台具体实施方式
为使贵审查委员能对本实用新型的特征、目的及功能有更进一步的认知 与了解，下文特将本实用新型相关细部结构以及设计理念原由进行说明，以 使得贵审查委员可以了解本实用新型的特点，详细说明陈述如下兹配合下列图式说明本实用新型之详细结构及其连结关系，以利审查委 员作一了解。请参阅图l所示，系为本键盘自动化检测装置的第一型态结构图，其中 包含一伸缩装置l，该伸缩装置1具有一轴向伸缩装置11且连接一轴向固定 长度的连动杆12，其轴向伸缩装置11的驱动方式不拘，在本实用新型中是 以电磁阀、气压装置或马达控制轴向伸缩装置11内弹簧5的上下伸缩进而 带动连动杆12,在连动杆12末端设置一横向短杆3。伸缩装置1下方具有 一按压测试元件2，其为一轴向长形且末端为一尖形钝头元件，形状可为轴 向长条方形或轴向长条圓形，该元件中间具有一前后贯通的空间，可谓方形 贯通孔洞，且元件顶面具有一直径大于连动杆12小于横向短杆3长度的孔 洞，且该顶面孔洞沿轴向贯穿至方形贯通孔洞，该连动^f 12由顶面孔洞插 入至方形贯通孔洞内，横向短杆3位于连动杆12末端，在方形贯通孔洞内， 使横向短杆3能承托着方形贯通孔洞的顶面。当轴向伸缩装置11进行伸长
动作时，带动连动4干12而^吏;f黄向短^f 3产生向下^:移，并使得按压测试元件2失去承托，此时按压测试元件2将受重力作用而落下，靠着元件本身质 量及落下所产生的冲击力测试按键6是否能正常输入信号，当轴向伸缩装置 11进行收缩动作时，横向短杆3承托着方形贯通孔洞的顶面往上移，使按压 测试元件2回归原来4立置进行下次测试。请参阅图2所示，其为本键盘自动化检测装置的第二型态结构图，其中 包含一伸缩装置l，该伸缩装置1具有一轴向伸缩装置11且连接一轴向固定 长度的连动杆12,其轴向伸缩装置11的驱动方式不拘，在本实用新型中是 以电磁阀、气压装置或马达控制轴向伸缩装置11内弹簧5的上下伸缩进而 带动连动杆12，连动杆12中设置有横向短杆3。伸缩装置1下方具有一按 压测试元件7，其为一轴向长形且末端为一尖形钝头元件，形状可为轴向长 条方形或轴向长条圆形，另，连动杆12两端分别连接轴向伸缩装置11及按 压测试元件7 。在轴向伸缩装置11及按压测试元件7间有 一 行程控制元件8 ， 其为具有一直径大于连动杆12小于横向短杆3长度的孔洞的板状元件，该 孔洞贯穿该板状元件，连动杆12插入孔洞中，横向短杆3位于该孔洞上方 并与行程控制元件8间具有一行程距离，当轴向伸缩装置11进行伸长动作 时，带动连动杆12而使横向短杆3产生向下位移，直至受行程控制元件8 挡住而停止，按压测试元件7受到行程控制按压测试按键6功能是否正常。请参阅图3a、图3b所示，其为本键盘自动化检测系统的立体结构图， 其中包含若干键盘自动化检测装置(如图1及图2所示)及一双轴向移动平台 9,该双轴向移动平台9，置于键盘自动化检测装置的相对位置，即位于按压 测试元件的下方，用以放置待测键盘，且得以沿水平面X、 Y轴向任意移动， 并可测试按键的四周边角被按压时是否也能正常输入信号。
权利要求1.一种键盘自动化检测装置，其特征在于，包含一伸缩装置，具有一轴向伸缩装置且连接一轴向固定长度的连动杆，连动杆末端具有一横向短杆；一按压测试元件，为一轴向长形且末端为一尖形钝头元件，该按压测试元件中具有一空间，且该按压测试元件顶面具有一直径大于连动杆小于横向短杆长度的孔洞，该孔洞沿轴向贯穿至该空间；该连动杆置入该孔洞至并延伸至该空间内，横向短杆位于该空间内并承托该按压测试元件。
2. 如权利要求1所述的键盘自动化检测装置，其特征在于，该轴向伸 缩装置的驱动装置可为电磁阀、气压装置或马达。
3. 如权利要求1所述的键盘自动化检测装置，其特征在于，该按压测 试元件可为一轴向长条方形或轴向长条圆形。
4. 一种键盘自动化检测装置，其特征在于，包含 一伸缩装置，具有 一轴向伸缩装置且连接一轴向固定长度的连动杆，该连动杆具有一横向短 冲f; 一按压测试元件，为一轴向长形且末端为一尖形4屯头元件；连动一f两端 分别连接伸缩装置及按压测试元件； 一行程控制元件，具有一直径大于连动 杆小于横向短杆长度的孔洞的板状元件，该孔洞贯穿该板状元件，连动杆置 入孔洞中，横向短杆位于孔洞上方并与孔洞具有一行程距离。
5. 如权利要求4所述的键盘自动化检测装置，其特征在于，该轴向伸 缩装置的驱动装置可为电磁阀、气压装置或马达。
6. 如权利要求4所述的键盘自动化检测装置，其特征在于，该按压测 试元件可为一轴向长条方形或轴向长条圆形。
7. —种键盘自动化检测系统，包含有若干键盘自动化检测装置及双轴 向移动平台，其特征在于，该键盘自动化检测装置包括有 一伸缩装置，具 有一轴向伸缩装置且连接一轴向固定长度的连动杆，连动杆末端具有一横向 短杆； 一按压测试元件，为一轴向长形且末端为一尖形钝头元件，该按压测 试元件中具有一 空间，且该按压测试元件顶面具有一直径大于连动杆小于横 向短杆长度的孔洞，该孔洞沿轴向贯穿至该空间；该连动杆置入该孔洞至并 延伸至该空间内，横向短杆位于该空间内并承托该按压测试元件， 一 双轴向 移动平台，置于键盘自动化检测装置的相对位置，且得以沿水平面X、 Y轴 向任意移动。
8 .如权利要求7所述的键盘自动化检测系统，其特征在于，该轴向伸 缩装置的驱动装置可为电磁阀、气压装置或马达。
9. 如权利要求7所述的键盘自动化检测系统，其特征在于，该按压测 试元件可为一轴向长条方形或轴向长条圆形。
10. —种键盘自动化检测系统，包含有若干键盘自动化检测装置及双轴向移动平台，其特征在于，该键盘自动化检测装置包括有 一伸缩装置，具有一轴向伸缩装置且连接一轴向固定长度的连动杆，该连动杆具有一横向短杆； 一按压测试元件，为一轴向长形且末端为一尖形钝头元件；连动杆两端 分别连接伸缩装置及按压测试元件； 一行程控制元件，具有一直径大于连动 杆小于横向短杆长度的孔洞的板状元件，该孔洞贯穿该板状元件，连动杆置 入孔洞中，横向短一f位于孔洞上方与孔洞具有一行程距离， 一双轴向移动平 台，置于键盘自动化检测装置的相对位置，且得以沿水平面X、 Y轴向任意 移动。
11. 如权利要求10所述的键盘自动化检测系统，其特征在于，该轴向伸缩装置的驱动装置可为电磁阀、气压装置或马达。
12. 如权利要求10所述的键盘自动化检测系统，其特征在于，该按压测试元件可为 一轴向长条方形或轴向长条圆形。
专利摘要本实用新型为一种键盘自动化检测装置，包括有一伸缩装置，一按压测试元件，一行程控制元件，一双轴向移动平台，第一型态以伸缩装置带动连动杆产生轴向位移，并使连动杆另一端的按压测试元件受重力作用下落按压键盘，第二型态为设定一行程距离使按压测试元件依行程距离下落按压键盘；另除两型态外，放置键盘的平台可沿X、Y轴作双轴向移动，可测试按键四个角落，使按键合格率更高。
文档编号G01M99/00GK201053941SQ200720146540
公开日2008年4月30日 申请日期2007年5月10日 优先权日2007年5月10日
发明者蔡温育, 蔡磊龙, 邱士文 申请人:达方电子股份有限公司