专利名称：闪灯集成电路测试仪的利记博彩app
技术领域：
本实用新型涉及测试仪，尤其是关于一种测试闪灯集成电路的测试仪。
背景技术：
由于闪灯集成电路通常会具有一些瑕疵，例如大电流，即闪灯集成电路的静态工作电流超过某一预定值；无触发，即按下闪灯集成电路触发键的时候，其仍保持静态工作状态；闪灯时间不正常，即在闪灯集成电路上电后，闪灯时间有的很长有的很短；长亮长灭，即闪灯集成电路上电后要么一直亮灯，要么没有任何反映一直保持熄灭。而在生产、制造过程中，通常需要通过检测环节挑选出具有这些瑕疵的闪灯集成电路，以保证产品优良。
现有的闪灯集成电路的测试仪是将多个待测的闪灯集成电路分别接成单独的测试通道，总电源输入线上串联电流表用于显示多个闪灯集成电路的工作电流。测试时，测试人员依次扳动每一个闪灯集成电路对应的测试开关，从而顺序接通每一个闪灯集成电路的测试回路。通过测试人员观测闪灯集成电路驱动LED(light-Emitting Diode，发光二极管)的闪烁频率以及电流表指示来判断当前测试测试人员是否具有大电流或闪灯时间不正常等瑕疵。
但是，由于人力操作速度的局限性以及人为观察判断的主观性因素的存在，采用现有的测试仪进行，测试速度慢、效率低、易产生人为误测且测试参数指标随意性大。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种测试速度较快、效率较高且误差较小的闪灯集成电路测试仪。
为解决上述问题，本实用新型所采用的技术方案是一种闪灯集成电路测试仪包括稳压模块、控制模块、电流测试模块、选通模块、测试夹具模块及显示模块；所述稳压模块给控制模块及电流测试模块提供电源；所述控制模块控制所述选通模块中通道的选通；所述选通模块经由所述测试夹具模块电性连接至待测闪灯集成电路；所述电流测试模块检测被测闪灯集成电路的静态工作电流并向所述控制模块反馈电流测试结果；所述测试夹具模块固定并电性连接所述待测闪灯集成电路，并将所述待测闪灯集成电路的信号反馈至所述控制模块；所述控制模块控制所述显示模块显示测试结果。
与现有技术相比，本实用新型的优势在于利用所述控制模块分析、处理所述闪灯集成电路测试仪各个模块各模块产生的信号，总体控制所述闪灯集成电路测试仪，无须人工操作，测试速度较快、效率较高，同时由于是所述控制模块中的程序对测试数据进行判断，因此其测试精度也较高。
图1是本实用新型闪灯集成电路测试仪方框图；图2是本实用新型闪灯集成电路测试仪的控制模块、电流测试模块及选通模块的电路原理图；图3是本实用新型闪灯集成电路测试仪的显示模块的电路原理图；图4是16路模拟开关芯片CD4067的逻辑关系示意图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本实用新型闪灯集成电路测试仪具体说明。
请参阅图1，本实用新型闪灯集成电路测试仪用于同时并测若干闪灯集成电路，其包括一个稳压模块10，一个控制模块20，一个用于检测被测闪灯集成电路的静态工作电流的电流测试模块30，一个用于选择待测闪灯集成电路的测试回路的选通模块40，一个用于固定并电性连接所述待测闪灯集成电路的测试夹具模块50及一个测试结果的显示模块60。
所述稳压模块10为所述控制模块20及电流测试模块30提供稳定的工作电压。所述控制模块20对各模块产生的信号进行分析以及处理，对本电路的各功能模块进行统一管理及调配，起到总体控制的作用。所述电流测试模块30提供一个标准参考电压以判断所述被测闪灯集成电路的静态工作电流是否正常，并向所述控制模块20反馈电流测试结果。所述选通模块40由所述控制模块20控制选择待测闪灯集成电路的位置。所述被测闪灯集成电路的逻辑功能的测试数据经由所述选通模块40、测试夹具模块50返回至所述控制模块20，并由显示模块60显示测试状态及结果。
请共同参阅图2及图3，在本具体实施方式
中，所述控制模块20包括一个微程序控制器U1，所述微程序控制器U1采用的是ATMEL公司的Mega8单片机。所述电流测试模块30包括一个型号为LF444的运算放大器U4及一个型号为LM339N的模拟比较器U5。所述选通模块40包括两个型号为CD4067的16路模拟开关U2、U3。所述显示模块60包括若干与所述待测闪灯集成电路一一对应的LED，所述LED用以显示对应的闪灯集成电路的测试进行状态及其最终的测试结果。
所述微程序控制器U1的引脚1与一个复位开关K1电性连接，在所述闪灯集成电路测试仪工作不正常的时候，可以通过按动所述复位开关K1进行复位；TG端(即引脚3)连接所述被测闪灯集成电路的触发端；引脚4、5分别与所述模拟比较器U5的out4、out1端(即引脚13、2)相连，用于接收所述模拟比较器U5反馈的电流测试结果；引脚23、24、25、26分别与所述模拟开关U2、U3的A、B、C、D端相连，用于控制所述模拟开关U2、U3的通道的选通。所述模拟开关U2的VDD1～VDD9端(即引脚2～8及引脚22、23)，以及所述模拟开关U3的ICLED1～ICLED9端(即引脚2～8及引脚22、23)分别经由所述连接测试夹具50的金手指与对应待测闪灯集成电路连接。所述微程序控制器U1的DSP0～DSP9端(即引脚2、9、10及14～19)分别与对应的LED串联；每一LED的阴极接至所述微程序控制器U1的对应引脚，阳极经由一个电阻接至5v电源；所述LED用于显示对应被测闪灯集成电路的测试结果。
所述微程序控制器U1的内部程序对所述被测闪灯集成电路的输出脉冲进行计数，如果在特定的时间内脉冲数达到特定的数量，那么则认为所述被测闪灯集成电路为合格；否则为不合格。由于所述闪灯集成电路在设计参数上允许有一定的容差，而根据集成电路所适用的使用环境的不同，对容差的要求也有所不同，因此，可以利用Mega8单片机的编程软件，调整所述微程序控制器U1参数的判定范围，以适应不同参数标准。
所述运算放大器U4的in1+端(即引脚3)与一个精密电阻Rx1连接，它将输入所述运算放大器U4的输入端in1+的电压恒定到5V。一个电阻R3、一个电容C2及所述运算放大器共同组成一个电压跟随器，将所述运算放大器U4输送至所述模拟开关U2的电压VDD稳定在5V。所述运算放大器U4的OUT1端(即引脚1)输出电压等于所述电压VDD加上所述电阻R3上的分压。在被测闪灯集成电路正常的情况下，其静态工作电流小于1uA，所以在理论上，所述运算放大器U4的out1端的输出电压应该小于5.01V，这个数值输送到所述模拟比较器U5的in1+端(即引脚5)，通过比较，在所述模拟比较器U5的out1端(即引脚13)向所述微程序控制器U1输出比较结果如果in1+大于in1-，则被测闪灯集成电路静态工作电流过大，所述模拟比较器U5的out1端输出1；如果in1+小于in1-，则被测闪灯集成电路正常，所述模拟比较器U5的out1输出0；由此，所述微程序控制器U1通过读取所述模拟比较器U5的out1端的电平值就可判断被测闪灯集成电路是否正常。
请参阅图4，所述型号为CD4067的16路模拟开关具有4个通道控制端A、B、C、D，当所述16路模拟开关的使能端INHIBIT为低电平(即为0)时，上述A、B、C、D分别设置不同电平，则所述16路模拟开关的16个通道中相应的通道选通。在本具体实施方式
中，只选用了其中的9路通道，即引脚2～8及引脚22、23所对应的通道。
工作时，所述选通模块40在所述微程序控制器U1的控制下选择一个闪灯集成电路，通过所述微程序控制器U1的内部程序检测所述闪灯集成电路的脉冲参数是否符合要求，若不符合要求，则对应LED灯亮，所述微程序控制器U1控制所述选通模块40选择下一个待测闪灯集成电路；若所述脉冲参数符合要求，则检测所述闪灯集成电路的静态工作电流是否符合要求，若不符合，则对应LED灯亮，所述微程序控制器U1控制所述选通模块40选择下一个待测闪灯集成电路；若所述静态工作电流符合要求，则发出一触发信号，经过等待，若无脉冲信号输出，则对应LED灯亮，所述微程序控制器U1控制所述选通模块40选择下一个待测闪灯集成电路；若有所述脉冲信号输出，则对应LED灭，所述微程序控制器U1控制所述选通模块40选择下一个待测闪灯集成电路。直至将与所述闪灯集成电路测试仪连接的闪灯集成电路测试完毕。被测的闪灯集成电路中的良品所对应的LED熄灭。
在上述具体实施方式
介绍的闪灯集成电路测试仪中，其设计参数如下工作电压+8V待机电流25Ma最大工作电流80mA整机功率小于0.5W测试周期8s(9个闪灯集成电路)以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以作出若干改进，这些改进也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种闪灯集成电路测试仪，其特征在于闪灯集成电路测试仪包括稳压模块、控制模块、电流测试模块、选通模块、测试夹具模块及显示模块；所述稳压模块给控制模块及电流测试模块提供电源；所述控制模块控制所述选通模块中通道的选通；所述选通模块经由所述测试夹具模块电性连接至待测闪灯集成电路；所述电流测试模块检测被测闪灯集成电路的静态工作电流并向所述控制模块反馈电流测试结果；所述测试夹具模块固定并电性连接所述待测闪灯集成电路，并将所述待测闪灯集成电路的信号反馈至所述控制模块；所述控制模块控制所述显示模块显示测试结果。
2.如权利要求1所述的闪灯集成电路测试仪，其特征在于所述控制模块包括一个微程序控制器。
3.如权利要求2所述的闪灯集成电路测试仪，其特征在于所述微程序控制器采用的是ATMEL公司的Mega8单片机。
4.如权利要求3所述的闪灯集成电路测试仪，其特征在于所述显示电路包括若干发光二极管，每一发光二极管均串联连接于电源与所述Mega8单片机的对应引脚之间，且所述发光二极管与所述待测闪灯集成电路一一对应以显示对应闪灯集成电路的测试结果。
5.如权利要求4所述的闪灯集成电路测试仪，其特征在于所述发光二极管的阳极接至所述电源，其阴极接至所述Mega8单片机的对应引脚。
6.如权利要求1所述的闪灯集成电路测试仪，其特征在于电流测试模块包括一个运算放大器及一个模拟比较器，所述运算放大器采用电压跟随的接法将所述运算放大器输送给所述选通模块的电压稳定在一个预定值，所述模拟比较器通过比较负载压降得到一个电流测试结果并将所述电流测试结果反馈至所述控制模块。
7.如权利要求6所述的闪灯集成电路测试仪，其特征在于所述运算放大器采用的型号为LF444的运算放大器。
8.如权利要求6所述的闪灯集成电路测试仪，其特征在于模拟比较器采用的是型号为LM339N的模拟比较器。
9.如权利要求1所述的闪灯集成电路测试仪，其特征在于所述选通模块包括两个模拟开关，所述控制模块控制所述模拟开关中的通道选通，以选择相应的待测闪灯集成电路进行测试。
10.如权利要求9所述的闪灯集成电路测试仪，其特征在于所述模拟开关采用的是型号为CD4067的16路模拟开关。
专利摘要一种闪灯集成电路测试仪包括稳压模块、控制模块、电流测试模块、选通模块、测试夹具模块及显示模块；所述稳压模块给控制模块及电流测试模块提供电源；所述控制模块控制所述选通模块中通道的选通；所述选通模块经由所述测试夹具模块电性连接至待测闪灯集成电路；所述电流测试模块检测被测闪灯集成电路的静态工作电流并向所述控制模块反馈电流测试结果；所述测试夹具模块固定并电性连接所述待测闪灯集成电路，并将所述待测闪灯集成电路的信号反馈至所述控制模块；所述控制模块控制所述显示模块显示测试结果。本实用新型利用所述控制模块分析、处理所述闪灯集成电路测试仪各个模块各模块产生的信号，测试速度较快、效率较高、精度高。
文档编号G01R23/00GK2903997SQ20062001368
公开日2007年5月23日 申请日期2006年4月19日 优先权日2006年4月19日
发明者王英广, 李科 申请人:深圳安博电子有限公司