专利名称：异步芯片同测方法
技术领域：
本发明属于集成电路测试方法，特别是指一种异步芯片同测方法。
背景技术：
在半导体测试行业中，现有存储器测试仪，只能对一位数据进行匹配， 若要匹配多位数据就不能进行同测。
逻辑测试仪，是将多个芯片在某个时间段的所有数据都取下来，然后 再针对数据进行分析和处理。如图1所示，对三个异步芯片实现同测时， 首先，三个芯片同步接受指令，由于异步芯片的响应不能同时出现，因此， 在指令发完后等一段时间，将响应允许出现时间段内的所有数据都采集下 来，最后，离线分析各个芯片的数据判断的合格与否，其缺点是数据处理 时间比较长，而且同测数量相对较少。
因此，在此技术领域中，需要一种异步芯片同测方法，能够縮短芯片 的测试时间，还可以提高芯片同测数量和测试频率。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种异步芯片同测方法，它基于外部 时钟控制来实现对异步芯片测试同测方法，縮短芯片的测试时间，提高芯 片同测数量和测试频率。
为解决上述技术问题，本发明异步芯片同测方法，首先，对被测芯片 异步信号的第一位指令进行匹配；其次，通过对先匹配到的芯片的时钟信
号控制，使多个异步被测芯片保持同步；之后，再连续比对响应的多位指 令，实现多个异步被测芯片同时测试时对多位异步信号的匹配。通过本发明就可以实现在存储器测试仪上对异步芯片的测试,充分发 挥了存储器测试仪同测数量比较多、测试频率比较高、测试资源比较多等 优势。很多原有的卡类产品的功能测试都必须在逻辑测试仪上进行测试， 现在就可以转移到同测数量较多的存储测试仪上提高了芯片同测数量，明 显縮短芯片的测试时间，测试频率也可提高，并大大节省了测试成本。
下面结合附图与具体实施方式
对本发明作进一步详细的说明。 图1是测试仪实现对异步信号匹配的方法； 图2是本发明实现异步信号匹配的方法。
具体实施方式
首先、在多芯片同时测试时对异步信号的第一位输出进行匹配，如 IS7816协议中响应9000H时先匹配第一位起始位的第一个时钟输出的 "0"，如图1所示，当芯片1匹配到第一位数据时，就将测试通道的状态 保持不变，主要是将时钟信号保持不变。这时由于时钟信号的停止，被测芯片1就无法将下一个数据输出。当 测试仪在某一段时间内将芯片2、芯片3、芯片4等所有输出第一位信号 都匹配到的时候，再继续将测试向量运行下去。对这一时间段没有匹配到 的芯片就作为不合格处理，而对其他匹配到的芯片此时已经保持同步，只 要依次比对下去就可以。如需要IS07816协议通讯的产品测试，通过对时钟信号的控制实现了多个异步芯片的同步控制,最终使这类产品的所有测试都放在存储器测试 仪上进行32同测，大大节省了测试时间，而不再需要将测试程序放在逻辑测试上进行16同测。
权利要求
1、一种异步芯片同测方法，其特征在于首先，对被测芯片异步信号的第一位指令进行匹配；其次，通过对先匹配到的芯片的时钟信号控制，使多个异步被测芯片保持同步；之后，再连续比对响应的多位指令，实现多个异步被测芯片同时测试时对多位异步信号的匹配。
全文摘要
本发明公开了一种异步芯片同测方法，首先，对被测芯片异步信号的第一位指令进行匹配；其次，通过对先匹配到的芯片的时钟信号控制，使多个异步被测芯片保持同步；之后，再连续比对响应的多位指令，实现多个异步被测芯片同时测试时对多位异步信号的匹配。本发明基于外部时钟控制来实现对异步芯片测试同测方法，缩短芯片的测试时间，提高芯片同测数量和测试频率。
文档编号G01R31/28GK101165501SQ200610117248
公开日2008年4月23日 申请日期2006年10月18日 优先权日2006年10月18日
发明者武建宏, 黄海华 申请人:上海华虹Nec电子有限公司