专利名称：检测线路布局以及液晶显示面板的制造方法
技术领域：
本发明涉及一种面板的检测技术，且特别涉及一种面板的检测线路布局以及液晶显示面板的制造方法。
背景技术：
多媒体社会的急速进步多半受惠于半导体元件或显示装置的飞跃性进步。就显示器而言，具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的液晶显示器(liquid crystal display，LCD)已逐渐成为市场的主流。
图1为公知主动阵列液晶显示面板(active matrix LCD panel，AM-LCD panel)的立体分解示意图。请参照图1，主动阵列液晶显示面板100包括主动元件阵列基板110、液晶层120以及彩色滤光片(color filter，CF)130。其中，彩色滤光片130是位于主动元件阵列基板110上方，而液晶层120则是设置于主动元件阵列基板110与彩色滤光片130之间。主动元件阵列基板110上是设置有多个阵列排列的主动元件112以及与每一个主动元件112对应设置的像素电极(pixelelectrode)114，这些主动元件112是用来作为像素单元的开关元件。而且，为了驱动个别像素单元中的主动元件112，通常会通过扫描线(scan line)116与数据线(data line)118选取特定的像素，并提供此像素适当的操作电压，以显示对应此像素的画面。
图2为公知的一种面板单元的检测线路布局示意图。请参照图2，图1的主动阵列液晶显示面板100的制造工艺是先以一大片主动元件阵列基板与一大片彩色滤光片进行组装，以将液晶层密封于其间，进而形成多个阵列排列的面板单元200。之后再进行切裂(cutting)工艺，以形成多个图1所示的主动阵列液晶显示面板100。
公知面板单元200的电性检测方法是先将各个面板单元200的扫描配线与数据配线，分别通过短路杆(shorting bar)140而与其它面板单元200的扫描配线及数据配线串接在一起，并将短路杆140电连接至接垫210。之后，将探针(probe)(图中未示出)压触在接垫210上，以通过探针输入信号至各面板单元200的扫描配线，而开启图1的主动元件112。然后，再通过探针将检测信号传递至各个面板单元200内的数据配线，而使各个面板单元200依据此检测信号来显示画面。此时，相关人员即可依据面板单元200所显示的画面来判断这些面板单元200是否为合格产品。
以小尺寸显示面板的制造工艺来说，一块玻璃基板可以用来形成数十或数百个的面板单元。如图2所示，如欲同时对这些数量庞大的面板单元200进行电性检测，则必须将这些面板单元200维持在充电的状态下，并通过压触于接垫300上的探针(图中未示出)传递检测信号至每一面板单元200内。也就是说，在检测过程中，这些面板单元200内的主动元件(图中未示出)均处于开启状态，直到所有面板单元200均检测完毕后，才关闭所有面板单元200内的主动元件。
虽然在上述的检测方法中，仅需制造一组探针，并将其压触在接垫210上，即可完成所有面板单元200的检测。然而，若主动元件长时间处于开启状态下，将会导致其元件特性产生变化，因而无法正常工作。
为此，公知技术提出另一种检测方法，以解决上述问题。图3为公知的另一种面板单元的检测线路布局示意图。请参照图3，此种检测方法是将这些面板单元200分为多组，且各组面板单元200是分别电连接至其所对应的接垫300。因此，在进行面板单元200的检测时，仅需对欲进行检测的某组面板单元200进行充电，并将探针(图中未示出)压触至此组面板单元200所对应的接垫300上，即可将检测信号传递至此组面板单元200内。而且，于此组面板单元200检测完毕后，即可关闭此组面板单元200内的主动元件。换言之，此种检测方法可缩短主动元件处于开启状态下的时间。
然而，由于此种检测方法一次仅能针对一组面板单元进行检测，因此每测完一组面板单元，则需将探针移至对应于另一组面板单元的接垫上，且每移动一次探针需再对位一次，以使探针能确实压触在接垫上。当面板单元数量多时，即需要较长的检测时间才能完成所有面板单元的检测。虽然可以增加探针组数，以同时进行多组面板单元的检测，进而缩短检测时间，但相对的检测成本亦需提高。
发明内容
本发明的目的是提供一种检测线路布局，其可缩短个别检测单一或单组面板单元所需耗费的时间。
本发明的另一目的是提供一种液晶显示面板的制造方法，其可缩短同批液晶显示面板进行点灯测试所需耗费的时间。
为达上述或是其它目的，本发明提出一种检测线路布局，其适于用来检测单一或单组面板单元，其中各面板单元具有多条第一信号线与多条第二信号线。此检测线路布局包括第一多路复用器(Multiplexer，MUX)以及第一检测接垫。其中，第一多路复用器是电连接于这些面板单元的第一信号线，而第一检测接垫是电连接于第一多路复用器，且第一多路复用器适于选择性地将第一检测接垫与一组面板单元的第一信号线导通。
在本发明的一实施例中，上述的第一信号线例如是扫描线(scanline)，第二信号线例如是数据线(data line)。
在本发明的一实施例中，上述的检测线路布局还包括多条第一短路杆，其是电连接至上述的第一多路复用器，且每一条第一短路杆均串接其所对应的一组面板单元的部分或所有第一信号线。举例来说，这些第一短路杆包括多条第一奇数短路杆与多条第一偶数短路杆，且每一第一奇数短路杆是串接一组面板单元的奇数条第一信号线，而各第一偶数短路杆则是串接一组面板单元的偶数条第一信号线。
在本发明的一实施例中，上述的检测线路布局还包括多个静电放电(electrostatic discharge，ESD)防护元件，其是分别电连接于对应的第一短路杆与该组面板单元的第一信号线之间。
在本发明的一实施例中，上述的第一多路复用器包括多个第一控制晶体管，这些第一控制晶体管的漏极是分别电连接于第一检测接垫，而各第一控制晶体管的源极则是分别与对应的一组面板单元的第一信号线电连接。
在本发明的一实施例中，上述的检测线路布局还包括第一刷新(refresh)信号供应单元，其是电连接至上述第一多路复用器。而且，上述的第一多路复用器还包括多个第一刷新晶体管，且各第一刷新晶体管的源极是电连接于对应的第一控制晶体管的源极与第一信号线之间，而这些第一刷新晶体管的漏极则是分别电连接于上述的第一刷新信号供应单元。
在本发明的一实施例中，上述的检测线路布局还包括第二多路复用器与第二检测接垫，电连接于这些面板单元的第二信号线，而第二检测接垫是电连接于第二多路复用器，且第二多路复用器适于选择性地将第二检测接垫与一组面板单元的第二信号线导通。
在本发明的一实施例中，上述的检测线路布局还包括多条第二短路杆，其是电连接至上述的第二多路复用器，且每一条第二短路杆均串接其所对应的一组面板单元的部分或所有第二信号线。举例来说，这些第二短路杆包括多条第二奇数短路杆与多条第二偶数短路杆，且各第二奇数短路杆是串接一组面板单元的奇数条第二信号线，而各第二偶数短路杆则是串接一组面板单元的偶数条第二信号线。
在本发明的一实施例中，上述的检测线路布局还包括多个静电放电(electrostatic discharge，ESD)防护元件，其是分别电连接于对应的第二短路杆与该组面板单元的第二信号线之间。
在本发明的一实施例中，上述的第二多路复用器包括多个第二控制晶体管，这些第二控制晶体管的漏极是分别电连接于第二检测接垫，而各第二控制晶体管的源极则是分别与对应的一组面板单元的第二信号线电连接。
在本发明的一实施例中，上述的检测线路布局还包括第二刷新(refresh)信号供应单元，其是电连接至上述第二多路复用器。而且，上述的第二多路复用器还包括多个第二刷新晶体管，且各第二刷新晶体管的源极是电连接于对应的第二控制晶体管的源极与第二信号线之间，而这些第二刷新晶体管的漏极则是分别电连接于上述的第二刷新信号供应单元。
本发明还提出一种液晶显示面板的制造方法，其是先在第一基板上形成液晶层，再提供一第二基板，接着组装第一基板与第二基板，以使液晶层密封于第一基板与第二基板之间，而形成多组面板单元。之后，形成上述的检测线路布局，再输入点灯信号至此检测线路布局，以对这些面板单元进行点灯测试。在测试完毕后，切割组装后的第一基板与第二基板，以形成多个液晶显示面板。
在本发明的一实施例中，形成上述液晶层的方法包括滴下式注入(one drop fill，ODF)。
在本发明的一实施例中，在形成上述液晶层之前，还包括在第一基板上形成框胶，以于第一基板上围出多个液晶注入区，而后续形成的液晶层即是位于这些液晶注入区内。此外，组装第一基板与第二基板的方法例如是先压合第一基板与第二基板，然后再固化框胶。其中，固化框胶的方法例如是热固化或紫外光固化。
本发明的检测线路布局是利用多路复用器来选择性地将部分面板单元与检测接垫导通，以便于分组检测面板单元，因此在检测过程中无须移动探针，即可完成所有面板单元的检测。
为让本发明的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。
图1为公知主动阵列液晶显示面板的立体示意图。
图2为公知的一种面板单元的检测线路布局示意图。
图3为公知的另一种面板单元的检测线路布局示意图。
图4为本发明的第一实施例中检测线路布局的示意图。
图5为图4的多路复用器510的电路示意图。
图6为本发明第二实施例中检测线路布局的示意图。
图7为本发明第三实施例中检测线路布局的示意图。
图8为图7的多路复用器710的电路示意图。
图9A至图9C为本发明的一实施例中液晶显示面板的制造流程俯视示意图。
主要元件标记说明100主动阵列液晶显示面板110主动元件阵列基板112主动元件114像素电极116扫描线118数据线120、620液晶层130彩色滤光片140、150、540、540o、540e短路杆200、502面板单元210、220、300接垫500、700检测线路布局504a第一信号线504b第二信号线512、712控制晶体管514、714晶体管520、720检测接垫
530、730选择信号接垫550静电放电防护元件560、760刷新信号供应单元610第一基板614框胶616液晶注入区630第二基板A1、A2、......、An-1、An面板单元的组别D1、D2、D1’、D2’漏极G1、G2、G1’、D2’栅极IS、IS’检测信号RS刷新信号SS、SS’选择信号S1、S2、S1’、S2’源极具体实施方式
图4为本发明的第一实施例中检测线路布局的示意图。请参照图4，本发明的检测线路布局500是用以对多个面板单元502进行检测，其中这些面板单元502是分别具有多条第一信号线504a及第二信号线504b，而面板单元502即是通过这些第一信号线504a与第二信号线504b，来接收从检测线路布局500输入的检测信号。在本实施例中，第一信号线504a例如是扫描线，而第二信号线504b例如是数据线。
请继续参照图4，检测线路布局500包括多路复用器510以及检测接垫520。其中，检测接垫520是电连接于多路复用器510，并用以接收用来检测面板单元502的检测信号。多路复用器510是连接于检测接垫520与面板单元502的第一信号线504a之间，以选择性地导通检测接垫520与欲进行检测的某一组面板单元502的第一信号线504a，以便于将检测信号从检测接垫520通过第一信号线504a传输至此组面板单元502内。另外，用以控制多路复用器510的选择信号SS则是透过与多路复用器510电连接的选择信号接垫530传输至多路复用器510中。
值得一提的是，各组面板单元502的第一信号线504a例如是通过短路杆540而串接在一起，多路复用器510则是通过这些短路杆540而与面板单元502的第一信号线504a电连接。如此一来，由多路复用器510所输出的信号即可通过短路杆540而同时传递至所有同一组的面板单元502内。其中，这些短路杆540包括奇数短路杆540o与偶数短路杆540e，各面板单元502的奇数条第一信号线504a是通过奇数短路杆540o而短路于彼此，而各面板单元502的偶数条第一信号线504a则是通过偶数短路杆540e短路于彼此。当然，本发明并不限定偶数条的第一信号线504a及奇数条的第一信号线504a必须短路于彼此，在其它实施例中，也可以令所有第一信号线504a彼此短路，或是以其它的方式来使这些第一信号线504a分组短路。
此外，各个短路杆540o或短路杆540e与其所连接的第一信号线504a之间还可以设置有静电放电防护元件550，其是用以提供散逸路径给面板单元502内的静电荷，以避免在面板单元502内产生静电破坏。
以下将举例说明多路复用器510内部的电子元件，以便于进一步详细说明多路复用器510的工作原理。
图5为图4的多路复用器510的电路示意图。请参照图5，多路复用器510例如是包括控制晶体管512。其中，这些控制晶体管512的漏极D1是分别电连接于检测接垫520，而其源极S1则是分别与对应的一组面板单元502的第一信号线504a电连接。
请同时参照图4及图5，在本实施例中，图4的面板单元502例如是被区分为A1、A2、......、An-1、An等组，而由于本实施例的第一信号线504a为扫描线，且多路复用器510是用以选择性地导通检测接垫520与各组面板单元502的第一信号线504a，因此图4中同一行的面板单元502是被分为同一组。
由上述可知，如欲检测A1组的面板单元502，可将一组探针(图中未示出)压触在检测接垫520与选择信号接垫530上，以便于通过探针分别将检测信号IS与选择信号SS由外部电路传输至检测线路布局500内。多路复用器510是依据选择信号SS而施加电压至与A1组面板单元502电连接的控制晶体管512的栅极G1，进而开启此控制晶体管512。如此一来，检测信号IS即可从检测接垫520依次通过控制晶体管512的漏极D1、源极S1以及第一信号线504a，而传输至待检测的A1组面板单元502内。在此，由于本实施例的第一信号线504a为扫描线，因此当检测信号IS传输至A1组面板单元502内之后，此组面板单元502的各个像素会被开启，后续只要输入数据信号至A1组所有面板单元502的数据线中，相关人员即可依据各个面板单元502的工作情形，来判断A1组中的这些面板单元502是否均为合格产品。
特别的是，本实施例的多路复用器510还可以包括多个刷新晶体管514，其中各个刷新晶体管514的源极S2是电连接于对应的控制晶体管512的源极S1与第一信号线504a，而漏极D2则是电连接于一刷新信号供应单元560。在检测完A1组的面板单元502后，如欲进行下一组面板单元502的检测，则可将连接至A1组的控制晶体管512关闭，并开启刷新晶体管514，以使刷新信号供应单元560所输出的刷新信号(refresh signal)RS依次通过刷新晶体管514的漏极D2、源极S2而传输至A1组面板单元502内，进而刷新(refresh)A1组面板单元502内的检测信号。
承上述，在将A1组面板单元502内的检测信号刷新完毕后，即可关闭A1组所对应的刷新晶体管514，之后再以相同的方法接着进行其它组面板单元502的检测。特别值得一提的是，在下一组面板单元502的检测过程中，毋须移动压触于检测接垫520上的探针，只要通过多路复用器510来选择欲开启的控制晶体管512即可。
由此可知，在检测A1组面板单元502的过程中，由于检测信号并不会传输至其它组面板单502内，因此毋须开启其它组面板单元502内的主动元件，仅有检测中的A1组面板单元502内的主动元件需处于开启状态。换言之，本发明的检测线路布局500可以对面板单元502进行分组检测，以缩短各个面板单元502内的主动元件处于开启状态的时间，进而避免面板单元502内的主动元件因长时间处于开启状态而损坏。
需要一提的是，虽然上述实施例的多路复用器是用来选择性地导通检测接垫与面板单元的扫描线，但所属技术领域的技术人员应该知道，检测线路布局500中所设置的多路复用器510亦可用来选择性地导通检测接垫520与面板单元502的数据线(也就是第二信号线504b)，如图6所示。而且，本发明的检测线路布局还可以利用两个多路复用器来分别选择性地导通检测接垫与面板单元的扫描线与数据线，以个别检测各个面板单元。下文将举实施例说明之。
图7为本发明第三实施例中检测线路布局的示意图。请参照图7，构成检测线路布局700的元件除了前述实施例的多路复用器510与检测接垫520以外，还包括有多路复用器710与检测接垫720。在本实施例中，这些面板单元502是排列成行列式的矩阵。其中，多路复用器510是用以选择性地导通检测接垫520与某行(column)面板单元502的第一信号线504a(扫描线)，多路复用器710则是用以选择性地导通检测接垫720与某列(row)面板单元502的第二信号线504b(数据线)。而且，如图8所示，多路复用器710内部的电子元件大致上与多路复用器510内部的电子元件相同，其亦包括有控制晶体管712以及与刷新信号供应单元760电连接的刷新晶体管714。
请同时参照图5、图7与图8，在本实施例中，检测线路布局700可以用来检测单一面板单元502。举例来说，如欲检测位于第一行第一列的面板单元502，则先将探针(图中未示出)压触在检测接垫520、选择信号接垫530、检测接垫720与选择信号接垫730上，以便于通过探针分别将检测信号IS、IS’与选择信号SS、SS’由外部电路传输至检测线路布局700内。
承上述，多路复用器510是依据选择信号SS而施加电压至与第一行面板单元502电连接的控制晶体管512的栅极G1，进而开启此控制晶体管512。如此一来，检测信号IS即可从检测接垫520依次通过控制晶体管512的漏极D1、源极S1以及第一信号线504a，而传输至位于第一列的面板单元502内。另一方面，多路复用器710是依据选择信号SS’而施加电压至与第一列面板单元502电连接的控制晶体管712的栅极G1’，进而开启控制晶体管712。如此一来，检测信号IS’即可从检测接垫720依次通过控制晶体管712的漏极D1’、源极S1’以及第二信号线504b，而传输至位于第一行的面板单元502内。
在此，由于本实施例的第一信号线504a为扫描线，因此当检测信号IS传输至第一行的面板单元502内后，此行的面板单元502中的各个像素会被开启。但由于本实施例是将检测信号IS’传输至第一列的面板单元502内，因此仅有位于第一行第一列的面板单元502能够依据检测信号IS’来显示画面。此时，相关人员即可依据此面板单元502所显示的画面来判断其是否为合格产品。
由上述可知，本发明的检测线路布局是利用多路复用器来导通欲进行检测的面板单元与检测接垫，以便于分组或个别检测面板单元。因此，在检测过程中无须移动探针，即可完成所有面板单元的检测。
在液晶显示面板的制造过程中，若使用本发明的检测线路布局搭配液晶的滴下式注入制造工艺，将可大幅缩短工艺时间。下文将说明此液晶显示面板的制造流程。
图9A至图9C为本发明的一实施例中液晶显示面板的制造流程俯视示意图。请参照图9A，首先在第一基板610上形成液晶层620。其中，第一基板610上例如是已形成有以阵列方式排列的多个主动元件(图中未示出)、像素电极(图中未示出)以及框胶614，且框胶614是在第一基板610上围出多个液晶注入区616。液晶层620即是以滴下式注入的方式，形成于这些液晶注入区616内。
请参照图9B，接着提供第二基板630，并将其设置于第一基板610上方。其中，第二基板630例如是彩色滤光片。之后，将第二基板630与第一基板610组装，以使液晶层620密封于第一基板610、框胶614与第二基板630之间，而形成多组面板单元502。而且，组装第一基板610与第二基板630的方法例如是先施力压合第一基板610与第二基板630，接着在固化框胶614，以使第一基板610与第二基板630确实地与彼此黏合。在本实施例中，框胶614可以是热固化胶，也可以是紫外光固化胶。换言之，本实施例例如是以热固化或紫外光固化的方式来固化框胶614。
在形成面板单元502之后，接着即是形成图4、图6或图7的检测线路布局，并输入点灯信号至检测线路布局，以便于对这些面板单元502分组进行点灯测试。其中，在点灯测试过程中，检测线路布局的各个元件及面板单元502的工作情形如同前文所述，此处不再赘述。
请参照图9C，在完成所有面板单元502的点灯测试后，即可进行切裂(cutting)工艺，以将图9B的组装后的第一基板610与第二基板630切割成多个液晶显示面板600，而这些液晶显示面板600的后续制造工艺为所属技术领域的技术人员所熟知，此处不再赘述。
综上所述，本发明具有下列特点1.本发明的检测线路布局是以多路复用器来选择欲进行检测的单一或多个面板单元，因此在使用本发明的检测线路布局来检测面板单元的过程中，毋须移动压触于检测接垫上的探针即可完成所有面板单元的检测。所以，使用本发明的检测线路布局可以有效地缩短检测过程中所需耗费的时间，进而降低时间成本。而且，若使用本发明的检测线路布局，则检测过程中仅需使用一组探针，即可完成所有面板单元的检测。换言之，使用本发明的检测线路布局可以节省制造探针所需花费的成本。
2.在使用本发明的检测线路布局来检测面板单元的过程中，仅有检测中的面板单元内的主动元件处于开启状态下，其余面板单元内的主动元件均可以处于关闭状态。也就是说，利用本发明的检测线路布局可以分组检测多个面板单元，以缩短面板单元内的主动元件处于开启状态下的时间，进而延长主动元件的使用寿命。
3.在本发明的液晶显示面板的制造工艺中，是在未切裂前先对多个面板单元进行点灯测试，之后再进行切裂制造工艺而形成多个液晶显示面板。与公知技术中先将大基板切裂为多个显示面板后再进行点灯测试的作法相比之下，本发明可以同时对多个面板单元进行点灯测试，进而大幅缩短同批液晶显示面板进行点灯测试所需耗费的时间。
虽然本发明已以较佳实施例披露如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与改进，因此本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。
权利要求
1.一种检测线路布局，适于对多个面板单元至少其中的一条进行检测，且各该面板单元具有多条第一信号线与多条第二信号线，其特征是该检测线路布局包括第一多路复用器，电连接于上述这些面板单元的上述这些第一信号线；以及第一检测接垫，电连接于该第一多路复用器，其中该第一多路复用器适于选择性地将该第一检测接垫与一组面板单元的上述这些第一信号线导通。
2.根据权利要求1所述的检测线路布局，其特征是还包括多条第一短路杆，电连接至该第一多路复用器，且上述这些第一短路杆是分别串接其所对应的一组面板单元至少一部分的第一信号线。
3.根据权利要求2所述的检测线路布局，其特征是上述这些第一短路杆包括多个第一奇数短路杆与多个第一偶数短路杆，且各该第一奇数短路杆是串接其所对应的一组面板单元的奇数条第一信号线，而各该第一偶数短路杆是串接该组面板单元的偶数条第一信号线。
4.根据权利要求2所述的检测线路布局，其特征是还包括多个静电放电防护元件，分别电连接于对应的上述这些第一短路杆与该组面板单元的部分第一信号线之间。
5.根据权利要求1项所述的检测线路布局，其特征是该第一多路复用器包括多个第一控制晶体管，上述这些第一控制晶体管的漏极是分别电连接于该第一检测接垫，而各该第一控制晶体管的源极是分别与对应的一组面板单元的上述这些第一信号线电连接。
6.根据权利要求5所述的检测线路布局，其特征是还包括第一刷新信号供应单元，电连接至该第一多路复用器。
7.根据权利要求6所述的检测线路布局，其特征是该第一多路复用器还包括多个第一刷新晶体管，且各该第一刷新晶体管的源极是电连接于对应的该第一控制晶体管的源极与上述这些第一信号线之间，而上述这些第一刷新晶体管的漏极是分别电连接于该刷新信号供应单元。
8.根据权利要求1所述的检测线路布局，其特征是还包括第二多路复用器，电连接于上述这些面板单元的上述这些第二信号线；以及第二检测接垫，电连接于该第二多路复用器，其中该第二多路复用器适于选择性地将该第二检测接垫与一组面板单元的上述这些第二信号线导通。
9.根据权利要求8所述的检测线路布局，其特征是还包括多条第二短路杆，电连接至该第二多路复用器，且上述这些第二短路杆是分别串接其所对应的一组面板单元至少一部分的第二信号线。
10.根据权利要求9所述的检测线路布局，其特征是上述这些第二短路杆包括多个第二奇数短路杆与多个第二偶数短路杆，且各该第二奇数短路杆是串接其所对应的一组面板单元的奇数条第二信号线，而各该第二偶数短路杆是串接该组面板单元的偶数条第二信号线。
11.根据权利要求9所述的检测线路布局，其特征是还包括多个静电放电防护元件，分别电连接于对应的该第二短路杆与该组面板单元的部分第二信号线之间。
12.根据权利要求8所述的检测线路布局，其特征是该第二多路复用器包括多个第二控制晶体管，上述这些第二控制晶体管的漏极是分别电连接于该第二检测接垫，而各该第二控制晶体管的源极是分别与对应的一组面板单元的上述这些第二信号线电连接。
13.根据权利要求12所述的检测线路布局，其特征是还包括第二刷新信号供应单元，电连接至该第二多路复用器。
14.根据权利要求13所述的检测线路布局，其特征是该第二多路复用器还包括多个第二刷新晶体管，且各该第二刷新晶体管的源极是电连接于对应的该第二控制晶体管的源极与上述这些第二信号线之间，而上述这些第二刷新晶体管的漏极是分别电连接于该刷新信号供应单元。
15.根据权利要求1所述的检测线路布局，其特征是上述这些第一信号线为扫描线，而上述这些第二信号线为数据线。
16.一种液晶显示面板的制造方法，其特征是包括于第一基板上形成液晶层；提供第二基板，设置于该第一基板上方；组装该第一基板与该第二基板，以使该液晶层密封于该第一基板与该第二基板之间，而形成多组面板单元；形成权利要求1的检测线路布局；输入点灯信号至该检测线路布局，以分别对上述这些面板单元进行点灯测试；以及切割组装后的该第一基板与该第二基板，以形成多个液晶显示面板。
17.根据权利要求16所述的液晶显示面板的制造方法，其特征是形成该液晶层的方法包括滴下式注入。
18.根据权利要求16所述的液晶显示面板的制造方法，其特征是在形成该液晶层之前，还包括在该第一基板上形成框胶，以于该第一基板上围出多个液晶注入区，而后续形成的该液晶层位于上述这些液晶注入区内。
19.根据权利要求18所述的液晶显示面板的制造方法，其特征是组装该第一基板与该第二基板的方法包括压合该第一基板与该第二基板；以及固化该框胶。
20.根据权利要求19所述的液晶显示面板的制造方法，其特征是固化该框胶的方法包括热固化或紫外光固化。
全文摘要
一种检测线路布局，适于用来分组检测面板单元，其中各面板单元具有多个第一信号线与第二信号线。此检测线路布局包括多路复用器以及检测接垫。多路复用器是电连接于这些面板单元的第一信号线及第二信号线至少其中的一条，而检测接垫是电连接于多路复用器，且多路复用器适于选择性地将检测接垫与一组面板单元的第一或第二信号线导通。
文档编号G01M11/00GK101038300SQ20061005985
公开日2007年9月19日 申请日期2006年3月15日 优先权日2006年3月15日
发明者萧富元, 陈紫瑜, 刘梦骐 申请人:中华映管股份有限公司