相干散射成像的利记博彩app

专利名称：相干散射成像的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及用于相干散射成像的设备和方法，具体而言，其涉及但不限于用于相干散射计算断层照相的设备和方法。
背景技术：
对于快速、可靠的材料扫描仪一直存在持续的需求。快速行李扫描仪就是一个具体的商业利益空间，快速行李扫描仪可以在多种情况下得到应用，但是经常被用来扫描航空行李。另一个具体的商业利益空间处于医疗扫描仪领域。
例如，可以通过光电吸收和散射描述X射线光子与处于20和150keV之间的某一能量范围内的物质之间的交互作用。存在两种不同类型的散射一方面为不相干或康普顿散射，另一方面为相干或瑞利散射。但是，康普顿散射随着角度缓慢变化，而瑞利散射则具有强烈的前向性，并且具有表示每种类型的材料的特性的截然不同的结构。在(例如)半导体工业的X射线晶体学或X射线衍射中，相干X射线散射是用于分析材料的分子结构的常用工具。分子结构函数是材料的指纹，其能够实现良好的识别。例如，可以将塑料炸药与无害的食品区分开。
对于医疗应用以及行李检查而言，通常将光电吸收而非散射应用到商业计算断层照相(CT)扫描仪和C形臂(C-arm)系统中。这些系统采用各种计算技术通过所测量的X射线数据以及样本的不同位置处的样本的X射线吸收特性进行计算，而不是像常规X射线成像那样只简单地提供样本的X射线图像。
例如，US2002/0150202A1公开了一种采用扇形射束的CT设备，并且还描述了一种旋转所述设备的托台(gantry)。
在现代化设备中，经常将锥形X射线射束应用到所谓的“锥形射束”计算断层照相当中。US2004/0076265公开了一种该类型的CT扫描仪。
由于材料识别限于总线性衰减系数的差别，因此只有当所关心的区域的线性衰减系数存在明显的差别时，这种方法才能提供良好的识别。此外，如果两种不同的材料表现出相同的衰减系数，那么仅采用线性衰减系数的组织或材料识别就可能模糊不清。
由于被散射的光子含有额外的目标信息，因此可以采用其实现更好的材料识别。
US 5692029公开了一种针对行李处理应用的采用反向散射X射线的探测器。
在Strecker等的“Detection of Explosives in Airport baggage usingCoherent X-ray Scatter(采用相干X射线散射的机场行李爆炸物探测)”(SPIE Volume 2092“Substance Detection Systems(物质探测系统)”，1993，第399到410页)中公开了将相干散射作为行李扫描的适宜手段。该文献描述了爆炸物和很多其他普通材料的不同弹性散射谱。
尽管没有对行李样本的实际测量予以说明，但是该文献指出为了满足速度要求，成像是不可行的，相反，通过测量能谱对整个行李做出推测。因而，所提出的系统不适合对行李内部具体物品进行详细扫描。
在同一卷中的Speller等的“X-ray scattering signatures for materialidentification(用于材料鉴别的X射线散射特征)”(SPIE volume2092“Substance Detection Systems(物质探测系统)”，1993，第366到377页)中公开了其他的X射线散射实验。
尽管采用相干散射的行李扫描仪多年以来一直吸引着人们的兴趣，但是，到目前为止，其一直未能从实验室研究投入到实际使用当中。导致这一结果的原因有很多，包括相干散射固有的低信号强度和实际实施困难。
相反，实际使用的行李扫描仪只简单地利用常规成像处理测量X射线的吸收。但是，这样的系统无法提供良好的识别，并且难以判断具体的吸收特征是由爆炸物导致的，还是由诸如巧克力、塑料或很多其他普通材料中的任何一种导致的。
在医疗CT扫描的特征识别中也会产生类似的问题。
因此，需要一种能够有助于解决这些问题的改进的相干散射成像方法和设备。

发明内容
根据本发明，提供了一种操作相干散射成像系统的方法，所述相干散射成像系统具有源、准直器和多通道探测器，所述方法包括执行X射线或计算断层照相(CT)扫描，以识别样本对象中的研究区；使锐方向性X射线射束沿多个样本路径穿过所述样本，由此测量相应的多个样本谱，其中所述多个样本路径中的每者均穿过所述研究区，并测量作为所述探测器上的位置的函数的相应的多个样本谱；基于所述研究区和所述探测器之间的相应距离校正所述样本谱，以获得经校正的谱；以及通过使所述经校正的谱相互关联而组合所述经校正的谱，以识别共有特征，并将所述共有特征作为所述研究区内存在的特征加以分析。
注意，所测量的谱实际上不仅取决于所述研究区，其中的很多特征来自样本的其他部分。但是，通过如所有的谱都像基于所述研究区一样校正所述谱，就能够通过比现有技术中的方法简单得多的方法执行非常简单的计算。由于本发明仅考虑研究区，因此来自其他区域的数据错误不会带来问题。
实际上，在组合来自不同路径的谱之后，源自研究区的特征将正确地位于不同谱内，而其他特征将不会或相应地很少会彼此产生显著的相互关联。因此，整个谱均取决于所述研究区的非精确几何假设的使用改进了所述方法。
所述方法的一个特别的有利之处在于，只需对常规CT扫描仪或基于C形臂的X射线系统进行较小的改动就可以容易地应用所述方法，具体而言，只需添加准直器，以生成锐方向性射束。通常，可以通过任何具有2D探测器以及能够在系统和对象之间进行相对运动的锐方向性射束的X射线系统使用所述方法。
与常规样本扫描所需的总X射线剂量相比，用于照射研究区的锐方向性射束的使用极大降低了总X射线剂量。
应当意识到，所测的谱本质上为吸收值和距所述谱的中心的距离值。校正所述谱的步骤可以通过将距离值乘以相应的距离校正系数而校正每一谱的标度，此外，还可以校正吸收值。
距离校正系数可以调整相应谱的标度，从而以共有标度衡量研究区内的特征。为了方便起见，校正系数可以调整谱的标度，以采用逆散射波矢q作为距离的度量。
校正吸收值的步骤可以包括针对两种效应的校正第一，平面外的探测器元件的有效探测器面积随着散射角的增大而减小，第二，抵达探测器元件的散射束的立体角随这一元件到散射中心的距离而降低。
此外，还可以执行对测量谱的校正。例如，如果已知样本的吸收图，即在给出了样本内不同位置处的吸收系数值的情况下，可以针对沿X射线路径的吸收校正所测得的X射线的强度。可以在前一段落所述的针对两种效应校正所测得的吸收值的步骤之前方便地执行这一步骤。
优选地，所述的识别研究区的步骤包括计算所述样本内的吸收系数的三维分布。这可以通过CT方法完成。
可以采用与相干散射测量中采用的相同的或不同的扫描仪完成对研究区的识别步骤。
本发明设想了对谱进行组合的多种可能性。在一种方案中，组合谱的步骤包括提供定义多种不同材料的谱的材料表；将每一经校正的谱拟合至所述材料表，以识别每一谱的材料；以及识别所述多个谱所共有的材料，将其作为可能存在于所述研究区内的材料。
在另一方案中，组合所述谱的步骤包括将所述经校正的谱拟合至多个具有峰位和峰宽的拟合参数的峰，并识别出多个谱之间共有的峰。在这一方案中，在不参考材料表的情况下识别峰，并采用共有的峰作为研究区的特征。
在另一方案中，将经过几何校正的谱简单相加。
所述方法可以包括通过使参考射束穿过样本测量针对每一样本谱的至少一个参考谱，所述参考射束平行于所述样本射束，但不穿过研究区，以获得参考谱(R)；以及通过减去参考谱(R)校正所述样本谱(S)。
本发明的另一方面涉及一种用于具有经校准的X射线源和探测器的相干散射成像系统的控制器，所述控制器包括连接所述相干散射成像系统的接口，其用于将控制信号传送至所述相干散射成像系统，并从所述探测器接收图像数据；以及用于使所述相干散射成像系统和控制器扫描样本对象中的研究区的代码，所述代码使所述相干散射成像系统和控制器使锐方向性X射线射束沿穿过研究区的多个样本路径穿过样本，并测量作为探测器上的位置的函数的相应的多个样本谱；基于所述研究区和所述探测器之间的相应距离校正所述谱，以获得经校正的谱；以及通过使所述谱相互关联而组合所述谱，以识别共有特征，并将所述共有特征作为所述研究区内存在的特征加以分析。
所述控制器可以包括定义了多种不同材料的谱的材料表；其中，所述代码用于将每一测量谱与所述材料表拟合，以识别每一谱的材料；以及识别所述谱所共有的材料，将其作为可能存在于所述研究区内的材料。
或者，用于组合所述谱的代码可以用于将所述谱拟合至多个具有峰位和峰宽的拟合参数的峰，并识别出多个谱之间共有的峰。
另一方面，本发明涉及一种相干散射计算成像系统，其包括
用于生成X射线的X射线源；准直器，其用于生成由来自所述X射线源的X射线构成的经准直的锐方向性射束；用于固定样本的样本支座；多通道X射线探测器，其用于探测被所述样本弹性散射的、作为位置的函数的X射线；框架，其用于支撑所述X射线源、准直器和多通道X射线探测器；用于移动所述框架的驱动器；以及上文所述的控制器。
所述准直器可以在使准直器偏离射束的第一位置和处于X射线射束内的第二位置之间移动，以实施锐方向性射束相干散射成像方法。
本发明还涉及一种计算机程序产品，其被布置成使相干散射成像系统执行上述方法。


现在将参考附图纯粹通过举例的方式描述本发明的具体实施例，其中图1示出了根据本发明的实施例的CSCT设备；图2示出了本发明的实施例中采用的射束路径；以及图3是示出了本发明的第一实施例中采用的方法的流程图；图4是示出了本发明中记录的谱的高度示意性的图示；图5是示出了本发明的第二实施例中采用的方法的流程图；图6是示出了本发明的第三实施例中采用的方法的流程图；图7是示出了本发明的第四实施例中采用的方法的流程图；以及图8是第四实施例中采用的射束路径的示意图。
所述图示均为示意图，并且未按比例绘制。
具体实施例方式
参考图1，本发明的第一实施例包括设置于座架4上并连接至驱动器6的C形臂2，驱动器6用于在控制器8的控制下将C形臂驱动至各种位置中的任何一种位置处。C形臂支撑X射线源20、准直器22和探测器24。准直器22受驱动器23的驱动可在两个位置之间移动，在所述两个位置之一处，准直器22被置入到射束内(如实线所示)，在另一位置处，其位于射束路径之外(如虚线所示)。
可以通过驱动器6对C形臂2进行驱动，以旋转C形臂，从而使源20和探测器24指向很多不同的角度。也可以通过对C形臂的驱动，使得所述臂沿脱离纸面的方向旋转，由此确定源和探测器的指向，从而使多种三维X射线射束方向成为可能。
控制器8包括处理器10和存储器12，存储器12包括用于控制所述控制器，从而使之将C形臂驱动至选定位置的代码14，并且还包括用于使控制器对数据进行分析的代码。将控制器通过接口18连接至C形臂系统。
样本支座26用于固定样本30。就行李处理系统而言，为了方便起见，样本支座可以是传送带。或者，样本支座可以是医疗应用中的患者支座。
通过装配C形臂2使得X射线从X射线源20发射出来，并在准直器22内得到准直，使之作为锐方向性射束28穿过样本30，之后被探测器24拾取，探测器24将入射强度转化为电信号并将所述信号提供给控制器8。探测器24是探测X射线的多通道(multichannel)探测器，所述X射线是位置的函数，并相应地成为散射角的函数。源20优选尽可能为单色，以确保所测量的散射角和逆散射波矢q之间的关系尽可能精确。相应地，可以在射束28内提供可选的单色仪21。在备选方案中，可以采用射束滤波器对谱进行剪裁。
在使用当中，在准直器不处于射束路径内的情况下，将样本30置于样本支座26上，在不采用相干散射信息的情况下以常规模式使用所述设备。在这一常规模式内，从所述源提供X射线，以X射线照射样本，并且在多通道X射线探测器24上采集样本图像。
所采集的图像可以是常规X射线图像。
但是，优选采用这样一种方法，其中，并非只是对样本成像，还计算样本内作为位置的函数的吸收。这一点可以利用CT扫描仪通过三维重构实现，其中，利用扇形射束或锥形射束几何形状沿(例如)螺旋形、环形或连续相关目标迹线移动。可以采用沿任意迹线移动的C形臂系统。
优选采用这样的计算方法的原因在于，对研究区内的吸收系数的计算能够实现对具有可疑吸收系数的研究区32的识别。此外，可以采用对整个样本的吸收图计算实现对接下来测得的谱的吸收修正。
这一CT计算或X射线图像可能在样本内揭示一个或多个可疑研究区32。这些研究区可以是样本的一些小部分，例如，小于整个样本体积的10％，优选小于所述体积的2％，甚至1％。
接下来，可以按照下述说明以CSCT模式使用所述设备，从而进一步提供有关研究区32的信息，其开始于对研究区的识别，如图3中的步骤50所示。
计算穿过研究区的多个适宜的样本射束路径(步骤52)。
在步骤52中，着眼于若干需要(desiderata)选择不同的样本路径40(图2)。
首先，沿所述路径的X射线的吸收以及沿散射光子的向外路径的吸收不应过大。
其次，所述路径应当处于尽可能不同的方向内，从而沿尽可能多的不同方向照射研究区。
第三，应当避开提供强化结构的散射波形因数的区域。
满足所有的这些标准是不可能的，因此选择合理数量的路径，从而在某种程度上满足这些标准。
在这一CSCT模式下，在源20前引入准直器22，以提供单个X射线的锐方向性射束28。
首先，使锐方向性射束28沿穿过研究区32的第一样本路径40定向，并在多通道探测器24上测量样本谱S1(步骤54)。在整个探测器上测量作为位置的函数的强度，所述位置与逆散射波矢(q)相关。
接下来，采用穿过研究区32的不同的第二样本路径40得到第二谱S2。
如果需要可以采用其他样本路径和参考路径40将这一流程重复一次或多次，以提供第三谱S3、第四谱S4等。
图2中示意性地示出了样本路径。注意，样本路径通常优选处于很多不同的取向内，而且并非所有路径均处于同一平面内。
在确定每一谱之后，执行测试(步骤62)，以查看是否已经采用了所有预先计算的样本路径。如果没有，则重复步骤54，直到采用了所有路径为止。应当意识到，无需预先计算所有的样本路径，在某些备选实施例中，可以在进行了一次或多次测量之后计算某些样本路径。
所测得的谱具有作为其位置/距离坐标的x轴(图4中的r)。为了与标准谱比较，必须对所述谱校正，使之沿x轴，或者为了方便起见使之沿逆散射波矢q具有标准坐标。此外，还需要对吸收值做进一步的校正。
应当注意，在每一谱中，研究区距X射线源和探测器的距离不一定相同。例如，如果研究区接近探测器，那么与研究区远离探测器的情况相比，探测器上对应于某一q值的距离将更小。
相应地，首先采用针对从研究区32的散射的q标度沿其各自的x轴扩展或压缩差异谱D。所测得的谱具有作为其位置坐标的x轴。通过下式(以小角度近似)给出了散射波矢qq＝r/[2λ(G-L)]。
G是从源到探测器的距离，L是从源到研究区的距离，h是谱的每一点距中央非散射点的线性偏移量，λ是所采用的X射线的波长。
可以在此提供可选的吸收校正，从而利用作为样本内的位置的函数的吸收校正样本30内的吸收。如果通过执行CT法确定研究区，那么将由确定研究区的初始扫描了解这一信息。或者可以在绘制作为q的函数的谱之前执行这一可选的吸收校正。
接下来，执行几何校正，以获得定量意义上正确的散射谱。由相应的几何校正因数(GCF)乘以所述谱中的每一点。GCF考虑了两种效应第一，平面外的探测器元件的有效探测器面积随着散射角的增大而减小，第二，抵达探测器元件的散射束的立体角随这一元件到散射中心的距离而降低。
由GCF＝A(G-L)/(r2+(G-L)2)3/2给出了平面外探测器元件的GCF，其中，A表示一个探测器元件的探测器面积。
注意，这样简单乘以几何校正因数相对简明，因为我们只对来自小研究区的散射谱感兴趣。通常，在整个样本厚度上计算相干散射谱将需要大量的数据和计算资源，因为样本的不同部分与探测器和源相距不同的距离，因而不可能将校正因数简单地乘以所测量的谱。本发明中这样做的可能性使得这里描述的方法比以前用于具有显著厚度的样本的方法简单了很多，与以前的方法相比，其牵涉的计算能力更低，并且需要采集的数据更少。后一种益处尤其具有优势，因为其允许总X射线剂量更低。
接下来，为了降低噪声，采用测得谱的角对称性。每一谱都是圆对称的(图4)，因而识别每一谱80的中心点82，并针对所有的角度θ对谱积分(步骤66)，以提供作为与中心的距离的函数的所测X射线的强度谱。
在第一实施例中，此后，将经过几何校正的谱简单相加到一起，以获得组合谱C(步骤68)。
之后，将组合谱与从各种材料得到的谱相比较，以识别所涉及的一种或多种材料。
通过这种方式能够确定研究区的成分。
在根据本发明的方法的第二实施例中，与在第一实施例中一样进行测量，并在步骤66的结束后提供经过几何校正的积分谱S。
之后，如图5所示，将所述谱分解为多个峰(步骤70)。为了方便起见，将所述谱拟合至(fit to)具有某一散射角位置和宽度的高斯峰。因而，每一谱S将提供一组峰位和峰宽值。
射线40仅在研究区内交叉，因此由存在于研究区32内的材料得到的峰应当出现在所有谱内。反之，仅出现在一个测量谱内的那些峰应该是由研究区以外的样本部分产生的峰。
因此，在步骤72中，识别在超过预定数量的谱内产生的峰，并采用这些峰分析研究区。所述预定数量至少为2，优选小于所测谱的总数。将所述峰与给出了很多种物质的峰的材料表比较(步骤74)，以鉴别存在于研究区内的物质。
注意，在这一实施例的备选方案中，可以在对谱进行分解以形成多个峰之后执行几何校正。
在第三实施例中，所述方法再次进行至应用了几何校正的步骤66。
在第三实施例中，此后，流程持续到采用材料及其X射线相干散射特性表将每一谱拟合到很多种可能的不同材料的峰。
识别出不同谱所共有的材料作为研究区的可能材料(步骤78)。
在第四实施例中，采用额外的细化。在这种情况下，所述方法采用不穿过研究区的参考射束和穿过研究区的样本射束。图7的流程图和图8的路径图示出了这一方法。
在识别适宜的样本路径的步骤52之后，使锐方向性射束28沿穿过研究区32的第一样本路径40定向，并在多通道探测器24上测量样本谱S1(步骤54)。在整个探测器上测量作为位置的函数的强度，所述位置与逆散射波矢(q)相关。
接下来，使锐方向性射束28沿一个或多个平行于第一样本路径40但不穿过研究区32的第一参考路径42定向，并针对所述一个或多个参考路径42测量参考谱R1(步骤56)。
选择一个或多个参考路径42，从而使沿所述路径的吸收与沿样本路径40的吸收大致相同。为了校正所测得的吸收内的微小差异，将所述谱与吸收校正因数A1相乘，从而对一个或多个参考路径谱进行吸收校正，以得到吸收校正谱C1，其中C1＝R1×A1(步骤58)。
之后，从样本谱中减去经校正的谱，以获得主要产生与研究区相关的信息的第一差异谱D1；D1＝S1-C1(步骤60)。
如果需要，则采用其他样本路径和参考路径40和42将这一流程重复一次或多次，以提供第二差异谱D2、第三差异谱D3和第四差异谱D4等。
在确定每一差异谱之后，执行测试(步骤62)，以查看是否已经采用了所有预先计算的样本路径。如果没有，则重复步骤54到60，直到采用了所有路径为止。应当意识到，无需预先计算所有的样本路径，在某些备选实施例中，可以在进行了一次或多次测量之后计算某些样本路径。
之后，与在上述第一到第三实施例中一样继续执行所述过程，以组合各种谱，从而识别出研究区的材料。
尽管上述说明采用了CT系统，但是，本发明仍然适用于其他构造，具体而言，还适用于锥形射束系统。
所述系统不限于行李处理，可以将其应用于任何采用X射线的地方，例如，用于对人体或动物体成像，以及用于材料评估。
因此，显然可以对这一详细描述的具体系统做出各种变化，并且很多其他的变型对于本领域技术人员而言是显而易见的。
权利要求
1.一种相干散射成像系统的操作方法，所述相干散射成像系统具有源(20)、准直器(22)和多通道探测器(24)，所述方法包括执行X射线或计算断层照相(CT)扫描，以识别样本对象(30)中的研究区(32)；使锐方向性X射线射束(28)沿多个样本路径(40)穿过所述样本，由此测量相应的多个样本谱(S1、S2、S3)，所述多个样本路径(40)中的每个均穿过所述研究区(32)，并且测量作为所述探测器上的位置的函数的散射X射线的相应的多个样本谱(S1、S2、S3)；基于所述研究区与所述探测器之间的相应距离校正所述样本谱，以获得经校正的谱(C1、C2、C3)；以及通过使所述经校正的谱(C1、C2、C3)相互关联而组合所述经校正的谱，以识别共有特征，并将所述共有特征作为所述研究区(32)内存在的特征加以分析。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述的识别研究区的步骤包括计算所述样本内的吸收系数的三维分布。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述的组合所述经校正的谱的步骤包括提供定义多种不同材料的谱的材料表；将每一所测得的经校正的谱(C1、C2、C3)与所述材料表相拟合，以识别每一谱的材料；以及识别所述多个经校正的谱所共有的材料，将其作为可能存在于所述研究区内的材料。
4.一种根据任一前述权利要求的方法，其中，组合所述经校正的谱的步骤包括将所述经校正的谱拟合至多个具有峰位和峰宽的拟合参数的峰，并识别出多个谱之间共有的峰。
5.一种根据任一前述权利要求的方法，其中，所述的测量相应的多个样本谱的步骤对于每一谱而言包括使参考射束(42)穿过所述样本(30)，所述参考射束平行于所述样本射束(40)，但不穿过所述研究区(32)，以获得参考谱(R)；以及通过减去所述参考谱(R)校正所述样本谱(S)。
6.一种用于具有经校准的X射线源(20、22)和探测器(24)的相干散射成像系统的控制器(8)，其包括连接所述相干散射成像系统的接口(18)，其用于将控制信号传送至所述相干散射成像系统，并从所述探测器接收图像数据；以及代码(14)，其用于使所述相干散射成像系统和所述控制器执行X射线或CT扫描，以识别样本对象(30)中的研究区(32)；使锐方向性X射线射束(28)沿穿过所述研究区(32)的多个样本路径(40)穿过所述样本，并测量作为所述探测器上的位置的函数的散射X射线的相应的多个样本谱(S1、S2、S3)；基于所述研究区与所述探测器之间的距离校正所述谱中的每个，以获得经校正的谱(C1、C2、C3)；以及通过使所述谱(C1、C2、C3)相互关联而组合所述谱，以识别共有特征，并将所述共有特征作为所述研究区(32)内存在的特征加以分析。
7.根据权利要求6所述的控制器，还包括定义多种不同材料的谱的材料表；所述代码用于将每一测量谱(C1、C2、C3)与所述材料表相拟合，以识别每一谱的材料；以及识别所述谱所共有的材料，将其作为可能存在于所述研究区内的材料。
8.根据权利要求6或7所述的控制器，其中，用于组合所述谱的代码用于将所述谱拟合至多个具有峰位和峰宽的拟合参数的峰，并识别出多个谱之间共有的峰。
9.根据权利要求6、7或8所述的控制器，其中，所述代码用于使参考射束(42)穿过所述样本(30)，所述参考射束平行于所述样本射束(40)，但不穿过所述研究区(32)，以获得参考谱(R)；以及通过减去所述参考谱(R)校正所述谱(S)。
10.一种相干散射成像系统，其包括用于生成X射线的X射线源(20)；准直器(22)，用于生成来自所述X射线源的X射线的经准直的锐方向性射束；用于固定样本(30)的样本支座(26)；多通道X射线探测器(24)，其用于探测被所述样本弹性散射的作为位置的函数的X射线；框架(2)，其用于支撑所述X射线源(20)、准直器(22)和多通道X射线探测器(24)；用于移动所述框架(2)的驱动器(6)；以及根据权利要求6到9中的任何一项所述的控制器(8)。
11.根据权利要求10所述的相干散射成像系统，其中，所述准直器(22)可以在偏离所述X射线源(20)的第一位置和与所述X射线源(20)保持一致的第二位置之间移动，以产生经准直的X射线的锐方向性射束(28)，当所述准直器(22)位于所述第一位置时，X射线源(20)所产生的X射线射束比所述准直器(22)处于所述第二位置时产生的锐方向性射束(28)更宽。
12.一种记录在数据载体上的计算机程序产品，所述计算机程序产品包括用于使相干散射成像系统执行根据权利要求1到5中的任何一项所述的方法的代码(14)。
全文摘要
采用常规CT或X射线方法识别研究区。之后，采用锐方向性射束(28)扫描研究区，以获得多个不同的散射X射线谱。之后，对每一谱应用几何校正，使得所述谱就像仅取决于研究区内的特征一样。组合采用射束记录的各个谱，并使其相互关联，以确定研究区(32)特征，同时使样品(30)其余部分内的特征的影响降至最低。
文档编号G01T1/164GK101014882SQ200580030168
公开日2007年8月8日 申请日期2005年9月9日 优先权日2004年9月11日
发明者米夏埃多·格拉斯, 延斯－彼得·施洛姆卡, 乌多·范斯特文达勒 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司