专利名称：电子物件的测试探针的利记博彩app
技术领域：
本实用新型涉及一种电子物件的测试探针，特别是指一种具有较细组成外径，能有效缩小排列中心距形成密集组合的探针。
背景技术：
如
图1所示，一探针座43上设有复数密集排列的孔，可供容器夹持复数探针套管41，各探针套管41内有一弹簧，顶探针4由该探针套管41一端向外凸伸，该探针套管41的另一端分别经由测试讯号线42衔接测试仪，使用时该探针座43相对于待测物件3移动，可使各探针4与待测物件3上预设的各测试点接触，该探针套管41内的弹性元件使探针4形成一伸缩弹性，使各探针4都可与待测物件3上各测试点接触，达到完整测试。其缺点如下由于各探针4套和一探针套管41内，该探针套管内另放有一弹性元件，其整体组合后外径大，难以满足微型电子产品的待测试点距精密细小的要求，待测物件3难以进行小巧化设计，组装不便，成本较高。结构强度较差，易发生弹力不足造成检测接触不确实。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种电子物件的测试探针，该测试探针具有较细组成外径，能有效缩小排列中心距形成密集组合。
为解决上述技术问题，本实用新型的测试探针结构包括探针座，探针等部分，所述探针座一端设有与测试位移路径呈斜角对应延伸的刚性单柱型探针，各探针的一端朝待测物件斜向凸伸成探测端，各探针的另一端可电连接到相关测试仪器。
本实用新型的测试探针具有较细组成外径，能有效缩小排列中心距形成密集组合，结构简易，使用该结构的测试探针，可提高测试精密度，并降低成本。
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步描述图1是现有探针与相关装置的组合结构示意图；图2是本实用新型的第一实施例的构造立体分解图；图3是本实用新型的第一实施例的组合操作状态立体的示意图；图3A是图3的A部放大图；图4是本实用新型的第一实施例的使用状态测向示意图；图5是本实用新型的第二实施例的构造立体分解图；图5B是图5的B部放大图；图6是本实用新型的第二实施例的使用状态测向示意图。
具体实施方式
如图2所示，并参照图3，图4，可知本实用新型的第一实施例主要结构包括探针座1，探针2等部分，探针座1至少于一端生成与测试位移路径呈一斜角方向延伸的探针2，探针2与探针座1结合，可在探针座1的一端设一容器槽11，该容器槽11可直接设在一斜面10上，探针2为刚性单柱型细条体，可放于容器槽11内，使各探针2至少以一端部凸伸出容器槽11，与测试位移路径呈斜角关系形成一探测端21，探针2的另一端可经由测试讯号线22衔接相关测试仪器，在斜面10上盖合一盖板12，供夹合或加强对各探针2所形成定位作用。测试时，当各探针2随探针座1位移，探测端21与待测电子物件3的测试点31接触时，探针2受力会产生自体弹性弯曲，可有效适应各探针2下压接触测试点31时所生产的微量压制行程幅度，使各探针2的探测端21能与测试点31间达到完全确实的接触效果。
如图5，图6所示，本实用新型的第二实施例的主要结构是在探针座1的容器槽11伸突探针2的探测端21的一端设一相反与检测行进路线的镂空开口110，使该探针2伸入容器槽11内，容器槽11多数等深，各容器槽相互平行排列延伸。盖板12盖合于设置容器槽11的斜面10上，固定各探针2；当探针2随探针座1位移，探测端21与待测电子物件3的测试点31接触时，利用镂空开口110的辅助，使各探针2的探测端21部位具有较大的曲变空间，而不会对探针2的弹性弯曲形成过大限制，具有缓和探测端21接触的能力，同时，镂空开口110亦具有扶持曲变中的探测端21，可有效防止探测端21产生横向偏移出，使各探针2的探测端21与测试点31保持正确良好接触。
权利要求1.一种电子物件的测试探针，其特征在于至少包括一探针座，该探针座的一端设有一探针的探测端，所述探针相对测试位移路径呈斜角方向延伸；探针的另一端连接测试讯号线，与相关测试仪器结合。
2.按照权利要求1所述的测试探针，其特征在于所述探针为单柱型细条体。
3.按照权利要求1或2所述的测试探针，其特征在于所述探针结合于探针座一端的预设斜表面上，该斜表面上有容置槽，所述探针位于该容置槽内，一端凸伸于容置槽之外，形成探测端。
4.按照权利要求1或2所述的测试探针，其特征在于所述探针座在接近探测端突伸部位设有相反于上述探针座测定位移方向扩张的镂空开口。
5.按照权利要求3所述的测试探针，其特征在于所述探针座在接近探测端突伸部位设有相反于上述探针座测定位移方向扩张的镂空开口。
6.按照权利要求1或2所述的测试探针，其特征在于所述探针设置于一斜面表侧上多数等深的容置槽，该容置槽的斜面上盖合一盖板。
7.按照权利要求3所述的测试探针，其特征在于所述探针设置于一斜面表侧上多数等深的容置槽，该容置槽的斜面上盖合一盖板。
8.按照权利要求4所述的测试探针，其特征在于所述探针设置于一斜面表侧上多数等深的容置槽，该容置槽的斜面上盖合一盖板。
9.按照权利要求5所述的测试探针，其特征在于所述探针设置于一斜面表侧上多数等深的容置槽，该容置槽的斜面上盖合一盖板。
10.按照权利要求1或2所述的测试探针，其特征在于所述探针列于探针座一端表面上的容置槽内，各容置槽相互平行排列延伸。
11.按照权利要求3所述的测试探针，其特征在于所述探针列于探针座一端表面上的容置槽内，各容置槽相互平行排列延伸。
12.按照权利要求4所述的测试探针，其特征在于所述探针列于探针座一端表面上的容置槽内，各容置槽相互平行排列延伸。
13.按照权利要求5所述的测试探针，其特征在于所述探针列于探针座一端表面上的容置槽内，各容置槽相互平行排列延伸。
14.按照权利要求6所述的测试探针，其特征在于所述探针列于探针座一端表面上的容置槽内，各容置槽相互平行排列延伸。
15.按照权利要求7所述的测试探针，其特征在于所述探针列于探针座一端表面上的容置槽内，各容置槽相互平行排列延伸。
16.按照权利要求8所述的测试探针，其特征在于所述探针列于探针座一端表面上的容置槽内，各容置槽相互平行排列延伸。
17.按照权利要求9所述的测试探针，其特征在于所述探针列于探针座一端表面上的容置槽内，各容置槽相互平行排列延伸。
专利摘要本实用新型公开了一种电子物件的测试探针，该电子物件的测试探针包括探针座，探针等部分，所述探针座一端设有与测试位移路径呈斜角对应延伸的刚性单柱型探针，各探针的一端朝待测物件斜向凸伸成探测端，各探针的另一端可电连接到相关测试仪器，当该探针的探测端随探针座滑移与待测物件的测试点接触时，利用上述斜向延伸的探针受力产生的自体弹性弯曲变形，使探测端保持弹性完全接触。本实用新型可测试间距微小的待测物件。
文档编号G01R1/073GK2809651SQ200520104340
公开日2006年8月23日 申请日期2005年7月27日 优先权日2005年7月27日
发明者陈志岳 申请人:晋恒股份有限公司