专利名称：物体微跌测试方法和装置的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及一种对物体进行微跌测试的方法和装置。
背景技术：
传统的跌落测试设备包括一个工作台上、电机、气缸、光电开关及一些辅助装置。其工作原理是将待测物体放在工作台指定的区域内，四周有挡板用来复位(测试物体跌落至起始位置时，用来测试物体复位)，两侧的夹子通过气缸来实现夹紧、松开，夹子夹住测试物体通过电机上下移动，当测试物体被抬到测试高度时(通过限位开关来控制)，通过继电器控制气缸松开夹住测试物体的夹子，测试物体自由落体至起始位置，完成一个测试循环。一次只能测试一件待测物体，测试效率低。
发明内容
本发明的目的是提供一种物体微跌测试方法，能够一次测试多个测试物体。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的一种物体微跌测试方法，将被测物体放置在一个托板上，然后使该托板从高点位置快速下降，从而使被测物体在低点位置与该托板碰撞。
托板下降的平均速度V满足如下条件V>HG/2,]]>其中，G为重力加速度，H为所述高点位置与所述低点位置的高度差。该托板在到达低点位置后处于水平静止状态。
可通过一个高度调节装置调节高点位置，从而调节所述的高度差。
另外，利用一个水平测量仪保持该托板处于水平位置。
该托板上可放置多个被测物体，它们之间用隔板隔开。
本发明的技术方案还包括一种用于上述方法的物体微跌测试装置，包括一个气缸，还包括一个与该气缸相连的托板。
其中，该托板上设有至少一个用于隔开被测物体的隔板，各该隔板与该底座是固定在一起。
该装置还包括一个水平测量仪，用于保持该托板处于水平状态。还包括至少一个与该托板相连的导轨。以及一个高度调节装置，其为一限位开关。
本发明的积极进步效果在于能够同时测试多个被测物体，提高了生产效率。
图1为本发明的实施例中物体微跌测试装置的立体示意图。
图2为图1的正面试图。
图3为物体微跌测试装置不设隔板时的立体示意图具体实施方式
下面结合附图给出本发明较佳实施例，以详细说明本发明的技术方案。
一种物体微跌测试方法，将被测物体7放在托板2上，托板2从起始位置，即低点位置，缓慢升至测试高度，即高点位置。
稳定后，托板2在气缸的作用下迅速下降至起始位置，并处于水平静止状态。被测物体7与该托板相分离，作自由落体运动，经过时间T2落至起始位置，撞击该托板2，完成一个测试过程。
托板2从该高点位置回到起始位置的时间为T1，当T1＜T2时，该托板2先回到起始位置。
托板2的平均速度V为，V＝H/T1，其中H为所述高点位置与所述低点位置的高度差。
另外，由于，T2=2H/G,]]>其中G为重力加速度。
则根据T1＜T2，V满足下面条件V>HG/2.]]>该方法所使用的设备如图2所示，一种物体微跌测试装置，包括一个气缸1、一个与该气缸1相连的托板2、两个与该托板2相连的导轨3。导轨3的作用是辅助定向。
导轨3的数量和安装位置可根据需要确定，可以采用一个导轨，设置在该托板2的内部或边上，也可以采用两个以上的导轨，能够使托板2的运动更稳定。
该托板2上可设置多个被测物体7，同时对它们进行测试。各个被测物体7之间用隔板隔开。该隔板21可以与该托板2固定在一起，也可是固定在该设备的底座上的，可根据需要设置一个或多个该隔板21。
可利用一个水平测量仪4保持该托板处于水平位置。
可利用几个继电器(图中未示)控制气缸1的进气、出气，继电器的数量可以根据实际情况而定。
利用一个光电开关5来统计测试次数，通过一个外部的计算机控制测试过程，进行连续测试。
可通过一个高度调节装置调节高点位置，从而调节所述的高度差。该高度调节装置为一限位开关6。
上述各个部件均为现有技术，涉及的控制过程也可采用现有的方法进行。
使用时，气缸1托着该托板2和被测物体7到达由该限位开关6所设定的高点位置，然后在气缸1的带动下，迅速下降，被测物体7脱离该托板2做自由落体运动。托板2回到起始位置后处于水平静止状态，被测物体下落后撞击在处于起始位置的托板2上。
权利要求
1.一种物体微跌测试方法，其特征在于，其将被测物体放置在一个托板上，然后使该托板从高点位置快速下降，从而使被测物体在低点位置与该托板碰撞。
2.根据权利要求1所述的物体微跌测试方法，其特征在于，托板下降的平均速度V满足如下条件V>HG/2,]]>其中，G为重力加速度，H为所述高点位置与所述低点位置的高度差。
3.根据权利要求2所述的物体微跌测试方法，其特征在于，该托板在到达低点位置后处于水平静止状态。
4.根据权利要求3所述的物体微跌测试方法，其特征在于，通过一个高度调节装置调节高点位置，从而调节所述的高度差。
5.根据权利要求4所述的物体微跌测试方法，其特征在于，利用一个水平测量仪保持该托板处于水平位置。
6.根据权利要求5所述的物体微跌测试方法，其特征在于，该托板上放置多个被测物体，它们之间用隔板隔开。
7.一种用于权利要求1所述方法的物体微跌测试装置，包括一个气缸，其特征在于，其还包括一个与该气缸相连的托板。
8.根据权利要求7所述的物体微跌测试装置，其特征在于，该托板上设有至少一个用于隔开被测物体的隔板，各该隔板与该托板固定在一起。
9.根据权利要求8所述的物体微跌测试装置，其特征在于，其还包括一个水平测量仪，用于保持该托板处于水平状态。
10.根据权利要求9所述的物体微跌测试装置，其特征在于，其包括至少一个与该托板相连的导轨。
11.根据权利要求10所述的物体微跌测试装置，其特征在于，其还包括一个高度调节装置，其为一限位开关。
全文摘要
本发明公开了一种物体微跌测试方法，将被测物体放置在一个托板上，然后使该托板从高点位置快速下降，从而使被测物体在低点位置与该托板碰撞。本发明还公开了一种用于上述方法的物体微跌测试装置，包括一个气缸，还包括一个与该气缸相连的托板。本发明能够同时测试多个测试物体，提高了生产效率。
文档编号G01M7/08GK1979121SQ200510111358
公开日2007年6月13日 申请日期2005年12月8日 优先权日2005年12月8日
发明者刘贤琦 申请人:上海晨兴电子科技有限公司