专利名称：检测修复系统及检测修复方法
技术领域：
本发明涉及一种检测修复系统及检测修复方法，特别是涉及一种用以检测修复一有机发光面板或有机发光件的缺陷的检测修复系统及检测修复方法。
背景技术：
信息通讯产业已成为现今的主流产业，特别是可携带式的各种通讯显示产品更是发展的重点。而由于平面显示器是人与信息之间的沟通界面，因此其发展显得特别重要。目前应用在平面显示器的技术包括有电浆显示器(Plasma Display)、液晶显示器(Liquid Crystal Display)、无机电激发光显示器(Inorganic Electroluminescence Display)、发光二极管(LightEmitting Diode)、真空荧光显示器(Vacuum Fluorescence Display)、场致发射显示器(Field Emission Display)以及电变色显示器(Electro-Chromic Display)等等。
相较于其他平面显示器，有机发光面板或有机发光元件(以下总称为有机发光装置)以其自发光、无视角、省电、制程简易、低成本、操作温度广泛、高应答速度以及全彩化等等的优点，使其具有极大的浅力，因此可望成为下一代平面显示器的主流。
有机发光装置是一种利用有机官能性材料(organic functionalmaterials)的自发光的特性来达到显示效果的产品，依照有机官能性材料的分子量不同，其可分为小分子有机发光装置(small molecule OLED，SM-OLED)与高分子有机发光装置(polymer light-emitting device，PLED)两大类。其发光结构是由一对电极以及一位于电极之间的有机官能性材料层所构成。当电流通过二电极间，使电子和电洞会在有机官能性材料层内再结合而产生激子时，便可以使有机官能性材料层依照其材料特性，而产生不同颜色的放光机制。
在制造有机发光装置时，若有些许微粒附着于待镀膜的基板的表面时，将会使得镀膜后所形成的有机发光装置的像素表面产生膜层堆叠异常，甚至造成有机发光装置的像素的二电极间的短路现象，造成装置整体的亮度变差而使得有机发光装置的品质及可靠度受影响，因此，为确保产品出货品质，有机发光装置的检测及修复是为不可忽视的重要课题。
为解决上述问题，业者通常会利用一具有光学显微镜的检测机台以及一具有高能光束产生器的修复机台来进行有机发光装置的检测及修复。
承上所述，现有习知的检测方式利用一具有光学显微镜的检测机台以扫描的方式检视一有机发光装置的像素是否存在缺陷并将所检视出的缺陷所在位置作定位。之后再将有缺陷的有机发光装置移至具有高能光束产生器的修复机台作缺陷修复，其修复原理是利用高能光束产生器将所侦测到的缺陷以高能光束照射，以便将缺陷作一非接触式的隔绝。
就上述检测、修复方式而言，当检测出有机发光装置的像素存在缺陷之后，必须再将有机发光装置自测试机台移至修复机台，以便进行修复动作。然而，在实际作业上，当有机发光装置自测试机台移至修复机台上后，并无法即时针对有机发光装置的缺陷作修复动作，而是必须重新将缺陷位置再作一次搜寻、定位后，始能启动针对所侦测到的缺陷位置逐一修复。
此外，虽然附着于待镀膜的基板表面的微粒会造成镀膜后的有机发光装置产生膜层堆叠异常，甚至造成有机发光装置的画素的二电极间的短路现象，但是，当微粒颗粒极小时，即使有机发光装置产生膜层堆叠些微异常，仍不会造成有机发光装置的画素的二电极间的短路，此类缺陷在实际利用上事实上可忽略，不须作修复。然而现有习知的检测方式中，是利用光学显微镜以扫描的方式检视有机发光装置的缺陷，此方法并无法判断所检视的缺陷是否将造成二电极间的短路，因此在修复阶段时必须将所有检测出的缺陷一一修复，换言之，若以现有技术将所有存在的缺陷皆经过一一扫描、定位、再扫描、再定位、修复的步骤，则将造成制程上成本的耗费。
承上所述，如何有效率地检测、修复有机发光装置的缺陷，乃是当前有机发光装置生产上重要的课题之一。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种新的检测修复系统及检测修复方法，所要解决的技术问题是使其可有效率地检测、修复有机发光装置的缺陷，从而更加适于实用。
缘是，为达上述目的，依据本发明的检测修复系统是应用于有机发光装置(device)，且包括一测距仪、一处理控制器、一侦测器以及一高能光束产生器。在本发明中，测距仪是用以自动侦测有机发光装置的位置；处理控制器是与测距仪连结，并用以依据测距仪的侦测结果产生一第一控制信号，以便自动调整-侦测器与有机发光装置的相对位置；侦测器是侦测有机发光装置的至少一缺陷位置，而处理控制器是依据所侦测出的缺陷位置资料产生一第二控制信号；高能光束产生器是与处理控制器连结，并依据第二控制信号来产生一高能光束，其是聚焦于缺陷位置以隔离缺陷位置。
另外本发明还揭露一种检测修复方法，其是应用于有机发光装置，并包括以下步骤利用一测距仪自动侦测有机发光装置的位置；利用一与测距仪连结的处理控制器以依据测距仪的侦测结果产生一第一控制信号；依据第一控制信号自动调整一侦测器与有机发光装置的相对位置；将有机发光装置的待检测区域通以一偏压；利用侦测器侦测有机发光装置的至少一缺陷位置；依据所侦测出的缺陷位置以利用处理控制器产生一第二控制信号；以及利用一高能光束产生器并依据第二控制信号来产生一聚焦于缺陷位置的高能光束，以便将某一缺陷位置隔离。
再者，本发明更提出另一种检测修复系统，应用有机发光装置(device)，包括一处理控制器、一侦测器以及一高能光束产生器。在本发明中，处理控制器是依据有机发光装置的位置，产生一第一控制信号；侦测器是侦测有机发光装置的至少一缺陷位置，而处理控制器是依据所侦测出的缺陷位置资料产生一第二控制信号；高能光束产生器是与处理控制器连结，并依据第二控制信号来产生一高能光束，其是聚焦于缺陷位置以隔离缺陷位置。
承上所述，因依据本发明的检测修复系统及检测修复方法是于侦测缺陷位置时，先利用测距仪及处理控制器来自动调整有机发光装置与侦测器的相对位置，再将有机发光装置的待检测区域通以偏压，并利用侦测器侦测出缺陷位置(如产生微光现象的缺陷位置)；接着利用高能光束将缺陷位置隔离，因此不必使用两种机台来完成检测、修复，而且可以自动定位有机发光装置，以减少人为操作可能产生的错误及人力资源的浪费。因此，依据本发明的检测修复系统及检测修复方法可以有效率地检测、修复有机发光装置的缺陷。
经上述可知，本发明是有关于一种检测修复系统及检测修复方法。该检测修复系统，其是应用于有机发光装置(device)，包括一测距仪、一处理控制器、一侦测器以及一高能光束产生器。其中，测距仪自动侦测有机发光装置的位置；处理控制器依据测距仪的侦测结果产生一第一控制信号，以自动调整侦测器与有机发光装置的相对位置；侦测器侦测有机发光装置的缺陷位置，而处理控制器依据所侦测出的缺陷位置资料产生一第二控制信号对位；高能光束产生器依据第二控制信号产生一高能光束，其是聚焦于缺陷位置以隔离缺陷位置。另外，本发明亦提供一种应用于上述检测修复装置的检测修复方法。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如。
图1为一示意图，显示依据本发明较佳实施例的检测修复系统的示意图。
图2为一示意图，显示如图1所示的检测修复系统的示意图，其中有机发光装置与高能光束产生器的距离是调整为适当距离。
图3为一流程图，显示依据本发明较佳实施例的检测修复方法的流程。
1检测修复系统11测距仪13处理控制器 131显示器15侦测器 17高能光束产生器19承载平台 191电源供应部193正电源端子195负电源端子3有机发光装置31缺陷位置Di原始距离 D2适当距离S01～S07检测修复方法的步骤具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的检测修复系统及检测修复方法其具体实施方式
、结构、方法、步骤、特征及其功效，详细说明如后，其中相同的元件将以相同的参照符号加以说明。在此须再次说明的是，于本实施例中所述的有机发光装置是包括有机发光面板及有机发光元件。
请参阅图1及图2所示，依本发明较佳实施例的检测修复系统1包括一测距仪11、一处理控制器13、一侦测器15、一高能光束产生器17、一光学放大器18以及一承载平台19。
测距仪11是用以自动侦测一有机发光装置3的位置；侦测器15是透过光学放大器18侦测有机发光装置3的至少一缺陷位置31；处理控制器13是分别与测距仪11、侦测器15、高能光束产生器17及光学放大器18连结，处理控制器13是依据测距仪11的侦测结果产生一第一控制信号，以便自动定位有机发光装置3与侦测器15。在本实施例中，测距仪11是为一激光定焦器，其是发出一侦测信号(如激光光束)以便判断出有机发光装置3与侦测器15之间的原始距离D1，于此，由于侦测器15是透过光学放大器18来侦测有机发光装置3的待检测区域，所以原始距离D1是为光学放大器18与有机发光装置3的距离(如图1所示)，此时，测距仪11会将侦测结果传送至处理控制器13，以便由处理控制器13判断原始距离D1是否为一适当操作距离；若处理控制器13判断原始距离D1非为一适当操作距离时，处理控制器13会产生第一控制信号，以便利用第一控制信号来控制相对移动有机发光装置3及侦测器15(或光学放大器18)，使得有机发光装置3及侦测器15(或光学放大器18)之间的距离改变为一适当距离D2，于此，由于侦测器15是透过光学放大器18来侦测有机发光装置3的待检测区域，所以改变后的适当距离D2是为光学放大器18与有机发光装置3的距离(如图2所示)。其中，处理控制器13可以为一电脑，其更包括一显示器131，其是与处理控制器13连结，用以显示处理控制器13所输出的画面。另外，高能光束产生器17所产生的高能光束可以为特定波长的激光或是具有高能量的光束，足以对缺陷位置进行隔绝的功能。
承上所述，测距仪11为侦测距离的一种仪器，其功能在于作为辅助修正有机发光装置3与侦测器15(或光学放大器18)的距离的依据，可以利用激光、红外线、超音波作为侦测距离的信号，且其信号可以通过光学放大器18或不经由光学放大器18，而本实施例的测距仪11可以相对为雷测测距仪、红外线测距仪、超音波测距仪。此外，欲达到辅助修正有机发光装置3与侦测器15(或光学放大器18)的距离的方式除了使用上述的测距仪11之外，尚可利用一影像比对方式进行，光学影像可从光学放大器18中取得，并藉由处理控制器13以影像对比处理的方式得到修正至正确的适当距离D2的依据。
再者，光学放大器18为一光学机构，用途在于将影像放大，以作为缺陷影像侦测与高能光束隔离缺陷位置用，其中可包括不同倍率的光学放大镜组或CCD光耦合元件，本案中所提及的高能光束产生器17所产生的高能光束，可以藉由此一光学放大器18对缺陷位置作定位以达到隔绝的效果。需注意的，高能光束产生器17所产生的高能光束的直径大小亦可先受控制，以便不经由光学放大器18、直接将高能光束聚焦至缺陷位置，以隔绝缺陷位置。
另外，承载平台19是承载有机发光装置3，而且承载平台19是接收第一控制信号，以便依据第一控制信号来相对移动有机发光装置3及光学放大器18。在本实施例中，承载平台19可以单独移动有机发光装置3或移动光学放大器18，或是同时移动有机发光装置3及光学放大器18，以便将有机发光装置3及光学放大器18之间的距离自动调整为适当距离D2；其中，承载平台19是为一三轴移动定位平台。除此之外，亦可以于光学放大器18上加装另一三轴移动控制机构以达成移动有机发光装置3及光学放大器18的距离至适当距离D2，进而能够控制侦测器15所侦测的缺陷位置与光学放大器18的对位动作。
另外，承载平台19上是设有一电源供应部191，电源供应部191是分别具有一正电源端子193及一负电源端子195，当微光侦测器15欲侦测是否有微光现象时，有机发光装置3是由电源供应部191提供负向偏压或微量正向偏压，此一偏压将会使形成短路的缺陷位置产生微光现象(如图2中虚线所示)。值得一提的是，此时，处理控制器13是更依据所侦测出的缺陷位置31产生一第二控制信号及一第三控制信号，承载平台19及高能光束产生器17是分别依据处理控制器13所产生的第三控制信号及第二控制信号做动，其中承载平台19是依据第三控制信号相对移动高能光束产生器17(及/或光学放大器18)与有机发光装置3，以便让高能光束产生器17(透过光学放大器18)对准有机发光装置3的缺陷位置31，接着高能光束产生器17是依据第二控制信号产生一高能光束，此高能光束是聚焦于缺陷位置31以隔离缺陷位置，如此即可将一有机发光装置的待检测区域中的缺陷修复。
如前所述，侦测器15是为一微光侦测器，而缺陷位置31是产生微光现象，以便微光侦测器侦测出产生微光现象的缺陷位置31。需注意者，上述的缺陷位置31处所产生的微光现象可以是由包括光子(photon)、红外光(infrared，IR)、及/或热能(thermal)所产生，而其相对的微光侦测器15是为光子侦测器、红外线侦测器及热能侦测器。
以下将依据图3来具体说明本发明较佳实施例的检测修复方法。为便于说明，于本实施例中将引用上述实施例中的图号说明。
如图3所示，本发明的检测修复方法是包括以下步骤利用一测距仪(如激光定焦器)自动侦测有机发光装置的位置(步骤S01)；依据测距仪的侦测结果以利用一处理控制器产生一第一控制信号(步骤S02)；依据第一控制信号自动调整一侦测器(如微光侦测器)与有机发光装置的相对位置(步骤S03)；将有机发光装置的待检测区域通以一偏压(步骤S04)；利用一侦测器侦测有机发光装置(产生微光现象)的至少一缺陷位置(步骤S05)；依据所侦测出的缺陷位置以利用处理控制器产生一第二控制信号(步骤S06)；以及依据第二控制信号以利用高能光束产生器产生一聚焦于缺陷位置的高能光束，以便将缺陷位置隔离(步骤S07)。
而，为使高能光束产生器17所产生的高能光束能准确地射到并聚焦于有机发光装置3的缺陷位置31处，处理控制器13是产生第三控制信号，以作动一承载平台19。而有机发光装置3是置于承载平台19上。因此，能够相对移动侦测器17与有机发光装置3以调整其相对位置，进而能够让高能光束准确地聚焦于有机发光装置3的缺陷位置31上，或是让高能光束准确地透过一光学放大器18聚焦于有机发光装置3的缺陷位置31上。
承上所述，由于本发明检测修复系统及方法能够于侦测缺陷位置时，先利用激光测距仪及处理控制器来自动调整有机发光装置与(微光)侦测器(及光学放大器)的相对位置，再将有机发光装置的待检测区域通以偏压，并利用(微光)侦测器侦测出(产生微光现象的)缺陷位置；接着利用高能光束将缺陷位置隔离，因此不必使用两种机台来完成检测、修复，而且可以自动调整、定位有机发光装置，以减少人为操作可能产生的错误及人力资源的浪费。因此，依据本发明的检测修复系统及检测修复方法可以在侦测有机发光装置时直接判断出需要修复的缺陷，且能够自动地调整有机发光装置与高能光束产生器的相对位置，不但使整个检测修复方法得以简化并节省检测修复的成本，也能够有效率地检测、修复有机发光装置的缺陷。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的方法及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例，但是凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种检测修复系统，其是应用于有机发光装置，其特征在于其包括一测距仪，其是用以自动侦测有机发光装置的位置；一处理控制器，其是与测距仪连结，依据测距仪的侦测结果，产生一第一控制信号；一侦测器，其是与处理控制器连结，依据第一控制信号自动调整侦测器与有机发光装置的相对位置，并侦测有机发光装置的至少一缺陷位置，处理控制器是依据所侦测出的缺陷位置产生一第二控制信号；以及一高能光束产生器，其是与处理控制器连结，装置并依据第二控制信号来产生一聚焦于缺陷位置的高能光束，以隔离缺陷位置。
2.一种检测修复方法，其是应用于有机发光装置，其特征在于检测修复方法包括以下步骤利用一测距仪自动侦测有机发光装置的位置；依据测距仪的侦测结果以利用一处理控制器产生一第一控制信号；依据第一控制信号自动调整一侦测器与有机发光装置的相对位置；将有机发光装置的待检测区域通以一偏压；利用侦测器侦测有机发光装置的至少一缺陷位置；依据所侦测出的缺陷位置以利用处理控制器产生一第二控制信号；以及依据第二控制信号以利用一高能光束产生器产生一聚焦于缺陷位置的高能光束，以便将缺陷位置隔离。
3.一种检测修复系统，其是应用于有机发光装置，其特征在于其包括一处理控制器，其是依据有机发光装置的位置，产生一第一控制信号；一侦测器，其是与处理控制器连结，以依据第一控制信号自动调整侦测器与有机发光装置的相对位置，并侦测有机发光装置的至少一缺陷位置，处理控制器是依据所侦测出的缺陷位置，产生一第二控制信号；以及一高能光束产生器，其是与处理控制器连结，并依据第二控制信号来产生一聚焦于缺陷位置的高能光束，以隔离缺陷位置。
4.根据权利要求3所述的检测修复系统，其特征在于更包括一承载平台，其是承载有机发光装置，其中处理控制器更依据所侦测出的缺陷位置资料产生一第三控制信号，承载平台是依据第三控制信号相对移动有机发光装置及高能光束产生器，以针对缺陷位置与高能光束产生器作对位动作，并使得高能光束聚焦于缺陷位置。
5.根据权利要求4所述的检测修复系统，其特征在于其中承载平台更设有一电源供应部，当侦测器侦测缺陷位置时，有机发光装置是由电源供应部提供一负向偏压。
6.根据权利要求4所述的检测修复系统，其特征在于其中承载平台更设有一电源供应部，当侦测器侦测缺陷位置时，有机发光装置是由电源供应部提供一微量正向偏压。
7.根据权利要求4所述的检测修复系统，其特征在于其中承载平台是为一三轴移动定位平台。
8.根据权利要求3所述的检测修复系统，其特征在于更包括一光学放大器，其是用以将有机发光装置的待检测区域影像放大，其中侦测器更与光学放大器连结，并自光学放大器所放大的影像中侦测出缺陷位置高能光束产生器，更与光学放大器连结，以便经由光学放大器射出高能光束。
9.根据权利要求3所述的检测修复系统，其特征在于更包括一显示器，其是与处理控制器连结，用以显示处理控制器所输出的画面。
10.根据权利要求3所述的检测修复系统，其特征在于其中有机发光装置是为有机发光面板或有机发光元件。
11.根据权利要求3所述的检测修复系统，其特征在于其中侦测器是为一微光侦测器，而缺陷位置是产生微光现象，以便微光侦测器侦测出产生微光现象的缺陷位置。
12.根据权利要求11所述的检测修复系统，其特征在于其中微光侦测器是为一光子侦测器、红外光侦测器或热能侦测器。
13.根据权利要求3所述的检测修复系统，其特征在于更包括一激光测距仪，其是用以自动侦测有机发光装置的位置，以提供处理控制器依据测距仪所侦测出的有机发光装置的位置产生第一控制信号。
全文摘要
本发明是关于一种检测修复系统及检测修复方法。该检测修复系统，其是应用于有机发光装置(device)，包括一测距仪、一处理控制器、一侦测器以及一高能光束产生器。其中，测距仪自动侦测有机发光装置的位置；处理控制器依据测距仪的侦测结果产生一第一控制信号，以自动调整侦测器与有机发光装置的相对位置；侦测器侦测有机发光装置的缺陷位置，而处理控制器依据所侦测出的缺陷位置资料产生一第二控制信号对位；高能光束产生器依据第二控制信号产生一高能光束，其是聚焦于缺陷位置以隔离缺陷位置。另外，本发明亦提供一种应用于上述检测修复装置的检测修复方法。
文档编号G01N21/88GK1937871SQ20051010496
公开日2007年3月28日 申请日期2005年9月22日 优先权日2005年9月22日
发明者廖孟杰, 陈济中, 廖建硕 申请人:铼宝科技股份有限公司