专利名称：一种测试仪器的测试棒及其制造方法
技术领域：
本发明涉及一种测试仪器(如万用表)的测试棒及其制造方法。
背景技术：
图1所示为传统测试仪器的测试棒，它是主要由香蕉插头1、导线2、测试长杆3和铜杆4四部分组成。在测试棒中铜杆一般用2mm的圆铜杆做成，其铜杆4前端探针部分为短形锥头，如图2所示，当需用它来测试较精密的电路时，测试棒的铜杆4尖头41显得较粗，太大，使用者难以触到需要的测试点而又不碰到旁边的线路。这时使用者往往将铜杆4尖头41锉尖，如图3所示。由于铜材太软且尖头部太细，容易折断，特别在是测试时稍许施压，尖头41部容易弯曲折断。因此，另有一些使用者将缝衣针焊在铜杆4旁侧，如图4所示。然而缝衣针的头部尖且硬，虽能够满足使用者的测试要求，但缝衣针和铜杆很难焊接在一起，也不够专业，而且缝衣针在测试时稍许施压容易弯曲，影响测试。
发明内容
本发明旨在提供一种其头部探针部分具有坚硬、耐磨、超尖且不容易折断特性的测试棒，及其制造方法，以满足使用者测试精细元件和超细电路的需求。
本发明所提供的一种测试仪器的测试棒，包括铜杆，其特征在于，它还包括一探针，其中所述铜杆前端面设有一盲孔，所述探针镶嵌于该盲孔中。
在上述的测试棒中，探针是由硬合金材料制成。
在上述的测试棒中，铜杆的前端部呈收缩状。
本发明还提供了一种测试棒的制造方法，包括下列步骤钻孔步骤在测试棒的铜杆前端面钻有一盲孔；镶嵌步骤将探针镶嵌于所述盲孔中。
在上述的测试棒的制造方法中，探针的镶嵌部分是用外力挤压镶嵌于所述盲孔中。
在上述的测试棒的制造方法中，在钻孔步骤之前，还包括将铜杆的端部进行锉磨的步骤，以使铜杆端部呈收缩状。
在上述的测试棒的制造方法中，探针选用硬合金材料制成。
由于采用了上述的技术解决方案，即位于铜杆前端的探针是镶嵌于铜杆的中间，并且探针采用硬质合金材料制成，从而使探针具有坚硬、耐磨、超尖且不容易折断的特性，以满足使用者测试精细元件和超细电路的需求。
图1是传统测试仪器的测试棒的第一种结构示意图；图2是图1中的局部放大图；图3是传统测试仪器的测试棒的第二种结构示意图；图4是传统测试仪器的测试棒的第三种结构示意图；图5是本发明测试棒的结构示意图；图6是图5中的局部放大示意图。
具体实施例方式
本发明之一，一种测试仪器的测试棒。
如图5～6所示，本发明测试棒，由香蕉插头1、导线2、长杆3、铜杆4′和探针5所组成，铜杆4′的前端部呈收缩状，端面设有一盲孔，探针5镶嵌于该盲孔中。
探针5是由硬合金材料制成。
本发明之二，一种测试棒的制造方法。
该方法包括下列步骤锉磨步骤将铜杆的端部进行锉磨，以使铜杆端部呈收缩状；钻孔步骤在测试棒的铜杆前端面钻有一盲孔；镶嵌步骤将探针用外力挤压让尾部镶嵌于上述盲孔中。
探针选用硬合金材料制成。
由于上述探针5采用硬质合金材料制成，因此，具有耐磨，超尖，超硬的特性，能满足使用者测试精细元件和超细电路的要求。
虽然本发明结构和方法已参照当前的具体实例进行了描述，但是本技术领域的普通技术人员应该认识到，以上的实例仅是用来说明本发明，在没有脱离本发明精神的情况下还可作出各种等效的变化和修改。因此，只要在本发的实质精神范围内对上述实例的变化，变型均将落在本发明的权利要求书的范围之内。
权利要求
1.一种测试仪器的测试棒，包括铜杆，其特征在于，它还包括一探针，其中所述铜杆前端面设有一盲孔，所述探针镶嵌于该盲孔中。
2.根据权利要求1所述的测试棒，其特征在于；所述的探针是由硬合金材料制成。
3.根据权利要求1或2所述的测试棒，其特征在于；所述铜杆的前端部呈收缩状。
4.一种如权利要求1所述的测试棒的制造方法，其特征在于包括下列步骤钻孔步骤在测试棒的铜杆前端面钻有一盲孔；镶嵌步骤将探针镶嵌于所述盲孔中。
5.根据权利要求4所述的测试棒的制造方法，其特征在于所述镶嵌步骤中，所述探针的镶嵌部分是用外力挤压镶嵌于所述盲孔中。
6.根据权利要求4或5所述的测试棒的制造方法，其特征在于在所述钻孔步骤之前，还包括将铜杆的端部进行锉磨的步骤，以使铜杆端部呈收缩状。
7.根据权利要求4所述的测试棒的制造方法，其特征在于所述探针选用硬合金材料制成。
全文摘要
本发明涉及一种测试仪器的测试棒及其制造方法，在测试棒结构中，铜杆前端面设有一盲孔，探针镶嵌于该盲孔中，并且探针是由硬合金材料制成。本发明使得探针具有坚硬、耐磨、超尖且不容易折断的特性，以满足使用者测试精细元件和超细电路的需求。
文档编号G01R15/12GK1932528SQ200510029560
公开日2007年3月21日 申请日期2005年9月12日 优先权日2005年9月12日
发明者章鸿斌 申请人:章鸿斌