专利名称：光学测量装置的利记博彩app
技术领域：
本实用新型涉及一种光学测量装置，特别是一种可测量不同温度的光学组件的光学测量装置。
在一般的制造过程中，光学组件必需经过光学测量装置的测量以确保光学组件的良率。如
图1所示，操作者将待测的光学组件4直立置于光学测量装置3的展示台31上进行测量，测量时光源从一第一光纤准直器32射入光学组件4中，通过光学组件4的光线再进入一第二光纤准直器33中，该光线再传入光侦测器中(未显示于图)，所得所需的穿透光谱图。当第一光纤准直器32射入光学组件4的光源反射回第一光纤准直器32时，该光线也传入光侦测器中，转换成所需的反射光谱图。
然而，光学组件经常需要在不同的工作温度下测量其光谱图，现有的光学测量装置并无此种功能。并且，光学组件直立设置于展示台上，容易产生倾斜的问题，所得光谱图的再现性以及精准度都低。同时，由于光学装置是一平置式装置，在一定的区域中，每单位面积的产能较小。再者，置换光学组件时需花费较长的时间，也增加制造成本。
为实现上述目的，本实用新型提供一种光学测量装置，测量一光学组件，光学测量装置包含一基座、一第一光纤对准器、一第一光纤、一第二光纤对准器、一第二光纤、一置放台以及一变温器。其中，第一光纤对准器设置于基座之上；第一光纤定位于第一光纤对准器上，随第一光纤对准器调整而移动；第二光纤对准器设置于基座之上，且与第一光纤对准器相对而设；第二光纤定位于第二光纤对准器，随第二光纤对准器调整而移动；置放台设置于第一光纤对准器与第二光纤对准器之间，以置放光学组件；变温器设置于置放台的下方，且随所需的测量温度而改变置放台的温度。
与现有技术相比，在本实用新型中提供一种可测量不同工作温度的光学测量装置，其利用变温器以及温度控制器精密调整与控制光学组件的温度。同时，在一定的区域中，直立式的光学测量装置其每单位面积的产能较大。再者，置放台具有一漏斗状特征，使用者能够轻易地放置光学组件，减少更换的时间。并且，光学组件平置于置放台上，使其定位方便，所测量的精准度、再现性以及重现性较好。另外，进行测量时只需利用置放台的旋转轴来调整光学组件的位置与角度，在进行重复测量时，也可减少操作的时间，进而降低制造成本。
图2为本实施例中的光学测量装置的示意图。
图3为本实施例中的第一光纤准直器的示意图。
图4为本实施例中的第二光纤准直器的示意图。
图5为本实施例中的置放台的示意图。
图6为本实施例中的变温器的示意图。
如图2所示，本实用新型提供一种光学测量装置1，测量一光学组件2，光学测量装置1包含一基座11、一第一光纤对准器12、一第一光纤13、一第二光纤对准器14、一第二光纤15、一置放台16以及一变温器17。
其中，第一光纤对准器12设置于基座11之上；第一光纤13定位于第一光纤对准器12上，随第一光纤对准器12调整而移动；第二光纤对准器14设置于基座11之上，且与第一光纤对准器12相对而设；第二光纤15系位于第二光纤对准器14，随第二光纤对准器14调整而移动；置放台16设置于第一光纤对准器12与第二光纤对准器14之间，以置放光学组件2；变温器17设置于置放台16的下方，且随所需的测量温度而改变置放台16的温度。
本实施例的一种光学测量装置1还包含一温度控制器18，以一管线与变温器17相连接，控制变温器17以改变置放台16的温度变化。
如图3所示，第一光纤对准器12设置于基座11之上。第一光纤对准器12为一二轴位移平台，具有一第一旋转轴121、一第二旋转轴122。其中，第一旋转轴121使第一光纤对准器12沿着X轴移动；第二旋转轴122使第一光纤对准器12沿着Y轴移动，第一旋转轴121与第二旋转轴122均有微调的功能。当然，第一光纤对准器12也可以一四轴位移平台替代。
另外，第一光纤13定位于第一光纤对准器12上，随第一光纤对准器12调整而移动。在此，第一光纤13为一双心光纤，同时可为一发射光纤，用以发射一光线；也可为一接收光纤，用以接收一光线。
如图4所示，第二光纤对准器14设置于基座11之上，且与第一光纤对准器12相对而设。第二光纤对准器14为一四轴位移平台，具有一第一旋转轴141、一第二旋转轴142、一第三旋转轴143以及一第四旋转轴144。其中，第一旋转轴141使第二光纤对准器14沿着X轴移动；第二旋转轴142使第二光纤对准器14沿着Y轴移动；第三旋转轴143使第二光纤对准器14沿着X轴旋转；第四旋转轴144使第二光纤对准器14沿着Y轴旋转。该等旋转轴也有微调的功能。
在此，如图4所示，第二光纤15定位于第二光纤对准器14，随第二光纤对准器14调整而移动。第二光纤15也为一双心光纤，同时可为一发射光纤，用以发射一光线；也可为一接收光纤，用以接收一光线。
再请参考图5所示，置放台16为一具有漏斗形置放口特征的平台，其特征是让操作者能够将测量的光学组件2轻易地置放且定位于平台上，减少使用者在置换光学组件2时所花费的时间。再者，光学组件2平置于置放台16上，可减少位移的产生，使得光学组件的2定位更加容易，进而增加测量的再现性、重复性以及精确性。当然，置放台16也可为不同形式的平台，例如L形的置放台。
如同第二光纤对准器14，置放台16为一四轴位移平台，具有一第一旋转轴161、一第二旋转轴162、一第三旋转轴163以及一第四旋转轴164。其中，第一旋转轴161使置放台16沿着X轴移动；第二旋转轴162使置放台16沿着Y轴移动；第三旋转轴163使置放台16沿着X轴旋转；第四旋转轴164使置放台16沿着Y轴旋转。在此，该等旋转轴也有微调的功能。
再请参考图6，本实施例的变温器17设置于置放台16的下方，且随所需的测量温度而改变置放台16的温度，用以改变待测光学组件2的温度，以测量不同温度下光学组件2的光谱图。
在此，变温器17为一电热冷却组件(thermolectric chiller element，TEC element)，其为一用以加热/冷却的组件。电热冷却组件包含一组电热组件、一传导板以及一翼片加热槽，该组电热组件如三明治般的设置于传导板与翼片加热槽之间，此设置方式利于将热散至空气中。
变温器17以一管线与温度控制器18相连接，且温度控制器18控制变温器17达到所需的温度。亦即，当实际温度大于所需温度时，利用变温器17冷却置放台16；当实际温度小于所需温度时，利用变温器17加热置放台16。使用温度控制器18可以精密控制温度的变化，在操作时更能够轻易地调整至欲测量的温度。
此外，如图2所示，本实施例中的第一光纤13、光学组件2与第二光纤15位于一直线上。
于本实施例中，某一范围波长的光线由第一光纤13射入置放于置放台16的光学组件2(如高密度多任务分合器，DWDM)，穿透过光学组件2的光线，接着进入第二光纤15中，穿过第二光纤15的光线再传入光侦测器(未显示于图中)，最后得到光学组件2的一穿透光谱图。
另外，当光线由第一光纤13射入置放于置放台16的光学组件2，光学组件2所反射的光线，再次进入第一光纤13中，穿过第一光纤13的光线再传入光侦测器，最后得到光学组件2的一反射光谱图。
相同地，光线也可由第二光纤15射入光学组件2中，侦测其穿透光谱以及反射光谱。
本实施例中的光侦测器用以侦测通过光学组件2的一光线，且分别与第一光纤13以及第二光纤15相连接。
在进行测量前，利用第一光纤对准器12以及第二光纤对准器14的旋转轴，可以精确调整光源发射以及接收二端的角度与位置，在进行对准校正之后，即可固定不动，重复进行测量。接着，在进行光学测量时，只需利用置放台16的旋转轴调整光学组件2的位置与角度，而不必再次调整第一光纤对准器12以及第二光纤对准器14，可减少因调整所花费的时间，进而使操作更加方便。利用变温器17以及温度控制器18可以精确调整不同的工作温度(working temperature)，测量不同温度下光学件2的光谱图，也可大幅缩短测量的时间。
于本实施例中，光学测量装置1为一直立式的测量装置。于一定的区域中，每单位面积的产能较大，在实际生产中的利用性也较高。
本实用新型所提供的光学测量装置，利用一变温器来控制置放台的温度，用以测量不同工作温度条件下的光学组件的光谱图。与现有技术相比，本实用新型利用变温器与温度控制器来控制置放台的温度，进而改变待测光学组件的温度，使其可在短时间内精密测量不同工作温度的光学组件，得到不同温度的光谱图。另外，本实用新型具有一漏斗形特征的置放台，能让使用者轻易地将待测的光学组件置放于置放台中，减少更换光学组件所花费的时间。同时，平置的光学组件不易造成位移，定位方便，进而增加测量的精确性、重复性以及再现性。再者，本实用新型在进行测量时只需利用置放台的旋转轴调整光学组件的位置与角度，当进行重复测量时，使其操作容易，也可减少操作的时间。另外，直立型的特征与平面式光学测量装置相比，也增加每单位面积的产量，符合实际利用上的要求。
上述仅为例示性的，而非为限制性的。任何未脱离本实用新型的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于本实用新型的权利要求范围之中。
权利要求1.一种光学测量装置，测量一光学组件，其特征在于，该光学测量装置包含一基座；一第一光纤对准器，系设置于该基座之上；一第一光纤，定位于该第一光纤对准器上，随该第一光纤对准器调整而移动；一第二光纤对准器，设置于该基座之上，且与该第一光纤对准器相对而设；一第二光纤，定位于该第二光纤对准器，随该第二光纤对准器调整而移动；一置放台，设置于该第一光纤对准器与该第二光纤对准器之间，以置放该光学组件；以及一变温器，设置于该置放台的下方，且随所需的测量温度而改变该置放台的温度。
2.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于还包含一温度控制器，以一管线与该变温器相连接，控制该变温器以改变该置放台的温度变化。
3.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于该第一光纤、该光学组件与该第二光纤位于一直线上。
4.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于该第一光纤为一发射光纤。
5.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于该第一光纤为一接收光纤。
6.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于该第二光纤为一发射光纤。
7.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于该第二光纤为一接收光纤。
8.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于该第一光纤对准器为一四轴位移平台。
9.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于该第一光纤对准器为一二轴位移平台。
10.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于该第二光纤对准器为一四轴位移平台。
11.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于该第二光纤对准器为一二轴位移平台。
12.如权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于该置放台为一四轴位移平台。
专利摘要本实用新型提供一种光学测量装置，测量一光学组件，光学测量装置包含一基座、一第一光纤对准器、一第一光纤、一第二光纤对准器、一第二光纤、一置放台以及一变温器。其中，第一光纤对准器设置于基座之上；第一光纤定位于第一光纤对准器上，随第一光纤对准器调整而移动；第二光纤对准器设置于基座之上，且与第一光纤对准器相对而设；第二光纤定位于第二光纤对准器，随第二光纤对准器调整而移动；置放台设置于第一光纤对准器与第二光纤对准器之间，以置放光学组件；变温器设置于置放台的下方，且随所需的测量温度而改变置放台的温度。
文档编号G01B11/00GK2549429SQ02239300
公开日2003年5月7日 申请日期2002年6月28日 优先权日2002年6月28日
发明者陈士恩 申请人:精碟科技股份有限公司