电子元件测试分类设备的制造方法
【专利摘要】本发明提供一种电子元件测试分类设备，有供料装置、收料装置、测试装置及输送装置，该供料装置容纳复数个电性接点朝上的待测电子元件，收料装置容纳复数个不同等级的完测电子元件，测试装置设于测试区的上方，以对电性接点朝上的电子元件执行测试作业，该输送装置设有至少一入料移载臂、至少一出料移载臂及至少一测试移载臂，该入料移载臂系自上方将供料装置处电性接点朝上的电子元件移载至位于第一交换区的测试移载臂，该测试移载臂则自下方承载电子元件并移载至测试区，将电子元件以电性接点朝上的方式与测试装置电性连接并执行测试作业，完测后再将电子元件移载至第二交换区，由出料移载臂自上方将电子元件移载至收料装置，并执行分类作业。
【专利说明】
电子元件测试分类设备
技术领域
[0001]本发明涉及一种利用电子元件电性接点朝上移载及测试的方式，以有效简化输送路径，并达到有效降低设备成本及提升测试产能的电子元件测试分类设备。
【背景技术】
[0002]按，现今科技在不断研发与创新下，以往必需由许多大型电子电路结合才能完成的工作已完全由集成电路(integrated circuit，简称IC)所取代，由于IC在生产过程中乃经过多道的加工程序，因此为了确保产品品质，业者于IC制作完成后，均会进行电路测试作业，以检测出IC于制作过程中，是否遭受损坏，进而检测出不良品。
[0003]请参阅图1，其是本
【申请人】先前申请之中国台湾发明第I 468329号电子元件拾料单元及其应用的测试设备专利案，其测试设备系于机台10上配置有供料装置11、收料装置12、测试装置13及输送装置14，该供料装置11容纳复数个电性接点朝下的待测电子元件，收料装置12容纳复数个不同等级的完测电子元件，测试装置13设于测试区的下方，以对电性接点朝下的电子元件执行测试作业，该输送装置14设有一可作X-Y-Z三轴向移动的入料移载臂141及出料移载臂142，以分别于上方移载供料装置11的待测电子元件以及将完测电子元件移载至收料装置12分类放置，另于测试装置13的二恻分别设有Y-Z 二轴向移动的第一下压臂143及第二下压臂144，以分别将待测电子元件移入测试装置13，并下压执行测试作业，为了使入料移载臂141上电性接点朝下的待测电子元件可转交给第一下压臂143或第二下压臂144移入至测试装置13，输送装置14另设有第一入料载台145及第二入料载台146，而供入料移载臂141自上方置入待测电子元件后，第一入料载台145及第二入料载台146再分别作X轴向移动至第一下压臂143及第二下压臂144的侧方，第一下压臂143及第二下压臂144接着分别作Y-Z 二轴向移动，而可分别自上方将第一入料载台145及第二入料载台146上的待测电子元件取出并移入至测试装置13下压执行测试作业；另为了使第一下压臂143及第二下压臂144上电性接点朝下的完测电子元件可转交给出料移载臂142移载至收料装置12分类放置，输送装置14另设有第一出料载台147及第二出料载台148，而于第一出料载台147及第二出料载台148分别作X轴向移动至第一下压臂143及第二下压臂144的侧方后，供第一下压臂143及第二下压臂144自上方置入完测电子元件，第一出料载台147及第二出料载台148再分别作X轴向移动，以供出料移载臂142自上方将第一出料载台147及第二出料载台148上的完测电子元件移载至收料装置12分类放置。该设计由于入料移载臂141、第一下压臂143、第二下压臂144及出料移载臂142都是自上方吸取移载电子元件，因此当入料移载臂141上的待测电子元件要转交给第一下压臂143或第二下压臂144移入测试装置13时，或者是第一下压臂143或第二下压臂144上的完测电子元件要转交给出料移载臂142移载至收料装置12时，都必须通过第一入料载台145及第二入料载台146，或者是第一出料载台147及第二出料载台148所提供转乘的作用，才能作电子元件的交换移载；然而，由于该输送装置14必须设有第一入料载台145、第二入料载台146、第一出料载台147及第二出料载台148，因此出现以下的问题:
[0004]1.机构及输送路径较为复杂:该输入装置14由于必须设有可作X轴向移动的第一入料载台145、第二入料载台146、第一出料载台147及第二出料载台148，因此不仅机构较为复杂，且必须通过第一入料载台145、第二入料载台146、第一出料载台147及第二出料载台148作X轴向移动的移载，而增加输送路径的复杂度，而影响设备的成本。
[0005]2.交换移载的次数及时间较多:该输入装置14的入料移载臂141由于必须通过第一入料载台145及第二入料载台146的移载，才能将待测电子元件转交给第一下压臂143或第二下压臂144移入测试装置13，以及第一下压臂143及第二下压臂144必须通过第一出料载台147或第二出料载台148的移载，才能将完测电子元件转交给出料移载臂142移载至收料装置12，因此不仅交换移载的次数较多，且造成交换移载的时间过长，而影响测试的产能。
【发明内容】
[0006]有鉴于此，本发明人遂以其多年从事相关行业的研发与制作经验，针对目前所面临的问题深入研究，经过长期努力的研究与试作，终究研创出一种不仅可有效降低设备成本，且可有效提升测试产能的测试分类设备，以有效改善【背景技术】的缺点，此即为本发明的设计宗旨。
[0007]为实现上述目的，本发明采用的技术方案是:
[0008]—种电子元件测试分类设备，其特征在于，包括有:
[0009]机台:设有测试区、第一交换区，以及第二交换区；
[0010]供料装置:设于该机台上，容纳复数个电性接点朝上的待测电子元件；
[0011]收料装置:设于该机台上，容纳复数个不同等级的完测电子元件；
[0012]测试装置:架设于该机台的测试区的上方，并设有测试板及探针，以对电性接点朝上的电子元件执行测试作业；
[0013]输送装置:设于该机台上，该输送装置设有至少一入料移载臂、至少一出料移载臂及至少一测试移载臂，该入料移载臂自该供料装置处的上方将电性接点朝上的待测电子元件移载至该第一交换区，该测试移载臂移动于该机台的第一交换区、测试区及第二交换区之间，该测试移载臂自下方承载待测电子元件，并将该待测电子元件以电性接点朝上的方式执行测试作业，该出料移载臂将该完测电子元件移载至该收料装置并执行分类作业。
[0014]所述的电子元件测试分类设备，该输送装置的入料移载臂设有至少一第一取放吸嘴，该入料移载臂并作χ-γ-ζ三轴向移动，将该待测电子元件移载至该第一交换区。
[0015]所述的电子元件测试分类设备，该输送装置的出料移载臂设有至少一第二取放吸嘴，该出料移载臂并作χ-γ-ζ三轴向移动，自该第二交换区的上方将该完测电子元件移载至该收料装置。
[0016]所述的电子元件测试分类设备，该输送装置设有第一测试移载臂及第二测试移载臂，该第一测试移载臂及该第二测试移载臂分别设有至少一取放吸嘴或承座，并分别移动于该第一交换区、该测试区及该第二交换区之间。
[0017]所述的电子元件测试分类设备，该机台的第一交换区及第二交换区分别设于该测试区的第一侧下方及第二侧下方，在该测试区的第一侧上方及第二侧上方分别设有第三交换区及第四交换区。
[0018]所述的电子元件测试分类设备，该输送装置设有第一测试移载臂及第二测试移载臂，该第一测试移载臂移动于该第一交换区、该测试区及该第二交换区之间，该第二测试移载臂则移动于该第三交换区、该测试区及该第四交换区之间。
[0019]所述的电子元件测试分类设备，该入料移载臂将该待测电子元件分别移载至该第一交换区及该第三交换区。
[0020]所述的电子元件测试分类设备，该出料移载臂分别自该第二交换区及该第四交换区的上方移载该完测电子元件。
[0021]所述的电子元件测试分类设备，该机台上设有空盘装置，该空盘装置并以移盘器移载空料盘。
[0022]所述的电子元件测试分类设备，该机台上设有对位装置，该对位装置设有复数个容置孔，在各容置孔的一侧设有推移件，以供该入料移载臂上的待测电子元件对位。
[0023]与现有技术相比较，本发明具有的有益效果是:
[0024]本发明提供一种电子元件测试分类设备，其系利用入料移载臂自上方将供料装置处电性接点朝上的电子元件交换移载至位于第一交换区的测试移载臂，该测试移载臂自下方承载电子元件并移载至测试区，将电子元件以电性接点朝上的方式与设于测试区上方的测试装置电性连接并执行测试作业，于完测后再将电子元件移载至第二交换区，由出料移载臂自上方将电子元件交换移载至收料装置，并执行分类作业；如此，利用电子元件电性接点朝上移载及测试的方式，即可不须设置提供转乘作用的入料载台及出料载台，进而可有效简化机构及输送路径，达到有效降低设备成本的实用效益。
[0025]本发明提供一种电子元件测试分类设备，其系利用入料移载臂自上方将供料装置处电性接点朝上的电子元件移载至位于第一交换区的测试移载臂，该测试移载臂自下方承载电子元件并移载至测试区，将电子元件以电性接点朝上的方式与设于测试区上方的测试装置电性连接并执行测试作业，于完测后再将电子元件移载至第二交换区，由出料移载臂自上方将电子元件交换移载至收料装置，并执行分类作业；如此，利用电子元件电性接点朝上移载及测试的方式，即可不须通过入料载台及出料载台所提供转乘作用，进而可有效简化交换移载的次数及缩减交换移载的时间，达到有效提升测试产能的实用效益。
【附图说明】
[0026]图1是中国台湾发明第I 468329号专利案的测试设备的示意图；
[0027]图2是本发明第一实施例的架构示意图；
[0028]图3是本发明第一实施例的作动不意图(一)；
[0029]图4是本发明第一实施例的作动示意图(二)；
[0030]图5是图4的部分侧视示意图；
[0031]图6是本发明第一实施例的作动不意图(三)；
[0032]图7是图6的部分侧视示意图；
[0033]图8是本发明第一实施例的作动示意图(四)；
[0034]图9是图8的部分侧视示意图；
[0035]图10是本发明第一实施例的作动不意图(五)；
[0036]图11是图10的部分侧视示意图；
[0037]图12是本发明第一实施例的作动示意图(六)；
[0038]图13是本发明第二实施例的架构示意图；
[0039]图14是本发明第二实施例的作动示意图(一)；
[0040]图15是本发明第二实施例的作动示意图(二)；
[0041]图16是图15的部分侧视示意图；
[0042]图17是本发明第二实施例的作动示意图(三)；
[0043]图18是图17的部分侧视示意图；
[0044]图19是本发明第二实施例的作动示意图(四)；
[0045]图20是图19的部分侧视示意图；
[0046]图21是本发明第二实施例的作动示意图(五)；
[0047]图22是图21的部分侧视示意图；
[0048]图23是本发明第二实施例的作动示意图(六)；
[0049]图24是本发明第二实施例的作动示意图(七)；
[0050]图25是图24的部分侧视示意图。
[0051]附图标记说明:[现有部分]10-机台；11-供料装置；12_收料装置；13_测试装置；14-输送装置；141-入料移载臂；142_出料移载臂；143_第一下压臂；144_第二下压臂；145-第一入料载台；146-第二入料载台；147-第一出料载台；148-第二出料载台；[本发明部分]20-机台；21_供料装置；22_收料装置；23_测试装置；231_测试板；232_探针；24-空盘装置；241_移盘器；25_输送装置；251_入料移载臂；2511_第一取放吸嘴；252_出料移载臂；2521_第二取放吸嘴；253_第一测试移载臂；2531_第一承座；254_第二测试移载臂；2541_第二承座；26_对位装置；261_容置孔；262_推移件；30_测试区；31_第一交换区；32_第二交换区；33_第三交换区；34_第四交换区；40_电子元件。
【具体实施方式】
[0052]为使贵审查委员对本发明作更进一步的了解，兹举较佳实施例并配合图式，详述如后:
[0053]请参阅图2，本发明第一实施例的测试分类设备，其系于机台20上配置有供料装置21、收料装置22、测试装置23、空盘装置24、输送装置25及对位装置26，另以区域空间而言，该机台20设有测试区30、位于测试区30第一侧的第一交换区31，以及位于测试区30第二侧的第二交换区32，该供料装置21容纳复数个电性接点朝上的待测电子元件，收料装置22容纳复数个不同等级的完测电子元件，测试装置23系架设于机台20的测试区30的上方，主要设有测试板231及复数个探针232，以对电性接点朝上的电子元件执行测试作业，该空盘装置24系供收纳复数个空料盘，并利用移盘器241将供料装置21上的空料盘移载至该空盘装置24收纳，或将空盘装置24上的空料盘移载至收料装置22，该输送装置25设有至少一入料移载臂251、至少一出料移载臂252及至少一测试移载臂，于本实施例中，该输送装置25设有第一测试移载臂253及第二测试移载臂254，该入料移载臂251设有至少一第一取放吸嘴2511，并可自上方作X-Y-Z三轴向移动，将供料装置21处电性接点朝上的待测电子元件移载至位于测试区30第一侧的第一交换区31处，该第一测试移载臂253及第二测试移载臂254分别设有至少一取放吸嘴或承座，于本实施例中，该第一测试移载臂253及第二测试移载臂254分别设有至少一第一承座2531及第二承座2541，该第一测试移载臂253及第二测试移载臂254可分别自下方承载电子元件，并作X-Y-Z三轴向移动于第一交换区31、测试区30以及位于测试区30第二侧的第二交换区32，而于第一交换区31位置自下方承载来自入料移载臂251的待测电子元件，并将待测电子元件移载至测试区30，使待测电子元件以电性接点朝上的方式与测试装置23的探针232电性连接并执行测试作业，于完成测试测后，再将完测电子元件移载至第二交换区32处，该出料移载臂252设有至少一第二取放吸嘴2521，并可自上方作X-Y-Z三轴向移动，将第一测试移载臂253或第二测试移载臂254上的完测电子元件交换移载至收料装置22，并执行分类作业；另由于供料装置21处的待测电子元件是有可能无法准确承置于料盘内的位置上，而使入料移载臂251的第一取放吸嘴2511在吸取待测电子元件时，该待测电子元件无法准确的定位于第一取放吸嘴2511上，因此于机台20上可以设有一对位装置26，该对位装置26设有复数个容置孔261，并于各容置孔261的一侧设有推移件262，该入料移载臂251于供料装置21处吸取待测电子元件后，可先将该待测电子元件移载至对位装置26的容置孔261处，并以第一取放吸嘴2511保持吸附待测电子元件的状态下，由各推移件262单侧顶推待测电子元件，使各待测电子元件移动抵靠于各容置孔261的另一侧，而使各待测电子元件准确对位于第一取放吸嘴2511上，再继续由入料移载臂251将对位后的待测电子元件移载至第一交换区31处，即可准确的进行后续的测试作业。
[0054]请参阅图3，本发明的测试分类设备其开始作动时，其第一测试移载臂253及第二测试移载臂254分别位于第一交换区31及第二交换区32，而入料移载臂251则于供料装置21处自上方吸取电性接点朝上的待测电子元件40。
[0055]请参阅图4、图5，接着入料移载臂251将电性接点朝上的待测电子元件40移载至对位装置26的容置孔261处，并以保持吸附待测电子元件的状态下，由各推移件262单侧顶推待测电子元件40，使各待测电子元件40移动抵靠于各容置孔261的另一侧，而使各待测电子元件40准确对位于入料移载臂251的第一取放吸嘴2511上。
[0056]请参阅图5、图6，接着入料移载臂251将电性接点朝上的待测电子元件40移载至第一交换区31处，由于第一测试移载臂253位于该第一交换区31处，因此第一测试移载臂253上的第一承座2531可自下方承载来自入料移载臂251的待测电子元件40，并使待测电子元件40保持电性接点朝上的方向。
[0057]请参阅图8、图9，接着第一测试移载臂253将待测电子元件40移载至测试区30，并顶升使待测电子元件40以电性接点朝上的方式与测试装置23的探针232电性连接并执行测试作业。在第一测试移载臂253将待测电子元件40移载至测试区30的同时，入料移载臂251将会再移动至供料装置21处，自上方吸取下一批次电性接点朝上的待测电子元件40，而位于第二交换区32的第二测试移载臂254则会移动至第一交换区31处，承载由入料移载臂251移载的下一批次电性接点朝上的待测电子元件40。
[0058]请参阅图10、图11，第一测试移载臂253上的电子元件40完成测试测后，第一测试移载臂253会将完测电子元件40移载至第二交换区32处，而出料移载臂252则移动至第二交换区32处，并自上方吸取第一测试移载臂253上的完测电子元件40。在此同时，第二测试移载臂254于承载下一批次电性接点朝上的待测电子元件40后，将会移载至测试区30，并顶升使该批次的待测电子元件40以电性接点朝上的方式与测试装置23的探针232电性连接并执行测试作业。
[0059]请参阅图12，接着出料移载臂252将完测电子元件40交换移载至收料装置22，并执行分类作业。在此同时，位于第二交换区32的第一测试移载臂253则会移动至第一交换区31处，承载下一批次电性接点朝上的待测电子元件40，进而与第二测试移载臂254交替的于第一交换区31、测试区30以及第二交换区32之间移载电子元件。
[0060]请参阅图13，本发明第二实施例的测试分类设备，其于机台20上配置的供料装置21、收料装置22、测试装置23、空盘装置24、对位装置26、输送装置25的入料移载臂251及出料移载臂252系相同于第一实施例，因此不予赘述。第二实施例的测试分类设备差异在于该机台20的第一交换区31及第二交换区32分别设于测试区30的第一侧下方及第二侧下方，并于该测试区30的第一侧上方及第二侧上方分别设有第三交换区33及第四交换区34，而该输送装置25的第一测试移载臂253系作X-Y-Z三轴向移动于第一交换区31、测试区30及第二交换区32之间，该输送装置25的第二测试移载臂254则作X-Y-Z三轴向移动于第三交换区33、测试区30以及第四交换区34之间，以交替的移载电子元件。
[0061]请参阅图14，本发明第二实施例的测试分类设备其开始作动时，其第一测试移载臂253及第二测试移载臂254分别位于第一交换区31及第四交换区34，而入料移载臂251则于供料装置21处自上方吸取电性接点朝上的待测电子元件40。
[0062]请参阅图15、图16，接着入料移载臂251将电性接点朝上的待测电子元件40移载至对位装置26的容置孔261处，并以保持吸附待测电子元件的状态下，由各推移件262单侧顶推待测电子元件40，使各待测电子元件40移动抵靠于各容置孔261的另一侧，而使各待测电子元件40准确对位于入料移载臂251的第一取放吸嘴2511上。
[0063]请参阅图17、图18，接着入料移载臂251将电性接点朝上的待测电子元件40移载至第一交换区31处，由于第一测试移载臂253位于该第一交换区31处，因此第一测试移载臂253上的第一承座2531可自下方承载来自入料移载臂251的待测电子元件40，并使待测电子元件40保持电性接点朝上的方向。
[0064]请参阅图19、图20，接着第一测试移载臂253将待测电子元件40移载至测试区30，并顶升使待测电子元件40以电性接点朝上的方式与测试装置23的探针232电性连接并执行测试作业。在第一测试移载臂253将待测电子元件40移载至测试区30的同时，入料移载臂251将会再移动至供料装置21处，自上方吸取下一批次电性接点朝上的待测电子元件40，而位于第四交换区34的第二测试移载臂254则会移动至第三交换区33处，承载由入料移载臂251移载并完成对位的下一批次电性接点朝上的待测电子元件40。
[0065]请参阅图21、图22，第一测试移载臂253上的电子元件40完成测试测后，第一测试移载臂253会将完测电子元件40移载至第二交换区32处，而出料移载臂252则移动至第二交换区32处，并自上方吸取第一测试移载臂253上的完测电子元件40。在此同时，第二测试移载臂254于第三交换区33处承载下一批次电性接点朝上的待测电子元件40后，将会移载至测试区30，并顶升使该批次的待测电子元件40以电性接点朝上的方式与测试装置23的探针232电性连接并执行测试作业。
[0066]请参阅图23，接着出料移载臂252将完测电子元件40交换移载至收料装置22，并执行分类作业。在此同时，位于第二交换区32的第一测试移载臂253则会移动至第一交换区31处，承载由入料移载臂251移载并完成对位的下一批次电性接点朝上的待测电子元件40 ο
[0067]请参阅图24、图25，当第二测试移载臂254上的电子元件40完成测试测后，第二测试移载臂254会将完测电子元件40移载至第四交换区34处，而出料移载臂252则移动至第四交换区34处，并自上方吸取第二测试移载臂254上的完测电子元件40。在此同时，第一测试移载臂253将会移载至测试区30，并顶升使该批次的待测电子元件40以电性接点朝上的方式与测试装置23的探针232电性连接并执行测试作业，进而与第二测试移载臂254交替的移载电子兀件。
[0068]综上说明，本发明利用电子元件电性接点朝上移载及测试的方式，即可不须设置提供转乘作用的入料载台及出料载台，进而可有效简化机构及输送路径，并简化交换移载的次数及缩减交换移载的时间，达到有效降低设备成本及提升测试产能的实用效益。
【主权项】
1.一种电子元件测试分类设备，其特征在于，包括有: 机台:设有测试区、第一交换区，以及第二交换区； 供料装置:设于该机台上，容纳复数个电性接点朝上的待测电子元件； 收料装置:设于该机台上，容纳复数个不同等级的完测电子元件； 测试装置:架设于该机台的测试区的上方，并设有测试板及探针，以对电性接点朝上的电子元件执行测试作业； 输送装置:设于该机台上，该输送装置设有至少一入料移载臂、至少一出料移载臂及至少一测试移载臂，该入料移载臂自该供料装置处的上方将电性接点朝上的待测电子元件移载至该第一交换区，该测试移载臂移动于该机台的第一交换区、测试区及第二交换区之间，该测试移载臂自下方承载待测电子元件，并将该待测电子元件以电性接点朝上的方式执行测试作业，该出料移载臂将该完测电子元件移载至该收料装置并执行分类作业。2.根据权利要求1所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该输送装置的入料移载臂设有至少一第一取放吸嘴，该入料移载臂并作χ-γ-ζ三轴向移动，将该待测电子元件移载至该第一交换区。3.根据权利要求1所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该输送装置的出料移载臂设有至少一第二取放吸嘴，该出料移载臂并作X-Y-Z三轴向移动，自该第二交换区的上方将该完测电子元件移载至该收料装置。4.根据权利要求1所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该输送装置设有第一测试移载臂及第二测试移载臂，该第一测试移载臂及该第二测试移载臂分别设有至少一取放吸嘴或承座，并分别移动于该第一交换区、该测试区及该第二交换区之间。5.根据权利要求1所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该机台的第一交换区及第二交换区分别设于该测试区的第一侧下方及第二侧下方，在该测试区的第一侧上方及第二侧上方分别设有第三交换区及第四交换区。6.根据权利要求5所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该输送装置设有第一测试移载臂及第二测试移载臂，该第一测试移载臂移动于该第一交换区、该测试区及该第二交换区之间，该第二测试移载臂则移动于该第三交换区、该测试区及该第四交换区之间。7.根据权利要求6所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该入料移载臂将该待测电子元件分别移载至该第一交换区及该第三交换区。8.根据权利要求6所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该出料移载臂分别自该第二交换区及该第四交换区的上方移载该完测电子元件。9.根据权利要求1所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该机台上设有空盘装置，该空盘装置并以移盘器移载空料盘。10.根据权利要求1所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该机台上设有对位装置，该对位装置设有复数个容置孔，在各容置孔的一侧设有推移件，以供该入料移载臂上的待测电子元件对位。
【文档编号】G01R31/00GK105983543SQ201510058096
【公开日】2016年10月5日
【申请日】2015年2月4日
【发明人】谢旼达, 张原龙
【申请人】鸿劲科技股份有限公司