专利名称：电子元件测试分类机的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及一种电子元件移载机构，特别涉及一种可易于增设取放器，并更加调整缩小各取放器的X-Y轴向间距，以利取放电子元件，而大幅提升测试产能以及作业便利性的电子元件测试分类机。
背景技术：
请参阅图1，是坊间电子元件测试分类机的示意图，其是在机台的前方设有供料装置10以及收料装置20，并在机台的后方设有复数个测试装置30，所述的供料装置10设有至少一具有容置槽的料盘11，用来盛装复数个待测的电子元件，收料装置20也设有复数个具有容置槽的料盘21，用来盛装不同等级完测的电子元件，而测试装置30则设有具有复数个测试座32的测试电路板31，用来测试电子元件，另在机台上设有输送装置40，用来在供、 收料装置10、20以及测试装置30间移载待测/完测的电子元件，所述的输送装置40是在收料装置20与测试装置30间设有载具41，用来载送待测/完测的电子元件，并在供、收料装置10、20与载具41间设有具有复数个取放器421的第一移料臂42，用来移载待测/完测的电子元件，以及在测试装置30与载具41间设有具有取放器431的第二移料臂43，用来移载待测/完测的电子元件，由于料盘11、21的各容置槽的间距与各测试座32的间距不同，即必须使第一、二移料臂42、43的各取放器421、431可作Y轴向间距调整，以便于料盘 11、21以及测试座32处取放待测/完测的电子元件；请参阅图2、图3，以第一移料臂42为例，其是在机架422上设有第一、二马达423A、423B，用来各别驱动第一、两个Z轴向皮带轮组424A、4MB，并在第一 Z轴向皮带轮组424A上装配有第一取放器421A，而第二 Z轴向皮带轮组424B上则装配有一具有Y轴向滑槽4251的掣动架425，并以Y轴向滑槽4251供一滑动架426的凸榫4261滑置，滑动架426的前面装配有第二取放器421B，并在背面装设有传动架427，且在传动架427与滑动架426间设有相配合的Z轴向滑轨4271以及Z轴向滑座似62，另在机架422的背面设有第三马达423C，用来驱动一位于机架422前面的Y轴向皮带轮组4 作动，所述的Y轴向皮带轮组4 则连结传动架427，在调整第一、二取放器 421A、421B的Y轴向间距时，是以第一取放器421A作基准件，并控制第三马达423C驱动Y 轴向皮带轮组428作动，令Y轴向皮带轮组428带动传动架427作Y轴向位移，传动架427 利用Z轴向滑轨4271以及Z轴向滑座4262的传动而驱动滑动架426以凸榫4261沿掣动架425的Y轴向滑槽4251作Y轴向位移，使滑动架似6带动第二取放器421B相对于第一取放器421A作Y轴向位移，而调整第一、二取放器421A、421B的Y轴向间距；然而，所述的第一移料臂42虽可使第一、二取放器421A、421B作Y轴向变距调整以及Z轴向升降位移， 但第一、二取放器421A、421B作Z轴向升降位移是用来取放电子元件，并不涉及第一、二取放器421A、421B的间距调整，在第一、二取放器421A、421B的Y轴向间距调整设计上，所述的移料臂42仅以第三马达423C驱动Y轴向皮带轮组428，并经传动架427带动第二取放器 421B作单一 Y轴向位移，然在现今讲求高产能的趋势下，业者欲在第一移料臂42上增设X 轴向平行排列的取放器，以提升取放电子元件作业的产能时，即必须使各列取放器可作X-Y轴向间距的调整，以应对不同料盘的容置槽间距以及各测试座的间距，方可便利取放电子元件，但所述的第一移料臂42的设计仅可使第一、二取放器421A、421B作单一 Y轴向的间距调整，以致无法增设可作X轴向间距调整的取放器，造成取放电子元件作业产能受限的缺失。因此，如何设计一种易于增设取放器，并可更加调整缩小各取放器的间距而便利取放电子元件，以提升测试产能以及作业便利性的电子元件测试分类机，即为业者研发的标的。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种电子元件测试分类机，使其易于增设取放器，并可更加调整缩小各取放器的间距而便利取放电子元件，以提升测试产能以及作业便利性。为实现上述目的，本发明采用的技术方案是一种电子元件测试分类机，其特征在于，包含机台；供料装置配置在机台上，用来容纳复数个待测的电子元件；收料装置配置在机台上，用来容纳复数个完测的电子元件；测试装置配置在机台上，并设有具有复数个测试座的测试电路板，用来测试电子元件；输送装置配置在机台上，并在测试装置的前、后方各设有至少一载具，用来载送电子元件，另设有至少两个具有复数个取放器的移料臂，用来移载电子元件，并在至少一移料臂上设有Z轴向驱动机构、X轴向调整机构以及Y轴向调整机构，用来使各取放器作Z轴向升降位移以及调整X-Y轴向间距；中央控制单元是用来控制以及整合各装置作动，以执行自动化作业。其中所述的供料装置设有至少一具有容置槽的料盘，用来承置待测的电子元件。其中所述的收料装置设有复数个具有容置槽的料盘，用来承置不同测试结果的完测电子元件。其中所述的输送装置的移料臂的Z轴向驱动机构设有至少一 Z轴向驱动源，用来驱动复数个传动组作Z轴向位移，其中，一传动组设有一可作X轴向位移且具有取放器的Z 轴向滑动件，另一传动组则设有一可作Y轴向位移且具有取放器的Z轴向滑动件，以及一传动组设有一可作X-Y轴向位移且具有取放器的Z轴向滑动件，而X轴向调整机构设有X轴向驱动源，用来驱动一 X轴向移动架作X轴向位移，所述的X轴向移动架则连结Z轴向驱动机构的两个Z轴向滑动件，用来驱动两个Z轴向滑动件以及二取放器作X轴向位移，所述的 Y轴向调整机构设有Y轴向驱动源，用来驱动一 Y轴向移动架作Y轴向位移，所述的Y轴向移动架则连结Z轴向驱动机构的两个Z轴向滑动件，用来驱动两个Z轴向滑动件以及二取放器作Y轴向位移。其中所述的Z轴向驱动机构是在Z轴向机架上装设有第一、二、三、四驱动源，所述的第一、二、三、四驱动源包含第一、二、三、四马达以及第一、二、三、四皮带轮组，并以第一、二、三、四皮带轮组各别驱动具第一、二、三、四Z轴向滑动件以及第一、二、三、四取放器的第一、二、三、四传动组。其中第一传动组设有一连结在第一皮带轮组的第一传动架，第一传动架设有Y 轴向滑槽，供一第一 Z轴向滑动件的凸榫滑置，所述的第一 Z轴向滑动件则装配有第一取放器，用来带动第一取放器作Y-Z轴向位移，第二传动组设有一连结在第二皮带轮组的第二传动架，第二传动架是连结一第二 Z轴向滑动件，第二 Z轴向滑动件则装配有第二取放器， 并使第二取放器位于第一取放器的Y轴向侧方，用来带动第二取放器作Z轴向位移，第三传动组设有一连结在第三皮带轮组的第三传动架，第三传动架设有X轴向滑槽，供一第三Z轴向滑动件的凸榫滑置，所述的第三Z轴向滑动件的底部则装配有第三取放器，并使第三取放器位于第二取放器的X轴向侧方，用来带动第三取放器作X-Z轴向位移，第四传动组设有一连结在第四皮带轮组的第四传动架，并在第四传动架上枢设一可作X-Y轴向摆动的传动滑轨，所述的传动滑轨供一第四Z轴向滑动件枢设的滑座滑置，而第四Z轴向滑动件则装配有第四取放器，并使第四取放器位于第二取放器的对角处，用来带动第四取放器作Z轴向位移以及X-Y轴向位移。其中所述的Z轴向机架上设有二 Y轴向机架，并在二 Y轴向机架上设有第二 Z轴向滑座，供第二传动组的第二 Z轴向滑动件滑置。其中所述的X轴向调整机构的X轴向驱动源包含X轴向马达以及X轴向皮带轮组，并以X轴向皮带轮组连结一呈Y轴向摆置的X轴向移动架，所述的X轴向移动架的一端固设有一 Z轴向滑座，供Z轴向驱动机构的第三Z轴向滑动件滑置连结，X轴向移动架上则滑置一间传滑座，所述的间传滑座设有Z轴向滑槽，供Z轴向驱动机构的第四Z轴向滑动件滑置连结，使得X轴向移动架可带动Z轴向驱动机构的第三、四Z轴向滑动件以及第三、四取放器作χ轴向同步位移，用来调整与第一、二取放器间的χ轴向间距。其中所述的Y轴向移动架设有Z轴向滑座以及X轴向滑轨，所述的Z轴向滑座是供Z轴向驱动机构的第一 Z轴向滑动件滑置连结，而X轴向滑轨则供X轴向调整机构间传滑座的X轴向滑座滑置，使得Y轴向移动架可带动Z轴向驱动机构的第一、四Z轴向滑动件以及第一、四取放器作Y轴向位移，以调整与第二、三取放器间的Y轴向间距。其中所述的Y轴向调整机构的Y轴向驱动源包含Y轴向马达以及Y轴向皮带轮组，并以Y轴向皮带轮组连结一呈X轴向摆置的Y轴向移动架。与现有技术相比较，本发明具有的有益效果是本发明提供一种电子元件测试分类机，可易于增设X轴向平行排列的取放器，并使各取放器作X-Y轴向变距而便利取放电子元件，达到大幅提升测试产能的实用效益。本发明提供一种电子元件测试分类机，可更加调整缩小各取放器的间距，以适用于间距微小的各容置槽以及各测试座处取放电子元件，达到提升使用效能的实用效益。
图1是习式电子元件测试分类机各装置的配置示意图；图2是习式移料装置的外观图；图3是习式移料装置的侧视图；图4是本发明电子元件测试分类机各装置的配置示意图；图5是本发明移料装置的示意图6是本发明移料装置的另一角度示意图；图7是本发明移料装置的仰视图；图8是本发明测试分类机的使用示意图(一)；图9是第一移料臂调整缩小各取放器间距的使用示意图；图10是第一移料臂调整各取放器间距的仰视图；图11是第一移料臂的各取放器取料示意图；图12是本发明测试分类机的使用示意图(二)；图13是第一移料臂调整放大各取放器间距的使用示意图；图14是第一移料臂调整各取放器间距的仰视图；图15是本发明测试分类机的使用示意图(三)；图16是本发明测试分类机的使用示意图(四)；图17是本发明测试分类机的使用示意图(五)；图18是本发明测试分类机的使用示意图(六)；图19是本发明测试分类机的使用示意图(七)；图20是第二移料臂调整各取放器间距的仰视图；图21是本发明测试分类机的使用示意图(八)；图22是第二移料臂调整各取放器间距的仰视图。附图标记说明〔现有技术〕供料装置-10；料盘-11 ；收料装置-20 ；料盘-21 ；测试装置_30 ；测试电路板-31 ；测试座-32 ；输送装置-40 ；载具-41 ；第一移料臂-42 ；取放器-421 ；第一取放器-421A ；第二取放器-421B ；机架-422 ；第一马达-423A ；第二马达-423B ；第三马达-423C ；第一 Z轴向皮带轮组-424A ；第二 Z轴向皮带轮组-424B ；掣动架-425 ；Y轴向滑槽-4251 ；滑动架-426 ；凸榫-似61 ；Z轴向滑座-似62 ；传动架-427 ；Z轴向滑轨-4271 ；Y 轴向皮带轮组_4观；第二移料臂-43 ；取放器-431 ；〔本发明〕供料装置-50；料盘-501 ；容置槽-502 ；收料装置_60 ；料盘-601 ；容置槽-602 ；空匣装置-70 ；测试装置-80 ；测试电路板-81 ；测试座-82 ；输送装置-90 ；第一载具-91 ；定位槽-911 ；第二载具-92 ；定位槽-921 ；第一移料臂-93 ；取放器-931 ；第一取放器-931A ；第二取放器-931B ；第三取放器-931C ；第四取放器-931D ；Z轴向机架-932 ；X轴向滑轨-9321 ；第一 Z轴向马达-933A ；第二 Z轴向马达-933B ；第三Z轴向马达-933C ；第四 Z轴向马达-933D ；第一Z轴向皮带轮组-934A ；第二Z轴向皮带轮组-934B ；第三Z轴向皮带轮组-934C ；第四Z轴向皮带轮组-934D ；第一传动架-935A ；Y轴向滑槽-9351A ；第二传动架-935B ；第三传动架-935C ；X轴向滑槽-9351C ；第四传动架-935D ；传动滑轨-9351D ；第一 Z轴向滑动件-936A ；凸榫-9361A ；第二 Z轴向滑动件-936B ；第三Z轴向滑动件-936C ； 凸榫-9361C ；第四Z轴向滑动件-936D ；滑座-9361D ；Y轴向机架-937 ；第二 Z轴向滑座-9371 ；Y轴向滑轨-9372 ；X轴向马达-938 ；X轴向皮带轮组-939 ；X轴向移动架-940 ；X 轴向滑座-9401 ；Z轴向滑座-9402 ；间传滑座-9403 ；Z轴向滑座-9404 ；X轴向滑座-9405 ； Y轴向马达-941 ；Y轴向皮带轮组-942 ；Y轴向移动架-943 ；Y轴向滑座-9431 ；Z轴向滑座-9432 ；X轴向滑轨-9433 ；第二移料臂-95 ；取放器-951 ；第三移料臂-96 ；取放器-961 ； 第四移料臂-97 ；取放器-971 ；电子元件-100、110。
具体实施例方式为使贵审查委员对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后请参阅图4，本发明电子元件测试分类机是在机台上配置有供料装置50、收料装置60、空匣装置70、测试装置80以及输送装置90，所述的供料装置50设有至少一料盘501， 所述的料盘501具有复数个容置槽502，用来承置待测的电子元件，所述的收料装置60设有至少一料盘601，所述的料盘601具有复数个容置槽602，用来承置完测的电子元件，空匣装置70是用来收置供料装置50的空料盘，并将空料盘补充在收料装置60，用来盛装完测的电子元件，所述的测试装置80设有具有测试座82的测试电路板81，所述的测试座82可为常开型测试座或常闭型测试座，在本实施例中，所述的测试电路板81上配置有4个常开型测试座82，用来同步执行4个电子元件的测试作业，并以测试器(图未示出)将测试结果传输至中央控制单元(图未示出)，由中央控制单元控制各装置作动；所述的输送装置90包含有至少一载具以及至少两个移料臂，所述的载具可采活动式或固定式设计，在本实施例中， 所述的输送装置90是在测试装置80的前方设有可作X轴向位移的第一载具91，第一载具 91设有复数个定位槽911，例如设有4个采X-Y轴向排列的定位槽911，用来载送待测的电子元件，以及在测试装置80的后方也设有一可作X轴向位移的第二载具92，第二载具92设有复数个定位槽921，例如设有4个采X-Y轴向排列的定位槽921，用来载送完测的电子元件，另所述的输送装置90是在供料装置50与第一载具91间设有可作X-Y-Z轴向位移的第一移料臂93，用来移载待测的电子元件，在第一载具91与测试装置80间设有可作Y-Z轴向位移的第二移料臂95，用来移载待测的电子元件，在测试装置80与第二载具92间设有可作Y-Z轴向位移的第三移料臂96，用来移载完测的电子元件，在第二载具92与收料装置 60间设有可作X-Y-Z轴向位移的第四移料臂97，用来移载完测的电子元件，所述的输送装置90可视移载电子元件作业所需，而在各移料臂上设有固定式取放器或变距式取放器，由于第一、二载具91、92的各定位槽911、921的X-Y轴向间距是相对于测试装置80的各测试座82的X-Y轴向间距，在本实施例中，所述的第二移料臂95以及第三移料臂96可分别设置复数个固定式的取放器951、961，而供、收料装置50、60的容置槽502、602的X-Y轴向间距，因不同待测电子元件，而可能不同在第一、二载具91、92的定位槽911、921的X-Y轴向间距，在本实施例中，所述的第一移料臂93以及第四移料臂97是可分别设置复数个变距式的取放器931、971，以配合不同电子元件进行取放作业。请参阅图4、图5、图6、图7，由于第一、四移料臂93、97的设计相同，在本实施例中，是以第一移料臂93作一说明，所述的第一移料臂93包含有Z轴向驱动机构、X轴向调整机构以及Y轴向调整机构，所述的Z轴向驱动机构是在一 Z轴向机架932上装设有至少一 Z 轴向驱动源，在本实施例中，设有第一、二、三、四Z轴向驱动源，所述的第一、二、三、四Z轴向驱动源包含有第一、二、三、四Z轴向马达933A、933B、933C、933D以及第一、二、三、四Z轴向皮带轮组934A、9;MB、934C、9;MD，并以第一、二、三、四Z轴向皮带轮组934A、9!34B、934C、 934D各别带动第一、二、三、四传动组作Z轴向位移，其中，第一传动组设有一连结在第一 Z 轴向皮带轮组934A的第一传动架935A，第一传动架935A设有Y轴向滑槽9351A，供一第一 Z轴向滑动件936A的凸榫9361A滑置，所述的第一 Z轴向滑动件936A的底部则装配有第一取放器931A，使第一 Z轴向滑动件936A可带动第一取放器931A作Y-Z轴向位移，第二传动组设有一连结在第二 Z轴向皮带轮组934B的第二传动架935B，第二传动架935B是连结一第二 Z轴向滑动件936B，第二 Z轴向滑动件936B是滑置在一固设在Y轴向机架937上的第二 Z轴向滑座9371，并在底部装配有第二取放器931B，且使第二取放器931B位于第一取放器931A的Y轴向侧方，使第二 Z轴向滑动件936B可带动第二取放器931B作Z轴向位移， 第三传动组设有一连结在第三Z轴向皮带轮组934C的第三传动架935C，第三传动架935C 设有X轴向滑槽9351C，供一第三Z轴向滑动件936C的凸榫9361C滑置，所述的第三Z轴向滑动件936C的底部则装配有第三取放器931C，并使第三取放器931C位于第二取放器931B 的X轴向侧方，使第三Z轴向滑动件936C可带动第三取放器931C作X-Z轴向位移，第四传动组设有一连结在第四Z轴向皮带轮组934D的第四传动架935D，并在第四传动架935D上枢设一可作水平角度摆动的传动滑轨9351D，所述的传动滑轨9351D供一第四Z轴向滑动件 936D枢设的滑座936ID滑置，而第四Z轴向滑动件936D的底部则装配有第四取放器93ID， 并使第四取放器931D位于第二取放器931B的对角处，使第四Z轴向滑动件936D可带动第四取放器931D作Z轴向位移以及X-Y轴向位移，所述的X轴向调整机构是在Z轴向机架 932上装设有X轴向驱动源，在本实施例中，所述的X轴向驱动源包含X轴向马达938以及 X轴向皮带轮组939，并以X轴向皮带轮组939连结一呈Y轴向摆置的X轴向移动架940，在本实施例中，所述的X轴向移动架940是一滑轨，并在X轴向移动架940与Z轴向机架932 间设有相互配合的X轴向滑座9401以及X轴向滑轨9321，用来辅助X轴向移动架940作X 轴向位移，另在X轴向移动架940的一端固设有一 Z轴向滑座9402，供第三Z轴向滑动件 936C滑置连结，X轴向移动架940上则滑置一间传滑座9403，再在间传滑座9403上设有Z 轴向滑座9404，供第四Z轴向滑动件936D滑置连结，使得X轴向移动架940可带动第三、 四Z轴向滑动件936C、936D以及第三、四取放器931C、931D作X轴向同步位移，以调整与第一、二取放器931A、931B的X轴向间距，所述的Y轴向调整机构是在Z轴向机架932上装设有Y轴向驱动源，在本实施例中，所述的Y轴向驱动源包含Y轴向马达941以及Y轴向皮带轮组942，并以Y轴向皮带轮组942连结一呈X轴向摆置的Y轴向移动架943，所述的Y轴向移动架943与Y轴向机架937间设有相互配合的Y轴向滑座9431以及Y轴向滑轨9372， 用来辅助Y轴向移动架943作Y轴向位移，另在Y轴向移动架943上设有Z轴向滑座9432 以及X轴向滑轨9433，所述的Z轴向滑座9432是供第一 Z轴向滑动件936A滑置连结，而X 轴向滑轨9433则供间传滑座9403的X轴向滑座9405滑置，使得Y轴向移动架943可带动第一、四Z轴向滑动件936A、936D以及第一、四取放器931A、931D作Y轴向位移，以调整与第二、三取放器931B、931C间的Y轴向间距。 请参阅图6、图8、图9、图10，在使用时，所述的输送装置90的第一移料臂93是带动第一、二、三、四取放器931A、931B、931C、931D位移至供料装置50的料盘501上方，并以第二取放器931B作为基准件，而控制X轴向马达938以及Y轴向马达941各别驱动X轴向皮带轮组939以及Y轴向皮带轮组942作动，所述的X轴向皮带轮组939是带动X轴向移动架940作X轴向位移，X轴向移动架940即以Z轴向滑座9402以及间传滑座9403分别带动第三Z轴向滑动件936C以及第四Z轴向滑动件936D作X轴向位移，并使间传滑座9403 以X轴向滑座9405沿Y轴向移动架943的X轴向滑轨9433位移，所述的第三Z轴向滑动件936C是以凸榫9361C在第三传动架935C的X轴向滑槽9351C滑移，并与第二 Z轴向滑动件936B作X轴向相对位移，使第三取放器931C靠合在第二取放器931B的侧面，而可调整缩小第二、三取放器931B、931C的间距，又所述的Y轴向马达941则驱动Y轴向皮带轮组 942作动，使Y轴向皮带轮组942带动Y轴向移动架943作Y轴向位移，所述的Y轴向移动架943即以Z轴向滑座9432以及间传滑座9403分别带动第一 Z轴向滑动件936A以及第四Z轴向滑动件936D作Y轴向位移，并使间传滑座9403在X轴向移动架940上作Y轴向位移，所述的第一 Z轴向滑动件936A是以凸榫9361A在第一传动架935A的Y轴向滑槽9351A 滑移，并与第二 Z轴向滑动件936B作Y轴向相对位移，使第一取放器931A靠合在第二取放器931B的另一侧面，而可调整缩小第一、二取放器931A、931B的间距，再者，由于第四Z轴向滑动件936D装配在一可作水平角度摆动的传动滑轨9351D上，当X轴向移动架940以及Y轴向移动架943分别带动间传滑座9403作X-Y轴向位移时，所述的间传滑座9403可在X轴向移动架940上作Y轴向位移，并以X轴向滑座9405沿Y轴向移动架943的X轴向滑轨9433 作X轴向位移，以带动第四Z轴向滑动件936D顶推传动滑轨9351D作一摆动，第四Z轴向滑动件936D并以滑座9361D沿传动滑轨9351D滑移，使得第四Z轴向滑动件936D可带动第四取放器931D作X-Y轴向位移，即使得第四取放器931D相对于第二取放器931B作对角位移，使第四取放器931D靠合在第二取放器931B，而可调整缩小第二、四取放器931B、931D的间距，使得第一、二、三、四取放器931A、931B、931C、931D可作一相互靠合排列，而调整X-Y 轴向的间距；请参阅第8、10、11图，当调整第一、二、三、四取放器931A、931B、931C、931D的 X-Y轴向间距完毕后，则可控制第一、二、三、四Z轴向马达933A、933B、933C、933D各别驱动第一、二、三、四Z轴向皮带轮组934A、9;34B ,934C.934D，所述的第一 Z轴向皮带轮组934A即带动第一传动架935A以及第一 Z轴向滑动件936A作Z轴向位移，第一 Z轴向滑动件936A 则沿Z轴向滑座9432位移，而可带动第一取放器931A作Z轴向位移，以在料盘501的容置槽502中取出电子元件100，而第二 Z轴向皮带轮组934B是带动第二传动架935B以及第二 Z轴向滑动件936B作Z轴向位移，第二 Z轴向滑动件936B则可带动第二取放器931B作Z 轴向位移，用来取出电子元件100，所述的第三Z轴向皮带轮组934C带动第三传动架935C 以及第三Z轴向滑动件936C作Z轴向位移，第三Z轴向滑动件936C则沿Z轴向滑座9402 位移，而带动第三取放器931C作Z轴向位移，用来取出电子元件100，而第四Z轴向皮带轮组934D经第四传动架935D以及传动滑轨9351D而带动第四Z轴向滑动件936D作Z轴向位移，第四Z轴向滑动件936D则沿Z轴向滑座9404位移，而带动第四取放器931D作Z轴向位移，用来取出电子元件100。请参阅图12、图13、图14，当第一移料臂93的复数个取放器931A、931B、931C、 931D取出待测的电子元件100后，是移载至第一载具91处，由于供料装置50的各容置槽 502的X-Y轴向间距因不同电子元件而不同在第一载具91的定位槽911的X-Y轴向间距， 所述的第一移料臂93则调整放大第一、二、三、四取放器931A、931B、931C、931D的X-Y轴向间距，在调整时，是控制X轴向马达938经X轴向皮带轮组939而驱动X轴向移动架940作 X轴向向外位移，以及控制Y轴向马达941经Y轴向皮带轮组942而驱动Y轴向移动架943 作Y轴向向外位移，其中，X轴向移动架940即以Z轴向滑座9402带动第三Z轴向滑动件 936C以及第三取放器931C作X轴向向外位移，而调整放大第二、三取放器931B、931C的间距，所述的Y轴向移动架943则以Z轴向滑座9432带动第一 Z轴向滑动件936A以及第一取放器931A作Y轴向向外位移，而调整放大第一、二取放器931A、931B的间距，又所述的X 轴向移动架940以及Y轴向移动架943可利用间传滑座9403、第四Z轴向滑动件936D以及传动滑轨9351D而带动第四取放器931D作X-Y轴向位移，即使得第四取放器931D相对于第二取放器931B作对角向外位移，而调整放大第二、四取放器931B、931D的间距，使得第一、 二、三、四取放器931A、931B、931C、931D的X_Y轴向间距对应于第一载具91的定位槽911 的X-Y轴向间距，而将待测的电子元件100放置在第一载具91上。请参阅图15，第一载具91是承载待测的电子元件100至测试装置80的前方，第二移动臂95的各取放器951即在第一载具91的定位槽911中取出待测的电子元件100 ；请参阅图16，第二移动臂95的各取放器951是将待测的电子元件100移载至测试装置80的各测试座82中，各测试座82即执行测试作业，并使测试电路板81将测试信号传输至测试器， 测试器再将测试结果传输至中央控制单元，此时，所述的第一载具91则复位承载下一待测的电子元件110 ；请参阅图17，在测试座82的测试作业完毕后，由于第一载具91已承载下一待测的电子元件110至测试装置80的前方，所述的第二移动臂95的各取放器951则移动至第一载具91的上方，并取出下一待测的电子元件110，此时，第三移动臂96的各取放器961是位移至测试装置80的上方，使各取放器961在各测试座82中取出完测的电子元件100 ；请参阅图18，第三移动臂96的各取放器961是将完测的电子元件100移载放置在第二载具92的定位槽921上，此时，第二移动臂95的各取放器951则将下一待测的电子元件110移载置入在测试装置80的各测试座82内而接续执行测试作业；请参阅图19、图20， 第二载具92是载出完测的电子元件100，第四移动臂97是利用X轴向调整机构以及Y轴向调整机构驱动调整放大第一、二、三、四取放器971A、971B、971C、971D的X_Y轴向间距对应于第二载具92的定位槽921的X-Y轴向间距，而取出完测的电子元件100 ；请参阅图21、 图22，第四移动臂97是将完测的电子元件100移载至收料装置60的料盘601处，再利用X 轴向调整机构以及Y轴向调整机构驱动调整缩小第一、二、三、四取放器971A、971B、971C、 97ID的X-Y轴向间距对应于料盘61的容置槽602的X-Y轴向间距，并依测试结果(如良品电子元件、不良品电子元件或次级品电子元件)，而直接将完测的电子元件100置入在料盘 601的各容置槽602中，以完成分类收置作业。据此，本发明可易于增设取放器，并更加调整缩小各取放器的X-Y轴向间距，以利取放电子元件。以上说明对本发明而言只是说明性的，而非限制性的，本领域普通技术人员理解， 在不脱离权利要求所限定的精神和范围的情况下，可作出许多修改、变化或等效，但都将落入本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种电子元件测试分类机，其特征在于，包含机台；供料装置配置在机台上，用来容纳复数个待测的电子元件；收料装置配置在机台上，用来容纳复数个完测的电子元件；测试装置配置在机台上，并设有具有复数个测试座的测试电路板，用来测试电子元件；输送装置配置在机台上，并在测试装置的前、后方各设有至少一载具，用来载送电子元件，另设有至少两个具有复数个取放器的移料臂，用来移载电子元件，并在至少一移料臂上设有Z轴向驱动机构、X轴向调整机构以及Y轴向调整机构，用来使各取放器作Z轴向升降位移以及调整X-Y轴向间距；中央控制单元是用来控制以及整合各装置作动，以执行自动化作业。
2.根据权利要求1所述的电子元件测试分类机，其特征在于所述的供料装置设有至少一具有容置槽的料盘，用来承置待测的电子元件。
3.根据权利要求1所述的电子元件测试分类机，其特征在于所述的收料装置设有复数个具有容置槽的料盘，用来承置不同测试结果的完测电子元件。
4.根据权利要求1所述的电子元件测试分类机，其特征在于所述的输送装置的移料臂的Z轴向驱动机构设有至少一 Z轴向驱动源，用来驱动复数个传动组作Z轴向位移，其中，一传动组设有一可作X轴向位移且具有取放器的Z轴向滑动件，另一传动组则设有一可作Y轴向位移且具有取放器的Z轴向滑动件，以及一传动组设有一可作X-Y轴向位移且具有取放器的Z轴向滑动件，而X轴向调整机构设有X轴向驱动源，用来驱动一 X轴向移动架作X轴向位移，所述的X轴向移动架则连结Z轴向驱动机构的两个Z轴向滑动件，用来驱动两个Z轴向滑动件以及二取放器作X轴向位移，所述的Y轴向调整机构设有Y轴向驱动源， 用来驱动一 Y轴向移动架作Y轴向位移，所述的Y轴向移动架则连结Z轴向驱动机构的两个Z轴向滑动件，用来驱动两个Z轴向滑动件以及二取放器作Y轴向位移。
5.根据权利要求4所述的电子元件测试分类机，其特征在于所述的Z轴向驱动机构是在Z轴向机架上装设有第一、二、三、四驱动源，所述的第一、二、三、四驱动源包含第一、 二、三、四马达以及第一、二、三、四皮带轮组，并以第一、二、三、四皮带轮组各别驱动具第一、二、三、四Z轴向滑动件以及第一、二、三、四取放器的第一、二、三、四传动组。
6.根据权利要求5所述的电子元件测试分类机，其特征在于第一传动组设有一连结在第一皮带轮组的第一传动架，第一传动架设有Y轴向滑槽，供一第一 Z轴向滑动件的凸榫滑置，所述的第一 Z轴向滑动件则装配有第一取放器，用来带动第一取放器作Y-Z轴向位移，第二传动组设有一连结在第二皮带轮组的第二传动架，第二传动架是连结一第二 Z轴向滑动件，第二 Z轴向滑动件则装配有第二取放器，并使第二取放器位于第一取放器的Y轴向侧方，用来带动第二取放器作Z轴向位移，第三传动组设有一连结在第三皮带轮组的第三传动架，第三传动架设有X轴向滑槽，供一第三Z轴向滑动件的凸榫滑置，所述的第三Z 轴向滑动件的底部则装配有第三取放器，并使第三取放器位于第二取放器的X轴向侧方， 用来带动第三取放器作X-Z轴向位移，第四传动组设有一连结在第四皮带轮组的第四传动架，并在第四传动架上枢设一可作X-Y轴向摆动的传动滑轨，所述的传动滑轨供一第四Z轴向滑动件枢设的滑座滑置，而第四Z轴向滑动件则装配有第四取放器，并使第四取放器位于第二取放器的对角处，用来带动第四取放器作Z轴向位移以及X-Y轴向位移。
7.根据权利要求6所述的电子元件测试分类机，其特征在于所述的Z轴向机架上设有二 Y轴向机架，并在二 Y轴向机架上设有第二 Z轴向滑座，供第二传动组的第二 Z轴向滑动件滑置。
8.根据权利要求5所述的电子元件测试分类机，其特征在于所述的X轴向调整机构的X轴向驱动源包含X轴向马达以及X轴向皮带轮组，并以X轴向皮带轮组连结一呈Y轴向摆置的X轴向移动架，所述的X轴向移动架的一端固设有一 Z轴向滑座，供Z轴向驱动机构的第三Z轴向滑动件滑置连结，X轴向移动架上则滑置一间传滑座，所述的间传滑座设有 Z轴向滑槽，供Z轴向驱动机构的第四Z轴向滑动件滑置连结，使得X轴向移动架可带动Z 轴向驱动机构的第三、四Z轴向滑动件以及第三、四取放器作X轴向同步位移，用来调整与第一、二取放器间的X轴向间距。
9.根据权利要求8所述的电子元件测试分类机，其特征在于所述的Y轴向移动架设有Z轴向滑座以及X轴向滑轨，所述的Z轴向滑座是供Z轴向驱动机构的第一 Z轴向滑动件滑置连结，而X轴向滑轨则供X轴向调整机构间传滑座的X轴向滑座滑置，使得Y轴向移动架可带动Z轴向驱动机构的第一、四Z轴向滑动件以及第一、四取放器作Y轴向位移，以调整与第二、三取放器间的Y轴向间距。
10.根据权利要求5所述的电子元件测试分类机，其特征在于所述的Y轴向调整机构的Y轴向驱动源包含Y轴向马达以及Y轴向皮带轮组，并以Y轴向皮带轮组连结一呈X轴向摆置的Y轴向移动架。
全文摘要
本发明是一种电子元件测试分类机，在机台上配置有供料装置、收料装置、测试装置以及输送装置，所述的供料装置容纳复数个待测的电子元件，收料装置容纳复数个不同等级完测的电子元件，测试装置设有复数个测试座，所述的输送装置是在测试装置的前、后方各设有至少一载具，另设有至少两个移料臂，各移料臂设有复数个可作X-Y轴向变距以及Z轴向升降位移的取放器，用来在供料装置、收料装置、测试装置以及载具间移载待测/完测的电子元件；如此，可易于增设取放器，并更加调整缩小各取放器的X-Y轴向间距，以利取放电子元件，达到大幅提升测试产能以及作业便利性的实用效益。
文档编号B07C5/344GK102189082SQ20101012121
公开日2011年9月21日 申请日期2010年3月10日 优先权日2010年3月10日
发明者蔡志欣 申请人:鸿劲科技股份有限公司