Smd微型晶振检测仪圆盘送料检测机构的利记博彩app
【技术领域】
[0001]本实用新型属于晶体自动测试检测装置领域，具体涉及一种SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构。
【背景技术】
[0002]SMD微型晶振是电子行业中比较成熟的元器件，但由于其外形较为特殊，所以使得这种产品的测试检测及自动封装问题一直得不到很好的解决，目前的测试及封装工作还处于人工手动上料阶段，其速度较慢，而且准确率也较低。因为人们开发了 SMD微型晶振检测仪，其主要包括振动上料盘、圆盘送料检测机构以及封装机构，所述圆盘送料检测机构上设置有沿其圆周方向均匀排列的若干个晶振接纳座，其缺点在于所述晶振接纳座是固定设置在圆盘送料检测机构上的，其数量和角度均受到限制，无法适应生产需要。
【发明内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，可以根据使用需要调节晶振接纳座的数量与角度，使用更灵活、方便，大大提高生产效率。
[0004]本实用新型所采用的技术方案是:一种SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，包括360度循环转动的圆盘检测座，所述圆盘检测座上设置有晶振接纳座，所述晶振接纳座上表面设置有用于接纳晶振的晶振接纳槽，所述圆盘检测座上表面靠近其外侧壁位置设置有与其平行的固定环，且该固定环与所述圆盘检测座同轴设置，所述晶振接纳座靠近所述圆盘检测座中心位置的一侧设置有供所述固定环穿过的横向通槽，所述晶振接纳座靠近所述圆盘检测座中心位置的一端设置有定位孔和定位螺杆，所述圆盘检测座与上述定位螺杆相对应位置设置有与之配合的固定槽。
[0005]作为优选，所述固定环通过其下方均匀分布的四根立柱固定设置在所述圆盘检测座上。
[0006]作为优选，所述横向通槽的末端设置有与所述固定环嵌合匹配的环槽。
[0007]作为优选，所述晶振接纳座由橡胶制成。
[0008]作为优选，所述固定槽为环形，且与所述固定环同轴设置。
[0009]本实用新型的有益效果在于:由于本实用新型的晶振接纳座是通过固定环和定位螺杆等可拆卸连接在圆盘检测座上的，因此使用者可以根据使用需要随时调节晶振接纳座的数量和角度，使其能够适应不同生产的需要；本实用新型的使用更为灵活、方便，大大提高了生产效率，减少了浪费。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型的结构示意图；
[0011]图2为本实用新型的晶振接纳座不意图。
[0012]图中:1、圆盘检测座；2、晶振接纳座；3、晶振接纳槽；4、固定环；5、横向通槽；6、定位孔；7、定位螺杆；8、固定槽；9、环槽。
【具体实施方式】
[0013]下面将结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。
[0014]如图1和图2所示，一种SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，包括360度循环转动的圆盘检测座1，所述圆盘检测座I上设置有晶振接纳座2，所述晶振接纳座2由橡胶制成，所述晶振接纳座2上表面设置有用于接纳晶振的晶振接纳槽3，所述圆盘检测座I上表面靠近其外侧壁位置设置有与其平行的固定环4，且该固定环4与所述圆盘检测座I同轴设置，固定环4通过其下方均匀分布的四根立柱固定设置在所述圆盘检测座I上，所述晶振接纳座2靠近所述圆盘检测座I中心位置的一侧设置有供所述固定环4穿过的横向通槽5，横向通槽5的末端设置有与所述固定环4嵌合匹配的环槽9。
[0015]所述晶振接纳座2靠近所述圆盘检测座I中心位置的一端设置有定位孔6和定位螺杆7，所述圆盘检测座I与上述定位螺杆7相对应位置设置有与之配合的固定槽8，固定槽8为环形，且与所述固定环4同轴设置。
[0016]安装晶振接纳座2的过程如下:将晶振接纳座2的横向通槽5对准固定环4，并使固定环4穿过横向通槽5后嵌合在环槽9内，然后再将定位螺杆7穿过定位孔6后固定在固定槽8内即可。
[0017]由于本实用新型的晶振接纳座2是通过固定环4和定位螺杆7等可拆卸连接在圆盘检测座I上的，因此使用者可以根据使用需要随时调节晶振接纳座2的数量和角度，使其能够适应不同生产的需要；本实用新型的使用更为灵活、方便，大大提高了生产效率，减少了浪费。
[0018]以上所述，仅为本实用新型较佳实施例而已，故不能以此限定本实用新型实施的范围，即依本实用新型申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本实用新型专利涵盖的范围内。
【主权项】
1.一种SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，包括360度循环转动的圆盘检测座(I )，所述圆盘检测座(I)上设置有晶振接纳座(2)，所述晶振接纳座(2)上表面设置有用于接纳晶振的晶振接纳槽(3)，其特征在于:所述圆盘检测座(I)上表面靠近其外侧壁位置设置有与其平行的固定环(4)，且该固定环(4)与所述圆盘检测座(I)同轴设置，所述晶振接纳座(2)靠近所述圆盘检测座(I)中心位置的一侧设置有供所述固定环(4)穿过的横向通槽(5)，所述晶振接纳座(2)靠近所述圆盘检测座(I)中心位置的一端设置有定位孔(6)和定位螺杆(7)，所述圆盘检测座(I)与上述定位螺杆(7)相对应位置设置有与之配合的固定槽(8)0
2.根据权利要求1所述的SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，其特征在于:所述固定环(4)通过其下方均匀分布的四根立柱固定设置在所述圆盘检测座(I)上。
3.根据权利要求1所述的SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，其特征在于:所述横向通槽(5)的末端设置有与所述固定环(4)嵌合匹配的环槽(9)。
4.根据权利要求1所述的SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，其特征在于:所述晶振接纳座(2)由橡胶制成。
5.根据权利要求1所述的SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，其特征在于:所述固定槽(8)为环形，且与所述固定环(4)同轴设置。
【专利摘要】本实用新型公开一种SMD微型晶振检测仪圆盘送料检测机构，包括360度循环转动的圆盘检测座，所述圆盘检测座上设置有晶振接纳座，所述圆盘检测座上表面靠近其外侧壁位置设置有与其平行的固定环，且该固定环与所述圆盘检测座同轴设置，所述晶振接纳座靠近所述圆盘检测座中心位置的一侧设置有供所述固定环穿过的横向通槽。由于本实用新型的晶振接纳座是通过固定环和定位螺杆等可拆卸连接在圆盘检测座上的，因此使用者可以根据使用需要随时调节晶振接纳座的数量和角度，使其能够适应不同生产的需要；本实用新型的使用更为灵活、方便，大大提高了生产效率，减少了浪费。
【IPC分类】G01D11-00, B65G47-22
【公开号】CN204549346
【申请号】CN201520265764
【发明人】吕锡昌, 廖建伟, 赵乐平
【申请人】福建省将乐县长兴电子有限公司
【公开日】2015年8月12日
【申请日】2015年4月29日