专利名称：具有侦测不良品标示表的球栅阵列式排列基板的利记博彩app
技术领域：
本实用新型涉及一种侦测不良品标示的装置。
现有球栅阵列式排列基板1如
图1-3所示其为提供封装制程侦测不良品，于每条基板均附带一张标示该基板上每颗不良品位置的侦测不良品标示纸3，如图2，此一侦测不良品标示纸供各制程站做为侦测不良品位置对照用，但是，这种历经各制程站中与每条基板夹带一标示纸，并在标示纸上相对位置标出不良品标示21如图3，这种结构既不经济，而且又容易因操作上对良品及不良品的误判而造成良率的低落，此外还增加了人工作业上的成本，总之，说明这种结构的球栅阵列式排列基板对侦测不良品标示表的功效不够理想。
本实用新型的目的是提供一种具有较好功效的具有侦测不良品标示表的球栅陈列式排列基板。
本实用新型的目的是这样实现的具有侦测不良品标示表的球栅陈列式排列基板，其为一种呈条状的片体，包括，基板和侦测不良品标示表，其特征是该基板周缘设有边框，并于基板与基板边框上设置有对应该基板内的实际晶片位置处的侦测不良品标示表。
上述技术方案，藉此可于基板从入库检查到粘贴晶片、打线、封胶、盖印、植球的封制过程中，可以利用这种标示或侦测不良品标示表，达到可以精确地判读基板上不良品晶片的实际位置，达到侦测功效比较理想的良好效果。
下面通过附图、实施例再作进一步说明。
图1现有条状陈列式排列基板示意图；图2现有球栅陈列式排列基板示意图；图3现有球栅陈列式排列基板及侦测不良品标示纸于封制程时的标示不良品对照图；图4本实用新型球栅陈列式排列基板添加侦测不良品标示表示意图5为图4中A处的局部放大图；图6本实用新型球栅陈列式排列基板添加侦测不良标示表使用于封装制程时的标示不良品位置图；图7为图5中A处的局部较大图。
如图4-7所示本实用新型为一种呈条状的片体，包括，基板3和侦测不良品标示表4，其特征是该基板3周缘设有边框31，并于基板3与基板边框31上设置有对应该基板3内的实际晶片位置处的侦测不良品标示表4。本实用新型侦测不良品标示表4设有多个，其中，基板3上晶片的实际区域1D、2D、3D、1E、2E、3E、1F、2F、3F对应于基板边框31上设有侦测不良品标示表4内的小方格1d、2d、3d、1e、2e、3e、1f、2f、3f，若在基板3上的实际区域1D、2D、1E、2E为不良品时，则由特定的机器设备(未示出)或人工方式在侦测不良品标出表4内的小方格1d、2d、1e、2e的位置作标示记号(如涂黑)，使基板从入库检查到粘贴晶片、打线、封胶、盖印、植球的封装制程，都可以藉此侦测不良品表示表4达到清楚、准确的判读基板3上不良品的晶片实际区域32的位置。
权利要求1.具有侦测不良品标示表的球栅陈列式排列基板，其为一种呈条状的片体，包括，基板和侦测不良品标示表，其特征是该基板周缘设有边框，并于基板与基板边框上设置有对应该基板内的实际晶片位置处的侦测不良品标示表。
2.如权利要求1所述的具有侦测不良品标示表的球栅阵列式排列基板，其特征是其中，基板上晶片的实际区域对应于基板边框上设有侦测不良品标示表内的小方格。
专利摘要本实用新型涉及一种侦测不良品表示的装置,使之提高侦测准确度。具有侦测不良品标示表的球栅陈列式排列基板,其为一种呈条状的片体,包括,基板和侦测不良品标示表,其特征是:该基板周缘设有边框,并于基板与基板边框上设置有对应该基板内的实际晶片位置处的侦测不良品标示表。用于侦测差错。
文档编号B65D85/86GK2411576SQ9925827
公开日2000年12月20日 申请日期1999年12月30日 优先权日1999年12月30日
发明者谢文乐 申请人:华泰电子股份有限公司