专利名称：波导系统的发射器的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及一种用以测量磁控管特性的波导系统，该磁控管是微波振荡器。本发明具体涉及一种波导系统的发射器，该波导系统能够测量多种不同尺寸的磁控管的特性。
用以作为一种常规的测量磁控管特性的波导系统，如图1A和1B所示，该波导系统包括一个发射器1;一个锥型波导2，其一端与发射器1的一端密封连接;一个双插芯调谐器3，其一端与波导2的另一端密封连接;一个定向耦合器4，其一端与双插芯调谐器的另一端密封连接;以及一个假负载5，耦合器4的另一端与假负载5密封连接。磁控管6与发射器1耦连。波导2用来消除反射系数，该系数取决于微波传输路径的尺寸变化。此外，双插芯调谐器3用来任意选取微波的反射系数。定向耦合器4感测微波的输出特性。假负载5用来作为无反射的终端负载，使通过定向耦合器4的微波衰减，以将其消除。
使用上述结构的波导系统来测量磁控管的特性时，磁控管6的天线7耦连到发射器1上。当电能施加于波导系统时发射器1和负载之间阻抗取决于发射器1的后部法兰8的纵向尺寸。磁控管6内产生的微波能量被传送到波导系统中。这时，为在基本无反射波存在的条件下测出磁控管的特性，发射器1与天线7(亦即磁控管6的输出单元)之间耦合度应该适当限定，以保持阻抗匹配。
标准的发射器和磁控管耦合的状态示于图2A。若磁控管的天线7的高度约为29-32mm，则能够将磁控管6a耦合到标准发射器1a上，如图2A所示，并能够容易地测量磁控管的特性。然而，若天线7的高度为20mm，则不能得到上述的耦合度，因而不能保持阻抗匹配条件，也不能测量磁控管的特性。为此，必须为20mm天线的磁控管6b配备一种专用波导系统，如图2B所示。这样的专用波导系统能够被有效地用于实验室级别的测量，但对于大批量的测量，用这种专用波导系统时，则测量的总费用相当地高，因为更换发射器和锥型波导需要大量的时间，并且在安装附加的专用系统时有困难。
为此，本发明的一个目的是克服现有技术中存在的缺点，提出一种波导系统的发射器，以能够测量不同尺寸的磁控管的特性。
按照本发明的一个方面，本发明提供一种波导系统的发射器，它包括一个发射器体;一个接收槽，形成在发射器体的一个端部;一个控制板，有选择性地与接收槽耦连;和一个密封板。该控制板适合用来控制发射器体与可分离地与发射器体耦接的磁控管之间的耦合状态，以实现阻抗匹配，从而能够测量两种具有不同天线尺寸的磁控管中的任一种磁控管的特性，并且在控制板未与接收耦接时，将密封板与接收槽耦接，测量另一种磁控管的特性和自适应密封该接收槽。
按照本发明的另一方面，本发明提供一种波导发射器，它包括一个发射器体;在发射器体的侧部上分别钻出的多个接收孔、以及分别插入这些接收孔中的多个控制部件。
下面结合
本发明的实施例，从中将会看出本发明的其它目的和其它方面。
图1A和1B分别是传统的波导系统的前视图和俯视图，图中磁控管已耦连到波导系统;
图2A是耦连到一种公知磁控管(该磁控管的天线高度为29-32mm)的一种标准发射器的前视图。
图2B是耦连到一种公知磁控管(该磁控管的天线高度为20mm)的一种专用发射器的前视图。
图3A和3B示出本发明的一个实施例的发射器在使用状况时的前视图。
图4A到4C示出发射器与其相耦连的耦合度控制装置的各部分透视图，其中，图4A示出发射器，图4B示出密封板，图4C表示控制板。
图5A到5C分别示出本发明的另一个实施例的发射器、密封板和控制板的透视图。
图6示出本发明的又一个实施例的发射器和耦合度控制装置之间的耦合状况的透视图。
参照图3A到图6，这些图示出了带有本发明的发射器的波导系统。图3A和3B示出本发明一个实施例的发射器的使用状况以及可分离地接插到发射器上的构件的前视图。图4A到4C分别示出发射器和与其相耦合的耦合度控制装置各部件的透视图。
如图所示，发射器包括一个发射器体1和耦合度控制装置10，发射器体1适合于测量磁控管的特性，测量时，将磁控管插入发射体1中;耦合度控制装置10适合于控制发射器体1与可分离地插入其中的磁控管之间的耦合度，从而能够测量两种不同天线尺寸的磁控管的特性。如图3A和3B所示，两种磁控管为第一磁控管6a，其天线7a的高度为29-32mm;及第二磁控管6b，其天线7b的高度为20mm。
发射器体1包括一个带有接收槽13后部法兰8。而耦合度控制装置10包括一个控制板11和一个密封板12，当第二磁控管6b耦连到发射器体1中而测量其特性时，可将控制板11插入接收槽13中以实现阻抗匹配;当第一磁控管6a插入发射器体1中测量其特性时，可将密封板12插入接收槽13中使接收槽13封闭。
控制板11具有一个侧板部分11a、一个延伸部分11b和一个斜面部分11c，侧板部分11a的尺寸与发射器体1的后部法兰8相同，延伸部分11b是从侧板部分11a伸出的，斜面部分11c是从延伸部分11b斜向伸出的。另一方面，密封板12具有一个侧板部分12a和一个密封凸条12b，该凸条12b是从侧板部分12a伸出的，并能使发射器体1的接收槽13封闭。
当第二磁控管6b耦连到发射器体1中测量其特性时，可将控制板11插入到发射器体1的后部法兰8上所形成的接受槽13中，如图3b所示。这时，控制板11控制发射器体1和第二磁控管6b(其天线高度为20mm)之间的电容、电感和电阻，使其与第一磁控管6a的情况相同。这样就能测量发射器体1和第二磁控管6b的天线7b之间的耦合度，也能够测量第二磁控管6b的特性，而无任何困难。
当第一磁控管6a耦连到发射器体1上测量其特性时，可将插在发射器体1的接收槽13中的控制板11从接收槽13中取下，然后将密封板12插入接受槽13中将接受槽13封闭，而将第一磁控管6a插入到发射器体1中。
图5A到5C示出发射器的另一种结构，这是本发明的另一个实施例。在该实施例中，发射器的发射器体1包括一个接收槽16，该槽16位于发射器体1的前面，如图5A到5C所示。而耦合度控制装置10包括一个控制板14和一个密封板15，当第二磁控管6b插入发射器体1的前部测量其特性时而将控制板14插入接受槽16中以实现阻抗匹配;当第一磁控管6a插入发射器体1中测量其特性时将密封板15插入接受槽16中以将接受槽16中封闭。
控制板14具有一个侧板部分14a、一个延伸部分14b和一个斜面部分14c，侧板部分14a的尺寸与发射器体1的前部相同，延伸部分14b是从侧板部分14a伸出的，斜面部分14c是从延伸部分14b斜向伸出的。而密封板15具有一个侧板部分15a和一个密封凸条15b，该凸条15b是从侧板部分15a伸出的能使发射器体1的接受槽14封闭。
在第一实施例的情况下，耦合度控制装置10适合于将其控制板11和其密封板12耦连到发射器体1的侧部;而在第二实施例的情况下，耦合度控制装置10适合于将其控制板14和其密封板15耦连到发射器体1的前部。从而，可以根据待测件的安装条件来选择合适的耦合度控制装置10的部件。
参照图6，图中示出了一种发射器，这是本发明的又一个实施例。该实施例中，发射器体1包括多个接收孔20位于发射器体1的前部、后部和底部。相应地，耦合度控制装置10包括多个分别插入接收孔20中的控制部件。
在所示的实施例中，控制部件是控制螺钉17、18和19。当然，也可以使用其它的杆型部件。在图6所示实施例的情况下，通过拧紧或松开控制螺钉，就可以改变插入发射器体中的磁控管的天线与各个控制螺钉17、18和19之间的电容。也就是说，通过调节控制螺钉17、18和19来控制电容以实现阻抗匹配。就此可以测量磁控管6a和6b的特性。
从以上描述可以明显看出，本发明提供了一种波导系统的发射器，这种波导系统能够测量多种不同尺寸的磁控管的特性。而现有技术中，对各种不同尺寸的磁控管，需要各种专用的系统，与之相比，本发明的发射器能使测量费用显著降低。当待测磁控管的型号经常变化时，本发明的发射器还能省去多次更换波导系统的工作，从而能提高磁控管的生产率。在现有技术中需要做上述工作，即烦琐又耗费时间。
为了叙述方便起见虽然公开了本发明的几个优选实施例，但本领域的普通技术人员都很清楚，对本发明可以作各种改进、补充和替换，而不会超脱后面附属的权利要求所述的本发明的范围和精神。
权利要求
1.一种波导系统的发射器，其特征在于包括一个发射器体；一个接收槽，它位于发射器体的一个侧部；以及耦合度控制装置，它适合于控制发射器体和可分离地耦连到发射器体的磁控管之间的耦合状态，以实现阻抗匹配，从而能够测量多种天线尺寸不同的磁控管的特性。
2.一种波导系统的发射器，其特征在于包括一个发射器体;一个接收槽，它位于发射器体的一个侧部;一个控制板，它有选择性地插入接收槽中，并适合于控制发射器体和可分离地耦连到发射器体的磁控管之间的耦合状态，以实现阻抗匹配，从而能够测量两种天线尺寸不同磁控管中的一种磁控管的特性;以及一个密封板，当接受槽中未插入控制板而要测量上述两种的另一种磁控管的特性时，该密封板插入接受槽中，且适合于将接受槽封闭。
3.根据权利要求2所述的波导系统的发射器，其特征在于，控制板具有一个侧板部分、一个延伸部分和一个斜面部分，侧板部分的尺寸与发射器体上接收槽所在的那个侧面部分的尺寸相同，延伸部分是从侧板部分伸出的，斜面部分是从延伸部分斜向伸出的。
4.根据权利要求2所述的波导系统的发射器，其特征在于，密封板具有一个侧板部分和一个密封凸条，侧板部分的尺寸与发射器体上接受槽所在的那个侧面部分的尺寸相同，密封凸条是从侧板部分伸出的。
5.一种波导系统的发射器，其特征在于包括一个发射器体;多个在发射器体的几个侧面上分别钻成的接受孔;以及多个分别插入这些接收孔中的控制部件。
6.根据权利要求5所述的波导系统的发射器，其特征在于，控制部件是控制螺钉。
全文摘要
波导系统发射器包括发射器体、接收槽、控制板和密封板。接收槽位于发射器体侧部，控制板可有选择性地插入接收槽中并控制发射器体与可分离插入发射器体中的磁控管之间的耦合度以达阻抗匹配，从而能够测量两种不同天线尺寸的磁控管的特性。当接收槽中未插入控制板且测量上述两种磁控管的特性时，将密封板插入接收槽中以封闭接收槽。这种发射器可测量不同尺寸的磁控管特性，可降低测量费用，还能提高生产磁控管的生产率。
文档编号H01J9/42GK1075212SQ9211424
公开日1993年8月11日 申请日期1992年12月12日 优先权日1991年12月13日
发明者林钟皓 申请人:株式会社金星社